干扰检测方法和干扰检测系统

摘要

本发明提出了一种干扰检测方法和一种干扰检测系统，其中，干扰检测方法包括：根据接收到的干扰检测命令，将第一待测试设备的工作状态设置为发射状态；通过所述第一待测试设备按照预定发射属性发射干扰信号，以供第二待测试设备根据接收到的所述干扰信号确定自身的工作性能是否发生异常。通过本发明的技术方案，用待测试设备本身取代了相关技术中的射频综测仪与发射天线，使得测试人员无需额外使用射频综测仪与发射天线，而是通过待测试设备之间互相进行测试，降低了测试成本，同时，待测试设备可以发射预定发射属性的干扰信号，使得射频测试的灵活性也大大提升。

权利要求

1.一种干扰检测方法，其特征在于，包括：

根据接收到的干扰检测命令，将第一待测试设备的工作状态设置为发射状态；

通过所述第一待测试设备按照预定发射属性发射干扰信号，以供第二待测试设备根据接收到的所述干扰信号确定自身的工作性能是否发生异常。

2.根据权利要求1所述的干扰检测方法，其特征在于，在通过所述第一待测试设备按照预定发射属性发射干扰信号的步骤之前，还包括：根据接收到的设置命令，为所述第一待测试设备设置所述预定发射属性。

3.根据权利要求2所述的干扰检测方法，其特征在于，所述预定发射属性包括：发射频率和/或信号强度。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的干扰检测方法，其特征在于，通过所述第一待测试设备按照预定发射属性发射干扰信号的步骤，具体包括：通过所述第一待测试设备按照所述预定发射属性和预定周期，循环发射所述干扰信号。

5.根据权利要求4所述的干扰检测方法，其特征在于，在所述循环发射所述干扰信号中的任一次发射后，还包括：根据接收到的位置调整命令，调整所述第一待测试设备与所述第二待测试设备的相对位置。

6.一种干扰检测系统，其特征在于，包括：

发射状态开启单元，用于根据接收到的干扰检测命令，将第一待测试设备的工作状态设置为发射状态；

干扰信号发射单元，用于通过所述第一待测试设备按照预定发射属性发射干扰信号，以供第二待测试设备根据接收到的所述干扰信号确定自身的工作性能是否发生异常。

7.根据权利要求6所述的干扰检测系统，其特征在于，还包括：发射属性设置单元，用于在所述干扰信号发射单元通过所述第一待测试设备发射所述干扰信号之前，根据接收到的设置命令，为所述第一待测试设备设置所述预定发射属性。

8.根据权利要求7所述的干扰检测系统，其特征在于，所述预定发射属性包括：发射频率和/或信号强度。

9.根据权利要求6至8中任一项所述的干扰检测系统，其特征在于，所述干扰信号发射单元具体用于：通过所述第一待测试设备按照所述预定发射属性和预定周期，循环发射所述干扰信号。

10.根据权利要求9所述的干扰检测系统，其特征在于，还包括：相对位置调整单元，用于在所述干扰信号发射单元任一次发射所述干扰信号后，根据接收到的位置调整命令，调整所述第一待测试设备与所述第二待测试设备的相对位置。

说明书

干扰检测方法和干扰检测系统

【技术领域】

[0001] 本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种干扰检测方法和一种干扰检测系统。【背景技术】

[0002] 目前，常用的检测发射机射频辐射干扰的装置主要包含射频综测仪和射频天线，通过射频综测仪、射频天线与被测试设备建立通信链接，使射频综测仪的发射机处于工作状态，通过射频天线发出干扰信号，进而可以监控被测试设备的工作状态，以判断被测试设备工作时的接收到的射频辐射是否会带来影响自身工作状态的干扰问题。

[0003] 然而，这一技术方案受测试仪器的限制较大，需要额外使用射频综测仪和射频天线才能完成测试，使得测试过程十分繁琐，同时，采购射频综测仪和射频天线等仪器，还导致了测试成本的大大增加。

[0004] 因此，如何在进行有效的射频辐射干扰测试的同时降低测试成本，成为目前亟待解决的技术问题。【发明内容】

[0005] 本发明提出了一种干扰检测方法和一种干扰检测系统，可以进行有效的射频辐射干扰测试，并同时降低测试成本。

[0006] 有鉴于此，本发明的一方面提出了一种干扰检测方法，包括：根据接收到的干扰检测命令，将第一待测试设备的工作状态设置为发射状态；通过所述第一待测试设备按照预定发射属性发射干扰信号，以供第二待测试设备根据接收到的所述干扰信号确定自身的工作性能是否发生异常。

[0007] 在该技术方案中，第一待测试设备本身具有射频发射功能，即具有射频模块，故可以将其射频模块接通，使其工作状态调整为具有预定发射属性的发射状态，这样，即可使用第一待测试设备作为射频综测仪来发射干扰信号，以对第二待测试设备等其他待测试设备进行设备性能的检测。通过该技术方案，用待测试设备本身取代了相关技术中的射频综测仪与发射天线，使得测试人员无需额外使用射频综测仪与发射天线，而是通过待测试设备之间互相进行测试，降低了测试成本，另外，第一待测试设备可以按照预定发射属性发射干扰信号，也大大提升了射频测试的灵活性。

[0008] 其中，第一待测试设备可以与第二待测试设备的型号相同，从而能够使得发出的干扰信号更加贴近第二待测试设备的自身信号，使对第二待测试设备的抗干扰监测结果更加准确。

[0009] 在上述技术方案中，优选地，在通过所述第一待测试设备按照预定发射属性发射干扰信号的步骤之前，还包括：根据接收到的设置命令，为所述第一待测试设备设置所述预定发射属性。

[0010] 在该技术方案中，可以为第一待测试设备设置预定发射属性，这里的设置，可以是在第一待测试设备出厂时即为其设置多套预定发射属性，在充当发射方进行测试的过程中，可以根据实际工作状态自行在多套预定发射属性中选择适用于实际场景的一套预定发射属性，或根据用户的选择命令在多套预定发射属性中选择一套。另外，这里的设置也可以由用户直接设置各种预定发射属性的参数，以适应用户的实际需求。

[0011] 在上述任一技术方案中，优选地，所述预定发射属性包括：发射频率和/或信号强度。

[0012] 在该技术方案中，预定发射属性包括但不限于发射频率和/或信号强度，还可以是根据需要除此之外的其他属性，通过该技术方案，使得第一待测试设备可以按照预定发射属性发射干扰信号，也大大提升了射频测试的灵活性。

[0013] 在上述任一技术方案中，优选地，通过所述第一待测试设备按照预定发射属性发射干扰信号的步骤，具体包括：通过所述第一待测试设备按照所述预定发射属性和预定周期，循环发射所述干扰信号。

[0014] 在该技术方案中，为了保证测试的成功率和有效性，第一待测试设备需要按照预定发射属性循环发射干扰信号，以避免第二待测试设备因未接收到单次发射的干扰信号而无法顺利完成测试。

[0015] 而对于循环发射干扰信号的步骤，则需要遵循合适的预定周期，以避免发射干扰信号的间隔过长造成测试效率低下或发射干扰信号的间隔过短而造成发射方的第一待测试设备能耗过多。其中，预定周期可以用户根据实际需要自行设置或选择，也可以由第一待测试设备本身出厂自带或根据实际情况设定。

[0016] 在上述任一技术方案中，优选地，在所述循环发射所述干扰信号中的任一次发射后，还包括：根据接收到的位置调整命令，调整所述第一待测试设备与所述第二待测试设备的相对位置。

[0017] 在该技术方案中，通过调整第一待测试设备与第二待测试设备的相对位置，可以改变第二待测试设备接收到的干扰信号的方向和信号强度，这样，如果无论如何调整第一待测试设备与第二待测试设备的相对位置，即无论干扰信号的方向和信号强度怎样变化，第二待测试设备的性能均无异常，则说明第二待测试设备本身无干扰问题。

[0018] 而如果在调整相对位置的过程中，干扰信号在某一方向上的信号强度大于或等于预定强度阈值时，使得第二待测试设备的性能发生异常，则说明第二待测试设备具有干扰问题，需要对第二待测试设备进行抗干扰处理，其中，抗干扰处理包括但不限于屏蔽处理、接地处理和/或滤波处理。在进行抗干扰处理后，需要继续通过第一待测试设备对第二待测试设备进行射频检测，直至干扰问题不复现为止。

[0019] 本发明的另一方面提出了一种干扰检测系统，包括：发射状态开启单元，用于根据接收到的干扰检测命令，将第一待测试设备的工作状态设置为发射状态；干扰信号发射单元，用于通过所述第一待测试设备按照预定发射属性发射干扰信号，以供第二待测试设备根据接收到的所述干扰信号确定自身的工作性能是否发生异常。

[0020] 在该技术方案中，第一待测试设备本身具有射频发射功能，即具有射频模块，故可以将其射频模块接通，使其工作状态调整为具有预定发射属性的发射状态，这样，即可使用第一待测试设备作为射频综测仪来发射干扰信号，以对第二待测试设备等其他待测试设备进行设备性能的检测。通过该技术方案，用待测试设备本身取代了相关技术中的射频综测仪与发射天线，使得测试人员无需额外使用射频综测仪与发射天线，而是通过待测试设备之间互相进行测试，降低了测试成本，另外，第一待测试设备可以按照预定发射属性发射干扰信号，也大大提升了射频测试的灵活性。

[0021] 其中，第一待测试设备可以与第二待测试设备的型号相同，从而能够使得发出的干扰信号更加贴近第二待测试设备的自身信号，使对第二待测试设备的抗干扰监测结果更加准确。

[0022] 在上述技术方案中，优选地，还包括：发射属性设置单元，用于在所述干扰信号发射单元通过所述第一待测试设备发射所述干扰信号之前，根据接收到的设置命令，为所述第一待测试设备设置所述预定发射属性。

[0023] 在该技术方案中，可以为第一待测试设备设置预定发射属性，这里的设置，可以是在第一待测试设备出厂时即为其设置多套预定发射属性，在充当发射方进行测试的过程中，可以根据实际工作状态自行在多套预定发射属性中选择适用于实际场景的一套预定发射属性，或根据用户的选择命令在多套预定发射属性中选择一套。另外，这里的设置也可以由用户直接设置各种预定发射属性的参数，以适应用户的实际需求。

[0024] 在上述任一技术方案中，优选地，所述预定发射属性包括：发射频率和/或信号强度。

[0025] 在该技术方案中，预定发射属性包括但不限于发射频率和/或信号强度，还可以是根据需要除此之外的其他属性，通过该技术方案，使得第一待测试设备可以按照预定发射属性发射干扰信号，也大大提升了射频测试的灵活性。

[0026] 在上述任一技术方案中，优选地，所述干扰信号发射单元具体用于：通过所述第一待测试设备按照所述预定发射属性和预定周期，循环发射所述干扰信号。

[0027] 在该技术方案中，为了保证测试的成功率和有效性，第一待测试设备需要按照预定发射属性循环发射干扰信号，以避免第二待测试设备因未接收到单次发射的干扰信号而无法顺利完成测试。

[0028] 而对于循环发射干扰信号的步骤，则需要遵循合适的预定周期，以避免发射干扰信号的间隔过长造成测试效率低下或发射干扰信号的间隔过短而造成发射方的第一待测试设备能耗过多。其中，预定周期可以用户根据实际需要自行设置或选择，也可以由第一待测试设备本身出厂自带或根据实际情况设定。

[0029] 在上述任一技术方案中，优选地，还包括：相对位置调整单元，用于在所述干扰信号发射单元任一次发射所述干扰信号后，根据接收到的位置调整命令，调整所述第一待测试设备与所述第二待测试设备的相对位置。

[0030] 在该技术方案中，通过调整第一待测试设备与第二待测试设备的相对位置，可以改变第二待测试设备接收到的干扰信号的方向和信号强度，这样，如果无论如何调整第一待测试设备与第二待测试设备的相对位置，即无论干扰信号的方向和信号强度怎样变化，第二待测试设备的性能均无异常，则说明第二待测试设备本身无干扰问题。

[0031] 而如果在调整相对位置的过程中，干扰信号在某一方向上的信号强度大于或等于预定强度阈值时，使得第二待测试设备的性能发生异常，则说明第二待测试设备具有干扰问题，需要对第二待测试设备进行抗干扰处理，其中，抗干扰处理包括但不限于屏蔽处理、接地处理和/或滤波处理。在进行抗干扰处理后，需要继续通过第一待测试设备对第二待测试设备进行射频检测，直至干扰问题不复现为止。

[0032] 本发明的再一方面提出了一种终端，可以作为第一待测试设备，包括上述技术方案中任一项所述的干扰检测系统，因此，该终端具有和上述技术方案中任一项所述的干扰检测系统相同的技术效果，在此不再赘述。

[0033] 通过以上技术方案，用待测试设备本身取代了相关技术中的射频综测仪与发射天线，使得测试人员无需额外使用射频综测仪与发射天线，而是通过待测试设备之间互相进行测试，降低了测试成本，另外，第一待测试设备可以按照预定发射属性发射干扰信号，也大大提升了射频测试的灵活性。【附图说明】

[0034] 为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

[0035] 图1示出了根据本发明的一个实施例的干扰检测方法的流程图；

[0036] 图2示出了根据本发明的一个实施例的干扰检测系统的框图；

[0037] 图3示出了根据本发明的一个实施例的终端的框图；

[0038] 图4示出了根据本发明的另一个实施例的干扰检测方法的流程图。【具体实施方式】

[0039] 为了更好的理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明实施例进行详细描述。

[0040] 应当明确，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

[0041] 在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。

[0042] 应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

[0043] 应当理解，尽管在本发明实施例中可能采用术语第一、第二等来描述待测试设备，但这些待测试设备不应限于这些术语。这些术语仅用来将待测试设备彼此区分开。例如，在不脱离本发明实施例范围的情况下，第一待测试设备也可以被称为第二待测试设备，类似地，第二待测试设备也可以被称为第一待测试设备。

[0044] 取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”或“响应于检测”。类似地，取决于语境，短语“如果确定”或“如果检测(陈述的条件或事件)”可以被解释成为“当确定时”或“响应于确定”或“当检测(陈述的条件或事件)时”或“响应于检测(陈述的条件或事件)”。

[0045] 实施例一

[0046] 图1示出了根据本发明的一个实施例的干扰检测方法的流程图。

[0047] 如图1所示，根据本发明的一个实施例的干扰检测方法，包括：

[0048] 步骤102，根据接收到的干扰检测命令，将第一待测试设备的工作状态设置为发射状态；

[0049] 步骤104，通过第一待测试设备按照预定发射属性发射干扰信号，以供第二待测试设备根据接收到的干扰信号确定自身的工作性能是否发生异常。

[0050] 在该技术方案中，第一待测试设备本身具有射频发射功能，即具有射频模块，故可以将其射频模块接通，使其工作状态调整为具有预定发射属性的发射状态，这样，即可使用第一待测试设备作为射频综测仪来发射干扰信号，以对第二待测试设备等其他待测试设备进行设备性能的检测。通过该技术方案，用待测试设备本身取代了相关技术中的射频综测仪与发射天线，使得测试人员无需额外使用射频综测仪与发射天线，而是通过待测试设备之间互相进行测试，降低了测试成本，另外，第一待测试设备可以按照预定发射属性发射干扰信号，也大大提升了射频测试的灵活性。

[0051] 其中，第一待测试设备可以与第二待测试设备的型号相同，从而能够使得发出的干扰信号更加贴近第二待测试设备的自身信号，使对第二待测试设备的抗干扰监测结果更加准确。

[0052] 在上述技术方案中，优选地，在步骤104之前，还包括：根据接收到的设置命令，为第一待测试设备设置预定发射属性。

[0053] 在该技术方案中，可以为第一待测试设备设置预定发射属性，这里的设置，可以是在第一待测试设备出厂时即为其设置多套预定发射属性，在充当发射方进行测试的过程中，可以根据实际工作状态自行在多套预定发射属性中选择适用于实际场景的一套预定发射属性，或根据用户的选择命令在多套预定发射属性中选择一套。另外，这里的设置也可以由用户直接设置各种预定发射属性的参数，以适应用户的实际需求。

[0054] 在上述任一技术方案中，优选地，预定发射属性包括：发射频率和/或信号强度。

[0055] 在该技术方案中，预定发射属性包括但不限于发射频率和/或信号强度，还可以是根据需要除此之外的其他属性，通过该技术方案，使得第一待测试设备可以按照预定发射属性发射干扰信号，也大大提升了射频测试的灵活性。

[0056] 在上述任一技术方案中，优选地，步骤104具体包括：通过第一待测试设备按照预定发射属性和预定周期，循环发射干扰信号。

[0057] 在该技术方案中，为了保证测试的成功率和有效性，第一待测试设备需要按照预定发射属性循环发射干扰信号，以避免第二待测试设备因未接收到单次发射的干扰信号而无法顺利完成测试。

[0058] 而对于循环发射干扰信号的步骤，则需要遵循合适的预定周期，以避免发射干扰信号的间隔过长造成测试效率低下或发射干扰信号的间隔过短而造成发射方的第一待测试设备能耗过多。其中，预定周期可以用户根据实际需要自行设置或选择，也可以由第一待测试设备本身出厂自带或根据实际情况设定。

[0059] 在上述任一技术方案中，优选地，在循环发射干扰信号中的任一次发射后，还包括：根据接收到的位置调整命令，调整第一待测试设备与第二待测试设备的相对位置。

[0060] 在该技术方案中，通过调整第一待测试设备与第二待测试设备的相对位置，可以改变第二待测试设备接收到的干扰信号的方向和信号强度，这样，如果无论如何调整第一待测试设备与第二待测试设备的相对位置，即无论干扰信号的方向和信号强度怎样变化，第二待测试设备的性能均无异常，则说明第二待测试设备本身无干扰问题。

[0061] 而如果在调整相对位置的过程中，干扰信号在某一方向上的信号强度大于或等于预定强度阈值时，使得第二待测试设备的性能发生异常，则说明第二待测试设备具有干扰问题，需要对第二待测试设备进行抗干扰处理，其中，抗干扰处理包括但不限于屏蔽处理、接地处理和/或滤波处理。在进行抗干扰处理后，需要继续通过第一待测试设备对第二待测试设备进行射频检测，直至干扰问题不复现为止。

[0062] 实施例二

[0063] 图2示出了根据本发明的一个实施例的干扰检测系统的框图。

[0064] 如图2所示，根据本发明的一个实施例的干扰检测系统200，包括：发射状态开启单元202和干扰信号发射单元204。

[0065] 其中，发射状态开启单元202用于根据接收到的干扰检测命令，将第一待测试设备的工作状态设置为发射状态；干扰信号发射单元204用于通过第一待测试设备按照预定发射属性发射干扰信号，以供第二待测试设备根据接收到的干扰信号确定自身的工作性能是否发生异常。

[0066] 在该技术方案中，第一待测试设备本身具有射频发射功能，即具有射频模块，故可以将其射频模块接通，使其工作状态调整为具有预定发射属性的发射状态，这样，即可使用第一待测试设备作为射频综测仪来发射干扰信号，以对第二待测试设备等其他待测试设备进行设备性能的检测。通过该技术方案，用待测试设备本身取代了相关技术中的射频综测仪与发射天线，使得测试人员无需额外使用射频综测仪与发射天线，而是通过待测试设备之间互相进行测试，降低了测试成本，另外，第一待测试设备可以按照预定发射属性发射干扰信号，也大大提升了射频测试的灵活性。

[0067] 其中，第一待测试设备可以与第二待测试设备的型号相同，从而能够使得发出的干扰信号更加贴近第二待测试设备的自身信号，使对第二待测试设备的抗干扰监测结果更加准确。

[0068] 在上述技术方案中，优选地，还包括：发射属性设置单元206，用于在干扰信号发射单元204通过第一待测试设备发射干扰信号之前，根据接收到的设置命令，为第一待测试设备设置预定发射属性。

[0069] 在该技术方案中，可以为第一待测试设备设置预定发射属性，这里的设置，可以是在第一待测试设备出厂时即为其设置多套预定发射属性，在充当发射方进行测试的过程中，可以根据实际工作状态自行在多套预定发射属性中选择适用于实际场景的一套预定发射属性，或根据用户的选择命令在多套预定发射属性中选择一套。另外，这里的设置也可以由用户直接设置各种预定发射属性的参数，以适应用户的实际需求。

[0070] 在上述任一技术方案中，优选地，预定发射属性包括：发射频率和/或信号强度。

[0071] 在该技术方案中，预定发射属性包括但不限于发射频率和/或信号强度，还可以是根据需要除此之外的其他属性，通过该技术方案，使得第一待测试设备可以按照预定发射属性发射干扰信号，也大大提升了射频测试的灵活性。

[0072] 在上述任一技术方案中，优选地，干扰信号发射单元204具体用于：通过第一待测试设备按照预定发射属性和预定周期，循环发射干扰信号。

[0073] 在该技术方案中，为了保证测试的成功率和有效性，第一待测试设备需要按照预定发射属性循环发射干扰信号，以避免第二待测试设备因未接收到单次发射的干扰信号而无法顺利完成测试。

[0074] 而对于循环发射干扰信号的步骤，则需要遵循合适的预定周期，以避免发射干扰信号的间隔过长造成测试效率低下或发射干扰信号的间隔过短而造成发射方的第一待测试设备能耗过多。其中，预定周期可以用户根据实际需要自行设置或选择，也可以由第一待测试设备本身出厂自带或根据实际情况设定。

[0075] 在上述任一技术方案中，优选地，还包括：相对位置调整单元208，用于在干扰信号发射单元204任一次发射干扰信号后，根据接收到的位置调整命令，调整第一待测试设备与第二待测试设备的相对位置。

[0076] 在该技术方案中，通过调整第一待测试设备与第二待测试设备的相对位置，可以改变第二待测试设备接收到的干扰信号的方向和信号强度，这样，如果无论如何调整第一待测试设备与第二待测试设备的相对位置，即无论干扰信号的方向和信号强度怎样变化，第二待测试设备的性能均无异常，则说明第二待测试设备本身无干扰问题。

[0077] 而如果在调整相对位置的过程中，干扰信号在某一方向上的信号强度大于或等于预定强度阈值时，使得第二待测试设备的性能发生异常，则说明第二待测试设备具有干扰问题，需要对第二待测试设备进行抗干扰处理，其中，抗干扰处理包括但不限于屏蔽处理、接地处理和/或滤波处理。在进行抗干扰处理后，需要继续通过第一待测试设备对第二待测试设备进行射频检测，直至干扰问题不复现为止。

[0078] 实施例三

[0079] 图3示出了根据本发明的一个实施例的终端的框图。

[0080] 如图3所示，根据本发明的一个实施例的终端300，包括图2示出的干扰检测系统200，因此，该终端300具有和图2示出的干扰检测系统200相同的技术效果，在此不再赘述。

[0081] 实施例四

[0082] 图4示出了根据本发明的另一个实施例的干扰检测方法的流程图。

[0083] 如图4所示，根据本发明的另一个实施例的干扰检测方法，包括：

[0084] 步骤402，通过使用端口命令或者软件控制，控制第一待测试设备的射频模块按照预定信号频率和预定信号强度发射干扰信号。其中，通过第一待测试设备的射频模块发射预定信号频率和预定信号强度的干扰信号，可以避免使用额外的射频综测仪和射频天线进行测试信号的产生和发送，降低了测试成本，有效消除测试仪器的限制。

[0085] 步骤404，实时监测第二待测试设备接收到干扰信号后的工作状态。

[0086] 步骤406，调整第一待测试设备和第二待测试设备的相对位置。通过相对位置的变化，可以使第二待测试设备接收到的干扰信号的信号方向和信号强度发生变化，从而便于监测接收到不同程度的干扰信号的第二待测试设备的工作状态，使得测试调试更加灵活便捷，有效消除测试仪器的限制。

[0087] 步骤408，判断第二待测试设备的工作状态是否发生异常，当判断结果为是时，进入步骤410，否则，进入步骤412。

[0088] 步骤410，对第二待测试设备进行抗干扰处理，并返回步骤404。在进行抗干扰处理后，需要继续通过第一待测试设备对第二待测试设备进行射频检测，直至干扰问题不复现为止。

[0089] 步骤412，确定无干扰问题产生。

[0090] 实施例五

[0091] 根据本发明的再一个实施例的干扰检测方法，可以使用两台同型号的待测试设备，分别记做EUT0和EUT1，其中，EUT0作为干扰接收设备，通过监测功能、性能的异常，来确定EUT0是否有被干扰，EUT1作为干扰发射设备，通过端口命令或者软件控制等方法使EUT1处于发射状态，以产生干扰信号供EUT0接收。

[0092] 当EUT1处于特定频率和特定强度发射状态时，通过调整EUT1与EUT0的相对位置，使得EUT0接收到的来自EUT1的干扰信号强度和干扰方向也随之发生变化，如果干扰信号在某一方向上的强度大小超过预定阈值，使得EUT0的功能、性能发生异常，则说明待测试设备也就是EUT0本身存在干扰问题，反之，若无论怎么调整EUT1与EUT0的相对位置，即无论EUT0接收到的来自EUT1的干扰信号方向和强度如何变化，EUT0的功能、性能均无异常，则说明待测试设备也就是EUT0本身无干扰问题或干扰问题得到解决。

[0093] 其中，端口命令或者软件控制的方法可以为发射机平台厂商提供的控制软件或者控制命令，将EUT1的射频模块设置为通路，使EUT1处于某一特定信号频率和信号强度的发射状态，这里的信号强度通常是最大发射强度，调整其与待测试设备EUT0的相对位置，同时监测EUT0的功能、性能是否发生异常，以便检测EUT1是否会对待测试设备EUT0的造成干扰影响。

[0094] 如果监测到EUT0的工作状态无异常，则说明不存在干扰问题，如果监测到EUT0的异常现象未复现，则说明干扰问题已得到解决。而如果异常复现，则需要对EUT0的异常模块做抗干扰处理的措施，例如屏蔽处理，接地处理等，在进行抗干扰处理后，需要继续对EUT0进行射频检测，直至干扰问题不复现为止。

[0095] 通过上述技术方案，避免了专门测试仪器的限制，节约了测试成本，并且，通过端口命令、软件控制等方法灵活设置EUT1的射频模块的工作状态，使得测试人员可进行任意待测通信频率和任意待测信号强度的发射干扰测试，而灵活调整EUT1与EUT0的相对位置，即调整EUT0接收到的来自EUT1的干扰信号的方向和强度，使得干扰测试更加方便灵活，便于快速发现和定位问题。

[0096] 以上结合附图详细说明了本发明的技术方案，通过本发明的技术方案，用待测试设备本身取代了相关技术中的射频综测仪与发射天线，使得测试人员无需额外使用射频综测仪与发射天线，而是通过待测试设备之间互相进行测试，降低了测试成本，另外，第一待测试设备可以按照预定发射属性发射干扰信号，也大大提升了射频测试的灵活性。

[0097] 以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

[0098] 需要说明的是，本发明实施例中所涉及的终端可以包括但不限于个人计算机(Personal Computer，PC)、个人数字助理(Personal Digital Assistant，PDA)、无线手持设备、平板电脑(Tablet Computer)、手机、MP3播放器、MP4播放器等。

[0099] 在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

[0100] 另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。

[0101] 上述以软件功能单元的形式实现的集成的单元，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能单元存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机装置(可以是个人计算机，服务器，或者网络装置等)或处理器(Processor)执行本发明各个实施例所述方法的部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

[0102] 以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。