在安检系统中估算被检查物体重量的方法和装置

摘要

公开了一种在安检系统中估算被检查物体重量的方法和装置。通过双能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的等效原子序数值和双能高能灰度特征值。利用各个像素所述等效原子序数和双能高能灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值。通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息。此种方法可以较精确计算出被检物的重量，节省了传统的称重硬件成本。

权利要求

1.一种在安检系统中估算被检查物体重量的方法，包括步骤：通过双能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的等效原子序数值和双能高能灰度特征值；

利用各个像素所述等效原子序数和双能高能灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值；

通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息。

2.如权利要求1所述的方法，还包括步骤：

根据探测器像素之间的间距、射线源与探测器之间的距离以及射线源与检查物体之间的距离，估算被检查物体的图像上每个像素对应的探测器排列方向上的物理尺寸；

基于扫描速度和探测器的采集频率得到扫描方向上的像素物理尺寸；

通过将探测器排列方向上的物理尺寸与所述扫描方向上的像素物理尺寸相乘来得到每个像素的面积。

3.如权利要求1所述的方法，其中通过如下的步骤来创建质量厚度衰减曲线：利用厚度已知的不同种类的标定材料块得到射线衰减系数、等效原子序数和质量厚度三者之间的关系曲线，作为所述质量厚度衰减曲线。

4.如权利要求1所述的方法，其中通过线性插值来获得与所述等效原子序数和双能高能灰度特征值二者相对应的质量厚度值。

5.如权利要求1所述的方法，其中接收用户选择的感兴趣区域信息，累积感兴趣区域内像素的重量得到感兴趣区域的重量信息。

6.一种在安检系统中估算被检查物体重量的装置，包括：通过双能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的等效原子序数值和双能高能灰度特征值的装置；

利用各个像素所述等效原子序数和双能高能灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值的装置；

通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息的装置。

7.如权利要求6所述的装置，还包括：

根据探测器像素之间的间距、射线源与探测器之间的距离以及射线源与检查物体之间的距离，估算被检查物体的图像上每个像素对应的探测器排列方向上的物理尺寸的装置；

基于扫描速度和探测器的采集频率得到扫描方向上的像素物理尺寸的装置；

通过将探测器排列方向上的物理尺寸与所述扫描方向上的像素物理尺寸相乘来得到每个像素的面积的装置。

8.如权利要求6所述的装置，其中通过如下来创建质量厚度衰减曲线：利用厚度已知的不同种类的标定材料块得到射线衰减系数、等效原子序数和质量厚度三者之间的关系曲线，作为所述质量厚度衰减曲线。

9.如权利要求6所述的装置，其中通过线性插值来获得与所述等效原子序数和双能高能灰度特征值二者相对应的质量厚度值。

10.如权利要求6所述的装置，其中接收用户选择的感兴趣区域信息，累积感兴趣区域内像素的重量得到感兴趣区域的重量信息。

11.一种在安检系统中估算被检查物体重量的方法，包括步骤：通过单能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的灰度特征值；

利用各个像素所对应的所述灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值；

通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息，其中，通过如下的步骤来创建质量厚度衰减曲线：利用厚度已知的标定材料块得到射线衰减系数和质量厚度之间的关系曲线，作为所述质量厚度衰减曲线。

12.如权利要求11所述的方法，还包括步骤：根据探测器像素之间的间距、射线源与探测器之间的距离以及射线源与检查物体之间的距离，估算被检查物体的图像上每个像素对应的探测器排列方向上的物理尺寸；

基于扫描速度和探测器的采集频率得到扫描方向上的像素物理尺寸；

通过将探测器排列方向上的物理尺寸与所述扫描方向上的像素物理尺寸相乘来得到每个像素的面积。

13.如权利要求11所述的方法，其中选择铝作为标定材料块来获得所述质量厚度衰减曲线。

14.如权利要求11所述的方法，其中接收用户选择的感兴趣区域信息，累积感兴趣区域内像素的重量得到感兴趣区域的重量信息。

15.一种在安检系统中估算被检查物体重量的装置，包括：通过单能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的灰度特征值的装置；

利用各个像素所述灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值的装置；

通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息的装置，其中，通过如下的步骤来创建质量厚度衰减曲线：利用厚度已知的标定材料块得到射线衰减系数和质量厚度之间的关系曲线，作为所述质量厚度衰减曲线。

16.如权利要求15所述的装置，还包括：

根据探测器像素之间的间距、射线源与探测器之间的距离以及射线源与检查物体之间的距离，估算被检查物体的图像上每个像素对应的探测器排列方向上的物理尺寸的装置；

基于扫描速度和探测器的采集频率得到扫描方向上的像素物理尺寸的装置；

通过将探测器排列方向上的物理尺寸与所述扫描方向上的像素物理尺寸相乘来得到每个像素的面积的装置。

17.如权利要求15所述的装置，其中选择铝作为标定材料块来获得所述质量厚度衰减曲线。

18.如权利要求15所述的装置，其中接收用户选择的感兴趣区域信息，累积感兴趣区域内像素的重量得到感兴趣区域的重量信息。

19.一种计算机可读介质，记录有可执行指令，当该指令被处理器执行时，实现如权利要求1所述的方法。

20.一种计算机可读介质，记录有可执行指令，当该指令被处理器执行时，实现如权利要求11所述的方法。

说明书

在安检系统中估算被检查物体重量的方法和装置

技术领域

[0001] 本申请涉及安全检查，具体涉及一种基于射线成像的计算被检查物体重量的方法和装置。

背景技术

[0002] 安全检查在反恐、打击贩毒走私等领域有十分重要的意义。美国911之后，航空、铁路等公共场所对安全检查越来越重视。随着打击贩毒走私的深入，对海关集装箱、行李物品等的检查要求也越来越高。

[0003] 目前的安全检查系统以辐射成像系统为主流，其中又以双能射线成像系统应用最广，这种系统可获取的等效原子序数信息，即物质属性毫无疑问是被检物的一大特征，可以帮助审图员迅速判断被检物的安全等级。另外，重量往往也是被检物的重要特征之一，以往成像系统都集成称重硬件，比如小型安检设备中集成称重传感器、小型电子秤，大型安检设备集成地磅等来获取被检物的重量。这样导致整个系统复杂笨重。

发明内容

[0004] 鉴于现有技术中的一个或者多个问题，提出了一种基于射线图像的计算被检物重量的方法和装置，不仅能够获取足够精度的重量信息，还节省了传统的称重硬件成本。

[0005] 在本发明的一个方面，提出了一种在安检系统中估算被检查物体重量的方法，包括步骤：通过双能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的等效原子序数值和双能高能灰度特征值；利用各个像素所述等效原子序数和双能高能灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值；通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息。

[0006] 优选地，所述方法还包括步骤：根据探测器像素之间的间距、射线源与探测器之间的距离以及射线源与检查物体之间的距离，估算被检查物体的图像上每个像素对应的探测器排列方向上的物理尺寸；基于扫描速度和探测器的采集频率得到扫描方向上的像素物理尺寸；通过将探测器排列方向上的物理尺寸与所述扫描方向上的像素物理尺寸相乘来得到每个像素的面积。

[0007] 优选地，通过如下的步骤来创建质量厚度衰减曲线：利用厚度已知的不同种类的标定材料块得到射线衰减系数、等效原子序数和质量厚度三者之间的关系曲线，作为所述质量厚度衰减曲线。

[0008] 优选地，通过线性插值来获得与所述等效原子序数和双能高能灰度特征值二者相对应的质量厚度值。

[0009] 优选地，接收用户选择的感兴趣区域信息，累积感兴趣区域内像素的重量得到感兴趣区域的重量信息。

[0010] 在本发明的另一方面，提出了一种在安检系统中估算被检查物体重量的装置，包括：通过双能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的等效原子序数值和双能高能灰度特征值的装置；利用各个像素所述等效原子序数和双能高能灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值的装置；通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息的装置。

[0011] 在本发明的再一方面，提出了一种在安检系统中估算被检查物体重量的方法，包括步骤：通过单能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的灰度特征值；利用各个像素所述灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值；通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息。

[0012] 优选地，所述方法还包括步骤：根据探测器像素之间的间距、射线源与探测器之间的距离以及射线源与检查物体之间的距离，估算被检查物体的图像上每个像素对应的探测器排列方向上的物理尺寸；基于扫描速度和探测器的采集频率得到扫描方向上的像素物理尺寸；通过将探测器排列方向上的物理尺寸与所述扫描方向上的像素物理尺寸相乘来得到每个像素的面积。

[0013] 优选地，通过如下的步骤来创建质量厚度衰减曲线：利用厚度已知的标定材料块得到射线衰减系数和质量厚度之间的关系曲线，作为所述质量厚度衰减曲线。

[0014] 优选地，选择铝作为标定材料块来获得所述质量厚度衰减曲线。

[0015] 在本发明的再一方面，提出了一种在安检系统中估算被检查物体重量的装置，包括：通过单能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的灰度特征值的装置；利用各个像素所述灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值的装置；通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息的装置。

[0016] 利用上述的方案，在不改变安检系统的硬件的情况下计算被检查物体的重量，使得安检系统的结构变得简单，并且能够获得足够精度的重量信息，辅助判图员进行安全检查。

附图说明

[0017] 为了更好地理解本发明，将根据以下附图对本发明进行详细描述：

[0018] 图1示出了根据本发明实施例的双能X射线DR成像系统的示意图；

[0019] 图2示出了在图1所示的实施例中用于图像处理的计算机的内部结构的示意图；

[0020] 图3是在本发明实施例的安检系统中使用的标定材料块的示意图；

[0021] 图4示出了根据本发明实施例中使用四种标定材料块得到的质量厚度曲线的示意图；

[0022] 图5是描述根据本发明实施例的在双能系统中计算被检查物体的重量信息的过程的流程图；以及

[0023] 图6是描述根据本发明实施例的在单能系统中计算被检查物体的重量信息的过程的流程图。

具体实施方式

[0024] 下面将详细描述本发明的具体实施例，应当注意，这里描述的实施例只用于举例说明，并不用于限制本发明。在以下描述中，为了提供对本发明的透彻理解，阐述了大量特定细节。然而，对于本领域普通技术人员显而易见的是：不必采用这些特定细节来实行本发明。在其他实例中，为了避免混淆本发明，未具体描述公知的结构、材料或方法。

[0025] 在辐射成像原理中，最基本的公式是I＝I0exp(-μt)，即单能射线束流强度随吸收物质厚度按指数函数形式衰减，其中I0是未被衰减前的总光子数，I是衰减后的光子数，t是质量厚度，是厚度和密度的乘积；μ表示质量衰减系数，是能量E和原子序数Z的函数，它表征了物质属性。

[0026] 双能安检设备采用两种能谱不同的X射线穿透被检物，利用其输出信号的差异，可以获取被检物的材料等效原子序数信息。根据等效原子序数的大小，划分成四种类别，有机物，混合物，无机物和重金属，并分别使用橙、绿、蓝、紫分别着色，以彩色图像这种可视化方式提供审图员被扫描物的属性。在以往的双能X射线成像系统中，只计算或提供审图员物质属性这一重要信息，也是上述公式中μ的表征。根据本发明的实施例，在此过程中解析出质量厚度t，并根据系统几何结构，获取每个像素尺寸进而获得像素面积，计算质量厚度和面积的乘积，即可获得被检物的重量信息。

[0027] 图1示出了根据本发明实施例的双能射线系统的结构示意图。如图1所示的系统包括X射线源110，探测器模块150、采集电路160、控制器170和数据处理计算机180等。射线源110包括一个或多个X射线发生器，以便进行双能扫描。该多个X射线发生器分布在与被检查物体130的行进方向交叉的一个或者多个平面上。

[0028] 如图1所示，例如集装箱卡车之类的被检查物体130穿过射线源110与探测器150之间的扫描区域。在一些实施例中，探测器150和采集电路160例如是具有整体模块结构的探测器及数据采集器，例如多排探测器，用于探测透射被检物体130的射线，获得模拟信号，并且将模拟信号转换成数字信号，从而输出被检查物体130针对X射线的投影数据。例如针对高能射线设置一排探测器，针对低能射线设置另一排探测器，或者高能射线和低能射线分时使用同一排探测器。控制器170用于控制整个系统的各个部分同步工作。数据处理计算机180用来处理由数据采集器采集的数据，对数据进行处理并重建，输出结果。

[0029] 根据该实施例，探测器150和采集电路160用于获取被检查物体130的透射数据。采集电路160中包括数据放大成形电路，它可工作于(电流)积分方式或脉冲(计数)方式。采集电路150的数据输出电缆与控制器170和数据处理计算机180连接，根据触发命令将采集的数据存储在数据处理计算机180中。

[0030] 在一些实施例中，探测器模块150包括多个探测单元，接收穿透被检查物体130的X射线。数据采集电路160与探测器模块150耦接，将探测器模块160产生的信号转换为探测数据。控制器170通过控制线路CTRL1与射线源110连接，通过控制线路CTRL2与探测器模块连接，并且与数据采集电路连接，控制射线源中的一个或多个X射线发生器的至少两个X射线发生器轮流产生不同能量的X射线，从而随着被检查物体130的移动而发出穿透被检查物体130。此外，控制器170控制探测器模块150和数据采集电路160，分别获得与至少两种能量下X射线发生器相对应的探测数据。数据处理计算机180基于探测数据重建被检查物体130的图像，和/或根据探测数据处理得到被检查物体130至少一部分的重量信息。

[0031] 图2示出了如图1所示的数据处理计算机180的结构框图。如图2所示，采集电路160所采集的数据通过接口单元28和总线24存储在存储器21中。只读存储器(ROM)22中存储有计算机数据处理器的配置信息以及程序。随机存取存储器(RAM)23用于在处理器26工作过程中暂存各种数据。另外，存储器21中还存储有用于进行数据处理的计算机程序。内部总线24连接上述的存储器21、只读存储器22、随机存取存储器23、输入装置25、处理器26、显示装置27和接口单元28。

[0032] 在用户通过诸如键盘和鼠标之类的输入装置25输入的操作命令后，计算机程序的指令代码命令处理器26执行预定的数据重建算法，在得到数据处理结果之后，将其显示在诸如LCD显示器之类的显示装置27上，或者直接以诸如打印之类硬拷贝的形式输出处理结果。

[0033] 例如，射线源110可以是放射性同位素(例如钴-60)，也可以是低能的X光机或高能的X射线加速器等。

[0034] 例如，探测器阵列150从材料上划分，可以是气体探测器、闪烁体探测器或固体探测器等，从阵列排布上划分，可以是单排、双排或者多排，以及单层探测器或双层高低能探测器等。

[0035] 以上描述的是被检查物体，例如集装箱卡车，自行移动通过检查区域，但是本领域的技术人员应该想到，被检查物体放置在诸如皮带之类的传送机构上通过射线检查区域，也可以是被检查物体静止而射线源和探测器阵列移动完成扫描过程。

[0036] 本发明的一个实施例基于双能射线成像系统，计算出质量厚度这一信息，然后根据系统几何结构，获取每个像素尺寸进而获得像素面积，计算质量厚度和面积的乘积，即可获得被检物的重量信息。在本发明的实施例中，首先利用标定材料块进行标定，取得双能X射线衰减系数、等效原子序数和质量厚度三者之间的关系曲线，即质量厚度曲线，然后在实际的安检过程中利用确定的质量厚度曲线计算被检查物体至少一部分的密度，从而结合被检查物体的几何尺寸确定其重量信息。

[0037] 图3是在本发明实施例的安检系统中使用的标定材料块(标定装置)的示意图。如图3所示，一般标定装置包含4种典型材料，有机物、混合物、无机物和重金属，每种材料都有从薄到厚若干阶梯。X射线垂直穿过阶梯。

[0038] 传动方向与X射线方向垂直，使标定装置和成像系统有相对移动。当扫描被检查物体时，标定装置移开不遮挡束流，然后源出束，成像系统和被检查物体的位置相对移动，直至扫描完被检查物体，结束。当系统进入自动标定流程时，被检查物体移开不遮挡束流，然后源出束，标定阶梯逐级遮挡束流，采集完所有阶梯数据后结束。

[0039] 使用如图3所示的标定材料块来获取双能X射线衰减系数与等效原子序数两者的关系曲线，即获取分类曲线。获取分类曲线的标定过程简述如下，首先设计了标定装置，这个装置包括四种典型材料，石墨(C，Z＝6)、铝(Al，Z＝13)、铁(Fe，Z＝26)，铅(Pb，Z＝82)，它们分别代表了有机物、混合物、无机物和重金属，每种典型材料都有从薄到厚的若干阶梯。源出束获取每个阶梯的平均数据，然后拟合出四条曲线。

[0040] 然后，在分类曲线的基础上，获取双能X射线衰减系数、等效原子序数与质量厚度三者的关系曲线，即质量厚度衰减曲线。具体如下描述：

[0041] 首先，可以使用获取分类曲线的标定装置或者按照实际系统设计要求所实现的标定装置。此装置包含四种典型材料石墨(C，Z＝6)、铝(Al，Z＝13)、铁(Fe，Z＝26)，铅(Pb，Z＝82)，它们分别代表了有机物、混合物、无机物和重金属，每种典型材料都有从薄到厚的若干阶梯。

[0042] 源在双能模式下出束，系统进入自动标定流程，当机械传动分系统定位好每个阶梯的位置，即射线垂直穿过某个阶梯时，软件采集分系统采集若干列双能透射图像，采集完后停止采集，机械传动分系统又定位下一个阶梯，软件采集分系统启动采集，依次循环，采集完所有阶梯的双能透射图像。

[0043] 计算每个阶梯的双能高能统计数据-ln(I/I0)，其中I0为源出束时，双能高能射线没有被扫描物体遮挡的探测器数据即空气数据，I为源出束时双能高能射线透射过扫描物体的衰减数据，由于采集时，都采集了若干列，上述两种数据都为若干列数据的均值。这里只使用了双能高能数据，没有使用双能低能数据，因为双能高能的能量高，穿透力较强，可以获取较大质量厚度下的射线衰减值。但是在其他实施例中也可以使用双能低能数据或者是基于高能数据和低能数据产生的融合数据。

[0044] 在设计标定装置的时候，已知每个阶梯的质量厚度，因此可以得上述到统计数据和质量厚度的对应关系，以统计数据为横坐标，质量厚度值为纵坐标，拟合出4种典型材料的质量厚度衰减曲线，这里拟合方法可以使用最小二乘曲线拟合法。例如，统计每个阶梯的双能高能模式下的灰度特征G＝-ln(I/I0)，形成由灰度特征和质量厚度组成是一个数组，即[(G1,M1),(G2,M2),(G3,M3)…]，使用最小二乘法拟合这个数组，得到4条典型物质的质量厚度衰减曲线。

[0045] 图4示出了根据本发明实施例中使用四种标定材料块得到的质量厚度曲线的示意图。如图4所示，4种典型材料的质量衰减曲线，横轴为灰度特征-ln(I/I0)，即X射线穿过某材料衰减后的值I和没有衰减的值I0的比值取自然对数，纵轴为质量厚度，单位为g/cm2,曲线单调递增，从此图左上角到右下角，原子序数由小到大逐渐递增，石墨、铝、铁的曲线较为相近，铅的曲线与其它曲线离的较远。

[0046] 图5是描述根据本发明实施例的在双能系统中计算被检查物体的重量信息的过程的流程图。

[0047] 如图5所示，在步骤S510，通过双能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的等效原子序数值和双能高能灰度特征值。例如，当源在双能模式下出束获取被检查物体图像后，首先对图像进行校正、材料识别，获取每个像素点所对应物体的等效原子序数值Z。然后计算每个像素点的双能高能灰度特征G＝-ln(I/I0)，定位(G，Z)在质量厚度衰减曲线上的位置，由于已知(G，Z6)、(G，Z13)、(G，Z26)、(G，Z82)四点，且质量厚度衰减曲线单调递增，比较(G，Z)与上述四点的大小，可以确定(G，Z)等于其中一点或者在某已知两点之间。如果等于其中一点，那么可以直接获得质量厚度值M；如果在某已知两点之间，那么对其进行线性插值，获得所对应的质量厚度值M。

[0048] 在步骤S520，利用各个像素所述等效原子序数和双能高能灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值。例如，源在双能模式下出束，获取被检查物体图像后，首先对图像进行校正、材料识别，获取每个像素点所对应物体的等效原子序数值Z。然后计算每个像素点的双能高能模式下的灰度特征G＝-ln(I/I0)，定位(G，Z)在质量厚度衰减曲线上的位置，获取所对应的质量厚度值M。

[0049] 在步骤S530，通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息。在本发明的实施例中，根据探测器像素间距P(pitch)，X射线源(source，简写s)与探测器(detector，简写d)的距离Dsd，以及源与检查物体(object，简写o)的距离Dso，可以估算出X射线图像上每个像素对应的探测器排列方向上的物理尺寸d1＝P*Dso/Dsd。这里要说明的是被检查物体一般都有一定的厚度，源到物体的距离可以等效到源到物体中心的距离；计算扫描速度除以探测器采集频率的值，得到扫描方向上的像素物理尺寸d2，其中扫描速度是被检测物体与源的相对速度。至此，得到每个像素的面积S＝d1*d2。

[0050] 例如，计算每个像素的重量g＝M*S，遍历整幅扫描图像，累计所有像素的重量得到被检查物体的重量，或者在显示图像的软件界面上，用鼠标拾取ROI，累计此区域所有像素的重量得到感兴趣区的重量信息。

[0051] 上述实施例的方法可推广至单能成像过程中，此过程中只使用质量厚度衰减曲线，而不使用分类曲线。质量厚度衰减曲线中只有1条曲线，而不是4条，单能系统不能获得被检查物体的物质属性，所以在标定的时候，使用一种比较折中的典型物质即可，由于有机物、混合物和无机物它们的质量衰减曲线较为接近，重金属和这三种物质相差较大，在一般的扫描中，重金属一般较少，常见的为有机物、混合物和无机物，所以可以选择折中的混合物铝进行标定，获得单条质量厚度衰减曲线。

[0052] 图6是描述根据本发明实施例的在单能系统中计算被检查物体的重量信息的过程的流程图。

[0053] 如图6所示，在步骤S610，通过单能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的灰度特征值。例如，当扫描被检查物体时，获得每个像素的灰度特征-ln(I/I0)。

[0054] 在步骤S620，利用各个像素所对应的灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值。例如定位灰度特征-ln(I/I0)在质量厚度衰减曲线上的位置，便可获得质量厚度值。

[0055] 在步骤S630，通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息。例如，类似地，计算每个像素的面积，从而得到像素面积和质量厚度的乘积—重量信息，遍历整幅扫描图像，累计所有像素的重量得到被检查物体的重量，或者指定ROI，累计此区域所有像素的重量得到感兴趣区的重量信息。

[0056] 另外，本发明实施例的方法，也可以在低能真/伪双能系统上使用(一般使用千电子伏(KeV)和兆电子伏(MeV)，利用这两个单位进行低能、高能系统的界定，几十千电子伏～几百千电子伏为低能系统，几兆电子伏以上的为高能系统)。由于在低能真/伪双能系统中，不具备识别重金属的能力，设计标定装置的时候，可以把典型材料铅省略，只使用有机物、混合物和无机物的典型材料石墨、铝和铁，阶梯厚度和个数根据低能伪双能系统的材料识别范围进行界定。高能真双能系统具备识别有机物、混合物、无机物和重金属的能力，标定材料可以选择四种，石墨、铝、铁和铅，同样的，阶梯厚度和个数根据低能伪双能系统的材料识别范围进行界定。当然，在低能单能、高能单能系统中，本发明实施例的上述方法也能使用。

[0057] 以上的详细描述通过使用示意图、流程图和/或示例，已经阐述了估算被检查物体的重量信息的方法和装置的众多实施例。在这种示意图、流程图和/或示例包含一个或多个功能和/或操作的情况下，本领域技术人员应理解，这种示意图、流程图或示例中的每一功能和/或操作可以通过各种结构、硬件、软件、固件或实质上它们的任意组合来单独和/或共同实现。在一个实施例中，本发明的实施例所述主题的若干部分可以通过专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)、数字信号处理器(DSP)、或其他集成格式来实现。然而，本领域技术人员应认识到，这里所公开的实施例的一些方面在整体上或部分地可以等同地实现在集成电路中，实现为在一台或多台计算机上运行的一个或多个计算机程序(例如，实现为在一台或多台计算机系统上运行的一个或多个程序)，实现为在一个或多个处理器上运行的一个或多个程序(例如，实现为在一个或多个微处理器上运行的一个或多个程序)，实现为固件，或者实质上实现为上述方式的任意组合，并且本领域技术人员根据本公开，将具备设计电路和/或写入软件和/或固件代码的能力。此外，本领域技术人员将认识到，本公开所述主题的机制能够作为多种形式的程序产品进行分发，并且无论实际用来执行分发的信号承载介质的具体类型如何，本公开所述主题的示例性实施例均适用。信号承载介质的示例包括但不限于：可记录型介质，如软盘、硬盘驱动器、紧致盘(CD)、数字通用盘(DVD)、数字磁带、计算机存储器等；以及传输型介质，如数字和/或模拟通信介质(例如，光纤光缆、波导、有线通信链路、无线通信链路等)。

[0058] 虽然已参照几个典型实施例描述了本发明，但应当理解，所用的术语是说明和示例性、而非限制性的术语。由于本发明能够以多种形式具体实施而不脱离发明的精神或实质，所以应当理解，上述实施例不限于任何前述的细节，而应在随附权利要求所限定的精神和范围内广泛地解释，因此落入权利要求或其等效范围内的全部变化和改型都应为随附权利要求所涵盖。