一种TDICCD像移检测及补偿方法转让专利

申请号 : CN201610861015.6

文献号 : CN106525002B

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法律信息:

相似专利:

发明人 : 王旭明黄伟于生全王媛媛林悦贺玮魏志勇张孝弘

申请人 : 北京空间机电研究所

摘要 :

本发明涉及一种TDICCD像移检测补偿方法,不同于机械像移补偿以及激光测距像移补偿方案,在未知高程遥感探测的载荷配置上,仅增加一台CMOS小相机以及适量的运算资源,实时检测未知高程下地物在TDICCD焦面上的像移速度,利用给定算法实时计算积分时间Tint,实现像移补偿,可一定程度上改善由于像移导致的图像质量退化。在深空探测任务中,由于待探测星球的高程信息未知,因此利用传统的计算方法来获得积分时间不可行,本发明采用CMOS+TDICCD双相机模式实现像移补偿,具备星上可实现性,有效提高原始图像质量。

权利要求 :

1.一种TDICCD像移检测及补偿方法,其特征在于步骤如下:步骤一:对多种典型地物在时间间隔为Δt的多幅图像中的像元位置差来做平均得出ΔL,利用公式(1)获得CMOS像面上的像移速度V2:步骤二:对于安装在同一个平台上的两台相机,即TDICCD相机和CMOS相机来说,地物的运动速度是相同的,利用公式(2)得到TDICCD像移速度V1:式中,f1为TDICCD相机焦距,V1为像移速度;f2为CMOS相机焦距,V2为像移速度;

步骤三:设TDICCD相机的像元尺寸为d1,利用TDICCD相机的像移速度V1以及像元尺寸d1,由下式(3)计算出TDICCD的积分时间;

从而完成实时检测,实现像移补偿功能;

其中,对于安装在同一个平台上的两台相机来说,地物的运动速度是相同的,因此存在以下比例关系:

2.根据权利要求1所述的一种TDICCD像移检测及补偿方法,其特征在于:所述步骤一中,利用星载CMOS测速仪,通过对多种典型地物在时间间隔为Δt的多幅图像中的像元位置差来做平均,获得CMOS像面上的像移速度V2。

说明书 :

一种TDICCD像移检测及补偿方法

技术领域

[0001] 本发明涉及一种TDICCD像移检测以及补偿方法,属于航天遥感技术领域。

背景技术

[0002] TDICCD的积分时间必须和焦面上的图像移动速度相匹配。两者失配将产生像移,像移的存在会导致图像模糊,灰度失真,对比度和分辨率下降等问题,极大地影响了成像的质量,进而造成目标难以识别或无法提取,所以必须对其进行像移补偿。
[0003] 空间光学TDICCD相机像移产生的原因较多,目前主要是针对由于飞行器前向飞行造成的前向像移的补偿问题。目前大多采用机械式像移补偿法、光学式像移补偿法,这些方法相对来说代价较大。

发明内容

[0004] 本发明技术解决问题:克服现有技术的不足,提供一种TDICCD像移检测以及补偿方法,采用CMOS+TDICCD像移补偿模式,在未知高程遥感探测任务中,不依赖于卫星轨道高度等信息,利用一台CMOS小相机以及适量的运算资源,实时检测地物在TDICCD焦面上的像移速度,进而得出目标成像点的积分时间,实现像移补偿,在很大程度上改善由于像移导致的图像质量退化,使图像质量大大提高。
[0005] 本发明的技术解决方案是:一种TDICCD像移检测以及补偿方法,步骤如下:
[0006] 步骤一:如图2所示选取典型地物,对多种典型地物在时间间隔为Δt的多幅图像中的像元位置差来做平均得出ΔL,利用公式(1)获得CMOS像面上的像移速度V2:
[0007]
[0008] 步骤二:对于安装在同一个平台上的两台相机,即TDICCD相机和CMOS相机来说,地物的运动速度是相同的,利用公式(2)得到TDICCD像移速度V1:
[0009]
[0010] 式中,f1为TDICCD相机焦距,V1为像移速度;f2为CMOS相机焦距,V2为像移速度;
[0011] 步骤三:设TDICCD相机的像元尺寸为d1,利用TDICCD相机的像移速度V1以及像元尺寸d1,由下式(3)计算出TDICCD的积分时间;
[0012]
[0013] 从而完成实时检测,实现像移补偿功能。
[0014] 所述第一步中,利用星载CMOS测速仪,通过对多种典型地物在时间间隔为Δt的多幅图像中的像元位置差来做平均,获得CMOS像面上的像移速度V2。实现在未知高程遥感探测任务中,不依赖于卫星轨道高度信息,利用一台CMOS小相机以及适量的运算资源,实时检测地物在TDICCD焦面上的像移速度,进而得出目标成像点的积分时间,实现像移补偿。
[0015] 本发明与现有技术相比的优点在于:本发明采用CMOS+TDICCD像移补偿模式,在未知高程遥感探测任务中,不依赖于卫星轨道高度等信息,利用一台CMOS小相机以及适量的运算资源,实时检测地物在TDICCD焦面上的像移速度,进而得出目标成像点的积分时间,实现像移补偿,在很大程度上改善由于像移导致的图像质量退化,使图像质量大大提高,可用于未知高程遥感探测任务。

附图说明

[0016] 图1为像移速度示意图;
[0017] 图2为CMOS测速仪像移检测示意图;
[0018] 图3为本发明的方法原理图。

具体实施方式

[0019] 本发明涉及一种TDICCD像移检测及补偿方法,像移速度计算的基本原理是,在短时间内对同一地物成像,得到两幅面阵图像,根据成像时间间隔和像移距离,可以得到像移速度,从而利用公式(1)(2)(3)可以计算得出TDICCD的积分时间。
[0020] 本发明具体实施步骤如图3所示,过程如下:
[0021] 图1所示卫星系统分别装备TDICCD相机和CMOS相机,假设卫星运行高程为H,TDICCD相机的焦距为f1,像移速度为V1;CMOS相机的焦距f2,像移速度为V2。地物运行速度为V地,对于安装在同一个平台上的两台相机来说,地物的运动速度是相同的。因此存在以下比例关系:
[0022]
[0023]
[0024] 因此有,
[0025]
[0026] 而V2可以通过相同地物在CMOS测速相机上间隔时间为Δt的两幅图像上的位移ΔL计算得出,如下式:
[0027]
[0028] 设TDICCD相机的像元尺寸为d1,有了TDICCD相机的像移速度V1以及像元尺寸d1,就由下式可以计算出TDICCD的积分时间Tint:
[0029]
[0030] 由于d1,f2,f1,Δt都是可以精确测量的,f2,f1,Δt的测量误差不超过1/1000,因此积分时间Tint的误差主要来源于ΔL。利用多种典型地物在时间间隔为Δt的多幅图像中的像元位置差来做平均,从而减小ΔL的误差。
[0031] 本发明首先通过分析空间光学探测任务中,像移存在的危害,提出利用星载CMOS测速仪,通过对多种典型地物在时间间隔为Δt的多幅图像中的像元位置差来做平均,获得CMOS像面上的像移速度V2;进而结合相机焦距推算出TDICCD像移速度V1;最后计算得到TDICCD的积分时间Tint,从而实现未知高程遥感探测任务中像移的实时检测及补偿。方法简单有效、经济适用,为提高空间遥感相机成像质量,提高相机工作的可靠性打下了良好的基础。
[0032] 本发明说明书中未作详细描述的内容属本领域技术人员的公知技术。