本发明公开了一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法，基于用户层、装置层、测试用例层、测试对象层的分布式架构，用户层包括测试工具和输出测试报告，装置层包括待测装置、配置工具、管理插件和待测插件，测试用例层包括测试元件库、测试脚本库，测试对象层包括各种待测插件库。本发明的用于微处理器的平台化插件自动测试方法，只需对测试模板进行简单修改就能够实现不同种类插件微处理器进行自动测试，提高了测试用例的复用、灵活和可扩展性，减少测试人员的工作量，大大减少维护系统的成本和时间，从而提高了开发效率，缩短产品开发周期，保证产品可靠性，具有良好的应用前景。
1.一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法，其特征在于：包括以下步骤，步骤(A)，用户层调用测试工具构建测试对象层的多个待测插件库；
步骤(B)，用户层根据待测插件库的功能，模块化选择测试元件，构建多个测试元件库，构建多个位于测试用例层的测试元件库；
步骤(C)，用户层根据不同种类的微处理器插件类型，配置模块化的测试模板；
步骤(D)，用户层调用测试工具识别测试模板、待测插件库、测试元件库，自动构建待测插件测试程序；
步骤(E)，装置层内的配置工具，根据实际待测插件进行配置，构建待测装置的配置信息；
步骤(F)，用户层调用测试工具将待测装置的配置信息、待测插件程序合并，自动在线更新至装置层的管理插件和待测插件中；
步骤(G)，用户层内的测试工具自动执行测试用例层的测试脚本，与装置层内的待测装置进行交互，完成自动测试，输出测试报告。
2.根据权利要求1所述的一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法，其特征在于：步骤(D)，用户层调用测试工具识别测试模板、待测插件库、测试元件库，调用测试用例层内对应的测试脚本，自动构建待测插件测试程序。
3.根据权利要求1所述的一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法，其特征在于：步骤(E)，装置层内的配置工具，根据实际待测插件进行配置，构建待测装置的配置信息，所述待测装置的配置信息可根据需求投入或退出。
4.根据权利要求1所述的一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法，其特征在于：步骤(E)，装置层内还设置有管理插件及多个待测插件，所述管理插件用于与用户层内的测试工具进行交互，以及与多个待测插件进行交互，所述管理插件与测试工具之间采用Ethernet方式交互，所述管理插件与多个待测插件之间采用CAN方式交互。
5.根据权利要求1所述的一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法，其特征在于：步骤(F)，用户层调用测试工具将待测装置的配置信息、待测插件程序合并，自动在线更新至装置层的管理插件和待测插件中，过程如下：(F1)测试工具根据待测装置的配置信息的解析，将待测插件程序的插件槽号信息合并后，形成配置文件，将配置文件在线更新至管理插件存储中；
(F2)将待测插件程序在线更新至待测插件的存储器中。
6.根据权利要求1所述的一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法，其特征在于：步骤(G)，用户层内的测试工具自动执行测试用例层的测试脚本，与装置层内的待测装置进行交互，完成自动测试，输出测试报告，过程如下：(G1)施加输入数据至装置层内的管理插件；
(G2)管理插件将输入数据下发给装置层内对应的待测插件，待测插件返回输出结果给管理插件；
(G3)管理插件将输出结果上传给装置层内的测试工具，测试工具将接收输出结果与测试用例层的测试脚本预期结果进行比较，完成自动测试，保存为测试报告，并输出测试报告。
7.根据权利要求6所述的一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法，其特征在于：所述输入数据为待测插件库、测试元件库中定义的可供调试的变量；施加输入数据至装置层内的管理插件过程是指通过用户层的测试工具通过管理插件调用测试用例层去修改对应的待测插件库、测试元件库中的调试变量。
一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法
技术领域
[0001] 本发明涉及嵌入式系统软件测试技术领域，具体涉及一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法。
背景技术
[0002] 随着微处理器技术的高速发展，微处理器已越来越多地应用于航空航天、工业控制、家用电器等各个领域。由于用户需求的多样化，电子产品功能的复杂化，推动所采用的微处理器种类、性能不断丰富，导致嵌入式底层软件开发维护、测试工作需要耗费大量时间，特别在电子产品开发周期短的情况下，保证电子产品质量变得尤为困难，是当前急需解决的问题。
发明内容
[0003] 本发明的目的是克服现有的在电子产品开发周期短的情况下，微处理器的嵌入式底层软件开发维护、测试工作需要耗费大量时间，难以保证电子产品质量的问题。本发明的用于微处理器的平台化插件自动测试方法，只需对测试模板进行简单修改就能够实现不同种类插件微处理器进行自动测试，提高了测试用例的复用、灵活和可扩展性，减少测试人员的工作量，大大减少维护系统的成本和时间，从而提高了开发效率，缩短产品开发周期，保证产品可靠性，具有良好的应用前景。
[0004] 为了达到上述目的，本发明所采用的技术方案是：
[0005] 一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法，其特征在于：包括以下步骤，[0006] 步骤(A)，用户层调用测试工具构建测试对象层的多个待测插件库；
[0007] 步骤(B)，用户层根据待测插件库的功能，模块化选择测试元件，构建多个测试元件库，构建多个位于测试用例层的测试元件库；
[0008] 步骤(C)，用户层根据不同种类的微处理器插件类型，配置模块化的测试模板；
[0009] 步骤(D)，用户层调用测试工具识别测试模板、待测插件库、测试元件库，自动构建待测插件测试程序；
[0010] 步骤(E)，装置层内的配置工具，根据实际待测插件进行配置，构建待测装置的配置信息；
[0011] 步骤(F)，用户层调用测试工具将待测装置的配置信息、待测插件程序合并，自动在线更新至装置层的管理插件和待测插件中；
[0012] 步骤(G)，用户层内的测试工具自动执行测试用例层的测试脚本，与装置层内的待测装置进行交互，完成自动测试，输出测试报告。
[0013] 前述的一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法，其特征在于：步骤(D)，用户层调用测试工具识别测试模板、待测插件库、测试元件库，调用测试用例层内对应的测试脚本，自动构建待测插件测试程序。
[0014] 前述的一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法，其特征在于：步骤(E)，装置层内的配置工具，根据实际待测插件进行配置，构建待测装置的配置信息，所述待测装置的配置信息可根据需求投入或退出。
[0015] 前述的一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法，其特征在于：步骤(E)，装置层内还设置有管理插件及多个待测插件，所述管理插件用于与用户层内的测试工具进行交互，以及与多个待测插件进行交互，所述管理插件与测试工具之间采用Ethernet方式交互，所述管理插件与多个待测插件之间采用CAN方式交互。
[0016] 前述的一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法，其特征在于：步骤(F)，用户层调用测试工具将待测装置的配置信息、待测插件程序合并，自动在线更新至装置层的管理插件和待测插件中，过程如下：
[0017] (F1)测试工具根据待测装置的配置信息的解析，将待测插件程序的插件槽号信息合并后，形成配置文件，将配置文件在线更新至管理插件存储中；
[0018] (F2)将待测插件程序在线更新至待测插件的存储器中。
[0019] 前述的一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法，其特征在于：步骤(G)，用户层内的测试工具自动执行测试用例层的测试脚本，与装置层内的待测装置进行交互，完成自动测试，输出测试报告，过程如下：
[0020] (G1)施加输入数据至装置层内的管理插件；
[0021] (G2)管理插件将输入数据下发给装置层内对应的待测插件，待测插件返回输出结果给管理插件；
[0022] (G3)管理插件将输出结果上传给装置层内的测试工具，测试工具将接收输出结果与测试用例层的测试脚本预期结果进行比较，完成自动测试，保存为测试报告，并输出测试报告。
[0023] 前述的一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法，其特征在于：所述输入数据为待测插件库、测试元件库中定义的可供调试的变量；施加输入数据至装置层内的管理插件过程是指通过用户层的测试工具通过管理插件调用测试用例层去修改对应的待测插件库、测试元件库中的调试变量。
[0024] 本发明的有益效果是：本发明的用于微处理器的平台化插件自动测试方法，只需对测试模板进行简单修改就能够实现不同种类插件微处理器进行自动测试，提高了测试用例的复用、灵活和可扩展性，减少测试人员的工作量，大大减少维护系统的成本和时间，从而提高了开发效率，缩短产品开发周期，保证产品可靠性，具有良好的应用前景。
附图说明
[0025] 图1是本发明的用于微处理器的平台化插件自动测试系统的系统框图。
[0026] 图2是本发明的用于微处理器的平台化插件自动测试方法所需文件的格式图。
[0027] 图3是本发明的管理插件、待测插件之间的关系图。
[0028] 图4是本发明的测试用例层的用例示意图。
具体实施方式
[0029] 下面将结合说明书附图，对本发明作进一步的说明。
[0030] 本发明的用于微处理器的平台化插件自动测试方法，只需对测试模板进行简单修改就能够实现不同种类插件微处理器进行自动测试，提高了测试用例的复用、灵活和可扩展性，减少测试人员的工作量，大大减少维护系统的成本和时间，从而提高了开发效率，缩短产品开发周期，保证产品可靠性，基于如图1及图2所示的用于微处理器的平台化插件自动测试系统实现，该系统基于用户层、装置层、测试用例层、测试对象层的分布式架构，用户层包括测试工具和输出测试报告，装置层包括待测装置、配置工具、管理插件和待测插件，测试用例层包括测试元件库、测试脚本库，测试对象层包括各种待测插件库，本发明的用于微处理器的平台化插件自动测试方法，包括以下步骤，
[0031] 步骤(A)，用户层调用测试工具构建测试对象层的多个待测插件库；
[0032] 步骤(B)，用户层根据待测插件库的功能，模块化选择测试元件，构建多个测试元件库，构建多个位于测试用例层的测试元件库，
[0033] 支持多种不同种类的微处理器的待测插件库，每种待测插件库功能有差异；支持模块化选择测试元件形成测试元件库，所述待测插件库为.syslib文件，所述测试元件库为.testlib文件；
[0034] 步骤(C)，用户层根据不同种类的微处理器插件类型，配置模块化的测试模板，不同种类微处理器的芯片架构、编译环境有差异，需要根据微处理器类型配置测试模板，所述测试模板包括编译模板、链接模板，编译模板用于编译工具识别；链接模板用于连接工具生成可执行程序，所述编译模板为.mk文件，所述链接模板为.link文件；
[0035] 步骤(D)，用户层调用测试工具识别测试模板、待测插件库、测试元件库，调用测试用例层内对应的测试脚本，自动构建待测插件测试程序，所述测试工具为testtool，所述测试脚本为.sh文件，所述待测插件测试程序为.hex文件；
[0036] 步骤(E)，装置层内的配置工具，根据实际待测插件进行配置，构建待测装置的配置信息，所述待测装置的配置信息可根据需求投入或退出，装置层内还设置有管理插件及多个待测插件，所述管理插件用于与用户层内的测试工具进行交互，以及与多个待测插件进行交互，所述管理插件与测试工具之间采用Ethernet方式交互，所述管理插件与多个待测插件之间采用CAN方式交互；
[0037] 步骤(F)，用户层调用测试工具将待测装置的配置信息、待测插件程序合并，自动在线更新至装置层的管理插件和待测插件中，过程如下：
[0038] (F1)测试工具根据待测装置的配置信息的解析，将待测插件程序的插件槽号信息合并后，形成配置文件，将配置文件在线更新至管理插件存储中；
[0039] (F2)将待测插件程序在线更新至待测插件的存储器中；
[0040] 装置层内的配置工具为configtool，所述配置信息为.config文件，设置在配置工具内；所述配置文件为.bin文件；
[0041] 步骤(G)，用户层内的测试工具自动执行测试用例层的测试脚本，与装置层内的待测装置进行交互，完成自动测试，输出测试报告，过程如下：
[0042] (G1)施加输入数据至装置层内的管理插件；所述输入数据指在待测插件库、测试元件库中定义的可供调试的变量；施加输入数据至装置层内的管理插件是指通过用户层的测试工具控制管理插件调用测试用例层去修改对应的待测插件库、测试元件库中的调试变量，待测插件会根据调试变量的值执行不同的逻辑分支，产生不同的输出结果；
[0043] (G2)管理插件将输入数据下发给装置层内对应的待测插件，待测插件返回输出结果给管理插件；
[0044] (G3)管理插件将输出结果上传给装置层内的测试工具，测试工具将接收输出结果与测试用例层的测试脚本预期结果进行比较，完成自动测试，保存为测试报告，并输出测试报告，所述测试脚本为.py文件，所述测试报告为.report文件。
[0045] 如图3所示，装置层包括管理插件和若干个待测插件构成，管理插件用于对上层用户层内的测试工具进行交互，以及负责与多个待测插件进行交互，待测插件的数量可扩展。
[0046] 采用本发明的用于微处理器的平台化插件自动测试方法，根据插件(微处理器)的功能，选择不同的测试用例，完成平台化测试，新开发插件或者升级插件，可以通过平台化自动测试方快速进行功能测试，提高产品发布可靠性。
[0047] 如图4所示，本发明的的测试用例层，包括下载(TestCase_Download)、动态元件(TestCase_Dynamic)、数据交换(TestCase_Exchange)、参数管理(TestCase_Para)、调试查询(TestCase_Query)、任务调度(TestCase_Schedule)、系统接口(TestCase_SysAPI)、异常记录(TestCase_Exception)用例构成。
[0048] 以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征及优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
