显示面板及包含其的显示装置

摘要

本申请公开了显示面板及包含其的显示装置。显示面板包括阵列基板，阵列基板包括显示区以及围绕所述显示区的非显示区；所述显示区包括多条沿第一方向延伸、沿第二方向排列的扫描线，多条沿第二方向延伸、沿第一方向排列的数据线，阵列排布的多个像素区；所述显示区还包括测试电路区，所述测试电路区包括多个开关元件，各所述数据线与各个开关元件一一对应连接。这样的显示面板由于将测试电路设置在任意两行像素区之间或任意两列像素区之间，使得既可以实现显示面板的窄边框化，又可以在显示面板使用过程中采用测试电路进行故障排查。

权利要求

1.一种显示面板，其特征在于，包括阵列基板，所述阵列基板包括显示区以及围绕所述显示区的非显示区；

所述显示区包括多条沿第一方向延伸、沿第二方向排列的扫描线，多条沿第二方向延伸、沿第一方向排列的数据线，阵列排布的多个像素区；

所述显示区还包括测试电路区，所述测试电路区包括多个开关元件，各所述数据线与各个开关元件一一对应连接；

所述测试电路区沿第一方向延伸，且设置在任意相邻两条扫描线之间，或者所述测试电路区沿第二方向延伸，且设置在任意相邻两条数据线之间。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，当所述测试电路区沿第一方向延伸，且设置在任意相邻两条扫描线之间时，所述显示区为圆形，所述显示区中包括两条相邻的扫描线，所述两条相邻的扫描线中的任意一条扫描线向所述阵列基板所在平面的正投影与各所述数据线向阵列基板所在平面的正投影相交；

所述测试电路区设置在所述两条相邻的扫描线之间。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，当所述测试电路区沿第二方向延伸，且设置在任意相邻两条数据线之间时，所述显示区为圆形，所述显示区中包括两条相邻的数据线，所述两条相邻的数据线中的任意一条数据线向所述阵列基板所在平面的正投影与各所述扫描线向阵列基板所在平面的正投影相交；

所述测试电路区设置在所述两条相邻的数据线之间。

4.根据权利要求1或2所述的显示面板，其特征在于，当所述测试电路区沿第一方向延伸，且设置在任意相邻两条扫描线之间时，所述显示面板还包括透明盖板以及设置在所述阵列基板和所述透明盖板之间的有机发光材料层；

所述有机发光材料层包括与所述多个像素区一一对应的多个发光单元，所述多个发光单元阵列排布；

任意相邻两行所述发光单元之间的间距相等，且任意相邻两列所述发光单元之间的间距相等；

除分别与所述测试电路区相邻、位于所述测试电路区异侧的两行所述像素区之间的间距之外，各任意相邻两行像素区之间的间距相等且小于任意相邻两行发光单元之间的间距。

5.根据权利要求1或3所述的显示面板，其特征在于，当所述测试电路区沿第二方向延伸，且设置在任意相邻两条数据线之间时，所述显示面板还包括透明盖板以及设置在所述阵列基板和所述透明盖板之间的有机发光材料层；

所述有机发光材料层包括与所述多个像素区一一对应的多个发光单元，所述多个发光单元阵列排布；

任意相邻两行所述发光单元之间的间距相等，且任意相邻两列所述发光单元之间的间距相等；

除分别与所述测试电路区相邻、位于所述测试电路区异侧的两列所述像素区之间的间距之外，各任意相邻两列像素区之间的间距相等且小于任意相邻两列发光单元之间的间距。

6.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，

其中，P1为除分别与所述测试电路区相邻、位于所述测试电路区异侧的两行所述像素区之间的间距之外，各任意相邻两行像素区之间的间距，P2为任意相邻两行发光单元之间的间距。

7.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，

其中，L1为除分别与所述测试电路区相邻、位于所述测试电路区异侧的两列所述像素区之间的间距之外，各任意相邻两列像素区之间的间距，L2为任意相邻两列发光单元之间的间距。

8.根据权利要求1所述显示面板，其特征在于，

所述多个开关元件被分成N个开关元件组，每个开关元件组包括多个开关元件；

所述多条数据线被分成N个数据线组，每个数据线组中包括多条数据线；各所述数据线组与一个所述开关元件组一一对应；

任意一个所述数据线组中的各条数据线与该数据线组对应的开关元件组中的各个开关一一对应连接。

9.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括权利要求1-8任意一项所述的显示面板。

说明书

显示面板及包含其的显示装置

技术领域

[0001] 本申请涉及显示技术领域，具体涉及有机发光显示技术领域，尤其涉及显示面板及包含其的显示装置。

背景技术

[0002] 为了在显示面板与控制电路连接之前检测显示面板是否有缺陷，可以在显示面板中设置有测试电路区以及与测试电路区中的测试电路连接的测试垫。可以在测试垫上施加电信号，通过短路棒将电信号传输到显示面板的每一条数据线上以检测显示面板的像素是否有缺陷。在显示面板与控制电路连接之后，短路棒以及测试垫在显示面板的实际工作中就不再起作用了。

[0003] 通常测试电路区及测试垫设置在显示面板的非显示区中，由于测试电路区占用非显示区的一定面积，不利于显示面板的窄边框化。

发明内容

[0004] 鉴于现有技术存在的上述问题，期望提供一种显示面板及包含其的显示装置，以解决背景技术中所述的至少部分技术问题。

[0005] 第一方面，本申请实施例提供了一种显示面板，包括阵列基板，阵列基板包括显示区以及围绕显示区的非显示区；显示区包括多条沿第一方向延伸、沿第二方向排列的扫描线，多条沿第二方向延伸、沿第一方向排列的数据线，阵列排布的多个像素区；显示区还包括测试电路区，测试电路区包括多个开关元件，各数据线与各个开关元件一一对应连接。

[0006] 可选的，测试电路区沿第一方向延伸，且设置在任意相邻两条扫描线之间。

[0007] 可选的，显示区为圆形，显示区中包括两条相邻的扫描线，两条相邻的扫描线中的任意一条扫描线向阵列基板所在平面的正投影与各数据线向阵列基板所在平面的正投影相交；测试电路区设置两条相邻的扫描线之间。

[0008] 可选的，测试电路区沿第二方向延伸，且设置在任意相邻两条数据线之间。

[0009] 可选的，显示区为圆形，显示区中包括两条相邻的数据线，两条相邻的数据线中的任意一条数据线向阵列基板所在平面的正投影与各扫描线向阵列基板所在平面的正投影相交；测试电路区设置在两条相邻的数据线之间。

[0010] 可选的，显示面板还包括透明盖板以及设置在阵列基板和透明盖板之间的有机发光材料层；有机发光材料层包括与多个像素区一一对应的多个发光单元，多个发光单元阵列排布；任意相邻两行发光单元之间的间距相等，且任意相邻两列发光单元之间的间距相等；除分别与测试电路区相邻、位于测试电路区异侧的两行像素区之间的间距之外，各任意相邻两行像素区之间的间距相等且小于任意相邻两行发光单元之间的间距。

[0011] 可选的，显示面板还包括透明盖板以及设置在阵列基板和透明盖板之间的有机发光材料层；有机发光材料层包括与多个像素区一一对应的多个发光单元，多个发光单元阵列排布；任意相邻两行发光单元之间的间距相等，且任意相邻两列发光单元之间的间距相等；除分别与测试电路区相邻、位于测试电路区异侧的两列像素区之间的间距之外，各任意相邻两列像素区之间的间距相等且小于任意相邻两列发光单元之间的间距。

[0012] 可选的， 其中，P1为除分别与测试电路区相邻、位于测试电路区异侧的两列像素区之间的间距之外，各任意相邻两行像素区之间的间距，P2为任意相邻两行发光单元之间的间距。

[0013] 可选的， 其中，L1为除分别与测试电路区相邻、位于测试电路区异侧的两列像素区之间的间距之外，各任意相邻两列像素区之间的间距，L2为任意相邻两列发光单元之间的间距。

[0014] 可选的，多个开关元件被分成N个开关元件组，每个开关元件组包括多个开关元件；多条数据线被分成N个数据线组，每个数据线组中包括多条数据线；各数据线组与一个开关元件组一一对应；任意一个数据线组中的各条数据线与该数据线组对应的开关元件组中的各个开关一一对应连接。

[0015] 第二方面，本申请实施例提供了一种显示装置，显示装置包括上述的显示面板。

[0016] 本申请提供的显示面板及包含其的显示装置，通过在被非显示区围绕的显示区中设置测试电路区，从而不但可以实现窄边框的显示面板还可以保留测试电路区，以便在显示面板使用过程中排查故障

附图说明

[0017] 通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

[0018] 图1为本申请实施例提供的显示面板的一种结构示意图；

[0019] 图2为图1所示测试电路区与数据线的对应关系示意图；

[0020] 图3为本申请实施例提供的显示面板的又一种结构示意图；

[0021] 图4为本申请实施例提供的一种显示装置结构示意图。

具体实施方式

[0022] 下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释相关发明，而非对该发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与有关发明相关的部分。

[0023] 需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。

[0024] 请参考图1，图1示出了本申请实施例提供的显示面板的一种结构示意图。如图1所示，显示面板100包括阵列基板110、有机发光材料层120。此外，显示面板还包括封装材料层(图中未示出)。

[0025] 如图1所示，阵列基板110包括显示区111以及非显示区112。其中非显示区112围绕显示区111。

[0026] 在显示区111中包括多条沿第一方向延伸、沿第二向排列的扫描线1101；多条沿第二方向延伸、沿第一向排列的数据线1102以及由数据线1102和扫描线1101交叉设置形成的多个像素区1103。

[0027] 在显示区111中还包括测试电路区1104。测试电路区1104中可以包括多个开关元件。各个开关元件与各个上述数据线一一对应。具体地，

[0028] 请参考图2，其示出了图1所示测试电路区与数据线的对应关系示意图。如图2所示，测试电路区1104中包括多个开关元件T。各条数据线1102与各个开关元件T一一对应连接。

[0029] 在本实施例的一些可选实现方式中，如图2所示，测试电路区1104中的多个开关元件T可以被分成N开关元件组SW1、SW2、…、SWN，每个开关元件组中包括多个开关元件T。多条数据线201也可以被分成N个数据线组D1、D2、…、DN，每个数据线组中包括多条数据线1102。各个数据线组与各个开关元件组一一对应。进一步地，任意一个数据线组中的各条数据线
1102与该数据线组对应的开关元件组中的各个开关T一一对应连接。每一个开关元件组对应一个测试信号输入端，也即开关元件组SW1、SW2、…、SWN分别对应测试信号输入端In1、In2、…、InN。每个测试信号输入端可以与一个设置在阵列基板非显示区中的测试垫连接(图中未示出)。

[0030] 具体地，测试电路区中1104中的开关元件T可以通过打孔的方式与对应的数据线1102连接，或者测试电路区1104中的开关元件T可以通过打孔加走线的方式与对应的数据线1102连接。

[0031] 请继续参考图1，测试电路区1104沿第一方向延伸，而且测试电路区1104可以设置在任意相邻两条扫描线1101之间。

[0032] 可以理解的是，当测试电路区1104设置在较短的两条扫描线1101之间时，由于测试电路区1104由于无法覆盖各条数据线，因此对应测试电路区1104两侧的数据线1102可以通过打孔加走线的方式与测试电路区1104中的开关元件T连接。

[0033] 在本实施例中，当任意一个开关元件组的测试信号输入端有测试信号输入时，该开关元件组中的各个开关元件可以全部导通，测试信号通过导通的开关元件可以传输到与该开关元件组对应的数据线组中的各条数据线1102上来对包括阵列基板110的显示面板100进行测试。

[0034] 如图1所示，有机发光材料层120包括多个发光单元121，且多个发光单元121呈阵列排布。各个发光单元121与阵列基板110中的各个像素区1103一一对应。

[0035] 本实施例中的显示面板100在加电工作时，可由阵列基板110中的各个像素区1103向各自对应的发光单元121提供发光电流以使发光单元121发光。通常的有机发光显示面板，其测试电路区是设置在非显示区中的，为了实现显示面板的窄边框化，且又可以在显示面板中保留测试电路区，本实施例提供的阵列基板中，测试电路区1104可以设置在显示区111中。

[0036] 在本实施例中，测试电路区1104可以设置在阵列基板110的显示区111中任意两条扫描线1101之间。为了使测试电路区1104可以设置在阵列基板110显示区111中，而又同时保持有机发光材料层120中多个发光单元121的均匀分布，可以通过调整阵列基板110中的多行像素区1103或者全部行像素区1103的位置，使得测试电路区1104可以设置在阵列基板110中的相邻两行扫描线1101之间。

[0037] 具体地，阵列基板110的调整后的像素区1103中，除分别与该测试电路区1104相邻的、位于测试电路区1104异侧的两行像素区1103之间的间距之外，其余相邻两行像素区1103之间的间距可以相等，也可以不相等。当除分别与该测试电路区1104相邻的、位于测试电路区1104异侧的两行像素区1103之间的间距之外，其余相邻两行像素区1103之间的间距相等(间距记为P1)时，可以降低制作阵列基板110的工艺复杂度。

[0038] 发光材料层120中的任意相邻两行发光单元121之间的间距相等。此处，任意相邻两行发光单元121之间的间距记为P2。

[0039] 阵列基板110中的除分别与该测试电路区1104相邻的、位于测试电路区1104异侧的两行像素区1103之间的间距之外，其余相邻两行像素之间的间距P1小于有机发光材料层120中的任意相邻两行发光单元121之间的间距P2。在本实施例的可选实施方式中，P1、P2之间满足如下关系：

[0040]

[0041] 这样设置既可以使得阵列基板110空出足够的空间容纳测试电路区1104，又不会因为阵列基板110的像素区1103之间的间距P1与有机发光单元121之间的间距P2差距太大影响显示。设置P1、P2不相等使得有机发光材料层中的各个发光单元121向阵列基板所在平面的正投影121a与各个发光单元121对应的像素区1103向阵列基板所在平面的正投影不完全重合。为了使各个像素区1103可以向各个发光单元121提供发光电流，像素区1103与对应的发光单121元之间可以通过引线连接。

[0042] 在本实施例中，显示区111的边缘形状可以为圆形，也可以为多边形以及椭圆形等等其他的形状。此处不做限定。

[0043] 本实施例提供的阵列基板，通过将测试电路区设置在任意两条扫描线之间，既可以实现窄边框化的需求，又可以实现采用测试电路区对显示面板进行测试以及对显示面板在使用过程中采用测试电路区进行故障排查。

[0044] 在其他的一些技术方案中，为了实现显示面板的窄边框化，通常可以将测试电路区及测试垫设置在显示面板连接配线区外侧，在完成显示面板的检测后，将测试电路区以及测试垫切除。这样做虽然可以实现显示面板的窄边框化，但是如果在后续使用中如果显示面板出现故障，就无法再使用测试电路对故障进行检测及显示面板验证，给故障排查造成了困难。

[0045] 在本实施例的一些可选实现方式中，显示区111的形状可以为圆形。如图1所示，当显示区111为圆形时，显示区111中包括两条扫描线：扫描线1111和扫描线1121，扫描线1111和扫描线1121相邻，且扫描线1111和扫描线1121中的任意一条扫描线向阵列基板110所在平面的正投影与各数据线1102向阵列基板110所在平面的正投影相交。测试电路区1104设置在扫描线1111和扫描线1121之间。

[0046] 这样设置测试电路区1104，可以使得测试电路区1104在第二方向上有足够的长度使得设置在测试电路区1104中的各个开关元件T可以通过打孔以及较短的走线就可以和其对应的数据线1102连接。

[0047] 对设置有圆形显示区的阵列基板，将测试电路区放置在与各条数据线均相交叉的两条扫描线之间，且使得除分别与该测试电路区相邻的、位于测试电路区异侧的两行像素区之间的间距之外，其余相邻两行像素之间的间距相等；同时与该阵列基板对应的有机发光材料层中任意两行发光单元的间距相等。既可以实现圆形显示面板窄边框化要求以及满足在圆形显示面板使用过程中采用测试电路区进行故障排查，又可以降低制作圆形显示面板的工艺复杂度。

[0048] 请继续结合图3，图3示出了本申请实施例提供的显示面板的又一种结构示意。

[0049] 与图1所示实施例类似，显示面板200包括阵列基板210和有机发光材料层220，此外显示面板200还包括封装玻璃层(图中未示出)。

[0050] 如图3所示阵列基板210包括显示区211以及非显示区212。其中非显示区212围绕显示区211。

[0051] 在显示区211中包括多条沿第一方向延伸、沿第二向排列的扫描线2101，多条沿第二方向延伸、沿第一向排列的数据线2102，以及由数据线2102和扫描线2101交叉设置形成的阵列排布的多个像素区2103。

[0052] 在显示区211中还包括测试电路区2104。测试电路区2104包括的多个开关元件以及多个开关元件与数据线的对应关系可以参看图2。

[0053] 与图1所示实施例不同的是，图3所示实施例中，测试电路区2104可以设置在任意两条数据线2102之间。

[0054] 可以理解的是，当测试电路区2104设置在任意两条数据线2102之间时，各条数据线2102与测试电路区2104中相对应的开关元件均需要通过打孔与走线结合的方式进行连接。

[0055] 各个开关元件组的信号输入端与设置在非显示区212的测试垫(未示出)连接。当向测试垫施加测试信号时，通过测试垫传输到对应的开关元件组的信号输入端。在开关元件组中的各个开关元件均打开时，测试信号可以传入与该开关元件组对应的各条数据线2102中，以实现对显示面板200的测试。当将测试电路区2104设置在显示区211中时，除分别与该测试电路区2104相邻的、位于测试电路区2104异侧的两列像素区2103之间的间距之外，其余相邻两列像素区2103之间的间距可以相等，也可以不相等。当除分别与该测试电路区2104相邻的、位于测试电路区2104异侧的两列像素区2103之间的间距之外，其余相邻两列像素区2103之间的间距(其余相邻两列像素之间的间距可以记为L1)相等时，可以降低制作阵列基板210的工艺复杂度。

[0056] 如图3所示，有机发光材料层220包括多个发光单元221，且多个发光单元221呈阵列排布。任意相邻两列的发光单元221之间的间距相等。任意相邻两列的发光单元221之间的间距可以记为L2。上述其余相邻两列像素区2103之间的间距L1小于有机发光材料层220中的任意相邻两列发光单元221之间的间距L2。在本实施例的一些可选实施方案中，L1、L2之间满足如下关系：

[0057]

[0058] 这样设置既可以使得阵列基板210空出足够的空间容纳测试电路区2104，又不会因为阵列基板210的像素区2103之间的间距L1与有机发光单元221之间的间距L2差距太大影响显示。设置L1、L2不相等使得有机发光材料层220中的各个发光单元221向阵列基板210所在平面的正投影221a与各个发光单元221对应的像素区2103向阵列基板210所在平面的正投影不完全重合。各个像素区与对应的发光单元之间可以通过引线连接。

[0059] 本实施例提供的显示面板，通过将测试电路区设置在任意两条数据线之间，任意一条数据线通过走线与测试电路区中的对应的开关元件连接，可以实现显示面板窄边框化，以及对显示面板在使用过程中采用测试电路区进行故障排查。

[0060] 在本实施例的一些可选实现方式中，阵列基板210中的显示区211的边缘形状为圆形。当显示区211的边缘形状为圆形时，在显示区211中包括多条沿第一方向延伸、沿第二向排列的扫描线2101，多条沿第二方向延伸、沿第一向排列的数据线2102，由数据线2102和扫描线2101交叉设置形成的阵列排布的多个像素区2103，以及测试电路区2104。

[0061] 在本实施例中，圆形显示区211中包括两条数据线：数据线2112和数据线2122，数据线2112和数据线2122相邻，且数据线2112和数据线2122中的任意一条数据线向阵列基板210所在平面的正投影与各扫描线2101向阵列基板210所在平面的正投影相交。测试电路区
2104设置在数据线2112和数据线2122之间。

[0062] 当阵列基板210的显示区211为圆形，则有机发光材料层220也可以为圆形。有机发光材料层220可以包括多个发光单元221，多个发光单元221呈阵列排布。任意相邻两列的发光单元221之间的间距可以相等。

[0063] 有机发光材料层220中的各个发光单元221向阵列基板210所在平面的正投影与各个发光单元221a对应的像素区2103向阵列基板2100所在平面的正投影不完全重合。各个像素区2103可以通过引线来向发光单元2211提供发光信号。

[0064] 本实施例提供的有机发光显示面板，对包括边缘形状为圆形的显示区的阵列基板，将测试电路区放置在与各条扫描线均相交叉的相邻的两条数据线之间，且使得除分别与该测试电路区相邻的、位于测试电路区异侧的两列像素区之间的间距之外，其余相邻两列像素区之间的间距相等；同时与该阵列基板对应的有机发光材料层中任意相邻两列发光单元的间距相等。既可以实现显示面板的窄边框化要求以及满足使用测试电路对显面板进行测试以及对显示面板在使用过程中采用测试电路区进行故障排查，又可以降低制作显示面板的工艺复杂度。

[0065] 请参考图4，其示出了本申请实施例提供的一种显示装置结构示意图。

[0066] 如图4所示，显示装置300为手表，该显示装置300包括如上所述的显示面板。此外，本领域技术人员可以明白，本申请的显示装置除了包括显示面板之外，还可以包括其它的一些公知的结构，例如当显示面板为液晶显示面板时，显示装置300还包括用于向显示面板提供背光源的背光单元。为了不模糊本申请的重点，将不再对这些公知的结构进行进一步的描述。需要说明的是，本申请显示装置不限于图300所示的手表，还可以为电脑，电视机，智能穿戴等装置。

[0067] 以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的发明范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离所述发明构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。