FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价方法和装置

摘要

本发明涉及一种FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价和装置，该方法包括：根据FPGA器件的应用领域确定单项交流参数的第一性能指标和第二性能指标；获取各备选FPGA器件的同一单项交流参数的与第一性能指标对应的第一摸高性能值及与第二性能指标对应的第二摸高性能值；若两个第一摸高性能值的差值大于预设阈值，则对两个备选FPGA器件根据差值进行排序；若两个第一摸高性能值的差值小于或等于预设阈值，则根据第二摸高性能值的大小对两个备选FPGA器件进行排序；当所有的备选FPGA器件排序完毕时，根据所有的备选FPGA器件的排序结果输出评价结果。该方法的适应用性好且得到的评价结果更全面。