显示装置及增加该显示装置亮度均一性的方法

摘要

本公开提供一种显示装置及增加该显示装置亮度均一性的方法。该显示装置包括：显示面板和处理装置，其中所述显示面板包括电源电压检测模块，所述电源电压检测模块用于检测所述显示面板的直流电压降，并将所述直流电压降输入至所述处理装置进行处理；所述处理装置根据所述直流电压降输出所述显示面板相应位置的数据信号电压的补偿电压，通过所述补偿电压修正所述显示面板的数据信号电压。本公开可以提高显示器件的亮度均一性。

权利要求

1.一种增加显示装置亮度均一性的方法，其特征在于，所述显示装置包括显示面板和处理装置，其中所述显示面板包括电源电压检测模块，所述电源电压检测模块用于检测所述显示面板的直流电压降，并将所述直流电压降输入至所述处理装置进行处理；所述处理装置根据所述直流电压降输出所述显示面板相应位置的数据信号电压的补偿电压，通过所述补偿电压修正所述显示面板的数据信号电压；其中，所述方法包括：在纯色画面下，选取所述显示面板上至少一点作为目标点；

测试在不同数据信号电压下，所述目标点的亮度与所述直流电压降之间的关系曲线；

在同一组数据信号电压下，测量所述显示面板的亮度与所述显示面板第一边的长度之间的关系曲线；

根据所述显示面板的亮度与所述数据信号电压之间的关系式，得到所述数据信号电压与所述显示面板第一边的长度之间的关系式；

根据所述数据信号电压与所述显示面板第一边的长度之间的关系式，获得所述显示面板相应位置的数据信号电压的补偿电压；

根据所述补偿电压修正所述显示面板的数据信号电压。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标点位于所述显示面板的中间位置。

说明书

显示装置及增加该显示装置亮度均一性的方法

技术领域

[0001] 本公开涉及显示技术领域，具体而言，涉及一种显示装置及增加该显示装置亮度均一性的方法。

背景技术

[0002] 随着显示技术的急速进步，作为显示装置核心的半导体元件技术也随之得到了飞跃性的进步。对于现有的显示装置而言，有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)作为一种电流型发光器件，因其所具有的自发光、快速响应、宽视角和可制作在柔性衬底上等特点而越来越多地被应用于高性能显示领域当中。OLED按驱动方式可分为PMOLED(Passive Matrix Driving OLED，无源矩阵驱动有机发光二极管)和AMOLED(Active Matrix Driving OLED，有源矩阵驱动有机发光二极管)两种，由于AMOLED显示器具有低制造成本、高应答速度、省电、可用于便携式设备的直流驱动、工作温度范围大等等优点而可望成为取代LCD(liquid crystal display,液晶显示器)的下一代新型平面显示器。

[0003] 然而，现有技术对于大尺寸的AMOLED显示器而言，由于背板电源线存在一定的电阻，在OLED器件发光时，所有像素的驱动电流均是由扫描驱动单元通过驱动控制线ELVDD提供至各个像素单元的。因此，在上述发光阶段，输入靠近所述扫描驱动单元位置处的像素单元的电压相对于输入距离扫描驱动单元较远位置处的像素单元(例如最后一列像素单元)的电压高。这种现象被称作直流电压降(IR Drop)。

[0004] 由于扫描驱动单元输入像素单元的电压与流过每个像素单元的电流相关，因此，IR Drop会导致不同位置的像素单元流经的电流大小有所差异，使得AMOLED显示器在显示时产生亮度差异，例如，第一行像素全亮时，其显示的亮度会从左到右依次变暗。上述亮度差异的现象即为云纹现象(mura)。这样会导致显示画面的品质降低，从而对显示器的质量和显示效果造成不利的影响。

[0005] 因此，现有技术中的技术方案还存在有待改进之处。

[0006] 需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

[0007] 本公开的目的在于提供一种显示装置及增加该显示装置亮度均一性的方法，进而至少在一定程度上克服由于相关技术的限制和缺陷而导致的一个或者多个问题。

[0008] 本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得清晰，或者部分地通过本公开的实践而习得。

[0009] 根据本公开的一个方面，提供一种显示装置，包括显示面板和处理装置，其中所述显示面板包括电源电压检测模块，所述电源电压检测模块用于检测所述显示面板的直流电压降，并将所述直流电压降输入至所述处理装置进行处理；所述处理装置根据所述直流电压降输出所述显示面板相应位置的数据信号电压的补偿电压，通过所述补偿电压修正所述显示面板的数据信号电压。

[0010] 在本公开的一种示例性实施例中，所述电源电压检测模块包括第一电源电压检测线和第二电源电压检测线，分别用于检测所述显示面板的第一电源电压和第二电源电压，并将所述第一电源电压和所述第二电源电压输入至所述处理装置。

[0011] 在本公开的一种示例性实施例中，所述显示装置还包括源极驱动电路，其中，所述第一电源电压检测线设置于靠近所述源极驱动电路的一端，所述第二电源电压检测线设置于远离所述源极驱动电路的另一端。

[0012] 在本公开的一种示例性实施例中，所述显示装置还包括栅极驱动电路，其中，所述第二电源电压检测线的竖向走线通过所述栅极驱动电路的旁路走线连接至所述处理装置。

[0013] 在本公开的一种示例性实施例中，所述处理装置为时序控制器。

[0014] 在本公开的一种示例性实施例中，所述时序控制器包括模拟数字转换器，所述模拟数字转换器用于将模拟的所述直流电压降转换为数字信号。

[0015] 在本公开的一种示例性实施例中，所述显示面板包括网格状的电源电压走线，其中，所述显示面板的电源电压走线的长度与所述显示面板的电阻成正比。

[0016] 在本公开的一种示例性实施例中，所述显示装置为OLED显示装置。

[0017] 根据本公开的一个方面，提供一种增加上述显示装置亮度均一性的方法，包括：

[0018] 在纯色画面下，选取所述显示面板上至少一点作为目标点；

[0019] 测试在不同数据信号电压下，所述目标点的亮度与所述直流电压降之间的关系曲线；

[0020] 在同一组数据信号电压下，测量所述显示面板的亮度与所述显示面板第一边的长度之间的关系曲线；

[0021] 根据所述显示面板的亮度与所述数据信号电压之间的关系式，得到所述数据信号电压与所述显示面板第一边的长度之间的关系式；

[0022] 根据所述数据信号电压与所述显示面板第一边的长度之间的关系式，获得所述显示面板相应位置的数据信号电压的补偿电压；

[0023] 根据所述补偿电压修正所述显示面板的数据信号电压。

[0024] 在本公开的一种示例性实施例中，所述目标点位于所述显示面板的中间位置。

[0025] 本公开的一种实施例的显示装置中，通过检测IR Drop获取相应的数据信号电压的补偿电压，并根据该补偿电压修正显示面板相应位置的数据信号电压，从而使得显示面板亮度显示更均一。

[0026] 应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

[0027] 此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

[0028] 图1示出现有技术中ELVDD走线的示意图。

[0029] 图2示出本公开示例性实施例中一种显示装置的示意图。

[0030] 图3示出本公开示例性实施例中另一种显示装置的示意图。

[0031] 图4示出本公开示例性实施例中一种增加显示装置亮度均一性的方法的流程图。

[0032] 图5-图6示出本公开示例性实施例中一种增加显示装置亮度均一性的方法的示意图。

具体实施方式

[0033] 现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本公开的实施方式的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本公开的技术方案而省略所述特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。

[0034] 需要指出的是，在附图中，为了图示的清晰可能会夸大层和区域的尺寸。而且可以理解，当元件或层被称为在另一元件或层“上”时，它可以直接在其他元件上，或者可以存在中间的层。另外，可以理解，当元件或层被称为在另一元件或层“下”时，它可以直接在其他元件下，或者可以存在一个以上的中间的层或元件。另外，还可以理解，当层或元件被称为在两层或两个元件“之间”时，它可以为两层或两个元件之间唯一的层，或还可以存在一个以上的中间层或元件。通篇相似的参考标记指示相似的元件。

[0035] 图1示出现有技术中ELVDD走线的示意图。

[0036] 目前发光(英文全称：Electroluminescent，简称：EL)器件的发光效率比较低，为了使显示面板的发光亮度增加，需要驱动薄膜晶体管(英文全称：Driving Thin Film Transistor，简称：Driving TFT)输出一个较大的直流源，而这需要给Driving TFT一个较大的数据电压；当AMOLED显示器件在正常工作时，为了使显示面板的发光亮度增加，使得Driving TFT一直工作在饱和区，而这需要驱动器集成电路供应一个很高的驱动电压(Electroluminescent Voltage Device，简称：ELVDD)；考虑到Driving TFT的临界电压与数据电压都比较大，为到达满足最大的数据电压的要求，目前ELVDD是根据最大的数据电压来提供的，并不考虑其他较低电平的数据电压，因此驱动器集成电路供应驱动AMOLED显示器件每一帧画面的ELVDD均是以最大ELVDD来供应的。

[0037] 随着时代及技术的进步，大尺寸、高分辨率的AMOLED显示器件逐渐发展起来，相应的，大尺寸AMOLED显示器也需要较大尺寸的面板及较多数量的像素，面板导线长度越来越长，导线电阻也越大，因此的，电源电压不可避免地会在导线上产生电压降(IR Drop)，并且，每个像素电路的电压降不同，因而造成每个像素电路获得的电源电压不同，从而在相同的数据信号电压输入下，不同的像素电路会有不同的电流、亮度输出，进而导致整个面板的显示亮度不均匀，并且画面不同，像素的IR Drop也会跟着不同。

[0038] 图2示出本公开示例性实施例中一种显示装置的示意图。

[0039] 如图2所示，该显示装置10包括显示面板100和处理装置200，其中所述显示面板100包括电源电压检测模块101，所述电源电压检测模块101用于检测所述显示面板100的直流电压降(IR Drop)，并将所述直流电压降输入至所述处理装置200进行处理；所述处理装置200根据所述直流电压降输出所述显示面板100相应位置的数据信号电压Data的补偿电压ΔData，通过所述补偿电压ΔData修正所述显示面板100的数据信号电压。

[0040] 本发明实施例中，显示面板100包括像素单元，电源电压检测模块101用于采集像素单元的电源节点的电压，并将该电压发送至处理装置200，所谓电源节点是指预设的用于与电源连接的节点；处理装置200用于根据电源节点的电压确定电源节点的电压变化量，并基于该电压变化量确定显示面板100的直流电压降，并根据该直流电压降修改对应的像素单元的数据信号电压来补偿该电压变化量。

[0041] 现有技术中有机发光二极管(Organic light emitting diode，OLED)显示装置在显示过程中，显示面板(Panel)亮度由于IR drop的影响会从Source IN端到Source END端呈递减趋势，这样Panel的亮度均一性将会有所降低。而本公开实施例通过检测直流电压降来获得相应像素单元的数据信号电压的补偿电压，能够提高显示器件的亮度均一性。

[0042] 图3示出本公开示例性实施例中另一种显示装置的示意图。

[0043] 其中，显示面板用于显示画面，包括ELVDD总线、由多个像素单元以矩阵形式构成的像素单元阵列，ELVDD引线、扇出(Fanout)区、软性印刷电路(FPC)、以及有源区四周的行驱动电路(GOA)和静电防护(ESD)电路等。其中，有源区又称为像素区，是ELVDD总线和像素单元阵列所在的区域，构成像素单元阵列的多个像素单元均与ELVDD总线相连接，ELVDD总线是外部电源提供的电压在显示面板内部的走线，ELVDD总线通过ELVDD引线连接于驱动IC，有源区与驱动IC之间通过Fanout区连接，Fanout区是驱动IC与有源区的ELVDD总线之间的引线所在的区域。

[0044] 在图3所示的实施例中，电源电压检测模块101包括第一电源电压检测线(ELVDD1)和第二电源电压检测线(ELVDD2)，分别用于检测所述显示面板的第一电源电压和第二电源电压，并将所述第一电源电压和所述第二电源电压输入至所述处理装置。

[0045] 在图3所示的实施例中，所述显示装置还包括源极驱动电路(Source Driver)，其中，所述第一电源电压检测线(ELVDD1)设置于靠近所述源极驱动电路的一端(例如最下端)，所述第二电源电压检测线(ELVDD2)设置于远离所述源极驱动电路的另一端(例如最上端)。

[0046] 需要说明的是，虽然在图3中，以ELVDD1设置于源极驱动电路的最下端、ELVDD2设置于该源极驱动电路的最上端为例进行说明，但在其他实施例中，只要ELVDD1设置于靠近源极驱动电路的一端、ELVDD2设置于远离该源极驱动电路的另一端即可。

[0047] 在示例性实施例中，所述显示装置还包括栅极驱动电路(Gate Driver)，其中，所述第二电源电压检测线(ELVDD2)的竖向走线可以通过所述栅极驱动电路的旁路走线(Pass line)连接至所述处理装置。由于ELVDD2位于远离源极驱动电路的另一端，其如果不通过栅极驱动电路的旁路走线连接至该处理装置，会影响显示面板的边框的宽窄，由于ELVDD2只有电压，没有形成回路，没有电流流过，其走线可以很细，因此其可以通过栅极驱动电路的旁路走线连接至该处理装置，从而不会影响显示面板的边框宽窄。

[0048] 在图3所示的实施例中，所述处理装置为时序控制器(TCON)。但本公开并不限定于此，其可以是任何能够进行数据处理的外部或者内部数据处理器。

[0049] 在图3所示的实施例中，所述时序控制器(TCON)包括模拟数字转换器(ADC)，所述模拟数字转换器(ADC)用于将模拟的所述直流电压降转换为数字信号。

[0050] 超窄边框显示装置以其卓越的视觉体验受到用户的追捧。目前，采用COF(Chip On Film，覆晶薄膜)技术以实现超窄边框。COF技术是将驱动IC(Integrated Circuit，集成电路)固定于柔性线路板上的晶粒软膜构装技术。将该技术引入到显示装置，可以减小显示装置的电路区域(也称PAD区域)的大小，从而实现超窄边框。

[0051] 本发明实施例通过在Panel内部增加2条ELVDD检测线(ELVDD1和ELVDD2)，一条位于Source IN端(ELVDD1)，一条位于Source END端(ELVDD2)，Source END端的ELVDD2通过Gate COF的Pass line来连接至PCB上，最终连接至TCON上的ADC模拟数字转换器上。由于该ELVDD2不走电流，所以可以从COF上连接走线。

[0052] 在图3所示的实施例中，所述显示面板包括网格状的电源电压走线，其中，所述显示面板的电源电压走线的长度与所述显示面板的电阻成正比。其中，一般默认为网格状ELVDD走线，可以使显示面板内的电阻R比较均一，这样，Panel的ELVDD线的长度S与电阻R成正比关系。但本公开并不限定于此，在其他实施例中，也可以是其他形状的电源电压走线，只要其是全面板平均铺设的即可。

[0053] 在示例性实施例中，所述显示装置为OLED显示装置。有机发光二极管(OLED)成为国内外非常热门的新兴平面显示器产品，这是因为OLED显示器具有自发光、广视角、短反应时间、高发光效率、广色域、低工作电压、面板薄、可制作大尺寸与可挠曲的面板及制程简单等特性，而且它还具有低成本的潜力。

[0054] 本公开实施方式是通过监测Panel的IR Drop来控制Data的输出，使Panel在显示时亮度能够更均一，增加亮度均一性。其中，对于网格状的ELVDD设计，通过增加Panel最低端和最顶端的ELVDD检测线，检测线的竖向走线通过Gate COF的Pass line来减少阻抗，最终2条检测线上的ELVDD会被TCON采集，进行数据处理后，通过改变输出的不同位置的Data来实现增加Panel的亮度均一性。

[0055] 利用本发明实施例的技术方案，通过实时检测显示面板最低端和最顶端的ELVDD引线上的电源电压，并根据该最低端和最顶端的电源电压的变化量ΔELVDD来调整数据信号电压反馈给显示面板ELVDD引线的补偿电压，使得不论显示显示面板有源区显示什么内容，反馈给显示面板ELVDD引线的补偿电压均能够随显示画面的变化而改变，实现对显示面板有源区IR drop进行动态补偿，从而使显示面板有源区具有统一和稳定的ELVDD电压，进而有效地改善了显示装置的显示画质。

[0056] 此外，在本公开的其他示例性实施例中，所述显示装置中还可以包括其他部件。因此，增加更多的结构的技术方案同样属于本公开的保护范围。

[0057] 图4示出本公开示例性实施例中一种增加显示装置亮度均一性的方法的流程图。

[0058] 如图4所示，该增加显示装置亮度均一性的方法，可以包括以下步骤。

[0059] 在步骤S100中，在纯色画面下，选取所述显示面板上至少一点作为目标点。

[0060] 这里所谓的纯色画面，是指整个显示面板显示的画面是一致的，例如全为白色或者黑色等等。

[0061] 在示例性实施例中，所述目标点位于所述显示面板的中间位置。需要说明的是，这里所谓的中间位置可以不那么精确，大致位于该显示面板的中间位置即可，因为人眼视觉对面板的亮度的变化并没有那么敏感。

[0062] 在步骤S110中，测试在不同数据信号电压下，所述目标点的亮度与所述直流电压降之间的关系曲线。

[0063] 在步骤S120中，在同一组数据信号电压下，测量所述显示面板的亮度与所述显示面板第一边的长度之间的关系曲线。

[0064] 由于显示面板一般为长方形，具有两短边和两长边。本发明实施例中，所述第一边是指显示面板的短边，但本公开对此不作限定。

[0065] 在步骤S130中，根据所述显示面板的亮度与所述数据信号电压之间的关系式，得到所述数据信号电压与所述显示面板第一边的长度之间的关系式。

[0066] 在步骤S140中，根据所述数据信号电压与所述显示面板第一边的长度之间的关系式，获得所述显示面板相应位置的数据信号电压的补偿电压。

[0067] 在步骤S150中，根据所述补偿电压修正所述显示面板的数据信号电压。

[0068] 图5-图6示出本公开示例性实施例中一种增加显示装置亮度均一性的方法的示意图。

[0069] 首先，如图5，在纯色画面下，选取面板上中间一点作为目标点，测试出不同Data下，该点亮度L与△ELVDD之间的关系曲线；然后，如图6，在同一组Data下，量测面板的亮度L与面板短边的长度S的关系曲线；而面板的亮度L与Data存在一定的关系式，此时可以得到Data与面板短边长度S之间的关系式，即可使TCON输出Data+△Data，从而使得面板亮度显示更均一，增加亮度均一性。

[0070] 本公开实施方式提供的增加显示装置亮度均一性的方法，通过增加ELVDD检测线，补偿IR Drop，增加面板亮度均一性。

[0071] 此外，上述增加显示装置亮度均一性的方法中各步骤的具体细节已经在对应的显示装置中进行了详细的描述，因此此处不再赘述。而且，尽管在附图中以特定顺序描述了本公开中方法的各个步骤，但是，这并非要求或者暗示必须按照该特定顺序来执行这些步骤，或是必须执行全部所示的步骤才能实现期望的结果。附加的或备选的，可以省略某些步骤，将多个步骤合并为一个步骤执行，以及/或者将一个步骤分解为多个步骤执行等。

[0072] 本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由所附的权利要求指出。