本发明提供一种修复液晶显示面板配向不良的方法。所述修复液晶显示面板配向不良的方法通过摄像头和处理器检测液晶显示母板上已完成光配向制程的各个液晶显示面板是否存在配向不良，并记录配向不良所在的位置，再通过热风枪对所述配向不良的所在的位置进行加热，同时通过UV光源对液晶显示母板进行再配向，进而修复液晶显示面板配向不良，避免因配向不良导致的液晶显示面板产生灰阶差异，保证产品的良率和品质，提升产品竞争力。
1.一种修复液晶显示面板配向不良的方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤1、提供液晶显示母板(1)，所述液晶显示母板(1)内排布有多个已完成光配向制程的液晶显示面板(11)，每一个液晶显示面板(11)均包括一信号输入点(12)；
步骤2、提供载台(2)、设于所述载台(2)上方的摄像头(3)、以及与所述摄像头(3)电性连接的处理器(4)，所述液晶显示母板(1)放置于所述载台(2)上；
步骤3、提供信号输入设备(5)，所述信号输入设备(5)与所述液晶显示母板(1)上的各个信号输入点(12)电性连接；
步骤4、所述信号输入设备(5)向所述液晶显示母板(1)输入点亮信号，同时点亮所述液晶显示母板(1)上的各个液晶显示面板(11)，所述摄像头(3)同时拍摄所述各个液晶显示面板(11)显示的图像并传输给处理器(4)；所述步骤4中通过点亮信号控制各个液晶显示面板(11)显示一预设灰阶的图像；
步骤5、所述处理器(4)根据所述摄像头(3)拍摄的各个液晶显示面板(11)显示的图像确定各个液晶显示面板(11)中是否存在配向不良，若存在则记录所述配向不良所在的位置，并进入步骤6，若不存在则结束操作；所述步骤5中所述处理器(4)根据所述摄像头(3)拍摄的各个液晶显示面板(11)显示的图像中是否存在实际灰阶与预设灰阶不同的位置判断各个液晶显示面板(11)中是否存在配向不良；
步骤6、提供热风枪(6)和UV光源(7)，所述热风枪(6)和UV光源(7)均与所述处理器(4)电性连接，所述热风枪(6)设于所述载台(2)的下方，所述UV光源(7)设于所述载台(2)的上方；
步骤7、所述处理器(4)控制所述热风枪(6)移动到所述液晶显示母板(1)中配向不良所在的位置的下方；所述处理器(4)控制所述热风枪(6)对所述配向不良所在的位置进行预热；预热完成后，所述信号输入设备(5)向所述液晶显示母板(1)输入配向信号，所述处理器(4)控制UV光源(7)打开，对所述液晶显示母板(1)进行再配向，同时热风枪(6)对所述配向不良所在的位置继续进行加热；再配向完成后，所述处理器(4)控制UV光源(7)和热风枪(6)关闭，并返回步骤4。
2.如权利要求1所述的修复液晶显示面板配向不良的方法，其特征在于，所述步骤7中预热的时长为10至600秒。
3.如权利要求1所述的修复液晶显示面板配向不良的方法，其特征在于，所述步骤7中的UV光源(7)对所述液晶显示母板(1)进行再配向的时长为10至1200秒。
4.如权利要求1所述的修复液晶显示面板配向不良的方法，其特征在于，所述步骤7中再配向完成后，所述处理器(4)控制UV光源(7)先关闭，热风枪(6)后关闭。
5.如权利要求1所述的修复液晶显示面板配向不良的方法，其特征在于，所述摄像头(3)的数量为一个，所述一个摄像头(3)拍摄的画面覆盖整个液晶显示母板(1)。
6.如权利要求1所述的修复液晶显示面板配向不良的方法，其特征在于，所述摄像头(3)的数量为多个，所述多个摄像头(3)拍摄的画面拼接后覆盖整个液晶显示母板(1)。
7.如权利要求1所述的修复液晶显示面板配向不良的方法，其特征在于，所述摄像头(3)的像素为100万像素至1亿像素。
8.如权利要求1所述的修复液晶显示面板配向不良的方法，其特征在于，设N和M均为正整数，所述步骤5中记录的配向不良所在的位置的数量为N个，所述步骤6提供的热风枪的数量为M个；
当N大于M时，所述步骤7中所述处理器(4)控制M个热风枪(6)分别对液晶显示母板(1)中的M个配向不良所在的位置进行加热；
当N小于或等于M时，所述步骤7中所述处理器(4)控制N个热风枪(6)分别对液晶显示母板(1)中的N个配向不良所在的位置进行加热。
9.如权利要求1所述的修复液晶显示面板配向不良的方法，其特征在于，所述步骤5中通过记录所述配向不良所在的坐标的方式记录所述配向不良所在的位置；
所述步骤7中所述处理器(4)根据所述配向不良所在的坐标控制所述热风枪(6)移动到所述液晶显示母板(1)中配向不良所在的位置的下方。
修复液晶显示面板配向不良的方法
技术领域
[0001] 本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种修复液晶显示面板配向不良的方法。
背景技术
[0002] 液晶显示装置(LCD，Liquid Crystal Display)具有机身薄、省电等众多优点，得到了广泛的应用。现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示面板，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)，液晶显示面板通常又包括：一彩膜基板(Color Filter Substrate，CF Substrate)、一薄膜晶体管阵列基板(Thin Film Transistor Array Substrate，TFT Array Substrate)以及一配置于两基板间的液晶层(Liquid Crystal Layer)。一般阵列基板与彩膜基板上分别设置像素电极与公共电极。当电压被施加到像素电极与公共电极便会在液晶层中产生电场，该电场决定了液晶分子的取向，从而调整入射到液晶层的光的偏振，使液晶面板显示图像。
[0003] 通常液晶显示面板的成型工艺一般包括：前段阵列(Array)制程(薄膜、黄光、蚀刻及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)，其中，前段Array制程主要是形成TFT基板，以便于控制液晶分子的运动；中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶并对液晶进行配向；后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合，进而驱动液晶分子转动，显示图像。
[0004] 具体地，所述中段成盒制程包括：在阵列基板的母板和彩膜基板的母板上分别涂布光配向聚合物，形成两光配向膜；在阵列基板的母板或彩膜基板的母板上滴注液晶分子和涂布胶框；将阵列基板的母板和彩膜基板的母板对组贴合，固化胶框，形成液晶显示面板的母板；通过外加电压与紫外(Ultraviolet Rays，UV)光的配合对所述液晶显示面板的母板进行光配向，形成第一配向膜和第二配向膜，通过第一配向膜和第二配向膜使液晶分子发生规律性排列。
[0005] 在光配向过程中，因液晶显示面板的母板局部膜厚不均匀、TFT线宽不均匀、以及配向过程中受热不均匀等各种因素的影响，经常会出现局部配向不良的现象，导致产品的良率和品质降低，影响产品竞争力。
发明内容
[0006] 本发明的目的在于提供一种修复液晶显示面板配向不良的方法，能够在液晶显示母板上检测并修复液晶显示面板的配向不良，提升产品的良率和品质。
[0007] 为实现上述目的，本发明提供了一种修复液晶显示面板配向不良的方法，包括如下步骤：
[0008] 步骤1、提供液晶显示母板，所述液晶显示母板内排布有多个已完成光配向制程的液晶显示面板，每一个液晶显示面板均包括一信号输入点；
[0009] 步骤2、提供载台、设于所述载台上方的摄像头、以及与所述摄像头电性连接的处理器，所述液晶显示母板放置于所述载台上；
[0010] 步骤3、提供信号输入设备，所述信号输入设备与所述液晶显示母板上的各个信号输入点电性连接；
[0011] 步骤4、所述信号输入设备向所述液晶显示母板输入点亮信号，同时点亮所述液晶显示母板上的各个液晶显示面板，所述摄像头同时拍摄所述各个液晶显示面板显示的图像并传输给处理器；
[0012] 步骤5、所述处理器根据所述摄像头拍摄的各个液晶显示面板显示的图像确定各个液晶显示面板中是否存在配向不良，若存在则记录所述配向不良所在的位置，并进入步骤6，若不存在则结束操作；
[0013] 步骤6、提供热风枪和UV光源，所述热风枪和UV光源均与所述处理器电性连接，所述热风枪设于所述载台的下方，所述UV光源设于所述载台的上方；
[0014] 步骤7、所述处理器控制所述热风枪移动到所述液晶显示母板中配向不良所在的位置的下方；所述处理器控制所述热风枪对所述配向不良所在的位置进行预热；预热完成后，所述信号输入设备向所述液晶显示母板输入配向信号，所述处理器控制UV光源打开，对所述液晶显示母板进行再配向，同时热风枪对所述配向不良所在的位置继续进行加热；再配向完成后，所述处理器控制UV光源和热风枪关闭，并返回步骤4。
[0015] 所述步骤7中预热的时长为10至600秒。
[0016] 所述步骤7中的UV光源对所述液晶显示母板进行再配向的时长为10至1200秒。
[0017] 所述步骤7中再配向完成后，所述处理器控制UV光源先关闭，热风枪后关闭。
[0018] 所述摄像头的数量为一个，所述一个摄像头拍摄的画面覆盖整个液晶显示母板。
[0019] 所述摄像头的数量为多个，所述多个摄像头拍摄的画面拼接后覆盖整个液晶显示母板。
[0020] 所述摄像头的像素为100万像素至1亿像素。
[0021] 设N和M均为正整数，所述步骤5中记录的配向不良所在的位置的数量为N个，所述步骤6提供的热风枪的数量为M个；
[0022] 当N大于M时，所述步骤7中所述处理器控制M个热风枪分别对液晶显示母板中的M个配向不良所在的位置进行加热；
[0023] 当N小于或等于M时，所述步骤7中所述处理器控制N个热风枪分别对液晶显示母板中的N个配向不良所在的位置进行加热。
[0024] 所述步骤4中通过点亮信号控制各个液晶显示面板显示一预设灰阶的图像；
[0025] 所述步骤5中所述处理器根据所述摄像头拍摄的各个液晶显示面板显示的图像中是否存在实际灰阶与预设灰阶不同的位置判断各个液晶显示面板中是否存在配向不良。
[0026] 所述步骤5中通过记录所述配向不良所在的坐标的方式记录所述配向不良所在的位置；
[0027] 所述步骤7中所述处理器根据所述配向不良所在的坐标控制所述热风枪移动到所述液晶显示母板中配向不良所在的位置的下方。
[0028] 本发明的有益效果：本发明提供一种修复液晶显示面板配向不良的方法，该方法通过摄像头和处理器检测液晶显示母板上已完成光配向制程的各个液晶显示面板是否存在配向不良，并记录配向不良所在的位置，再通过热风枪对所述配向不良的所在的位置进行加热，同时通过UV光源对液晶显示母板进行再配向，进而修复液晶显示面板配向不良，避免因配向不良导致的液晶显示面板产生灰阶差异，保证产品的良率和品质，提升产品竞争力。
附图说明
[0029] 为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
[0030] 附图中，
[0031] 图1为本发明的修复液晶显示面板配向不良的方法的步骤1至步骤4的示意图；
[0032] 图2为本发明的修复液晶显示面板配向不良的方法中步骤5的示意图；
[0033] 图3为本发明的修复液晶显示面板配向不良的方法的步骤6至步骤7的示意图。
具体实施方式
[0034] 为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
[0035] 本发明提供一种修复液晶显示面板配向不良的方法，包括如下步骤：
[0036] 步骤1、请参阅图1，提供液晶显示母板1，所述液晶显示母板1内排布有多个已完成光配向制程的液晶显示面板11，每一个液晶显示面板11均包括一信号输入点12。
[0037] 步骤2、请参阅图1，提供载台2、设于所述载台2上方的摄像头3、以及与所述摄像头3电性连接的处理器4，所述液晶显示母板1放置于所述载台2上。
[0038] 可选地，所述摄像头3的数量可以为一个或多个，当所述摄像头3的数量为一个时，该摄像头3拍摄的画面必须覆盖整个液晶显示母板1，当所述摄像头3的数量为多个时，所述多个摄像头3拍摄的画面拼接后必须覆盖整个液晶显示母板1，进而保证液晶显示母板1上的每个位置都有相应的图像，防止漏检。
[0039] 具体地，所述摄像头3的像素可以根据需要进行选择，优选范围为100万像素至1亿像素。
[0040] 步骤3、请参阅图1，提供信号输入设备5，所述信号输入设备5与所述液晶显示母板1上的各个信号输入点12电性连接。
[0041] 值得一提的是，由于液晶显示母板1的尺寸巨大，因此需要为液晶显示母板1上的各个液晶显示面板11分别配置信号输入点12，以避免信号传输距离过长，并减少因传输线电阻引起的电压降。
[0042] 优选地，所述信号输入设备5通过一信号输入探针(未图示)与所述信号输入点12电性连接。
[0043] 步骤4、请参阅图1，所述信号输入设备5向所述液晶显示母板1输入点亮信号，同时点亮所述液晶显示母板1上的各个液晶显示面板11，所述摄像头3同时拍摄所述各个液晶显示面板11显示的图像并传输给处理器4。
[0044] 具体地，所述步骤4中通过点亮信号控制各个液晶显示面板显示一预设灰阶的图像，例如，通过点亮信号控制各个液晶显示面板均显示一200灰阶的图像。
[0045] 步骤5、请参阅图2，所述处理器4根据所述摄像头3拍摄的各个液晶显示面板11显示的图像确定各个液晶显示面板11中是否存在配向不良，若存在则记录所述配向不良所在的位置，并进入步骤6，若不存在则结束操作。
[0046] 具体地，所述处理器4根据所述摄像头3拍摄的各个液晶显示面板11显示的图像是否存在灰阶差异判断所述各个液晶显示面板11中是否存在配向不良。
[0047] 进一步的，所述步骤5中所述处理器根据所述摄像头拍摄的各个液晶显示面板显示的图像中是否存在实际灰阶与预设灰阶不同的位置判断各个液晶显示面板中是否存在配向不良，如图2所示，液晶显示面板显示的图像中大部分位置的灰阶都等于预设灰阶，而位置100处的灰阶不等于预设灰阶，明显区别与其他位置，则认定该位置100处存在配向不良。
[0048] 具体地，所述步骤5中通过记录所述配向不良所在的坐标的方式记录所述配向不良所在的位置，例如，位置100处存在配向不良则记录位置100的坐标。
[0049] 步骤6、请参阅图3，提供热风枪6和UV光源7，所述热风枪6和UV光源7均与所述处理器4电性连接，所述热风枪6设于所述载台2的下方，所述UV光源7设于所述载台2的上方。
[0050] 步骤7、请参阅图3，所述处理器4控制所述热风枪6移动到所述液晶显示母板1中配向不良所在的位置的下方；所述处理器4控制所述热风枪6对所述配向不良所在的位置进行预热；预热完成后，所述信号输入设备5向所述液晶显示母板1输入配向信号，所述处理器4控制UV光源7打开，对所述液晶显示母板1进行再配向，同时热风枪6对所述配向不良所在的位置继续进行加热；再配向完成后，所述处理器4控制UV光源7和热风枪6关闭，并返回步骤4。
[0051] 具体地，所述步骤7中所述处理器4根据所述配向不良所在的坐标控制所述热风枪6移动到所述液晶显示母板1中配向不良所在的位置的下方。
[0052] 具体地，所述步骤7中预热的时长可根据配向不良的异常程度进行设置，优选为10至600秒。所述步骤7中的UV光源7对所述液晶显示母板1进行再配向的时长可根据配向不良的异常程度进行设置，优选为10至1200秒。
[0053] 进一步地，所述步骤7中再配向完成后，所述处理器4控制UV光源7先关闭，热风枪6后关闭，进而保证配向不良所在的位置得到充分的加热，提升修复效果。
[0054] 可选地，所述步骤6中提供的热风枪6的数量可根据需要进行设置，所述处理器4根据热风枪6的数量与记录的配向不良所在的位置的数量控制步骤7中修复的配向不良的所在的位置的数量，具体地，设N和M均为正整数，所述步骤5中记录的配向不良的所在的位置的数量为N个，所述步骤6提供的热风枪6的数量为M个；
[0055] 当N大于M时，所述步骤7中所述处理器4控制M个热风枪6分别对液晶显示母板1中的M个配向不良所在的位置进行加热，例如在液晶显示母板1中有5个位置存在配向不良，提供的热风枪6的数量为3个，此时处理器4控制3个热风枪6对其中3个位置的配向不良进行修复，剩余的2个位置的配向不良则在返回步骤4后的下一个循环中进行修复，并且返回步骤4后还可能存在前面修复的3个位置中仍有未修复合格的位置或发现的新的不良位置，此时该未修复合格的位置或新的不良位置可与剩余2个配向不良位置一同进行修复，通过修复与检测的循环，最终完成整个液晶显示母板1的修复。
[0056] 当N小于或等于M时，所述步骤7中所述处理器4控制N个热风枪6分别对液晶显示母板1中的N个配向不良所在的位置进行加热，例如在液晶显示母板1中有3个位置存在配向不良，提供的热风枪6的数量为5个，此时处理器4控制3个热风枪6对其中3个位置的配向不良进行修复，其余的2个热风枪6不工作，修复完成后也需要进行再检测直至完成整个液晶显示母板1的修复。
[0057] 需要说明的是，本发明的液晶显示面板的配向不良修复过程中，配向不良所在的位置有热风枪6加热，进而在进行再配向时该位置的配向相对其他位置会更加充分，从而将配向不良所在的位置的灰阶与其他位置的灰阶拉平，保证后续的点灯检查时产品的品味不会发生较大的灰阶差异。
[0058] 可以理解的是，本发明的修复过程可在现有的光配向制程机台中完成，通过在现有的光配向制程机台中加入摄像头3和热风枪6，并在系统中加入配向不良的检测与修复的控制与处理过程，即可实现本发明的液晶显示面板的配向不良的修复。
[0059] 综上所述，本发明提供一种修复液晶显示面板配向不良的方法，该方法通过摄像头和处理器检测液晶显示母板上已完成光配向制程的各个液晶显示面板是否存在配向不良，并记录配向不良所在的位置，再通过热风枪对所述配向不良的所在的位置进行加热，同时通过UV光源对液晶显示母板进行再配向，进而修复液晶显示面板配向不良，避免因配向不良导致的液晶显示面板产生灰阶差异，保证产品的良率和品质，提升产品竞争力。
[0060] 以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。
