一种磁芯电感的敏感度测量方法及系统

摘要

本发明公开了一种磁芯电感的敏感度测量方法及系统，包括：步骤S100获取待测磁芯电感在测试电路中产生的交变磁场信号；步骤S200根据所述交变磁场信号，转换成相应的数字脉冲信号；步骤S400根据所述数字脉冲信号，得到所述待测磁芯电感的敏感度数据。本发明只需要少量的外围元器件并结合霍尔传感器、控制芯片等即可完成待测磁芯电感的敏感度数据测量，降低了测量时间，提高了测试效率。且元器件数量较少，减少了外界环境对测量的敏感度数据的影响。

权利要求

1.一种磁芯电感的敏感度测量方法，其特征在于，包括：步骤S100获取待测磁芯电感在测试电路中产生的交变磁场信号；

步骤S200根据所述交变磁场信号，转换成相应的数字脉冲信号；

步骤S400根据所述数字脉冲信号，得到所述待测磁芯电感的敏感度数据，所述敏感度数据是指数字脉冲信号的脉冲波形数量；

所述步骤S400具体包括：

步骤S410获取所述数字脉冲信号的第一测量起始点；

步骤S420当获取到所述第一测量起始点时，对所述数字脉冲信号从所述第一测量起始点开始计数；

步骤S430当获取到所述数字脉冲信号的第二测量起始点时，停止对所述数字脉冲信号进行计数，得到计数结果；

步骤S440根据计数结果，得到所述待测磁芯电感的敏感度数据；

步骤S600根据所述敏感度数据和预设判断条件，判断所述待测磁芯电感是否合格。

2.如权利要求1所述的磁芯电感的敏感度测量方法，其特征在于，所述步骤S200和所述步骤S400之间还包括：步骤S300将转换的所述数字脉冲信号进行滤波。

3.如权利要求1所述的磁芯电感的敏感度测量方法，其特征在于，所述步骤S200具体包括：步骤S210根据所述交变磁场信号，转换成相应的交变电压信号；

步骤S220根据所述交变电压信号，转换成相应的所述数字脉冲信号。

4.如权利要求1所述的磁芯电感的敏感度测量方法，其特征在于，所述步骤S400之后还包括：步骤S500将所述敏感度数据显示。

5.一种应用如权利要求1所述的磁芯电感的敏感度测量方法的磁芯电感的敏感度测量系统，其特征在于，包括：待测磁芯电感；

测试电路，与所述待测磁芯电感电连接，用于产生交变磁场信号，并将所述交变磁场信号转换成相应的数字脉冲信号；

控制电路，与所述测试电路电连接，用于根据所述测试电路转换成的所述数字脉冲信号，得到所述待测磁芯电感的敏感度数据，所述敏感度数据是指数字脉冲信号的脉冲波形数量；

所述控制电路包括：

控制芯片；

所述控制芯片的第一中断端通过信号滤波电路与所述测试电路电连接；

所述控制芯片的第二中断端通过所述信号滤波电路与所述测试电路电连接；

所述控制芯片的高低电平检测端和测试芯片电连接，所述测试电路包括所述测试芯片；

判断模块，用于根据所述敏感度数据和预设判断条件，判断所述待测磁芯电感是否合格。

6.如权利要求5所述的磁芯电感的敏感度测量系统，其特征在于：信号滤波电路，所述测试电路通过所述信号滤波电路与所述控制电路电连接，所述信号滤波电路用于对所述测试电路转换的所述数字脉冲信号进行滤波。

7.如权利要求6所述的磁芯电感的敏感度测量系统，其特征在于：所述测试芯片的公共端与所述待测磁芯电感的一端电连接，所述待测磁芯电感的另一端与所述测试芯片的电感信号输入端电连接；

所述测试芯片的脉冲输出端通过所述信号滤波电路与所述控制电路电连接；

所述测试芯片的电感数量配置端通过第一上拉电阻连接到电源；

所述测试芯片的测试模式配置端接地；

所述测试芯片的测量错误输出端与控制电路电连接；

所述测试芯片的芯片工作模式控制端接地。

8.如权利要求5所述的磁芯电感的敏感度测量系统，其特征在于，还包括：显示电路，与所述控制电路电连接，用于显示所述待测磁芯电感的敏感度数据。

说明书

一种磁芯电感的敏感度测量方法及系统

技术领域

[0001] 本发明涉及磁芯电感测试领域，尤其涉及一种磁芯电感的敏感度测量方法及系统。

背景技术

[0002] 在生产过程中，当带磁芯的电感(后面简称磁芯电感)生产出来后，必然要对其敏感度进行测试，确认其是否符合生产标准。敏感度是指磁芯电感磁芯的顶部截面(非引脚一端)与金属表面在一定距离下，能够被金属表面单位面积感知到的磁力线数量。感知的磁力线数量越多，磁芯电感的敏感度越高。

[0003] 现有的测量磁芯电感敏感度的方法就是通过设计硬件电路，然后通过复杂的数学计算来获取磁芯电感的敏感度。为了确定测量的准确性，需要更换硬件电路中一个或多个元器件的阻抗大小，最后通过多点比对来获取磁芯电感的敏感度；有的测试方法则是通过Matlab仿真建模软件来进行辅助计算。

[0004] 现有的测试方法测量磁芯电感敏感度时，由于硬件电路牵涉到对各个电路参数的测量，以及对各个电路参数的计算，而且整个硬件电路涉及到的元器件数量较多，整个测试系统体积较大，测量速度较慢，测试效率较低。而且现有的测试方法因需要对各个电路参数进行测量，在测量过程中影响因素较多，从而使测量得到的磁芯电感的敏感度存在的误差较大。

发明内容

[0005] 本发明的目的是提供一种磁芯电感的敏感度测量方法及系统，加快了测量速度，提高了测试效率，且降低了磁芯电感敏感度的误差。

[0006] 本发明提供的技术方案如下：

[0007] 一种磁芯电感的敏感度测量方法，包括：步骤S100获取待测磁芯电感在测试电路中产生的交变磁场信号；步骤S200根据所述交变磁场信号，转换成相应的数字脉冲信号；步骤S400根据所述数字脉冲信号，得到所述待测磁芯电感的敏感度数据。

[0008] 在上述技术方案中，采用少量的外围元器件实现对磁芯电感敏感度数据的测量，加快了测试速度，大大提高了测试效率。

[0009] 进一步，所述步骤S200和所述步骤S400之间还包括：步骤S300将转换的所述数字脉冲信号进行滤波。

[0010] 在上述技术方案中，对数字脉冲信号滤波，使数字脉冲信号更稳定，后续得到的敏感度数据更精确。

[0011] 进一步，所述步骤S200具体包括：步骤S210根据所述交变磁场信号，转换成相应的交变电压信号；步骤S220根据所述交变电压信号，转换成相应的所述数字脉冲信号。

[0012] 在上述技术方案中，对交变磁场信号的转换是后续得到敏感度数据的前提条件，通过这种转换可以大大减少待测磁芯电感的敏感度测量时间，提高测试效率。

[0013] 进一步，所述步骤S400具体包括：步骤S410获取所述数字脉冲信号的第一测量起始点；步骤S420当获取到所述第一测量起始点时，对所述数字脉冲信号从所述第一测量起始点开始计数；步骤S430当获取到所述数字脉冲信号的第二测量起始点时，停止对所述数字脉冲信号进行计数，得到计数结果；步骤S440根据计数结果，得到所述待测磁芯电感的敏感度数据。

[0014] 在上述技术方案中，通过中断来对脉冲波形数量进行计数，加快了测试时间，提高了测试效率。

[0015] 进一步，所述步骤S400之后还包括：步骤S500将所述敏感度数据显示。

[0016] 在上述技术方案中，将测量得到的敏感度数据显示，可以让测试人员更直观地了解被测磁芯电感的敏感度。

[0017] 本发明还提供一种磁芯电感的敏感度测量系统，包括：待测磁芯电感；测试电路，与所述待测磁芯电感电连接，用于产生交变磁场信号，并将所述交变磁场信号转换成相应的数字脉冲信号；控制电路，与所述测试电路电连接，用于根据所述测试电路转换成的所述数字脉冲信号，得到所述待测磁芯电感的敏感度数据。

[0018] 在上述技术方案中，采用少量的外围元器件实现对磁芯电感敏感度数据的测量，加快了测试速度，大大提高了测试效率。

[0019] 进一步，还包括：信号滤波电路，所述测试电路通过所述信号滤波电路与所述控制电路电连接，所述信号滤波电路用于对所述测试电路转换的所述数字脉冲信号进行滤波。

[0020] 进一步，所述测试电路包括：测试芯片；所述测试芯片的公共端与所述待测磁芯电感的一端电连接，所述待测磁芯电感的另一端与所述测试芯片的电感信号输入端电连接；所述测试芯片的脉冲输出端通过所述信号滤波电路与所述控制电路电连接；所述测试芯片的电感数量配置端通过第一上拉电阻连接到电源；所述测试芯片的测试模式配置端接地；
所述测试芯片的测量错误输出端与控制电路电连接；所述测试芯片的芯片工作模式控制端接地。

[0021] 进一步，所述控制电路包括：控制芯片；所述控制芯片的第一中断端通过所述信号滤波电路与所述测试电路电连接；所述控制芯片的第二中断端通过所述信号滤波电路与所述测试电路电连接；所述控制芯片的高低电平检测端和测试芯片电连接。

[0022] 进一步，还包括：显示电路，与所述控制电路电连接，用于显示所述待测磁芯电感的敏感度数据。

[0023] 与现有技术相比，本发明的磁芯电感的敏感度测量方法及系统有益效果在于：

[0024] 本发明只需要少量的外围元器件并结合霍尔传感器、控制芯片等即可完成待测磁芯电感的敏感度数据测量，降低了测量时间，提高了测试效率。且元器件数量较少，减少了外界环境对测量的敏感度数据的影响。

附图说明

[0025] 下面将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施方式，对一种磁芯电感的敏感度测量方法及系统的上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。

[0026] 图1是本发明磁芯电感的敏感度测量方法一个实施例的流程图；

[0027] 图2是本发明磁芯电感的敏感度测量方法另一个实施例的流程图；

[0028] 图3是本发明磁芯电感的敏感度测量系统一个实施例的结构示意图；

[0029] 图4是本发明磁芯电感的敏感度测量系统另一个实施例的结构示意图；

[0030] 图5是本发明磁芯电感的敏感度测量系统一个实施例的电路图；

[0031] 图6是本发明测试芯片一个实施例的电路图。

[0032] 附图标号说明：

[0033] 10.待测磁芯电感，20.测试电路，30.控制电路，40.信号滤波电路，50.显示电路。

具体实施方式

[0034] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本发明的具体实施方式。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施方式。

[0035] 为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与本发明相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。在本文中，“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。

[0036] 在本发明的一个实施例中，如图1所示，一种磁芯电感的测试方法，包括：步骤S100获取待测磁芯电感在测试电路中产生的交变磁场信号；步骤S200根据所述交变磁场信号，转换成相应的数字脉冲信号；步骤S400根据所述数字脉冲信号，得到所述待测磁芯电感的敏感度数据。

[0037] 具体的，具体的，本发明通过将待测磁芯电感与测试电路中的少量元器件结合，产生交变磁场信号；然后由霍尔传感器捕获此交变磁场信号，将其转换成周期性的数字脉冲信号；最后根据数字脉冲信号，得到待测磁芯电感的敏感度数据。这里的敏感度数据是指数字脉冲信号的脉冲波形数量的统计，此脉冲波形数量能够非常准确地表征磁芯电感的敏感度。

[0038] 本发明中采用少量的外围元器件实现对磁芯电感敏感度数据的测量，加快了测试速度，大大提高了测试效率。由于外围元器件较少，大大减少了测量过程中外界环境对测量结果的影响，降低了磁芯电感敏感度的测量结果的误差。

[0039] 优选地，步骤S400之后还包括：步骤S600根据所述敏感度数据和预设判断条件，判断所述待测磁芯电感是否合格。

[0040] 具体的，在后续判断磁芯电感的敏感度是否合格时，可以将敏感度数据与预设判断条件进行比较。例如：预设判断条件为脉冲波形数量大于20组的磁芯电感为合格产品，那么需要将得到的敏感度数据(即数字脉冲信号的脉冲波形数量)与20进行比对，若大于20，则说明当前的待测磁芯电感合格；若小于等于20，则说明当前的待测磁芯电感不合格。

[0041] 通过测量得到的敏感度数据，即脉冲波形数量(此反应为被测磁芯电感的敏感度)来对待测磁芯电感的敏感度是否合格进行判断，测试过程简单、方便，提高了测试效率。

[0042] 优选地，步骤S200和所述步骤S400之间还包括：步骤S300将转换的所述数字脉冲信号进行滤波。

[0043] 具体的，当得到数字脉冲信号时，可以对其进行滤波，从而过滤到此数字脉冲信号中的毛刺杂波，使数字脉冲信号更稳定，后续得到的敏感度数据更精确。

[0044] 优选地，所述步骤S200具体包括：步骤S210根据所述交变磁场信号，转换成相应的交变电压信号；步骤S220根据所述交变电压信号，转换成相应的所述数字脉冲信号。

[0045] 具体的，将交变磁场信号转换为交变电压信号可以由霍尔传感器完成，而将交变电压信号转换成一个相应的数字脉冲信号可以由电压比较器完成。

[0046] 对交变磁场信号的转换是后续得到敏感度数据的前提条件，通过这种转换可以大大减少待测磁芯电感的敏感度测量时间，提高测试效率。

[0047] 优选地，所述步骤S400具体包括：步骤S410获取所述数字脉冲信号的第一测量起始点；步骤S420当获取到所述第一测量起始点时，对所述数字脉冲信号从所述第一测量起始点开始计数；步骤S430当获取到所述数字脉冲信号的第二测量起始点时，停止对所述数字脉冲信号进行计数，得到计数结果；步骤S440根据计数结果，得到所述待测磁芯电感的敏感度数据。

[0048] 具体的，第一测量起始点可以理解为找到数字脉冲信号的头，从数字脉冲信号的头开始进行计数。当获取到第二个测量起始点(即，第二次发现头)时，说明后面是新的一个周期的数字脉冲信号，因此，在这个时候计数可以停止。这时候得到的一个周期的数字脉冲信号的脉冲波形数量的计数结果就可以表征待测磁芯电感的敏感度。

[0049] 通过软件模拟双中断方式来完成数字脉冲信号的第一测量起始点和第二测量起始点的定位，以及，脉冲波形数量的计数，加快了测试时间，提高了测试效率。

[0050] 优选地，所述步骤S400之后还包括：步骤S600将所述敏感度数据显示。

[0051] 具体的，敏感度数据可以直观地反映被测磁芯电感的敏感度。将测量得到的敏感度数据显示，可以让测试人员更直观地了解被测磁芯电感的敏感度。

[0052] 在本发明的另一个实施例中，如图2所示，一种磁芯电感的敏感度测量方法，包括：步骤S100获取待测磁芯电感在测试电路中产生的交变磁场信号；步骤S200根据所述交变磁场信号，转换成相应的数字脉冲信号；步骤S200具体包括：步骤S210根据所述交变磁场信号，转换成相应的交变电压信号；步骤S220根据所述交变电压信号，转换成相应的所述数字脉冲信号；步骤S300将转换的所述数字脉冲信号进行滤波；步骤S400根据所述数字脉冲信号，得到所述待测磁芯电感的敏感度数据；步骤S400具体包括：步骤S410获取所述数字脉冲信号的第一测量起始点；步骤S420当获取到所述第一测量起始点时，对所述数字脉冲信号从所述第一测量起始点开始计数；步骤S430当获取到所述数字脉冲信号的第二测量起始点时，停止对所述数字脉冲信号进行计数，得到计数结果；步骤S440根据计数结果，得到所述待测磁芯电感的敏感度数据；步骤S500将所述敏感度数据显示。

[0053] 具体的，通过将待测磁芯电感与少量外围元器件结合产生交变磁场信号，然后由霍尔传感器捕获这种磁场，并将其转换成交变电压信号，再将此交变电压信号转换成数字脉冲信号，再通过滤波过滤掉毛刺和杂波后，得到更稳定的数字脉冲信号，最后由控制芯片(例如：MCU)对这个数字脉冲进行处理，得到敏感度数据并将其显示。

[0054] 本发明只需要少量的外围元器件并结合霍尔传感器、控制芯片等即可完成待测磁芯电感的敏感度数据测量，降低了测量时间，提高了测试效率。且元器件数量较少，减少了外界环境对测量的敏感度数据的影响。

[0055] 在本发明的另一个实施例中，如图3所示，一种磁芯电感的敏感度测量系统，包括：待测磁芯电感10；测试电路20，与所述待测磁芯电感电连接，用于产生交变磁场信号，并将所述交变磁场信号转换成相应的数字脉冲信号；控制电路30，与所述测试电路电连接，用于根据所述测试电路转换成的所述数字脉冲信号，得到所述待测磁芯电感的敏感度数据。

[0056] 具体的，具体的，本发明通过将待测磁芯电感与测试电路中的少量元器件结合，产生交变磁场信号；然后由霍尔传感器捕获此交变磁场信号，将其转换成周期性的数字脉冲信号；最后根据数字脉冲信号，得到待测磁芯电感的敏感度数据。这里的敏感度数据是指数字脉冲信号的脉冲波形数量的统计，此脉冲波形数量能够非常准确地表征磁芯电感的敏感度。

[0057] 本发明中采用少量的外围元器件实现对磁芯电感敏感度数据的测量，加快了测试速度，大大提高了测试效率。由于外围元器件较少，大大减少了测量过程中外界环境对测量结果的影响，降低了磁芯电感敏感度的测量结果的误差。

[0058] 优选地，还包括：判断模块，用于根据所述敏感度数据和预设判断条件，判断所述待测磁芯电感是否合格。

[0059] 具体的，在后续判断磁芯电感的敏感度是否合格时，可以将敏感度数据与预设判断条件进行比较。例如：预设判断条件为脉冲波形数量大于20组的磁芯电感为合格产品，那么需要将得到的敏感度数据(即数字脉冲信号的脉冲波形数量)与20进行比对，若大于20，则说明当前的待测磁芯电感合格；若小于等于20，则说明当前的待测磁芯电感不合格。

[0060] 通过测量得到的敏感度数据，即脉冲波形数量(此反应为被测磁芯电感的敏感度)来对待测磁芯电感的敏感度是否合格进行判断，测试过程简单、方便，提高了测试效率。

[0061] 优选地，如图4所示，除与上述相同的之外，还包括：信号滤波电路，所述测试电路通过所述信号滤波电路与所述控制电路电连接，所述信号滤波电路用于对所述测试电路转换的所述数字脉冲信号进行滤波。

[0062] 具体的，将测试电路输出的数字脉冲信号通过信号滤波电路，可以将其中的毛刺和杂波滤除，得到更稳定的数字脉冲信号，使后续得到的敏感度数据更精确。

[0063] 优选的，信号滤波电路包括：第一滤波电容(C6)，与测试电路电连接(测试芯片的脉冲输出端(RED)通过第一滤波电容(C6)接地)；与门U1(与非门也可以)，与门的两个输入端还与测试电路电连接，与门的一个输出端与控制电路电连接(测试芯片的脉冲输出端(RED)还与与门的两个输入端电连接，与门的输出端分别与控制芯片的第一中断端和第二中断端电连接)。

[0064] 具体的，第一滤波电容(C6)可以滤除测试电路输出的数字脉冲信号的上冲和下冲，数字门电路与门(或与非门)可以减小数字脉冲信号波形的上升沿和下降沿的延迟时间，从而达到滤波的效果。

[0065] 优选地，如图4所示，除与上述相同的之外，还包括：显示电路，与控制电路电连接，用于显示待测磁芯电感的敏感度数据。

[0066] 具体的，敏感度数据可以直观地反映被测磁芯电感的敏感度。将测量得到的敏感度数据显示，可以让测试人员更直观地了解被测磁芯电感的敏感度。显示电路可以由显示器(LCD)组成。

[0067] 在本发明的另一个实施例中，如图5所示，测试电路包括：测试芯片(IC2A)；测试芯片的公共端(VM)与待测磁芯电感(L1/L2/L3)的一端电连接，待测磁芯电感的另一端与测试芯片的电感信号输入端(LA/LB/LC)电连接(且待测磁芯电感与测试芯片的公共端(VM)电连接的一端还通过第二滤波电容(C10)接地)。

[0068] 测试芯片的脉冲输出端(RED)通过信号滤波电路与控制电路电连接；测试芯片的电感数量配置端(P3)通过第一上拉电阻(R3)连接到电源；测试芯片的测试模式配置端(LBDC)接地；测试芯片的测量错误输出端(ERR/LBO)与控制电路电连接；测试芯片的芯片工作模式控制端(TESTN)接地；测试芯片的接地端(GND)接地；测试芯片的电源输入端(VDD)与电源(DVDD)电连接。

[0069] 具体的，一个待测磁芯电感与测试芯片内部的一个内置可变电容在电路上构成一个LC震荡器，通过测试芯片内部的电子开关可以控制此电容充放电的时间，以此来控制LC振荡时振幅的大小及振荡频率，如此就产生了一个交变磁场信号；交变磁场信号由测试芯片内部的霍尔传感器进行捕获，产生一个交变电压信号。这个电压信号再输入到测试芯片内部的一个电压比较器，从而产生一个数字脉冲信号，从测试芯片的RED引脚输出，此时输出的数字脉冲信号就表征了磁芯电感的敏感度。

[0070] L1、L2和L3为待测磁芯电感的插槽位置，在测试时选择其中一个插槽放入待测磁芯电感，其它插槽空置即可。例如：将待测磁芯电感L2接入，磁芯电感L1和磁芯电感L2拿走。

[0071] 电感数量配置端(P3)通过第一上拉电阻(R3)连接到电源，给测试芯片的P3功能引脚一个固定的高电平。测试芯片内部的数字电路会根据此引脚的电平状态，来判断是使用一个电感还是使用三个电感。当电感数量配置端(P3)处于高电平时，说明测试芯片只连接了一个待测磁芯电感。

[0072] 测量错误输出端(ERR/LBO)和测试模式配置端(LBDC)为配合使用的引脚。测量错误输出端(ERR/LBO)为根据测试芯片的测量状态而改变其输出电平；如果测量时发生错误，此引脚会输出低电平，如果测量过程正常，输出为高电平。将此测量错误输出端(ERR/LBO)与控制电路电连接，让控制电路知道测量过程中是否发生错误，以确保待测磁芯电感的敏感度数据的准确性。

[0073] 芯片工作模式控制端(TESTN)是通过高低电平来控制测试芯片的工作模式，即正常工作模式(三个电感)，或，测试模式(一个电感)。此引脚输入高电平时为正常工作模式；输入低电平时为测试模式。因此测试芯片是用于测试一个待测磁芯电感的敏感度，因此，芯片工作模式控制端(TESTN)接地，表示输入为低电平，此测试芯片为测试模式。

[0074] 优选地，测试芯片内部包括：电容C1、第四电子开关S4、霍尔传感器H和电压比较器AR1；电容与外部的待测磁芯电感构成一个LC震荡器；第四电子开关S4，用于通过控制电容C1的充放电时间，来控制LC震荡器产生交变磁场信号；霍尔传感器H，用于获取交变磁场信号，并将交变磁场信号转换成相应的交变电压信号；电压比较器AR1，将交变电压信号转换成相应的数字脉冲信号。

[0075] 具体的，如图6所示，测试芯片中的一个电容C1，此电容C1的一端接地，另一端同时与三个电子开关(S1、S2和S3)的第一端电连接，第一电子开关S1的第二端与电感信号输入端LA电连接(第一电子开关S1的第二端作为电感信号输入端LA)，第二电子开关S2的第二端与电感信号输入端LB电连接(第二电子开关S2的第二端作为电感信号输入端LB)，第三电子开关S3的第二端与电感信号输入端LC电连接(第三电子开关S3的第二端作为电感信号输入端LC)。

[0076] 第四电子开关S4一端与电容C1不接地的一端电连接，第四电子开关S4另一端与电源输入端VDD电连接(第四电子开关S4另一端作为电源输入端VDD)。霍尔传感器H的电源正极输入端与第一电子开关S1、第二电子开关S2和第三电子开关S3的第一端同时电连接；霍尔传感器H的电源负极输入端与公共端VM电连接(霍尔传感器H的电源负极输入端作为公共端VM)。电压比较器AR1的一个同相输入端与霍尔传感器的输出端电连接，电压比较器AR1反相输入端与参考电压VRef电连接，电压比较器AR1的输出端为脉冲输出端(RED)。

[0077] 优选地，控制电路包括：控制芯片(IC1)；控制芯片的第一中断端(P1.0)通过信号滤波电路与测试电路电连接；控制芯片的第二中断端(P1.1)通过信号滤波电路与测试电路电连接。

[0078] 控制芯片的高低电平检测端(P1.2)和测试芯片(的测量错误输出端(ERR/LBO))电连接。

[0079] 控制芯片的复位端(RST)通过极性电容(C5)接地(复位端与极性电容的正极电连接，极性电容的负极接地)，复位端(RST)还通过第二上拉电阻(R2)与电源(DVDD)电连接。控制芯片的晶振信号输入端(XIN)和晶振信号输出端(XOUT)与晶体振荡电路电连接。

[0080] 控制芯片的芯片SPI时钟信号输出端(P2.1)和显示电路的显示SPI时钟信号输入端(4脚)电连接；控制芯片的芯片SPI数据输入端(P2.2)和显示电路的显示SPI数据输出端(3脚)电连接；控制芯片的芯片数据输出端(P3.2)和显示电路的显示SPI数据输入端(2脚)电连接；控制芯片的芯片SPI片选信号输出端(P3.3)和显示电路的显示SPI片选信号输入端(1脚)电连接。

[0081] 控制芯片的接地端(DVSS)接地；控制芯片的电源输入端(DVCC)与电源(DVDD)电连接。

[0082] 具体的，控制芯片的两个中断端，一个用于获取数字脉冲信号的第一测量起始点和第二测量起始点，另一个用于对第一测量起始点和第二测量起始点之间的数字脉冲信号的脉冲波形数量进行计数。从而根据计数结果，得到待测磁芯电感的敏感度数据。这里的控制芯片为MCU，可以采用MSP430G2252。

[0083] 第一中断端(P1.0)和第二中断端(P1.1)为控制芯片上的两个通用输入输出端口，通过软件模拟出中断端的功能，将此两个端口作为中断端使用。

[0084] 高低电平检测端(P1.2)也是控制芯片上的一个通用输入输出端口，通过软件模拟出高低电平检测功能，用来检测测试芯片的测量过程中是否出错。

[0085] 芯片SPI时钟信号输出端(P2.1)、芯片SPI数据输入端(P2.2)、芯片数据输出端(P3.2)和芯片SPI片选信号输出端(P3.3)都是控制芯片上的通用输入输出端口，通过软件分别模拟出SPI总线的时钟信号、SPI总线的数据输入端口、SPI总线的数据输出端口和SPI总线的片选信号的功能。将这些端口分别与显示电路(即显示屏)上对应的端口相连接，实现将敏感度数据在显示屏上显示的功能。这里的显示屏只要具有SPI接口即可以与控制芯片实现兼容。优选地，显示屏的电源电压为3.3V。

[0086] 在本发明的另一个实施例中，如图5所示，一种磁芯电感的敏感度测量系统，包括待测磁芯电感，测试电路，信号滤波电路，控制电路和显示电路。

[0087] 测试电路中的测试芯片(IC2A)的公共端(VM)与待测磁芯电感(L1/L2/L3)的一端电连接，待测磁芯电感的另一端与测试芯片的电感信号输入端(LA/LB/LC)电连接(且待测磁芯电感的另一端通过第二滤波电容(C10)接地)。

[0088] 测试芯片的电感数量配置端(P3)通过第一上拉电阻(R3)连接到电源；测试芯片的测试模式配置端(LBDC)接地；测试芯片的测量错误输出端(ERR/LBO)与控制电路的控制芯片(IC1)的高低电平检测端(P1.2)电连接；测试芯片的芯片工作模式控制端(TESTN)接地；测试芯片的接地端(GND)接地；测试芯片的电源输入端(VDD)与电源(DVDD)电连接。

[0089] 测试芯片的脉冲输出端(RED)通过信号滤波电路中的第一滤波电容(C6)接地；测试芯片的脉冲输出端(RED)还与信号滤波电路中的与门的两个输入端电连接，与门的输出端分别与控制芯片(IC1)的第一中断端(P1.0)和第二中断端(P1.1)电连接。

[0090] 控制芯片的复位端(RST)通过极性电容(C5)接地(复位端与极性电容的正极电连接，极性电容的负极接地)，复位端(RST)还通过第二上拉电阻(R2)与电源(DVDD)电连接。控制芯片的晶振信号输入端(XIN)和晶振信号输出端(XOUT)与晶体振荡电路电连接。

[0091] 控制芯片的芯片SPI时钟信号输出端(P2.1)和显示电路(LCD)的显示SPI时钟信号输入端(4脚)电连接；控制芯片的芯片SPI数据输入端(P2.2)和显示电路的显示SPI数据输出端(3脚)电连接；控制芯片的芯片数据输出端(P3.2)和显示电路的显示SPI数据输入端(2脚)电连接；控制芯片的芯片SPI片选信号输出端(P3.3)和显示电路的显示SPI片选信号输入端(1脚)电连接。

[0092] 控制芯片的接地端(DVSS)接地；控制芯片的电源输入端(DVCC)与电源(DVDD)电连接。电源(DVDD)还通过电源滤波电路接地；电源滤波电路为三个电容并列电连接。

[0093] 具体的，一个待测磁芯电感与测试芯片内部的一个内置可变电容在电路上构成一个LC震荡器，通过测试芯片内部的电子开关可以控制此电容充放电的时间，以此来控制LC振荡时振幅的大小及振荡频率，如此就产生了一个交变磁场信号；交变磁场信号由测试芯片内部的霍尔传感器进行捕获，产生一个交变电压信号。这个电压信号再输入到测试芯片内部的一个电压比较器，从而产生一个数字脉冲信号，从测试芯片的RED引脚输出，通过信号滤波电路去除数字脉冲信号中的毛刺和杂波，再输入到控制芯片的两个中断端，对数字脉冲信号的脉冲波形数量进行计数，得到的计数结果即敏感度数据，将此敏感度数据输出并显示。

[0094] 另外，本发明的测试系统相比传统的测试系统体积更小，便于携带。

[0095] 应当说明的是，上述实施例均可根据需要自由组合。以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。