湿气管理转让专利

申请号 : CN201710349988.6

文献号 : CN107219272B

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基本信息:

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法律信息:

相似专利:

发明人 : P·琴塔拉普迪

申请人 : 辛纳普蒂克斯公司

摘要 :

用于湿气检测的方法,该方法包括:获得绝对电容性传感器数据,以及处理电路,确定基于该绝对电容性传感器数据生成的电容性图像中的连续区域,确定该连续区域的凹度参数,以及至少部分地基于该凹度参数检测湿气的存在。该方法还包括基于湿气的存在进行操作。

权利要求 :

1.一种用于湿气检测的处理系统,包括:传感器电路,用于获得绝对电容性传感器数据;以及处理电路,配置成:

确定电容性图像中的连续区域,所述电容性图像基于所述绝对电容性传感器数据生成;

确定所述连续区域的凹度参数,其中所述凹度参数是基于所述电容性图像中的所述连续区域的二维几何形状,所述二维几何形状在平行于感测区的输入表面的平面中被确定,所述绝对电容性传感器数据是从所述输入表面获得,其中由所述凹度参数所描述的凹度在所述平面中、在所述电容性图像中被评估;

至少部分地基于所述凹度参数检测湿气的存在;以及基于所述湿气的存在而进行操作。

2.根据权利要求1所述的处理系统,其中,所述处理电路还配置成:确定所述连续区域的峰值;

确定大于阈值且包括所述峰值的连续值的数量;以及根据所述连续值的数量,确定峰的峰尺寸;

其中,检测所述湿气的存在还基于所述峰尺寸。

3.根据权利要求1所述的处理系统,其中,所述处理电路还配置成:确定所述连续区域的峰的数量随时间的变化性指标;

其中,检测所述湿气的存在还基于所述变化性指标。

4.根据权利要求1所述的处理系统,其中基于所述湿气的存在而进行操作包括:减轻湿气在所述连续区域中的效果。

5.根据权利要求4的处理系统,其中减轻湿气的效果包括:确定所述连续区域中的每个像素与所述连续区域的峰值之间的距离;

基于所述距离减少所述连续区域的尺寸,以获得经修正连续区域;

采用所述经修正连续区域,确定输入对象的位置信息。

6.根据权利要求4所述的处理系统,其中减轻湿气的效果包括:腐蚀所述连续区域的多个原始像素,以获得多个剩余像素;

膨胀所述多个剩余像素,以获得经修正连续区域;以及采用所述经修正连续区域,确定输入对象的位置信息。

7.根据权利要求1所述的处理系统,其中,所述传感器电路配置成连接到按照矩阵陈列设置的多个传感器电极,所述多个传感器电极中的每个传感器电极表示所述电容性图像中的像素,以及其中,所述传感器电路配置成采用所述多个传感器电极获得所述绝对电容性传感器数据。

8.一种湿气检测方法,包括:

获得绝对电容性传感器数据;

确定电容性图像中的连续区域,所述电容性图像基于所述绝对电容性传感器数据而生成;

确定所述连续区域的凹度参数,其中所述凹度参数是基于所述电容性图像中的所述连续区域的二维几何形状,所述二维几何形状在平行于感测区的输入表面的平面中被确定,所述绝对电容性传感器数据是从所述输入表面来获得,其中由所述凹度参数所描述的凹度在所述平面中、在所述电容性图像中被评估;

至少部分地基于所述凹度参数检测湿气的存在;以及基于所述湿气的存在而进行操作。

9.根据权利要求8所述的方法,还包括:确定所述连续区域的峰值;

确定大于阈值且包括所述峰值的连续值的数量;以及基于所述连续值的数量,确定峰的峰尺寸,其中,检测所述湿气的存在还基于所述峰尺寸。

10.根据权利要求8所述的方法,还包括:确定所述连续区域的峰的数量随时间的变化性指标,其中,检测所述湿气的存在还基于所述变化性指标。

11.根据权利要求8所述的方法,其中,基于所述湿气的存在而进行操作包括:减轻湿气在所述连续区域中的效果。

12.根据权利要求11所述的方法,其中,减轻湿气的效果包括:确定所述连续区域中的每个像素与所述连续区域的峰值之间的距离;

基于所述距离减少所述连续区域的尺寸,以获得经修正连续区域;

采用所述经修正连续区域,确定输入对象的位置信息。

13.根据权利要求11所述的方法,其中,减轻湿气的效果包括:腐蚀所述连续区域的多个原始像素,以获得多个剩余像素;

膨胀所述多个剩余像素,以获得经修正连续区域;以及采用所述经修正连续区域,确定输入对象的位置信息。

14.根据权利要求8所述的方法,其中,基于所述湿气的存在而进行操作包括:报告所述连续区域中所述湿气的存在。

15.根据权利要求8所述的方法,其中,所述绝对电容性传感器数据是从传感器电路获得,所述传感器电路配置成连接到按照矩阵阵列设置的多个传感器电极,并且其中所述多个传感器电极中的每个传感器电极表示所述电容性图像中的像素,以及其中所述传感器电路配置成采用所述多个传感器电极获得所述绝对电容性传感器数据。

16.一种用于湿气检测的输入装置,包括:传感器电极,用于获得绝对电容性传感器数据;以及处理系统,配置成:

确定电容性图像中的连续区域,所述电容性图像基于所述绝对电容性传感器数据而生成;

确定所述连续区域的凹度参数,其中所述凹度参数是基于所述电容性图像中的所述连续区域的二维几何形状,所述二维几何形状在平行于所述输入装置的输入表面的平面中被确定,其中,由所述凹度参数所描述的凹度在所述平面中、在所述电容性图像中被评估;

至少部分地基于所述凹度参数检测湿气的存在;以及基于所述湿气的存在而进行操作。

17.根据权利要求16所述的输入装置,其中,所述处理系统还配置成:确定所述连续区域的峰值;

确定大于阈值且包括所述峰值的连续值的数量;以及基于所述连续值的数量,确定峰的峰尺寸;

其中,检测所述湿气的存在还基于所述峰尺寸。

18.根据权利要求16所述的输入装置,其中,所述处理系统还配置成:确定所述连续区域的峰的数量随时间的变化性指标;

其中,检测所述湿气的存在还基于所述变化性指标。

19.一种用于湿气检测的处理系统,包括:用于获得绝对电容性传感器数据的传感器电路;以及处理电路,配置成:

确定电容性图像中的连续区域,所述电容性图像由所述绝对电容性传感器数据生成;

确定所述连续区域的凹度参数;

基于次要指示符来检测湿气的存在,甚至当所述凹度参数指示湿气的存在时;以及基于所述连续区域、所述凹度参数、以及所述湿气的存在来确定至少两个输入对象的存在。

20.一种于湿气检测的方法,包括:获得绝对电容性传感器数据;

确定电容性图像中的连续区域,所述电容性图像由所述绝对电容性传感器数据生成;

确定所述连续区域的凹度参数;

基于次要指示符来检测湿气的存在,甚至当所述凹度参数指示湿气的存在时;以及基于所述连续区域、所述凹度参数、以及所述湿气的存在来确定至少两个输入对象的存在。

说明书 :

湿气管理

[0001] 相关申请的交叉参考
[0002] 按照35U.S.C§119(e)的规定,本申请要求于2016年3月16日递交的、名称为“湿气管理”的美国临时专利申请序号62/309,194的优先权,在此通过参考将其全部并入本文。

技术领域

[0003] 本公开一般涉及电子装置。

背景技术

[0004] 输入装置,包括接近传感器装置(也常称为触摸板,或触摸传感器装置),广泛地用于多种电子系统中。典型地,接近传感器装置包括感测区(通常由表面来区分),在其中接近传感器装置确定一个或多个输入对象的存在、位置和/或运动。接近传感器装置可用于提供电子系统的接口。例如,接近传感器装置经常用作较大的计算系统的输入装置(诸如,集成在、或外设于笔记本或台式计算机的不透明触摸板)。接近传感器装置还经常用于较小的计算系统(诸如集成于蜂窝电话中的触摸屏)。

发明内容

[0005] 一般来说,在一个方面,一个或多个实施方式涉及用于湿气检测的处理系统。该处理系统包括传感器电路,该传感器电路用于获得绝对电容性传感器数据;以及处理电路。该处理电路配置成确定电容性图像中的连续区域,该电容性图像基于该绝时电容性传感器数据生成;确定该连续区域的凹度参数;以及至少部分地基于该凹度参数检测湿气的存在。该处理电路还配置成基于湿气的存在进行操作。
[0006] 一般来说,在一个方面,一个或多个实施方式涉及用于湿气检测的方法。该方法包括获得绝对电容性传感器数据,以及处理电路,确定电容性图像中的连续区域,其中电容性图像基于该绝对电容性传感器数据生成;确定该连续区域的凹度参数;以及至少部分地基于该凹度参数检测湿气的存在。该方法还包括基于湿气的存在进行操作。
[0007] 一般来说,在一个方面,一个或多个实施方式涉及用于湿气检测的处理系统。该处理系统包括用于获得绝对电容性传感器数据的传感器电路,以及处理电路。该处理电路配置成确定电容性图像中的连续区域,其中电容性图像基于该绝对电容性传感器数据生成,确定该连续区域的凹度参数,以及至少部分地基于该凹度参数检测湿气的存在。该处理电路还配置成基于湿气的存在进行操作。
[0008] 根据下面的描述和后附的权利要求,本发明的其它方面将显而易见。

附图说明

[0009] 本发明优选的示例实施方式将在以下结合附图进行描述,其中,相同的标号表示相同的元件,以及:
[0010] 图1为示例系统的框图,该系统包括根据本发明一实施方式的输入装置;
[0011] 图2为根据本发明的一个或多个实施方式的示例电容性图像;
[0012] 图3为根据本发明的一个或多个实施方式的示例系统的框图;
[0013] 图4、图5、图6与图7为根据本发明的一个或多个实施方式的示例流程图;
[0014] 图8、图9、图10.1、图10.2与图10.3为根据本发明的一个或多个实施方式的示例。

具体实施方式

[0015] 下面的具体描述本质上仅仅为示例性的,其非意在限定本发明或其应用及使用。另外,不存在由前述的技术领域、背景技术、发明概要或下面的具体描述中提出的任何表达的或暗示的理论进行约束的意图。
[0016] 在本发明的实施方式的下列具体描述中,给出许多具体的细节,以便提供对本发明的更透彻理解。但是,对于本领域的技术人员显而易见的是,本发明可在没有这些具体细节的情况下实施。在其它的实例中,没有详细地描述公知特征,以避免不必要地使该描述复杂化。
[0017] 贯穿本申请,序号(比如,第一、第二、第三,等等)可用作元件(即,本申请中的名词)的形容词。除非明确说明,序号的使用不是为了表明或创建元件的任何特定顺序,也不是将任何元件限定为仅仅单个元件,除非明确公开,诸如通过使用术语“之前”、“之后”、“单个”以及其它的这样的术语。相反,序号的使用是用于区分元件。作为示例,第一元件区别于第二元件,以及第一元件可包含多于一个元件,且在元件的排序中后继(或先于)第二元件。
[0018] 本发明的各种实施方式提供促进改进的可用性的输入装置和方法。特别地,一个或多个实施方式针对湿气管理。湿气是液态形式的物质(即,液态物质)在表面感测区域的存在,其至少在输入对象存在时会影响电容性图像。湿气可为该表面感测区域上的几乎任何尺寸的一个或多个微滴和/或水坑的形式。例如,湿气可为位于该表面感测区域上的微量雾。湿气管理可包括湿气检测,以及根据是否存在湿气进行操作。湿气检测涉及基于电容性图像中的指标确定湿气的存在。
[0019] 现在转到附图,图1是根据本发明的实施例的示例性输入设备100的框图。输入设备100可以配置成向电子系统(未示出)提供输入。如本文档中所使用的,术语“电子系统”(或者“电子装置”)泛指能够电子地处理信息的任何系统。电子系统的一些非限制性示例包括所有大小和形状的个人计算机,诸如桌上型计算机、膝上型计算机、上网本计算机、平板电脑、网络浏览器、电子书阅读器以及个人数字助理(PDA)。另外的示例电子系统包括复合型输入设备,诸如包括输入装置100和独立操纵杆或按键开关的物理键盘。其他示例电子系统包括诸如数据输入装置(包括远程控制器和鼠标)和数据输出装置(包括显示屏和打印机)之类的外围设备。其他示例包括远程终端、信息亭、和视频游戏机(例如视频游戏控制台、便携式游戏设备等等)。其他示例包括通信装置(包括蜂窝式电话,诸如智能电话),以及媒体装置(包括录音机,编辑器、和诸如电视的播放器、机顶盒、音乐播放器、数字照片相框和数字照相机)。另外,电子系统可以是输入装置的主机或从机。。
[0020] 输入装置100可以实现为电子系统的物理部件,或者可以与电子系统物理地分开。另外,输入装置100的一些部分可以是电子系统的部件。例如,处理系统的全部或部分可以实现在电子系统的装置驱动器中。视情况而定,输入装置100可以使用以下各项中的任何一个或多个来与电子系统的多个部件通信:总线、网络、和其他有线或无线互连。示例包括I2C、SPI、PS/2、通用串行总线(USB)、蓝牙、RF和IRDA。
[0021] 图1中,输入装置100示为接近传感器装置(又常常称作“触摸板”或“触摸传感器装置”),其配置成感测由一个或多个输入对象140在感测区120中提供的输入。示例输入对象包括手指和触控笔,如图1所示。贯穿本申请,可使用输入对象的单数形式。虽然使用单数形式,但是多个输入对象可在感测区120中存在。此外,哪些特定输入对象处于感测区中可随着一个或多个手势的过程发生变化。为了避免不必要地使描述复杂化,输入对象的单数形式被使用,并且表示上述变化的全部。
[0022] 感测区120包含输入装置100上方、周围、之中和/或附近的任何空间,在其中输入装置100能够检测用户输入(例如由一个或多个输入对象140所提供的用户输入)。特定感测区的尺寸、形状和位置可逐个实施例极大地改变。
[0023] 在一些实施例中,感测区120沿一个或多个方向从输入装置100的表面延伸到空间中,直到信噪比阻止充分准确的对象检测。输入装置表面上方的扩展可称作表面上方感测区。在各个实施例中,这个感测区120沿特定方向所延伸的距离可以是大约小于一毫米、数毫米、数厘米或者以上,并且可随所使用的感测技术的类型和期望精度而极大地改变。因此,一些实施例感测输入,包括没有与输入装置100的任何表面相接触、与输入装置100的输入表面(例如触摸表面)相接触、与耦合某个量的外加力或压力的输入装置100的输入表面相接触,和/或其组合。在各个实施例中,可由传感器电极所在的壳体的表面、由施加在传感器电极或者任何壳体之上的面板等,来提供输入表面。在一些实施例中,感测区120在投影到输入装置100的输入表面上时具有矩形形状。
[0024] 输入装置100可利用传感器组件和感测技术的任何组合来检测感测区120中的用户输入。输入装置100包括用于检测用户输入的一个或多个感测元件。作为若干非限制性示例,输入装置100可使用电容性、倒介电、电阻性、电感性、磁、声、超声和/或光学技术。
[0025] 一些实现配置成提供跨越一维、二维、三维或更高维的空间的图像。一些实现配置成提供沿特定轴或平面的输入的投影。此外,一些实现可配置成提供一个或多个图像和一个或多个投影的组合。
[0026] 在输入装置100的一些电阻性实现中,柔性和导电第一层通过一个或多个隔离元件与导电第二层分隔。在操作期间,跨多层创建一个或多个电压梯度。按压柔性第一层可使它充分偏转,以在层之间创建电接触,从而产生反映层之间的(一个或多个)接触的点的电压输出。这些电压输出可用来确定位置信息。
[0027] 在输入装置100的一些电感性实现中,一个或多个感测元件拾取由谐振线圈或线圈对所感应的回路电流。电流的幅值、相位和频率的某个组合则可用来确定位置信息。
[0028] 在输入装置100的一些电容性实现中,施加电压或电流以创建电场。附近的输入对象引起电场的变化,并且产生电容性耦合的可检测变化,其可作为电压、电流等的变化来检测。
[0029] 一些电容性实现利用电容性感测元件的阵列或者其他规则或不规则图案来创建电场。在一些电容性实现中,独立感测元件可欧姆地短接在一起,以形成较大传感器电极。一些电容性实现利用电阻片,其可以是电阻均匀的。
[0030] 一些电容性实现利用基于传感器电极与输入对象之间的电容性耦合的变化的“自电容”或(或“绝对电容”)感测方法。在各个实施例中,传感器电极附近的输入对象改变传感器电极附近的电场,因而改变所测量的电容性耦合。在一个实现中,绝对电容感测方法通过相对参考电压(例如系统地)来调制传感器电极,以及通过检测传感器电极与输入对象之间的电容性耦合进行操作。参考电压可以是基本上恒定的电压或变化电压,以及在各个实施例中,参考电压可以是系统地。使用绝对电容感测方法所获取的测量可称作绝对电容性测量。
[0031] 一些电容性实现利用基于传感器电极之间的电容性耦合的变化的“互电容”(或“跨电容”)感测方法。在各个实施例中,传感器电极附近的输入对象改变传感器电极之间的电场,因而改变所测量的电容性耦合。在一个实现中,互电容感测方法通过检测一个或多个发射器传感器电极(又称作“发射器电极”或“发射器”)与一个或多个接收器传感器电极(又称作“接收器电极”或“接收器”)之间的电容性耦合来进行操作。发射器传感器电极可相对于参考电压(例如系统地)来调制,以传送发射器信号。接收器传感器电极可相对于参考电压保持为基本上恒定,以促进所产生信号的接收。参考电压可以是基本上恒定的电压,以及在各个实施例中,参考电压可以是系统地。在一些实施例中,可调制发射器传感器电极。发射器电极相对于接收器电极来调制,以便传送发射器信号并且促进所产生信号的接收。所产生信号可包括与一个或多个发射器信号和/或与一个或多个环境干扰源(例如其他电磁信号)对应的(一个或多个)影响。该(一个或多个)影响可以是发射器信号、由一个或多个输入对象和/或环境干扰所引起的发射器信号的变化、或者其他这类影响。传感器电极可以是专用发射器或接收器,或者可配置成既传送又接收。使用互电容感测方法所获取的测量可称作互电容测量。
[0032] 此外,传感器电极可具有变化形状和/或尺寸。传感器电极的相同形状和/或尺寸可以或者可以不处于相同编组中。例如,在一些实施例中,接收器电极可具有相同形状和/或尺寸,而在其他实施例中,接收器电极可以是变化形状和/或尺寸。
[0033] 在其它的实施例中,传感器电极中的一个或多个设置于公共衬底的相同侧或表面上,且在感测区中相互分隔开。该传感器电极可设置于矩阵阵列中,在这里每个传感器电极可称为矩阵传感器电极。该矩阵阵列可与网格图案相对应。传感器电极中的每个传感器电极在形状和/或尺寸方面可基本类似。在一个实施例中,传感器电极的矩阵阵列的传感器电极中的一个或多个可在尺寸和形状中的至少一个方面变化。该矩阵阵列中的每个传感器电极可与电容性图像的一个像素(即,电容性像素)相对应。另外,该矩阵阵列的两个或多个传感器电极可与电容性图像的一个像素(即,电容性像素)相对应。换言之,电容性像素为获得测量结果所在的位置。在各种实施例中,该矩阵阵列的每个传感器电极可耦合至多个电容性布线迹线(routing trace)中的单独电容性布线迹线。在各种实施例中,该传感器电极包括设置于这些传感器电极中的至少两个传感器电极之间的一个或多个栅电极。该栅电极和至少一个传感器电极可设置于衬底的公共侧,公共衬底的不同侧和/或不同的衬底上。在一个或多个实施例中,该传感器电极和(多个)栅电极可包括显示装置的整体电压电极。虽然该传感器电极可在该衬底上电隔离,但是,这些电极可在感测区外部(例如,在连接区域)耦合在一起。在一个或多个实施例中,浮动电极可设置于栅电极和传感器电极之间。在一个特定实施例中,浮动电极、栅电极和传感器电极包括显示装置的公共电极的整体。
[0034] 在任何传感器电极布置(例如,上述的矩阵阵列)中,传感器电极可以,通过将传感器电极分成发射器电极和接收器电极,由输入装置操作用于互电容性感测。作为另一例子,在任何传感器电极布置(例如,上述的矩阵阵列)中,传感器电极可由输入装置操作用于绝对电容性感测。作为另一例子,在任何传感器电极布置中,可采用绝对和互电容感测的混合方式。此外,可采用传感器电极或显示电极(例如,源极,栅极,参考(Vcom)电极)中的一个或多个来实现屏蔽。
[0035] 来自电容性像素的一组测量值构成电容性帧。换言之,该电容性帧代表针对某时刻而获得的测量值集合。该测量值包括电容、位于感测区中的输入对象,及任何背景电容的效果。该电容性帧可包括代表像素处的电容性耦合的电容性图像和/或包括代表电容性耦合或沿每个传感器电极的电容性分布。可在多个时间段内获得多个电容性帧,并且它们之间的差异用于导出关于感测区中输入的信息。例如,在连续的时间段内获得的连续电容性帧能够用于追踪进入、退出感测区以及在感测区内的一个或多个输入对象的运动。
[0036] 传感器装置的背景电容是与在感测区中没有输入对象相关联的电容性帧。背景电容随环境和操作情况而变化,并且可以按各种方式来估计。例如,当确定没有输入对象在感测区中时,一些实施例获取“基线帧”,并使用那些基线帧作为它们背景电容的估计。
[0037] 可针对传感器装置的背景电容来调整电容性帧以用于更有效的处理。一些实施例通过“基线化”电容性像素处的电容性耦合的度量来产生“基线化电容性帧”而实现这一点。换言之,一些实施例将形成电容帧的测量值与“基线帧”的适当“基线值”进行比较,并从那个基线图像确定变化。
[0038] 图1中,处理系统(110)示为输入装置(100)的组成部分。处理系统(110)配置成操作输入装置(100)的硬件,以检测感测区(120)中的输入。处理系统(110)包括一个或多个集成电路(IC)的部分或全部和/或其他电路组件。例如,互电容传感器装置的处理系统可包括:发射器电路,配置成采用发射器传感器电极来传送信号;和/或接收器电路,配置成采用接收器传感器电极来接收信号。此外,绝对电容传感器装置的处理系统可包括:驱动器电路,配置成将绝对电容信号驱动到传感器电极上;和/或接收器电路,配置成以那些传感器电极来接收信号。在一个或多个实施例中,组合互电容和绝对电容传感器装置的处理系统可包括以上所述互电容和绝对电容电路的任何组合。在一些实施例中,处理系统(110)还包括电子可读指令,例如固件代码、软件代码等。在一些实施例中,组成处理系统(110)的组件定位在一起,诸如在输入装置(100)的(一个或多个)感测元件的附近。在其他实施例中,处理系统(110)的组件在物理上是独立的,其中一个或多个组件靠近输入装置(100)的(一个或多个)感测元件,而一个或多个组件在其他位置。例如,输入装置(100)可以是耦合到计算装置的外设,并且处理系统(110)可包括配置成运行于计算装置的中央处理器上的软件以及与中央处理器分离的一个或多个IC(也许具有关联固件)。作为另一个示例,输入装置(100)可在物理上集成到移动装置中,并且处理系统(110)可包括作为移动装置的主处理器的部分的电路和固件。在一些实施例中,处理系统(110)专用于实现输入装置(100)。在其他实施例中,处理系统(110)还执行其他功能,例如操作显示屏幕、驱动触觉致动器等。
[0039] 处理系统(110)可实现为操控处理系统(110)的不同功能的一组模块。各模块可包括作为处理系统(110)的一部分的电路、固件、软件和/或其组合。在各个实施例中,可使用模块的不同组合。例如,如图1所示,处理系统(110)可包括处理电路(150)和传感器电路(160)。处理电路(150)可对应于硬件电路,诸如中央处理单元、专用集成电路、或其他硬件。处理电路(150)可包括执行下列步骤的功能性:检测湿气的存在;基于湿气的存在进行操作;确定何时至少一个输入对象处于感测区中;确定信噪比;确定输入对象的位置信息;识别手势;基于手势、手势的组合或其他信息来确定要执行的动作;执行其他操作;和/或执行操作的任何组合。
[0040] 传感器电路(160)可对应于硬件电路,诸如,中央处理单元,专用集成电路,或包括驱动传感器电极的功能性的其他硬件。例如,该传感器模块(160)可包括耦合至感测元件的传感器电路。
[0041] 虽然图1示出处理电路(150)和传感器电路(160)为单独组件,但是该处理电路(150)的部分或全部可与传感器电路(160)相同。另外,虽然图1仅仅示出处理电路(150)和传感器电路(160),但是,按照本发明的一个或多个实施例,备选的或附加的硬件电路可以存在。这类备选的或附加的电路可对应于与上述电路中的一个或多个截然不同的电路或子电路。示例备选或附加的电路包括硬件操作电路,用于操作诸如传感器电极和显示屏幕之类的硬件;数据处理电路,用于处理诸如传感器信号和位置信息之类的数据;报告电路,用于报告信息;识别电路,配置成识别手势、例如模式变更手势;以及模式变更电路,用于改变操作模式。此外,各种电路可组合在独立集成电路中。例如,第一电路可至少部分包含在第一集成电路中,以及独立电路可至少部分包含在第二集成电路中。此外,单个电路的部分可跨越多个集成电路。在一些实施例中,处理系统作为整体可执行各种电路的操作。
[0042] 在一些实施例中,处理系统(110)通过引起一个或多个动作,来直接响应感测区(120)中的用户输入(或者没有用户输入)。示例动作包括改变操作模式以及诸如光标移动、选择、菜单导航、和其他功能之类的图形用户界面(GUI)动作。在一些实施例中,处理系统(110)向电子系统的某个部分(例如向电子系统中与处理系统(110)分离的中央处理系统,若这种独立中央处理系统存在的话)提供与输入(或者没有输入)有关的信息。在一些实施例中,电子系统的某个部分处理从处理系统(110)所接收的信息,以便对用户输入起作用,诸如促进全范围的动作,包括模式变更动作和GUI动作。
[0043] 例如,在一些实施例中,处理系统(110)操作输入装置(100)的(一个或多个)感测元件,以便产生指示感测区(120)中的输入(或者没有输入)的电信号。处理系统(110)可在产生提供给电子系统的信息中对电信号执行任何适当量的处理。例如,处理系统(110)可数字化从传感器电极所得到的模拟电信号。作为另一个示例,处理系统(110)可执行滤波或者其他信号调节。作为又一个示例,处理系统(110)可减去或者以其他方式计及基准,使得信息反映电信号与基准之间的差。作为又一些示例,处理系统(110)可确定位置信息,将输入识别为命令,识别笔迹等。
[0044] 如本文所使用的“位置信息”广义地包含绝对位置、相对位置、速度、加速度和其他类型的空间信息。示范“零维”位置信息包括近/远或接触/无接触信息。示范“一维”位置信息包括沿轴的位置。示范“二维”位置信息包括平面中的运动。示范“三维”位置信息包括空间中的瞬时或平均速度。其他示例包括空间信息的其他表示。还可确定和/或存储与一种或多种类型的位置信息有关的历史数据,包括例如随时间来跟踪位置、运动或者瞬时速度的历史数据。
[0045] 在一些实施例中,输入装置(100)采用由处理系统(110)或者由某种其他处理系统所操作的附加输入组件来实现。这些附加输入组件可提供用于感测区(120)中的输入的冗余功能性或者某种其他功能性。图1示出感测区(120)附近的按钮(130),其可用来促进使用输入装置(100)的项目的选择。其他类型的附加输入组件包括滑块、球、轮、开关等。相反,在一些实施例中,输入装置(100)可以在没有其他输入组件的情况下实现。
[0046] 在一些实施例中,输入装置(100)包括触摸屏界面,并且感测区(120)重叠显示屏幕的工作区的至少一部分。例如,输入装置(100)可包括覆盖显示屏幕、基本上透明的传感器电极,并且提供用于关联电子系统的触摸屏界面。显示屏幕可以是能够向用户显示可视界面的任何类型的动态显示器,并且可包括任何类型的发光二极管(LED)、有机LED(OLED)、阴极射线管(CRT)、液晶显示器(LCD)、等离子体、电致发光(EL)或者其他显示技术。输入装置(100)和显示屏幕可共享物理元件。例如,一些实施例可将相同电组件的一部分用于显示和感测。在各个实施例中,显示装置的一个或多个显示电极可配置用于显示更新和输入感测。作为另一个示例,显示屏幕可部分或全部由处理系统(110)来操作。
[0047] 在各种实施例中,输入装置(100)可包括一个或多个传感器电极,该传感器电极配置用于显示更新和输入感测这两者。例如,用于输入感测的至少一个传感器电极可包括用于更新显示的显示装置的一个或多个显示电极。另外,显示电极可包括Vcom电极(公共电极)的分段、源极驱动线(电极)、栅极线(电极)、阳极子像素电极或阴极像素电极中的一个或多个,或任何其他显示元件。这些显示电极可布置于适当的显示屏衬底上。例如,显示电极可以布置于在一些显示屏(例如,平面内切换(IPS)、边缘场切换(FFS)或平面至线切换(PLS)有机发光二极管(OLED))中的透明衬底(玻璃衬底、TFT玻璃或任何其他透明材料)上,在一些显示屏(例如,图案垂直调整(PVA)、多域垂直调整(MVA)、IPS及FFS)的滤色玻璃的底部上、在阴极层(OLED)之上等。在这种实施例中,显示电极也可以称为“组合电极”,因为它执行多种功能。在各种实施例中,传感器电极中的每个包括与像素或子像素关联的一个或多个显示电极。在其他实施例中,至少两个传感器电极可共用与像素或子像素关联的至少一个显示电极。
[0048] 在各种实施例中,第一传感器电极包括一个或多个显示电极,该显示电极配置用于显示更新和电容性感测,而第二传感器电极可配置用于电容性感测但不用于显示更新。第二传感器电极可设置于显示装置的衬底之间或设置于显示装置外部。在一些实施例中,所有传感器电极可包括配置用于显示更新和电容性感测的一个或多个显示电极。
[0049] 处理系统(110)可配置成,在至少部分重叠的时间段期间,执行输入感测和显示更新。例如,处理系统(110)可同时地驱动第一显示电极用于显示更新和输入感测两者。在另一例子中,处理系统(110)可同时地驱动第一显示电极用于显示更新及第二显示电极用于输入感测。在一些实施例中,处理系统(110)配置成,在非重叠的时间段期间,执行输入感测和显示更新。该非重叠的时间段可称为非显示更新期。非显示更新期可发生于公共显示帧的显示线更新期之间,其至少与显示线更新期一样长。另外,非显示更新期可发生于公共显示帧的显示线更新期之间,并且为长于或短于显示线更新期其中之一。在一些实施例中,非显示更新期可发生于显示帧的开始和/或显示帧之间。处理系统(110)可配置成以屏蔽信号驱动传感器电极和/或显示电极中的一个或多个。该屏蔽信号可包括恒定电压信号、或变化的电压信号(防护信号)其中之一。另外,传感器电极和/或显示电极中的一个或多个可为电浮动的。
[0050] 应当理解,虽然在完全功能设备的上下文中描述本发明的许多实施例,但是本发明的机制能够作为多种形式的程序产品(例如软件)来分配。例如,本发明的机制可作为电子处理器可读的信息承载介质(例如,处理系统(110)可读的非暂时计算机可读和/或可记录/可写信息承载介质)上的软件程序来实现和分配。另外,本发明的实施例可同样适用,而与用于执行分配的介质的特定类型无关。例如,采取计算机可读程序代码的形式、执行本发明实施例的软件指令可完全或部分、暂时或永久地存储在非暂时性计算机可读存储介质上。非暂时性电子可读介质的示例包括各种磁盘、物理存储器、存储器、存储棒、存储卡、存储器模块和/或任何其他计算机可读存储介质。电子可读介质可基于闪速、光、磁、全息或者任何其他存储技术。
[0051] 虽然图1中未示出,但是处理系统、输入装置和/或主机系统可包括一个或多个计算机处理器、关联存储器(例如随机存取存储器(RAM)、高速缓冲存储器、闪速存储器等)、一个或多个存储装置(例如硬盘、诸如致密光盘(CD)驱动器或数字多功能光盘(DVD)驱动器之类的光盘驱动器、闪速存储棒等)以及许多其他元件和功能性。(一个或多个)计算机处理器可以是用于处理指令的集成电路。例如,(一个或多个)计算机处理器可以是一个或多个核心或者处理器的微核心。此外,一个或多个实施例的一个或多个元件可位于远程位置,并且通过网络连接到其他元件。此外,本发明的实施例可在具有若干节点的分布式系统上实现,其中本发明的各部分可位于分布式系统中的不同节点上。在本发明一个实施例中,节点对应于截然不同的计算装置。备选地,节点可对应于具有关联物理存储器的计算机处理器。节点备选地可对应于具有共享存储器和/或资源的计算机处理器或者计算机处理器的微核心。
[0052] 虽然图1示出组件的配置,但是,在不脱离本发明的范围的情况下,可采用其他配置。例如,可将各种部件组合而形成单个组件。作为另一例子,由单个组件实现的功能性可通过两个或多个组件实现。
[0053] 图2为依照本发明的一个或多个实施例、其中仅仅连续区域被示出的电容性图像(200)。图2的例子仅仅用于说明性的目的,并非意在限制本发明的范围。例如,该电容性图像的维度,该连续区域的数量、尺寸、形状、与其他方面,以及图2的任何其他方面可以在不脱离本发明的范围的情况下改变。
[0054] 图2中的每个框为电容性图像(200)中的电容性像素(204),在其中可获得测量值。具有不满足检测阈值的测量值的像素以白色填充来示出。该检测阈值为可通过其检测输入对象的阈值或值集合。取决于测量值的类型,该检测阈值可为最小值、最大值、或其他值。具有不满足检测阈值的测量值的像素以白色填充来示出。具有满足检测阈值的测量值的像素以黑色填充来示出。
[0055] 如所示,该电容性图像(202)可包括一个或多个连续区域(例如,连续区域X(206),连续区域Y(208)。连续区域为感测区域的连接部,在其中连接部中的每个测量值满足阈值。换言之,属于连续的属性指的是邻接或由满足相同标准(例如,满足检测阈值)的测量值直接或间接连接。该连续区域中的尺寸、形状、测量值会受到该感测区域中的湿气,以及输入对象的形状、尺寸和定位影响。湿气的一个指标是该连续区域的凹度。凹形为这样的形状,在其中将该形状上的两个点连接的线段具有不位于该形状上的至少一个部分。例如,虽然连续区域X(206)为椭圆形和凸状(即,非凹状),但是连续区域Y(208)为L形和凹状。连续区域Y(208)的凹度可由横越且连接感测区域上的微滴的输入对象引起,由实现收聚手势的两个输入对象引起,或由另一原因引起。一个或多个实施例分析该连续区域,确定是否存在湿气。
[0056] 图3为依照本发明的一个或多个实施例的示例系统的框图。如图2所示,该系统可包括该处理系统(302),其在操作上与数据存储库(304)连接。该处理系统(302)可与参照图1描述的处理系统(110)相同或类似。该数据存储库(304)可为该处理系统(302)的部分,或与该处理系统(302)的完全或部分不同的组件。该数据存储库(304)对应于用于存储数据的任何类型存储单元或装置。例如,该数据存储库(304)可为高速缓冲存储器、物理存储器、闪存、任何其他装置,或它们的任何组合。
[0057] 在本发明的一个或多个实施例中,该数据存储库(304)包括峰值尺寸阈值(306)和连续区域信息(308)。该峰值尺寸阈值(306)为像素的阈值测量值,通过其将像素确定为该连续区域中的峰的部分。在一个或多个实施例中,峰为峰值周围的连续值的集合。例如,峰值可为局部最大测量值。峰为电容性图像中的该局部最大测量值周围的连续部分。虽然在这里的描述采用最大值,但是可采用最小值、或标准化值。例如,在其中较大的负值指示输入对象的存在的实施例中,在像素小于峰尺寸阈值时,可将该像素确定为峰的部分。如所示,满足阈值表示小于(或等于)最小阈值,大于(或等于)最大阈值,或在标准化阈值范围内。
[0058] 连续区域信息(308)为描述连续区域的信息。电容性图像中的每个连续区域可具有单独的连续区域信息。可将不同电容性图像(例如,来自不同的感测帧)中的相同连续区域合并为相同的连续区域信息(308)。该合并可在产生连续区域信息之前、期间、或之后进行。另外,该合并可基于连续电容性图像中的连续区域的形状、尺寸、和位置,由此,在连续的感测帧中生成该连续电容性图像。
[0059] 在本发明的一个或多个实施例中,该连续区域信息包括形状信息(310),峰数量变化信息(312),及峰尺寸信息(314)。形状信息(310)定义该连续区域的形状。例如,形状信息可包括该电容性图像内的位置,周界、该连续区域的尺寸、周长,或描述该连续区域维度的其它值,或值的任何组合。峰数量变化信息(312)为描述特定连续区域的峰的数量在多个连续帧内的变化的信息。例如,针对每个帧,峰数量变化信息可包括识别该帧中的连续区域中的峰的数量的峰数量标识符。作为另一例子,针对每个连续帧,峰数量变化信息可包括识别帧中的连续区域中的峰的数量之间的差异(与先前帧相比较)的、峰差异数量标识符。作为又一例子,针对每个连续帧,峰数量变化信息可包括识别在连续帧之间连续区域中的峰的数量之间的最大差异的、峰最大差异数量标识符。其他的峰数量变化信息可在不脱离本发明的范围的情况下存在。
[0060] 峰尺寸信息(314)识别作为峰的部分的连续区域内的尺寸。峰尺寸信息(314)可包括连续区域中的全部峰的总体峰尺寸和/或每个峰的单独值。另外,峰尺寸信息可为一维尺寸(例如,峰的最大宽度)或二维尺寸(例如,面积)。在不脱离本发明的范围的情况下,可采用其他峰尺寸信息。
[0061] 图4~7为依照本发明的一个或多个实施例的示例流程图。虽然按序地提出并描述这些流程图中的各个步骤,但是本领域的技术人员会知道,这些步骤的一些或全部可以不同的顺序执行,可组合或省略,以及这些步骤的一些或全部可并行地执行。另外,这些步骤可主动地和被动地执行。例如,按照本发明的一个或多个实施例,一些步骤可采用轮询(polling)执行或被中断驱动。作为例子,按照本发明的一个或多个实施例,除非接收到中断来表明那种条件存在,否则确定步骤可不要求处理器对指令进行处理。作为另一例子,按照本发明的一个或多个实施例,确定步骤可通过执行测试,诸如检查数据值以测试该值是否与所试验条件一致,来执行。
[0062] 在步骤401,按照本发明的一个或多个实施例,获得绝对电容性传感器数据。在本发明的一个或多个实施例中,该绝对电容性传感器数据可从数据存储库获得。在一个或多个实施例中,该绝对电容性传感器数据可采用传感器电路和传感器电极获得。例如,该传感器电路可驱动传感器电极或相对于参考电压调制传感器电极。基于调制,该传感器电路可检测该传感器电极的绝对电容,该电容会受到任何输入对象、背景电容、和/或湿气的影响。在至少一些实施例中,仅仅在输入对象存在时,湿气是在绝对电容性传感器数据中可检测的。如果湿气和输入对象存在,则湿气可影响该绝对电容性传感器数据中的测量值。
[0063] 在步骤403,电容性图像中的连续区域,按照本发明的一个或多个实施例确定,其中电容性图像是基于绝对电容性传感器数据生成。通过调制每个传感器电极和获得绝对电容的测量结果,可生成绝对电容性图像。可对该绝对电容性图像进行预处理,以去除背景电容。例如,该预处理可包括对绝对电容性图像应用一个或多个时间和空间过滤器。在该预处理期间或之后,可对该绝对电容性图像进行处理,以确定该电容性图像中的连续区域。例如,该处理可包括识别满足该检测阈值的像素,以及识别满足检测阈值的像素的连续区域。在一些实施例中,可对该连续区域进行处理,以将连续区域组合和/或去除无效的连续区域(例如,没有满足最小尺寸阈值的区域)。从电容性图像中的一个或多个连续区域的集合中,选择连续区域。可对每个连续区域进行处理,诸如,直至检测到湿气的存在和/或直至全部连续区域被处理。在本发明的一些实施例中,从最大到最小对连续区域进行处理。
[0064] 在步骤405,确定该连续区域的凹度参数。可通过识别该连续区域的内部角确定凹度。如果任何内部角大于180°,则确认该连续区域是凹状的。还可通过下述方式确定凹度:确定是否存在任何线段,其连接该连续区域周界上的两个点,并且触及至少两个附加点。可基于该连续区域的面积和周长确定凹度。在本发明的一个或多个实施例中,凹度参数为布尔(Boolean)值,该值指明该连续区域是凹状或凸状的。在一些实施例中,该凹度参数为一换算值,其基于与一个或多个错误的测量结果相比较,该连续区域为凹状的可能性。例如,如果该连续区域仅仅包括小的向内弯曲,则该凹度参数具有,与该连续区域具有大的向内弯曲时相比,更小的值。
[0065] 在步骤407,按照本发明的一个或多个实施例,基于该凹度参数,确定湿气的存在。在本发明的一个或多个实施例中,如果该凹度参数指示湿气的存在,则可检测湿气。在一些实施例中,例如,如图5中所述,还可采用另外的指标检测湿气的存在。该另外的指标相对于凹度参数可为首要的或次要的。
[0066] 在步骤409,基于湿气的存在,该系统按照本发明的一个或多个实施例进行操作。例如,该系统可向主机装置报告湿气。作为另一例子,该系统可减轻电容性图像中湿气的效果。
[0067] 图5示出依照本发明的一个或多个实施例的湿气检测的流程图。在步骤501,按照本发明的一个或多个实施例,获得绝对电容性传感器数据。在步骤503,确定电容性图像中的连续区域,该电容性图像基于绝对电容性传感器数据生成。该系统可按序地、并行地、或以按序或并行的组合方式处理两个或多个连续区域。在步骤505,确定该连续区域的凹度参数。可以按照与参照图4的步骤401,403和405所述相同或类似的方式,执行步骤501,503和505。
[0068] 在步骤507,按照本发明的一个或多个实施例,确定该连续区域的峰值。通过将每个当前测量值与该测量值的相邻者进行比较而确定峰值。当峰值为最大值的情况下,如果相邻者大于该当前测量值,则选择该相邻者,以该相邻者继续进行该流程。如果该相邻者不大于该当前测量值,则将该当前测量值选择为峰值。不是仅仅采用该当前测量值的毗连相邻者,而是可考虑相邻者的滑动窗。可在不脱离本发明的范围的情况下,应用不同的方法来识别峰值。另外,识别峰值的连续区域的处理可识别多个峰值。如果识别多个峰值,则在以下可一起或单个地对每个峰值进行分析。
[0069] 在步骤509,确定大于阈值并且包括峰值的多个连续值的数量。换言之,将各自均大于阈值的连续测量值确定为相同峰的部分。如果存在两个峰值,其具有大于峰尺寸阈值并且将两个峰值连接的连续值,可将该两个峰值确定为相同峰的部分,或分成两个峰。分开的决策可基于两个峰值之间的距离、两个峰值相互的相对量值、或其他因素来执行。在一个或多个实施例中,分开可通过识别该两个峰值之间的局部最小值并且在该局部最小值处分开来进行。在一个或多个实施例中,分开可通过识别两个峰值之间的中点并且在该中点处分开来执行。可采用其他技术,以在不脱离本发明的范围的情况下执行分开。
[0070] 在步骤511,按照本发明的一个或多个实施例,基于连续值的数量确定该峰的峰尺寸。在本发明的一个或多个实施例中,该峰尺寸可通过对该峰中像素的数量进行计算而确定。例如,计数中包括的像素的数量可为峰中的像素总数量(例如面积)、沿该峰的最大宽度或长度的像素总数量,和/或沿不同维度的像素总数量。不采用像素的数量或除采用像素的数量之外,还可采用其他的测量单位。
[0071] 在步骤513,确定连续区域的峰的数量随时间的变化性指标。如上所述,该变化性指标识别在若干个帧的期间峰的数量如何变化。确定该变化性指标可通过识别每个帧中的峰的数量之间的差异(与直接在前帧相比)来执行。可将这些帧的期间内的连续非零差异的数量识别为该变化性指标。作为另一例子,该变化性指标可诸如通过计算差异的总和而进一步计及该差异的量值。
[0072] 在步骤515,按照本发明的一个或多个实施例,作出关于是否检测到湿气的确定。各种指标可进行组合,以确定是否存在湿气。在一些实施例中,凹度参数为湿气的存在的首要指标。在这样的实施例中,峰尺寸和变化性指标为湿气的次要指标。例如,可采用该峰尺寸和/或变化性指标,来证实在凹度指示湿气的存在的情况下湿气存在。在其他实施例中,峰尺寸和/或变化性指标为(多个)首要指标,而凹度参数为次要指标。在其他实施例中,对每个指标给予相等的权重。确定湿气是否存在可通过将每个指标与针对该指标定义的相应阈值进行比较来执行。下面的描述说明每个指标如何用于检测湿气的存在。
[0073] 在存在湿气时,输入对象可移动经过感测区域上的一个或多个微滴。随着该输入对象移动经过这些微滴,这些微滴可被组合形成与该输入对象连接的较大区域。通过液体与该输入对象的连接,被连接且当前被组合的微滴可作为单个连续区域而在该电容性图像中是可检测的。由于移动,该连续区域具有可能呈凹状的非规则形状。于是,凹度参数可指示湿气的存在。但是,凹状连续区域可能是由收聚(pinching)手势造成的。从而,如果甚至在凹度指标指示湿气的存在的情况下次要指标仍没有指示湿气的存在,则在步骤515湿气可能不会被检测到。在这样的情况下,可针对该连续区域检测到两个输入对象。例如,收聚手势可能被检测到。
[0074] 继续描述该指标,在存在湿气时,位于水坑(puddle)中的输入对象可能具有比不位于水坑中的输入对象更大的峰。换言之,与没有湿气的输入对象的峰相比较,位于液体中的输入对象的峰将是较低的且更扩展。在没有湿气的情况下,与具有湿气的情况相比较,峰通常较尖锐(即,具有相对峰的较大坡度)并且较高。
[0075] 另外,在存在湿气时,随着输入对象移动经过微滴或更大水坑,峰的数量可能会不规律地变化。该变化可能,与任何用户很可能或有可能(甚至有能力)改变的场合相比,更快。从而,峰的数量随时间的更大变化性可指示湿气的存在。
[0076] 如果没有检测到湿气,则流程可进行到步骤519,以确定是否另一未处理的连续区域存在。如果另一未处理的连续区域存在,则流程可返回到步骤503,以对下一连续区域进行处理。如果没有检测到湿气,则可采用该连续区域的形状来评估该输入对象的取向,改善位置精度,改善弹击(snap)距离,和/或进行其他动作。另外,可确定位置信息,该信息报告给主机装置。可基于该位置信息执行用户界面动作。例如,用户界面动作可将主机装置从低功率模式改变,打开应用,更新显示,执行另一动作,或它们的任何组合。
[0077] 如果存在湿气,则在步骤517,该系统可基于湿气的存在进行操作。如上所述,湿气的存在影响电容性图像,并从而会影响该感测区域中的(多个)输入对象的所产生位置信息。基于湿气的存在的操作可包括报告湿气的存在和/或减轻该湿气对连续区域的效果。另外,基于湿气的存在的操作可针对在其中检测湿气的特定连续区域,或针对整个电容性图像。例如,可关于是否基于湿气的存在来进行操作,来单独地对待每个连续区域。作为另一例子,一旦针对任何连续区域检测到湿气,则该系统可进入每个连续区域的湿气管理状态并相应地进行操作。
[0078] 图6和图7示出依照本发明的一个或多个实施例的、减轻湿气的效果的流程图。图6示出基于距峰的距离确定位置信息的流程图。在步骤601,按照本发明的一个或多个实施例,确定该连续区域中的每个像素之间的距离和该连续区域的最接近峰值。可基于像素和最接近峰值之间的直线距离或像素的数量来确定该距离。
[0079] 在步骤603,按照本发明的一个或多个实施例,基于该距离减少该连续区域尺寸以获得经修正连续区域。换言之,针对每个像素,作出关于像素距最接近峰值的距离是否大于距离阈值的确定。如果该距离大于该距离阈值,则从该连续区域去除该像素。在一些实施例中,不是确定并采用距最接近峰值的距离,而可确定并采用距最大峰值的距离。一旦所有像素都被处理,则该去除的结果为经修正连续区域,该区域小于步骤601中的连续区域。
[0080] 在步骤605,采用该经修正连续区域确定输入对象的位置信息。例如,可确定该输入对象的位置处于该经修正连续区域的中心。可采用确定位置信息的其他技术。如上所述,可将该位置信息报告给主机装置和/或用于执行用户界面动作。
[0081] 图7示出基于腐蚀该连续区域,确定位置信息的流程图。在步骤701,对该连续区域中的原始像素进行腐蚀,以获得剩余的像素。可按照下述方式执行腐蚀。该处理可通过迭代地考虑每个原始像素来进行。在考虑原始像素时,该像素可称为当前像素。针对每个当前像素,作出以下确定:是否与原始像素相邻的(或在预定义距离内)任何邻接原始像素不位于该连续区域中。如果相邻者不位于该连续区域内,则去除该当前像素。如果所有相邻者处于该连续区域中,则该当前像素保留,其变成剩余像素。
[0082] 在步骤703,将剩余的像素膨胀,以获得经修正连续区域。膨胀为腐蚀的相反过程。换言之,膨胀可按照下述方式进行。该处理可通过迭代地考虑每个剩余像素来进行。在考虑剩余像素时,该像素可称为当前像素。该当前像素设定于经修正连续区域中。另外,针对每个当前像素,可作出以下确定:是否与原始像素相邻的(或在预定义距离内)任何邻接剩余像素不位于该连续区域中。如果相邻者不位于该连续区域内,则将该相邻者加至经修正连续区域。一旦所有像素都被处理,则膨胀的结果是更凹且比步骤701中的更小的连续区域。
[0083] 在步骤705,采用经修正连续区域,确定输入对象的位置信息。例如,可确定输入对象的位置处于经修正连续区域的中心。可采用确定位置信息的其他技术。如上所述,可将该位置信息报告给主机装置和/或用于执行用户界面动作。
[0084] 虽然上面的描述提出若干不同的流程图,但是在本发明的各种实施例中,各种流程图可组合。换言之,一个或多个实施例不限于单个流程图的步骤,甚至不限于单个流程图中的步骤的顺序。例如,可执行图6和图7中的步骤601、603、703,与605/705,以减轻湿气的效果。
[0085] 下面的例子仅仅用于示例的目的,并非意在限制本发明的范围。图8、图9、图10.1、图10.2与图10.3为依照本发明的一个或多个实施例的例子。
[0086] 图8示出电容性图像(800)的例子,其具有连续区域(802),该连续区域(802)具有2个峰值(例如,峰值X(804),峰值Y(806))。连续区域(802),例如,可因用户拖拽手指起始于尾部(808)通过几个微滴到达头部(810),如连续区域的路径所示,而产生。在用户拖拽用户的手指通过微滴时,这些微滴可连接形成该形状。但是,对于该电容性输入装置,基于电容性图像而不是微滴的已有知识来检测湿气。从而,至少部分地基于凸状的连续区域(802)的形状,作出关于湿气存在的确定。另外,基于峰的相对量值,可确定峰值X(804),以与用户的手指相对应,而可确定峰值Y(806),以与幻象手指(即,不存在的手指)相对应。通过确定湿气存在,可执行减轻湿气,以获得该输入对象的位置的更加精确的评估。
[0087] 图9示出用于减轻湿气的效果的电容性图像的相同部分的连续集合。图像部分A(902)示出在减轻湿气的效果之前的原始连续区域(以黑色填充示出)。如所示,该原始连续区域为凹状。图像部分B(904)示出通过该连续区域的腐蚀而去除的像素。特别地,确定每个像素的邻接相邻者,仅仅其所有邻接相邻者都存在的那些像素留在该电容性图像的部分中。图像部分B(904)中的黑色填充部指示待去除的像素,而图案填充部指示留下的像素。图像部分C(906)示出执行腐蚀之后的结果。如所示,仅仅图案填充的像素留下,其各自具有全部邻接相邻者。
[0088] 图像部分D(908)示出通过该连续区域的膨胀添加的像素。特别地,将每个像素的邻接相邻者添加到该连续区域。图像部分D(908)中的黑色填充部指示待添加的像素,而图案填充部指示处于图像部分C(906)中的像素。图像部分E(910)示出执行膨胀后的结果。如所示,该结果为凹状区域,其可为该输入对象的更精确的评估。该输入对象可被检测为位于图像部分E(910)中的连续区域的中间处。从而,可减轻微滴的效果。
[0089] 图10.1、图10.2和图10.3示出用于基于距离减轻连续区域中的湿气的效果的图示集合。特别地,图10.1示出具有连续区域的电容性图像1000的部分。如所示,该连续区域(1002)是凸状的。在不计及湿气的效果的情况下,位置A(1004)和位置B(1006)是上述输入对象的可能位置。如所示,没有一个评估会是准确的。
[0090] 图10.2示出电容性图像的部分的像素化版本,其示出减轻的过程。特别地,图像A(1008)示出连续区域。图像B(1010)示出基于距该连续区域的峰的距离而将被去除的像素。特别地,去除更远的像素。图像B(1010)中的较黑填充部指示待去除的像素,而较浅填充部指示留下的像素。图像C(1012)示出带有被去除像素的经修正连续区域(1014)的像素。
[0091] 输入对象可被检测为位于图像C(1012)中的经修正连续区域的中间。图10.3示出在减轻湿气的效果后,具有输入对象的所检测位置(1016)的电容性图像(1000)的部分。从而,可减轻微滴的效果。
[0092] 因此,提出本文阐述的实施例和示例以便最好地解释本发明和其特定应用,从而使得本领域技术人员能够实现并使用本发明。但是,本领域技术人员将认识到,前述描述和示例仅为了例示和示例的目的而提出。所阐述的描述并不意在是穷举性的或将本发明限定到所公开的精确形式。