一种芯片配置信息处理方法及装置

摘要

本发明涉及互联网技术领域，尤其涉及一种芯片配置信息处理方法及装置，为解决现有芯片配置信息读取易受异常环境干扰或恶意破坏而影响芯片工作的问题，从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息，针对读取到的至少一组上述配置信息，计算相应的校验值，并判断计算所得的校验值与保存在第二指定存储区域的参考校验值是否一致，确定不一致时，基于各组配置信息各自的预设处理方式，确定输出结果，这样，芯片上电后读取到的配置信息即便受到了影响，都能基于自身对应的预设处理方式进行相应处理，使得最后输出结果不会影响芯片正常工作，提高了芯片系统的稳定性和安全性，且逻辑结构简单，占用资源少，适用范围广。

权利要求

1.一种芯片配置信息处理方法，其特征在于，包括：从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息；

分别针对读取到的至少一组所述配置信息中的每一组配置信息，执行以下操作：基于预设校验算法，计算一组配置信息对应的校验值；

从第二指定存储区域中读取预先保存的，与所述一组配置信息对应的参考校验值；

判断所述校验值与所述参考校验值是否一致，确定不一致时，确定所述一组配置信息为模拟配置信息时，输出一组预设的与所述一组配置信息对应的模拟参数；确定所述一组配置信息为数字配置信息时，直接输出所述一组配置信息；确定所述一组配置信息为安全配置信息时，启动安全模式，并关闭调试口。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息之前，进一步包括：基于预设规则，对待录入芯片的最新配置信息集进行分组，获得若干组配置信息，并确定每一组配置信息对应的处理方式；

基于预设校验算法，分别计算至少一组配置信息各自对应的参考校验值，获得若干参考校验值，其中，一组配置信息对应一个参考校验值；

将获得的所述若干组配置信息保存在第一指定存储区域，以及将获得的所述若干参考校验值保存在第二指定存储区域。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，基于预设规则，对待录入芯片的最新配置信息集进行分组，获得若干组配置信息，包括：基于配置信息的功能，对待录入芯片的最新配置信息集进行分组，获得若干组配置信息，其中，所述若干组配置信息至少包括以下任意一组或任意组合：模拟配置信息、数字配置信息和安全配置信息。

4.如权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息，包括：从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息，并将读取到的所述各组配置信息锁存在第一指定寄存器组中；

从所述第一指定寄存器组中读取已锁存的所述各组配置信息。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括：确定一致时，直接输出所述一组配置信息。

6.一种芯片配置信息处理装置，其特征在于，包括：读取单元，用于从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息；

校验单元，用于分别针对读取到的至少一组所述配置信息中的每一组配置信息，执行以下操作：基于预设校验算法，计算一组配置信息对应的校验值；

从第二指定存储区域中读取预先保存的，与所述一组配置信息对应的参考校验值；

判断所述校验值与所述参考校验值是否一致，确定不一致时，确定所述一组配置信息为模拟配置信息时，输出一组预设的与所述一组配置信息对应的模拟参数；确定所述一组配置信息为数字配置信息时，直接输出所述一组配置信息；确定所述一组配置信息为安全配置信息时，启动安全模式，并关闭调试口。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括预处理单元，所述预处理单元用于：从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息之前，执行以下操作：基于预设规则，对待录入芯片的最新配置信息集进行分组，获得若干组配置信息，并确定每一组配置信息对应的处理方式；

基于预设校验算法，分别计算至少一组配置信息各自对应的参考校验值，获得若干参考校验值，其中，一组配置信息对应一个参考校验值；

将获得的所述若干组配置信息保存在第一指定存储区域，以及将获得的所述若干参考校验值保存在第二指定存储区域。

8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，基于预设规则，对待录入芯片的最新配置信息集进行分组，获得若干组配置信息时，所述预处理单元用于：基于配置信息的功能，对待录入芯片的最新配置信息集进行分组，获得若干组配置信息，其中，所述若干组配置信息至少包括以下任意一组或任意组合：模拟配置信息、数字配置信息和安全配置信息。

9.如权利要求6-8任一项所述的装置，其特征在于，从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息时，所述读取单元用于：从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息，并将读取到的所述各组配置信息锁存在第一指定寄存器组中；

从所述第一指定寄存器组中读取已锁存的所述各组配置信息。

10.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述校验单元还用于：确定一致时，直接输出所述一组配置信息。

11.一种电子设备，其特征在于，包含如权利要求6至10中任一项所述的装置。

说明书

一种芯片配置信息处理方法及装置

技术领域

[0001] 本发明涉及互联网技术领域，尤其涉及一种芯片配置信息处理方法及装置。

背景技术

[0002] 芯片的配置信息常用于区分芯片方向、芯片特性等等，以便于芯片能适用于不同应用场景，一般来说，配置信息会存储在芯片的非易失存储器(Non-Volatile Memory，NVM)中，当芯片上电工作时，系统会自动从NVM中读取相关的配置信息。

[0003] 然而，NVM作为存储逻辑单元，供电电压、工作温度、数据保持时间等等因素都可能影响到从NVM中读取配置信息的稳定性，例如，若供电电压未达到设定最低工作电压，则很可能因为供电电压不足，而导致从NVM中读取到的配置信息仍为初始值，进而影响到芯片的正常工作。

[0004] 显然，现有技术中，当芯片遭遇异常环境(如，低温、高温或低压等等)或恶意攻击(如，激光照射或电压攻击等等)时，从NVM中读取配置信息会极其不稳定，从而读取到错误的配置信息，并使用错误的配置信息进行配置，进而导致芯片工作异常。

[0005] 有鉴于此，需重新设计一种芯片配置信息处理方法，以克服上述缺陷。

发明内容

[0006] 本发明实施例提供一种芯片配置信息处理方法及装置，用以解决现有的芯片配置信息读取易受异常环境影响而导致读取到错误配置信息影响芯片正常工作，以及遭受恶意破坏而使芯片进入非安全状态的问题。

[0007] 本发明实施例提供的具体技术方案如下：

[0008] 一种芯片配置信息处理方法，包括：

[0009] 从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息；

[0010] 分别针对读取到的至少一组所述配置信息中的每一组配置信息，执行以下操作：

[0011] 基于预设校验算法，计算一组配置信息对应的校验值；

[0012] 从第二指定存储区域中读取预先保存的，与所述一组配置信息对应的参考校验值；

[0013] 判断所述校验值与所述参考校验值是否一致，确定不一致时，基于所述一组配置信息对应的预设处理方式，确定所述一组配置信息对应的输出结果。

[0014] 可选的，从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息之前，进一步包括：

[0015] 基于预设规则，对待录入芯片的最新配置信息集进行分组，获得若干组配置信息，并确定每一组配置信息对应的处理方式；

[0016] 基于预设校验算法，分别计算至少一组配置信息各自对应的参考校验值，获得若干参考校验值，其中，一组配置信息对应一个参考校验值；

[0017] 将获得的所述若干组配置信息保存在第一指定存储区域，以及将获得的所述若干参考校验值保存在第二指定存储区域。

[0018] 可选的，基于预设规则，对待录入芯片的最新配置信息集进行分组，获得若干组配置信息，包括：

[0019] 基于配置信息的功能，对待录入芯片的最新配置信息集进行分组，获得若干组配置信息，其中，所述若干组配置信息至少包括以下任意一组或任意组合：模拟配置信息、数字配置信息和安全配置信息。

[0020] 可选的，从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息，包括：

[0021] 从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息，并将读取到的所述各组配置信息锁存在第一指定寄存器组中；

[0022] 从所述第一指定寄存器组中读取已锁存的所述各组配置信息。

[0023] 可选的，基于所述一组配置信息对应的处理方式，确定所述一组配置信息对应的输出结果，包括：

[0024] 确定所述一组配置信息为模拟配置信息时，输出一组预设的与所述一组配置信息对应的模拟参数；

[0025] 确定所述一组配置信息为数字配置信息时，直接输出所述一组配置信息；

[0026] 确定所述一组配置信息为安全配置信息时，启动安全模式，并关闭调试口。

[0027] 可选的，进一步包括：

[0028] 确定一致时，直接输出所述一组配置信息。

[0029] 一种芯片配置信息处理装置，包括：

[0030] 读取单元，用于从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息；

[0031] 校验单元，用于分别针对读取到的至少一组所述配置信息中的每一组配置信息，执行以下操作：

[0032] 基于预设校验算法，计算一组配置信息对应的校验值；

[0033] 从第二指定存储区域中读取预先保存的，与所述一组配置信息对应的参考校验值；

[0034] 判断所述校验值与所述参考校验值是否一致，确定不一致时，基于所述一组配置信息对应的预设处理方式，确定所述一组配置信息对应的输出结果。

[0035] 可选的，所述装置还包括预处理单元，所述预处理单元用于：

[0036] 从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息之前，执行以下操作：

[0037] 基于预设规则，对待录入芯片的最新配置信息集进行分组，获得若干组配置信息，并确定每一组配置信息对应的处理方式；

[0038] 基于预设校验算法，分别计算至少一组配置信息各自对应的参考校验值，获得若干参考校验值，其中，一组配置信息对应一个参考校验值；

[0039] 将获得的所述若干组配置信息保存在第一指定存储区域，以及将获得的所述若干参考校验值保存在第二指定存储区域。

[0040] 可选的，基于预设规则，对待录入芯片的最新配置信息集进行分组，获得若干组配置信息时，所述预处理单元用于：

[0041] 基于配置信息的功能，对待录入芯片的最新配置信息集进行分组，获得若干组配置信息，其中，所述若干组配置信息至少包括以下任意一组或任意组合：模拟配置信息、数字配置信息和安全配置信息。

[0042] 可选的，从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息时，所述读取单元用于：

[0043] 从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息，并将读取到的所述各组配置信息锁存在第一指定寄存器组中；

[0044] 从所述第一指定寄存器组中读取已锁存的所述各组配置信息。

[0045] 可选的，基于所述一组配置信息对应的预设处理方式，确定所述一组配置信息对应的输出结果，所述校验单元用于：

[0046] 确定所述一组配置信息为模拟配置信息时，输出一组预设的与所述一组配置信息对应的模拟参数；

[0047] 确定所述一组配置信息为数字配置信息时，直接输出所述一组配置信息；

[0048] 确定所述一组配置信息为安全配置信息时，启动安全模式，并关闭调试口。

[0049] 可选的，所述校验单元还用于：

[0050] 确定一致时，直接输出所述一组配置信息。

[0051] 一种电子设备，包含如权利要求6至12中任一项所述的装置。

[0052] 本发明实施例中，通过从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息，针对读取到的至少一组配置信息中的每一组配置信息，均计算相应的校验值，并判断计算所得的校验值与保存在第二指定存储区域的参考校验值是否一致，确定不一致时，基于各组配置信息各自的预设处理方式，确定输出结果，这样，芯片上电后读取到的配置信息，即便受到了异常环境的干扰或恶意破坏，都能基于自身对应的预设处理方式进行相应处理，使得最后输出结果不会影响芯片的正常工作，大大提高了芯片系统的稳定性和安全性，而且，逻辑结构简单，占用资源少，适用范围广。

附图说明

[0053] 图1为本发明实施例中待录入的最新配置信息预处理流程图；

[0054] 图2为本发明实施例中配置信息处理方法流程图；

[0055] 图3为本发明实施例中配置信息处理过程示意图；

[0056] 图4为本发明实施例中配置信息处理装置结构示意图。

具体实施方式

[0057] 为了解决现有的芯片配置信息读取易受异常环境影响而导致读取到的错误配置信息影响芯片正常工作，以及遭受恶意破坏而使芯片进入非安全状态的问题，本发明实施例中，重新设计了一种芯片配置信息处理方法，该方法为，从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息，并分别针对读取到的至少一组上述配置信息的每组配置信息，执行以下操作：基于预设校验算法，计算一组配置信息对应的校验值，然后，从第二指定存储区域中读取预先保存的，与所述一组配置信息对应的参考校验值，并判断计算所得的校验值与对应的参考校验值是否一致，确定不一致时，基于上述一组配置信息对应的预设处理方式，确定上述一组配置信息对应的输出结果。

[0058] 下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，并不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

[0059] 下面将通过具体实施例对本发明的方案进行详细描述，当然，本发明并不限于以下实施例。

[0060] 现有技术下，芯片在上电工作前，会提前将芯片最新配置信息烧录在非易失存储器(Non-Volatile Memory，NVM)，这样，当芯片上电后，数字电路会从NVM中读取已存储的最新配置信息，然而，由于从NVM中读取配置信息时容易受异常工作环境的影响，因此，导致读取到的配置信息可能出现错误，或者，读取到的配置信息并不是当前最新配置信息，而是上一次读取的配置信息。

[0061] 本发明实施例中，预先对芯片最新配置信息分组保存在第一指定存储区域，并计算至少一组配置信息的参考校验值，且将上述至少一组配置信息的参考校验值保存在第二指定存储区域，当芯片上电后，数字电路从第一指定存储区域读取到各组配置信息时，计算读取到的至少一组上述配置信息各自对应的校验值，若存在一组配置信息的校验值与保存在第二指定存储区域的参考校验值不一致，那么，数字电路在读取该组配置信息时，可能受到了干扰，或者，可能遭受了恶意攻击，导致读取到的该组配置信息，与原存入第一指定存储区域的该组配置信息不一致，因此，需要对受到影响的该组配置信息进行相应处理，以使得芯片不受该组配置信息的影响而能正常工作。

[0062] 为了实现上述方案，参阅图1所示，本发明实施例中，在芯片上电之前，预先对芯片最新配置信息进行烧录，即对芯片最新配置信息进行预处理，以便芯片上电后，能基于最新配置信息进行工作，预处理方法流程如下：

[0063] 步骤100：基于预设规则，对待录入芯片的最新配置信息集进行分组，获得若干组配置信息，并确定每一组配置信息对应的预设处理方式。

[0064] 具体的，本发明实施例中，基于待录入芯片的最新配置信息集包含的各配置信息的功能，对待录入芯片的最新配置信息集进行分组，本发明实施例中，可基于配置信息的模拟性、数字性和安全性，将待录入芯片的最新配置信息集划分为模拟配置信息、数字配置信息和安全配置信息，共三组配置信息。

[0065] 例如，待录入芯片的最新配置信息集为“内核电压为3.3V、内部时钟方式为锁相环PLL、看门狗使能、系统安全使能”，若按照模拟性、数字性和安全性，对上述最新配置信息集进行分组，则可获得模拟配置信息“内核电压为3.3V、内部时钟方式为锁相环PLL”，数字配置信息“看门狗使能”和安全配置信息“系统安全使能”。

[0066] 进一步地，确定待录入芯片的最新配置信息集的分组后，可为每一组配置信息，确定对应的预设处理方式。

[0067] 具体的，以模拟配置信息、数字配置信息和安全配置信息进行说明，本发明实施例中，若读取到的一组配置信息为模拟配置信息，则输出一组预设的与上述一组配置信息对应的模拟参数；若读取到的一组配置信息为数字配置信息，则直接输出上述一组配置信息；若读取到的一组配置信息为安全配置信息，则启动安全模式，并关闭调试口。

[0068] 当然，本发明实施例中，对待录入芯片的最新配置信息集进行分组，并不限定于以上一种分组方式，即，并不限定于模拟配置信息、数字配置信息和安全配置信息这三组，还可以基于实际需求进行调整，进一步地，若分组方式基于实际需求进行调整，那么，针对新分组方式获得的每一组配置信息，各自对应的处理方式，也可基于实际需求进行相应调整。

[0069] 步骤110：基于预设校验算法，分别计算至少一组上述配置信息各自对应的参考校验值，获得若干参考校验值，其中，一组配置信息对应一个参考校验值。

[0070] 具体的，本发明实施例中，可以预先基于预设校验算法，分别计算已分组的各组配置信息中至少上述一组配置信息各自对应的参考校验值，获得若干参考校验值，其中，一组配置信息对应一个参考校验值。

[0071] 较佳的，本发明实施例中，采用的校验算法为循环冗余校验算法(Cyclic Redundancy Check，CRC)，进而，基于CRC算法计算至少一组配置信息各自对应的参考校验值为CRC值，当然，本实施例中，并不限于CRC算法，还可以采用其它校验算法。

[0072] 例如，继续以上述示例进行说明，经计算，模拟配置信息对应的参考校验值为CRC1，数字配置信息对应的参考校验值为CRC2，安全配置信息对应的参考校验值为CRC3。

[0073] 步骤120：将获得的若干组配置信息保存在第一指定存储区域，以及将获得的若干参考校验值保存在第二指定存储区域。

[0074] 具体的，确定待录入芯片的最新配置信息的分组，以及各组配置信息各自对应的参考校验值之后，可将获得若干组配置信息保存在第一指定存储区域，以及将获得的若干参考校验值保存在第二指定区域，较佳的，本发明实施例中，第一指定存储区域和第二指定存储区域均为NVM的部分存储区域。

[0075] 至此，完成待录入芯片的最新配置信息集的预处理操作后，芯片NVM中就已保存了最新配置信息集，进一步地，参阅图2所示，基于已保存在第一指定存储区域的各组配置信息和已保存在第二指定存储区域的各个参考校验值，本发明实施例中，对于可校验的各组配置信息执行以下处理流程，以对读取到的错误的配置信息及时进行调整：

[0076] 步骤200：从第一指定存储区域读取预先保存的一组配置信息，以及从第二指定存储区域读取与上述一组配置信息对应的参考校验值。

[0077] 具体的，先从第一指定存储区域读取预先保存的至少一组配置信息，并将读取到的上述至少一组配置信息锁存在第一指定寄存器组中，以及从第二指定存储区域读取与上述至少一组配置信息各自对应的参考校验值，并将读取到的各个参考校验值锁存在第二指定寄存器组中。

[0078] 进一步地，从第一指定寄存器组中读取一组配置信息，以及从第二指定寄存器组中读取与上述一组配置信息对应的参考校验值。

[0079] 步骤210：计算一组配置信息对应的校验值，并判断计算所得的校验值与读取的参考校验值是否一致，若是，则执行步骤220，否则，执行步骤230。

[0080] 具体的，基于预设校验算法，计算上述一组配置信息对应的校验值，其中，本步骤采用的校验算法，应与预处理阶段，计算各组配置信息的参考校验值采用的校验算法相同。

[0081] 进一步地，确定上述一组配置信息对应的校验值之后，判断计算所得的校验值是否与读取到的参考校验值一致，若是，则执行步骤220，否则，执行步骤230。

[0082] 例如，假设保存在第一指定存储区域的一组配置信息为配置信息A，从第一指定存储区域读取到的上述一组配置信息为配置信息A’，且配置信息A保存在第二指定存储区域的参考校验值为CRC1，若基于配置信息A’计算所得的校验值为CRC1，则执行步骤220，否则，执行步骤230。

[0083] 步骤220：直接输出上述一组配置信息。

[0084] 具体的，确定基于读取到的一组配置信息计算所得的校验值，与保存在第二指定存储区域对应的参考校验值一致时，直接输出上述一组配置信息。

[0085] 例如，仍以上述示例进行说明，若配置信息A’计算所得的校验值为CRC1，证明配置信息A’与配置信息A是相同的，可直接输出配置信息A’。

[0086] 步骤230：基于上述一组配置信息对应的预设处理方式，确定上述一组配置信息对应的输出结果。

[0087] 具体的，确定基于读取到的一组配置信息计算所得的校验值，与保存在第二指定存储区域对应的参考校验值不一致时，基于读取到的一组配置信息对应的预设处理方式，确定读取到的上述一组配置信息对应的输出结果。

[0088] 进一步地，若读取到的一组配置信息为模拟配置信息，则输出一组预设的与上述一组配置信息对应的模拟参数；若读取到的一组配置信息为数字配置信息，则直接输出上述一组配置信息；若读取到的一组配置信息为安全配置信息，则启动安全模式，并关闭调试口。

[0089] 例如，仍以上述示例进行说明，若配置信息A’计算所得的校验值为CRC2，证明配置信息A’与配置信息A是不相同的，若配置信息A’为模拟配置信息，那么，可以基于预设的各个模拟参数，输出一组可以替代配置信息A的模拟参数，以便芯片的模拟电路能正常工作。

[0090] 步骤240：判断第一指定存储区域是否存在未读取的配置信息，若是，执行步骤200，否则，执行步骤250。

[0091] 具体的，判断第一指定存储区域是否存在未读取的配置信息，若仍存在未读取的配置信息，则继续读取剩余的各组配置信息，并对读取到的配置信息执行上述处理操作，否则，执行步骤250。

[0092] 步骤250：结束配置信息的读取操作，进入下一工作状态。

[0093] 具体的，确定第一指定存储区域烧录的所有配置信息都已读取完毕后，可以进入芯片的下一工作状态。

[0094] 当然，上述实施例中，是对可校验的各组配置信息执行的处理流程，在实际应用时，若实际分组并不限于模拟配置信息、数字配置信息和安全配置信息三个组别，而是存在其他组别，对于其他组别可以是不经过校验而直接输出的。

[0095] 下面结合具体的实施场景，对本发明上述实施例作进一步详细说明，具体参阅图3所示。

[0096] 首先，当芯片上电后，数字电路会从第一指定存储区域(CRC Region)中读取各组配置信息，并将读取到的各组配置信息锁存在第一指定寄存器组M1中，以及从第二指定存储区域(System Configuration)中读取各个参考校验值，并将读取到的各个参考校验值锁存在第二指定寄存器组M2中。

[0097] 然后，校验模块M3对M1中锁存的各组配置信息进行CRC校验，将上述各组配置信息的校验值与M1中存储的各个对应的参考校验值进行比较，若某组配置信息的校验值与对应的参考校验值相同，则表示校验通过，输出逻辑值“1”，若某组配置信息的校验值与对应的参考校验值不同，则表示校验不通过，输出逻辑值“0”，最后，将各组配置信息的逻辑值输出至处理模块M4中。

[0098] 最后，M4基于M3输出的各个逻辑值，对数字电路读取的各组配置信息进行相应调整，若某组配置信息的校验通过，则直接输出该组配置信息；若某组配置信息校验失败，且确认该组配置信息为模拟配置信息时，输出一组预设的模拟参数，以便模拟电路能正常工作；若某组配置信息校验失败，且确认该组配置信息为数字配置信息时，在不影响芯片工作的情况下，直接输出读取到的数字配置信息；若某组配置信息校验失败，且确认该组配置信息为安全配置信息时，启动安全模式，关闭调试口，以防止源代码被读出或篡改。

[0099] 基于上述实施例，参阅图4所示，本发明实施例中，配置信息处理装置，至少包括读取单元40和校验单元41，其中，

[0100] 读取单元40，用于从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息；

[0101] 校验单元41，用于分别针对读取到的至少一组所述配置信息中的每一组配置信息，执行以下操作：

[0102] 基于预设校验算法，计算一组配置信息对应的校验值；

[0103] 从第二指定存储区域中读取预先保存的，与所述一组配置信息对应的参考校验值；

[0104] 判断所述校验值与所述参考校验值是否一致，确定不一致时，基于所述一组配置信息对应的预设处理方式，确定所述一组配置信息对应的输出结果。

[0105] 可选的，所述装置还包括预处理单元42，所述预处理单元42用于：

[0106] 从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息之前，执行以下操作：

[0107] 基于预设规则，对待录入芯片的最新配置信息集进行分组，获得若干组配置信息，并确定每一组配置信息对应的处理方式；

[0108] 基于预设校验算法，分别计算至少一组配置信息各自对应的参考校验值，获得若干参考校验值，其中，一组配置信息对应一个参考校验值；

[0109] 将获得的所述若干组配置信息保存在第一指定存储区域，以及将获得的所述若干参考校验值保存在第二指定存储区域。

[0110] 可选的，基于预设规则，对待录入芯片的最新配置信息集进行分组，获得若干组配置信息时，所述预处理单元42用于：

[0111] 基于配置信息的功能性，对芯片待录入的最新配置信息集进行分组，获得若干组配置信息，其中，所述若干组配置信息至少包括以下任意一组或任意组合：模拟配置信息、数字配置信息和安全配置信息。

[0112] 可选的，从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息时，所述读取单元40用于：

[0113] 从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息，并将读取到的所述各组配置信息锁存在第一指定寄存器组中；

[0114] 从所述第一指定寄存器组中读取已锁存的所述各组配置信息。

[0115] 可选的，基于所述一组配置信息对应的预设处理方式，确定所述一组配置信息对应的输出结果，所述校验单元41用于：

[0116] 确定所述一组配置信息为模拟配置信息时，输出一组预设的与所述一组配置信息对应的模拟参数；

[0117] 确定所述一组配置信息为数字配置信息时，直接输出所述一组配置信息；

[0118] 确定所述一组配置信息为安全配置信息时，启动安全模式，并关闭调试口。

[0119] 可选的，所述校验单元41还用于：

[0120] 确定一致时，直接输出所述一组配置信息。

[0121] 综上所述，本发明实施例中，通过从第一指定存储区域中读取预先保存的各组配置信息针对读取到的至少一组配置信息中的每一组配置信息，均计算相应的校验值，并判断计算所得的校验值与保存在第二指定存储区域的参考校验值是否一致，确定不一致时，基于各组配置信息各自的预设处理方式，确定输出结果，这样，芯片上电后读取到的配置信息，即便受到了异常环境的干扰或恶意破坏，都能基于自身对应的预设处理方式进行相应处理，使得最后输出结果不会影响芯片的正常工作，大大提高了芯片系统的稳定性和安全性，而且，逻辑结构简单，占用资源少，适用范围广。

[0122] 本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

[0123] 本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

[0124] 这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

[0125] 这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

[0126] 尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。

[0127] 显然，本领域的技术人员可以对本发明实施例进行各种改动和变型而不脱离本发明实施例的精神和范围。这样，倘若本发明实施例的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。