一种恒温装置温度的调节方法及调节系统

摘要

本发明公开一种恒温装置温度的调节方法及系统，调节方法包括：将恒温装置的温度调整为极限结温；当恒温装置的温度稳定在极限结温时，在待测器件的阳极和阴极之间施加幅值为0.8倍待测器件的耐压值的单脉冲方波电压，使待测器件产生期望漏电流且待测器件的结温不会升高；将恒温装置的温度调整为预设壳温；当恒温装置的温度稳定在预设壳温时，在待测器件的阳极和阴极之间施加电压值为0.8倍待测器件的耐压值的反向偏置电压；根据待测器件的实际漏电流与期望漏电流的差值调整恒温装置的温度，使待测器件的实际漏电流达到期望漏电流。采用本发明提供的调节方法及系统，能够使进行高温反偏实验的待测器件的结温快速准确地达到极限结温。

权利要求

1.一种恒温装置温度的调节方法，其特征在于，所述调节方法包括：将恒温装置的温度调整为极限结温，其中，所述恒温装置中放置有待测器件；

当所述恒温装置的温度稳定在所述极限结温时，在所述待测器件的阳极和阴极之间施加幅值为0.8倍所述待测器件的耐压值的单脉冲方波电压，使所述待测器件产生期望漏电流且所述待测器件的结温不会升高，其中，所述期望漏电流为在所述待测器件的阳极和阴极之间施加所述单脉冲方波电压后，流过所述待测器件的电流；

将所述恒温装置的温度调整为预设壳温，所述预设壳温低于所述极限结温；

当所述恒温装置的温度稳定在所述预设壳温时，在所述待测器件的阳极和阴极之间施加电压值为0.8倍所述待测器件的耐压值的反向偏置电压；

根据所述待测器件的实际漏电流与所述期望漏电流的差值调整所述恒温装置的温度，使所述待测器件的实际漏电流达到所述期望漏电流，所述实际漏电流为在所述待测器件的阳极和阴极之间施加所述反向偏置电压后，流过所述待测器件的电流。

2.根据权利要求1所述的调节方法，其特征在于，所述将所述恒温装置的温度调整为预设壳温，具体包括：根据所述单脉冲方波电压的幅值和所述期望漏电流计算所述待测器件的功率损耗；

根据所述功率损耗、所述待测器件的结到壳的热阻值及所述极限结温确定与所述极限结温对应的预设壳温；

将所述恒温装置的温度调整为预设壳温。

3.根据权利要求2所述的调节方法，其特征在于，所述根据所述功率损耗、所述待测器件的结到壳的热阻值及所述极限结温确定与所述极限结温对应的预设壳温，具体包括：获取所述待测器件的结温与壳温的关系式：Tj＝Tc+P×Rjc，其中，Tj表示所述待测器件的结温，Tc表示所述待测器件的壳温，P表示所述待测器件的功率损耗，Rjc表示所述待测器件结到壳的热阻；

根据所述功率损耗、所述极限结温和所述关系式：Tj＝Tc+P×Rjc，计算与所述极限结温对应的预设壳温。

4.根据权利要求1所述的调节方法，其特征在于，所述单脉冲方波电压的脉冲宽度的范围是1us～1ms。

5.根据权利要求4所述的调节方法，其特征在于，所述单脉冲方波电压的脉冲宽度为

0.5ms。

6.一种恒温装置温度的调节系统，其特征在于，所述调节系统包括：极限结温调整模块，用于将恒温装置的温度调整为极限结温，其中，所述恒温装置中放置有待测器件；

方波电压施加模块，用于当所述恒温装置的温度稳定在所述极限结温时，在所述待测器件的阳极和阴极之间施加幅值为0.8倍所述待测器件的耐压值的单脉冲方波电压，使所述待测器件产生期望漏电流且所述待测器件的结温不会升高，其中，所述期望漏电流为在所述待测器件的阳极和阴极之间施加所述单脉冲方波电压后，流过所述待测器件的电流；

预设壳温调整模块，用于将所述恒温装置的温度调整为预设壳温，所述预设壳温低于所述极限结温；

反偏电压施加模块，用于当所述恒温装置的温度稳定在所述预设壳温时，在所述待测器件的阳极和阴极之间施加电压值为0.8倍所述待测器件的耐压值的反向偏置电压；

温度闭环正反馈模块，用于根据所述待测器件的实际漏电流与所述期望漏电流的差值调整所述恒温装置的温度，使所述待测器件的实际漏电流达到所述期望漏电流，所述实际漏电流为在所述待测器件的阳极和阴极之间施加所述反向偏置电压后，流过所述待测器件的电流。

7.根据权利要求6所述的调节系统，其特征在于，所述预设壳温调整模块具体包括：功率损耗计算单元，用于根据所述单脉冲方波电压的幅值和所述期望漏电流计算所述待测器件的功率损耗；

预设壳温确定单元，用于根据所述功率损耗、所述待测器件的结到壳的热阻值及所述极限结温确定与所述极限结温对应的预设壳温；

壳温调整单元，用于将所述恒温装置的温度调整为所述预设壳温。

8.根据权利要求7所述的调节系统，其特征在于，所述预设壳温确定单元具体包括：关系式获取子单元，用于获取所述待测器件的结温与壳温的关系式：Tj＝Tc+P×Rjc，其中，Tj表示所述待测器件的结温，Tc表示所述待测器件的壳温，P表示所述待测器件的功率损耗，Rjc表示所述待测器件结到壳的热阻；

壳温确定子单元，用于根据所述功率损耗、所述极限结温和所述关系式：Tj＝Tc+P×Rjc，计算与所述极限结温对应的预设壳温。

9.根据权利要求6所述的调节系统，其特征在于，所述单脉冲方波电压的脉冲宽度的范围是1us～1ms。

10.根据权利要求9所述的调节系统，其特征在于，所述单脉冲方波电压的脉冲宽度为

0.5ms。

说明书

一种恒温装置温度的调节方法及调节系统

技术领域

[0001] 本发明涉及电力电子器件的可靠性测试领域，特别是涉及一种恒温装置温度的调节方法及调节系统。

背景技术

[0002] 功率器件的高温反偏实验的原理是，让功率器件工作在极限结温，然后在阳极—阴极施加一个反向偏置电压，测试器件在规定的实验时间内是否会发生失效。对于一个封装完好的器件，由于结温无法直接测量，通常是通过控制器件壳温来控制结温。通过高温反偏实验可筛选出存在绝缘隐患的器件，避免器件在正常使用过程中发生早期失效。同时通过分析筛选出的失效器件的失效机理能够获得失效器件存在的问题，进而可以优化器件的设计和制造，从而提高功率器件的可靠性。

[0003] 现有的高温反偏实验中，恒温箱温度的调节方法是：(1)测量或者查询得到器件结到壳的热阻值；(2)在器件的阳极—阴极施加耐压值的80％作为偏置电压，测量漏电流并计算器件功率；(3)根据器件的极限结温计算对应的壳温；(4)将放置功率器件的恒温箱的温度设定为步骤(3)中计算出的壳温，开始进行高温反偏。

[0004] 对于小功率器件，施加反偏电压后器件的功率很小，计算得到的壳温与极限结温的差值较小，因此，以计算得到的壳温代替极限结温进行高温反偏实验在一定程度上仍然能够保证实验的可靠性。但是对于高压大功率器件，在阳极—阴极施加规定的反向偏置电压后，大功率器件的功率非常大，计算得到的壳温与极限结温的差值较大，因此，以计算得到的壳温代替极限结温进行高温反偏实验时，器件的实际结温远低于实验要求的极限结温，因此无法保证高温反偏实验的可靠性。

[0005] 因此，如何调整高温反偏实验中恒温装置的温度，成为本领域技术人员亟需解决的技术问题。

发明内容

[0006] 本发明的目的是提供一种恒温装置温度的调节方法，使进行高温反偏实验的待测器件的结温快速准确地达到极限结温。

[0007] 为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

[0008] 一种恒温装置温度的调节方法，所述调节方法包括：

[0009] 将恒温装置的温度调整为极限结温，其中，所述恒温装置中放置有待测器件；

[0010] 当所述恒温装置的温度稳定在所述极限结温时，在所述待测器件的阳极和阴极之间施加幅值为0.8倍所述待测器件的耐压值的单脉冲方波电压，使所述待测器件产生期望漏电流且所述待测器件的结温不会升高，其中，所述期望漏电流为在所述待测器件的阳极和阴极之间施加所述单脉冲方波电压后，流过所述待测器件的电流；

[0011] 将所述恒温装置的温度调整为预设壳温，所述预设壳温低于所述极限结温；

[0012] 当所述恒温装置的温度稳定在所述预设壳温时，在所述待测器件的阳极和阴极之间施加电压值为0.8倍所述待测器件的耐压值的反向偏置电压；

[0013] 根据所述待测器件的实际漏电流与所述期望漏电流的差值调整所述恒温装置的温度，使所述待测器件的实际漏电流达到所述期望漏电流，所述实际漏电流为在所述待测器件的阳极和阴极之间施加所述反向偏置电压后，流过所述待测器件的电流。

[0014] 可选的，所述将所述恒温装置的温度调整为预设壳温，具体包括：

[0015] 根据所述单脉冲方波电压的幅值和所述期望漏电流计算所述待测器件的功率损耗；

[0016] 根据所述功率损耗、所述待测器件的结到壳的热阻值及所述极限结温确定与所述极限结温对应的预设壳温；

[0017] 将所述恒温装置的温度调整为预设壳温。

[0018] 可选的，所述根据所述功率损耗、所述待测器件的结到壳的热阻值及所述极限结温确定与所述极限结温对应的预设壳温，具体包括：

[0019] 获取所述待测器件的结温与壳温的关系式：Tj＝Tc+P×Rjc，其中，Tj表示所述待测器件的结温，Tc表示所述待测器件的壳温，P表示所述待测器件的功率损耗，Rjc表示所述待测器件结到壳的热阻；

[0020] 根据所述功率损耗、所述极限结温和所述关系式：Tj＝Tc+P×Rjc，计算与所述极限结温对应的预设壳温。

[0021] 可选的，所述单脉冲方波电压的脉冲宽度的范围是1us～1ms。

[0022] 可选的，所述单脉冲方波电压的脉冲宽度为0.5ms。

[0023] 本发明的目的还在于提供一种恒温装置温度的调节系统，使进行高温反偏实验的待测器件的结温快速准确地达到极限结温。

[0024] 为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

[0025] 一种恒温装置温度的调节系统，所述调节系统包括：

[0026] 极限结温调整模块，用于将恒温装置的温度调整为极限结温，其中，所述恒温装置中放置有待测器件；

[0027] 方波电压施加模块，用于当所述恒温装置的温度稳定在所述极限结温时，在所述待测器件的阳极和阴极之间施加幅值为0.8倍所述待测器件的耐压值的单脉冲方波电压，使所述待测器件产生期望漏电流且所述待测器件的结温不会升高，其中，所述期望漏电流为在所述待测器件的阳极和阴极之间施加所述单脉冲方波电压后，流过所述待测器件的电流；

[0028] 预设壳温调整模块，用于将所述恒温装置的温度调整为预设壳温，所述预设壳温低于所述极限结温；

[0029] 反偏电压施加模块，用于当所述恒温装置的温度稳定在所述预设壳温时，在所述待测器件的阳极和阴极之间施加电压值为0.8倍所述待测器件的耐压值的反向偏置电压；

[0030] 温度闭环正反馈模块，用于根据所述待测器件的实际漏电流与所述期望漏电流的差值调整所述恒温装置的温度，使所述待测器件的实际漏电流达到所述期望漏电流，所述实际漏电流为在所述待测器件的阳极和阴极之间施加所述反向偏置电压后，流过所述待测器件的电流。

[0031] 可选的，所述预设壳温调整模块具体包括：

[0032] 功率损耗计算单元，用于根据所述单脉冲方波电压的幅值和所述期望漏电流计算所述待测器件的功率损耗；

[0033] 预设壳温确定单元，用于根据所述功率损耗、所述待测器件的结到壳的热阻值及所述极限结温确定与所述极限结温对应的预设壳温；

[0034] 壳温调整单元，用于将所述恒温装置的温度调整为所述预设壳温。

[0035] 可选的，所述预设壳温确定单元具体包括：

[0036] 关系式获取子单元，用于获取所述待测器件的结温与壳温的关系式：Tj＝Tc+P×Rjc，其中，Tj表示所述待测器件的结温，Tc表示所述待测器件的壳温，P表示所述待测器件的功率损耗，Rjc表示所述待测器件结到壳的热阻；

[0037] 壳温确定子单元，用于根据所述功率损耗、所述极限结温和所述关系式：Tj＝Tc+P×Rjc，计算与所述极限结温对应的预设壳温。

[0038] 可选的，所述单脉冲方波电压的脉冲宽度的范围是1us～1ms。

[0039] 可选的，所述单脉冲方波电压的脉冲宽度为0.5ms。

[0040] 根据本发明提供的具体实施例，本发明公开了以下技术效果：

[0041] 本发明将待测器件放置在恒温装置中，当恒温装置的温度稳定在极限结温时，在待测器件的阳极和阴极之间施加脉冲宽度很小的单脉方波电压，脉冲电压的施加时间很短，因此既能使器件产生漏电流，又不会引起器件结温的明显上升。通过测量单脉冲方波电压下待测器件的漏电流，从而获得待测器件的结温为极限结温、待测器件两端的反偏电压为0.8倍耐压值时，待测器件的期望漏电流，从而将无法直接测量的极限结温转化为可直接测量的期望漏电流，然后基于温度闭环正反馈策略控制恒温装置的温度，使功率器件的实际漏电流快速准确地达到期望漏电流，从而使进行高温反偏实验的待测器件的结温快速准确地达到极限结温，从而保证了高温反偏实验的可靠性。

附图说明

[0042] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

[0043] 图1为本发明实施例1的流程图；

[0044] 图2为本发明实施例2的结构框图；

[0045] 图3为本发明实施例3单脉冲方波电压的波形图；

[0046] 图4为本发明实施例3测量漏电流的电路图；

[0047] 图5为本发明实施例3恒温装置调节温度的流程图；

[0048] 图6为本发明实施例3漏电流的时域图。

具体实施方式

[0049] 下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

[0050] 本发明的目的是提供一种恒温装置温度的调节方法及调节系统，使进行高温反偏实验的待测器件的结温快速准确地达到极限结温。

[0051] 为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

[0052] 实施例1：

[0053] 如图1所示，恒温装置温度的调节方法包括：

[0054] 步骤11：将恒温装置的温度调整为极限结温，其中，所述恒温装置中放置有待测器件；

[0055] 步骤12：当所述恒温装置的温度稳定在所述极限结温时，在所述待测器件的阳极和阴极之间施加幅值为0.8倍所述待测器件的耐压值的单脉冲方波电压，使所述待测器件产生期望漏电流且所述待测器件的结温不会升高，其中，所述期望漏电流为在所述待测器件的阳极和阴极之间施加所述单脉冲方波电压后，流过所述待测器件的电流；可选的，所述单脉冲方波电压的脉冲宽度的范围是1us～1ms，优选地，所述单脉冲方波电压的脉冲宽度为0.5ms。

[0056] 步骤13：将所述恒温装置的温度调整为预设壳温，所述预设壳温低于所述极限结温；

[0057] 步骤14：当所述恒温装置的温度稳定在所述预设壳温时，在所述待测器件的阳极和阴极之间施加电压值为0.8倍所述待测器件的耐压值的反向偏置电压；

[0058] 步骤15：根据所述待测器件的实际漏电流与所述期望漏电流的差值调整所述恒温装置的温度，使所述待测器件的实际漏电流达到所述期望漏电流，所述实际漏电流为在所述待测器件的阳极和阴极之间施加所述反向偏置电压后，流过所述待测器件的电流。

[0059] 其中，步骤13具体包括：

[0060] 步骤131：根据所述单脉冲方波电压的幅值和所述期望漏电流计算所述待测器件的功率损耗；

[0061] 步骤132：根据所述功率损耗、所述待测器件的结到壳的热阻值及所述极限结温确定与所述极限结温对应的预设壳温，其中器件的结到壳的热阻值可通过查询器件的数据手册获得或通过实验测量获得；

[0062] 步骤133：将所述恒温装置的温度调整为预设壳温。

[0063] 具体地，步骤132具体包括：

[0064] 步骤1321：获取所述待测器件的结温与壳温的关系式：Tj＝Tc+P×Rjc，其中，Tj表示所述待测器件的结温，Tc表示所述待测器件的壳温，P表示所述待测器件的功率损耗，Rjc表示所述待测器件结到壳的热阻；

[0065] 步骤1322：根据所述功率损耗、所述极限结温和所述关系式：Tj＝Tc+P×Rjc，计算与所述极限结温对应的预设壳温。

[0066] 本实施例提供的恒温装置温度的调节方法，考虑了功率器件在高温反偏实验中的热电正反馈过程，利用漏电流和结温的关系，通过调整恒温装置的温度对器件结温进行精确的预测和控制，使要进行高温反偏实验的功率器件的结温能够快速准确地达到极限结温，保证了高温反偏实验的可靠性。

[0067] 实施例2：

[0068] 如图2所示：恒温装置温度的调节系统包括：

[0069] 极限结温调整模块21，用于将恒温装置的温度调整为极限结温，其中，所述恒温装置中放置有待测器件；

[0070] 方波电压施加模块22，用于当所述恒温装置的温度稳定在所述极限结温时，在所述待测器件的阳极和阴极之间施加幅值为0.8倍所述待测器件的耐压值的单脉冲方波电压，使所述待测器件产生期望漏电流且所述待测器件的结温不会升高，其中，所述期望漏电流为在所述待测器件的阳极和阴极之间施加所述单脉冲方波电压后，流过所述待测器件的电流；可选的，所述单脉冲方波电压的脉冲宽度的范围是1us～1ms，优选地，所述单脉冲方波电压的脉冲宽度为0.5ms。

[0071] 预设壳温调整模块23，用于将所述恒温装置的温度调整为预设壳温，所述预设壳温低于所述极限结温；

[0072] 反偏电压施加模块24，用于当所述恒温装置的温度稳定在所述预设壳温时，在所述待测器件的阳极和阴极之间施加电压值为0.8倍所述待测器件的耐压值的反向偏置电压；

[0073] 温度闭环正反馈模块25，用于根据所述待测器件的实际漏电流与所述期望漏电流的差值调整所述恒温装置的温度，使所述待测器件的实际漏电流达到所述期望漏电流，所述实际漏电流为在所述待测器件的阳极和阴极之间施加所述反向偏置电压后，流过所述待测器件的电流。

[0074] 其中，所述预设壳温调整模块23具体包括：

[0075] 功率损耗计算单元231，用于根据所述单脉冲方波电压的幅值和所述期望漏电流计算所述待测器件的功率损耗；

[0076] 预设壳温确定单元232，用于根据所述功率损耗、所述待测器件的结到壳的热阻值及所述极限结温确定与所述极限结温对应的预设壳温；

[0077] 壳温调整单元233，用于将所述恒温装置的温度调整为所述预设壳温。

[0078] 具体地，所述预设壳温确定单元232具体包括：

[0079] 关系式获取子单元2321，用于获取所述待测器件的结温与壳温的关系式：Tj＝Tc+P×Rjc，其中，Tj表示所述待测器件的结温，Tc表示所述待测器件的壳温，P表示所述待测器件的功率损耗，Rjc表示所述待测器件结到壳的热阻；

[0080] 壳温确定子单元2322，用于根据所述功率损耗、所述极限结温和所述关系式：Tj＝Tc+P×Rjc，计算与所述极限结温对应的预设壳温。

[0081] 本发明提供的调节系统能够用于高压大功率器件进行高温反偏实验，基于闭环控制策略，考虑了功率器件在高温反偏实验中的热电正反馈过程，通过漏电流和结温的关系，精确的预测和控制器件的结温达到预期值。

[0082] 对于高压大功率器件，在阳极—阴极施加0.8倍耐压值的偏置电压后，产生的漏电流较大，由于漏电流产生的热量不能及时散出，进而导致结温迅速上升，因此结温波动大。同时，针对大功率器件，高温反偏实验的过程还是一个热电正反馈的过程，过大的漏电流会引起结温升高，过高的结温又会引起漏电流增大，因此无法准确控制高温反偏实验中被测器件的结温，甚至会由于结温失控造成被测器件直接失效。

[0083] 本实施例提供的调节系统，可以使要进行高温反偏实验的功率器件的结温快速准确地达到极限结温，从而能够提高高温反偏实验的可靠性。

[0084] 实施例3：

[0085] 本实施例中的待测器件为3300V的绝缘栅双极型晶体管。

[0086] 一种恒温装置温度的调节方法包括：

[0087] 步骤31：将3300V绝缘栅双极型晶体管(IGBT)放入恒温装置，恒温装置的温度设置为极限结温Tj＝125℃；

[0088] IGBT器件的极限结温是125℃，在IGBT的高温反偏实验中，需要让器件达到极限温度，因此设置了恒温装置的温度为125℃。待恒温装置的温度稳定后，由于IGBT器件上的电压和流过的电流均为0，没有消耗功率，因此整个器件上的温度相同，结温和壳温都等于恒温装置的温度。

[0089] 步骤32：待恒温装置温度稳定之后，在IGBT器件的集电极—发射极之间施加一个如图3所示的单脉冲方波电压作为预偏置电压，其中单脉冲方波电压的幅值为：V＝3300×80％＝2640V，单脉冲方波电压的脉冲宽度为0.5ms；

[0090] 根据高温反偏实验的标准，设置的偏置电压是器件耐压值的80％，由于本实施例中IGBT器件的耐压值为3300V，故反偏电压设置为2640V。施加脉冲宽度较小的单脉冲方波电压的目的是避免自热效应引起器件的温升，但是，脉冲宽度也不能太小，否则会影响漏电流的采样。因此，脉冲宽度的设置需要遵守两个原则：(1)最小值取决于漏电流的采样速率，必须保证能在时间窗口内准确测量漏电流；(2)最大值取决于器件损耗，必须保证不能引起结温的明显上升。

[0091] 步骤33：采用如图4所示的测量电路，测量在待测器件30的两端施加单脉冲方波电压时，对应的期望漏电流I；

[0092] 步骤34：根据公式：P＝V×I计算所述单脉冲方波电压条件下的功率损耗，其中P表示功率损耗，V表示单脉冲方波电压的幅值；

[0093] 步骤35：查询器件的数据手册得到结到壳的热阻Rjc，根据公式：Tj＝Tc+P×Rjc，计算预设壳温T′c，其中，Tj表示所述待测器件的结温，Tc表示所述待测器件的壳温，P表示所述待测器件的功率损耗，Rjc表示所述待测器件结到壳的热阻；

[0094] 步骤36：将恒温装置的温度调至步骤35计算的预设壳温T′c，待恒温装置温度稳定之后，在IGBT的集电极—发射极施加偏置电压V，测量实际漏电流I’。如图5所示，根据待测器件的实际漏电流I’与期望漏电流I的差值，实时调节恒温装置的温度。如图6中的(b)部分可见，实际漏电流逐渐增大至期望漏电流，通过调节恒温装置的温度，可使IGBT的实际漏电流I’快速准确地达到期望漏电流I，从而使IGBT的结温达到极限结温。由图6中的(a)部分可见，在t1时刻将恒温装置的温度调节系统去除，器件以此结温开始进行高温反偏实验，实际漏电流会急剧升高，通过观察器件是否会在高温反偏实验规定的时间内失效，完成对器件的可靠性测试。

[0095] 本实施例提供的恒温装置温度的调节方法，适用于一切功率器件的高温反偏实验，尤其适用于高压大功率器件，消除了热电正反馈效应对实验结果的影响，提高了实验的可靠性。

[0096] 本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的系统而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

[0097] 本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。