本发明提供了一种光栅膜参数的标定方法及系统，光栅膜包括周期性排列的光栅，定义相邻两个光栅在第一方向上的间距为光栅的周期，第一方向垂直于光栅的延伸方向，光栅的延伸方向与第二方向的夹角为倾斜角，第一方向与第二方向交叉，标定方法包括：提供一显示面板，显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，像素阵列的周期与倾斜角为设定值；将光栅膜与显示面板对位贴合，光栅与像素阵列形成条纹；调整像素阵列的周期并探测条纹的宽度，标定光栅膜的周期；和/或，调整像素阵列的倾斜角并探测条纹的宽度，标定光栅膜的倾斜角。本发明提供一种光栅膜参数的标定方法及系统，以实现对光栅膜的参数进行准确的标定。
1.一种光栅膜参数的标定方法，所述光栅膜包括周期性排列的光栅，定义相邻两个光栅在第一方向上的间距为光栅的周期，第一方向垂直于光栅的延伸方向，光栅的延伸方向与第二方向的夹角为倾斜角，第一方向与第二方向交叉，其特征在于，所述标定方法包括：提供一显示面板，所述显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
将所述光栅膜与所述显示面板对位贴合，所述光栅与所述像素阵列形成条纹；
调整所述像素阵列的周期并探测所述条纹的宽度，标定所述光栅膜的周期等于所述条纹宽度最大时所述像素阵列的周期；标定所述光栅膜的周期后，调整所述像素阵列的倾斜角，所述条纹的宽度继续增大，当所述条纹的宽度达到第一预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第一倾斜角；继续调整所述像素阵列的倾斜角，当所述条纹的宽度再次达到所述第一预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第二倾斜角；标定所述光栅膜的倾斜角等于所述第一倾斜角与所述第二倾斜角的平均值。
2.根据权利要求1所述的标定方法，其特征在于，包括：
提供一显示面板，所述显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
将所述光栅膜与所述显示面板对位贴合，所述光栅与所述像素阵列形成条纹；调整所述像素阵列的周期并探测所述条纹的宽度，当所述条纹的宽度达到第三预设值时，标记所述光栅膜的周期为第三周期，当所述条纹的宽度再次达到第三预设值时，标记所述光栅膜的周期为第四周期，标定所述光栅膜的周期等于所述第三周期与所述第四周期的平均值。
3.要据权利要求1所述的标定方法，其特征在于，包括：
提供一显示面板，所述显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
将所述光栅膜与所述显示面板对位贴合，所述光栅与所述像素阵列形成条纹；调整所述像素阵列的倾斜角并探测所述条纹的宽度，当所述条纹的宽度达到第四预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第三倾斜角，当所述条纹再次达到第四预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第四倾斜角，标定所述光栅膜的倾斜角等于所述第三倾斜角与所述第四倾斜角的平均值。
4.根据权利要求1所述的标定方法，其特征在于，包括：
提供一显示面板，所述显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
将所述光栅膜与所述显示面板对位贴合，所述光栅与所述像素阵列形成条纹；
调整所述像素阵列的周期并探测所述条纹的宽度，当所述条纹的宽度达到第三预设值时，标记所述光栅膜的周期为第三周期，当所述条纹的宽度再次达到第三预设值时，标记所述光栅膜的周期为第四周期，标定所述光栅膜的周期等于所述第三周期与所述第四周期的平均值；调整所述像素阵列的倾斜角并探测所述条纹的宽度，当所述条纹的宽度达到第四预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第三倾斜角，当所述条纹再次达到第四预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第四倾斜角，标定所述光栅膜的倾斜角等于所述第三倾斜角与所述第四倾斜角的平均值。
5.根据权利要求1所述的标定方法，其特征在于，包括：
提供一显示面板，所述显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
将所述光栅膜与所述显示面板对位贴合，所述光栅与所述像素阵列形成条纹；
调整所述像素阵列的倾斜角并探测所述条纹的宽度，标定所述光栅膜的倾斜角等于所述条纹宽度最大时所述像素阵列的倾斜角；标定所述光栅膜的倾斜角后，调整所述像素阵列的周期，所述条纹的宽度继续增大，当所述条纹的宽度达到第二预设值时，标记所述光栅膜的周期为第一周期；继续调整所述像素阵列的周期，当所述条纹的宽度再次达到所述第二预设值时，标记所述光栅膜的周期为第二周期；标定所述光栅膜的周期等于所述第一周期与所述第二周期的平均值。
6.根据权利要求2所述的标定方法，其特征在于，包括：
提供一显示面板，所述显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
将所述光栅膜与所述显示面板对位贴合，所述光栅与所述像素阵列形成条纹；
标定所述光栅膜的周期后，调整所述像素阵列的倾斜角并探测所述条纹的宽度，当所述条纹的宽度达到第五预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第五倾斜角，当所述条纹的宽度再次达到第五预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第六倾斜角，标定所述光栅膜的倾斜角等于所述第五倾斜角与所述第六倾斜角的平均值。
7.根据权利要求3所述的标定方法，其特征在于，包括：
提供一显示面板，所述显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
将所述光栅膜与所述显示面板对位贴合，所述光栅与所述像素阵列形成条纹；
标定所述光栅膜的倾斜角后，调整所述像素阵列的周期并探测所述条纹的宽度，当所述条纹的宽度达到第六预设值时，标记所述光栅膜的周期为第五周期，当所述条纹的宽度再次达到第六预设值时，标记所述光栅膜的周期为第六周期，标定所述光栅膜的周期等于所述第五周期与所述第六周期的平均值。
8.根据权利要求1所述的标定方法，其特征在于，所述条纹为第一颜色与第二颜色相间的条纹。
9.根据权利要求1所述的标定方法，其特征在于，所述光栅包括柱透镜光栅或狭缝光栅。
10.根据权利要求1-5任一所述的标定方法，其特征在于，
所述调整所述像素阵列的周期包括：以第一固定数值间隔调整所述像素阵列的周期；
所述调整所述像素阵列的倾斜角包括：以第二固定数值间隔调整所述像素阵列的倾斜角。
11.一种光栅膜参数的标定系统，所述光栅膜包括周期性排列的光栅，定义相邻两个光栅在第一方向上的间距为光栅的周期，第一方向垂直于光栅的延伸方向，光栅的延伸方向与第二方向的夹角为倾斜角，第一方向与第二方向交叉，其特征在于，所述标定系统包括：显示面板，所述显示面板包括像素平面，用于产生周期性排列的像素阵列，所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
显示面板控制模块，与所述显示面板相连接，用于调整所述像素阵列的周期，和/或调整所述像素阵列的倾斜角；
图像获取模块，位于所述显示面板的一侧，用于记录所述光栅与所述像素阵列形成的条纹；
图像处理模块，与所述图像获取模块相连接，用于探测所述条纹的宽度；
调整所述像素阵列的周期并探测所述条纹的宽度，标定所述光栅膜的周期等于所述条纹宽度最大时所述像素阵列的周期；标定所述光栅膜的周期后，调整所述像素阵列的倾斜角，所述条纹的宽度继续增大，当所述条纹的宽度达到第一预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第一倾斜角；继续调整所述像素阵列的倾斜角，当所述条纹的宽度再次达到所述第一预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第二倾斜角；标定所述光栅膜的倾斜角等于所述第一倾斜角与所述第二倾斜角的平均值；或者，调整所述像素阵列的周期并探测所述条纹的宽度，当所述条纹的宽度达到第三预设值时，标记所述光栅膜的周期为第三周期，当所述条纹的宽度再次达到第三预设值时，标记所述光栅膜的周期为第四周期，标定所述光栅膜的周期等于所述第三周期与所述第四周期的平均值。
12.根据权利要求11所述的一种标定系统，其特征在于，包括：
显示面板，所述显示面板包括像素平面，用于产生周期性排列的像素阵列，所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
显示面板控制模块，与所述显示面板相连接，用于调整所述像素阵列的周期，和/或调整所述像素阵列的倾斜角；
图像获取模块，位于所述显示面板的一侧，用于记录所述光栅与所述像素阵列形成的条纹；
图像处理模块，与所述图像获取模块相连接，用于探测所述条纹的宽度；调整所述像素阵列的倾斜角并探测所述条纹的宽度，当所述条纹的宽度达到第四预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第三倾斜角，当所述条纹再次达到第四预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第四倾斜角，标定所述光栅膜的倾斜角等于所述第三倾斜角与所述第四倾斜角的平均值。
13.根据权利要求11所述的一种标定系统，其特征在于，包括：
显示面板，所述显示面板包括像素平面，用于产生周期性排列的像素阵列，所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
显示面板控制模块，与所述显示面板相连接，用于调整所述像素阵列的周期，和/或调整所述像素阵列的倾斜角；
图像获取模块，位于所述显示面板的一侧，用于记录所述光栅与所述像素阵列形成的条纹；
图像处理模块，与所述图像获取模块相连接，用于探测所述条纹的宽度；
调整所述像素阵列的周期并探测所述条纹的宽度，当所述条纹的宽度达到第三预设值时，标记所述光栅膜的周期为第三周期，当所述条纹的宽度再次达到第三预设值时，标记所述光栅膜的周期为第四周期，标定所述光栅膜的周期等于所述第三周期与所述第四周期的平均值；调整所述像素阵列的倾斜角并探测所述条纹的宽度，当所述条纹的宽度达到第四预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第三倾斜角，当所述条纹再次达到第四预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第四倾斜角，标定所述光栅膜的倾斜角等于所述第三倾斜角与所述第四倾斜角的平均值。
14.根据权利要求11所述的一种标定系统，其特征在于，包括：
显示面板，所述显示面板包括像素平面，用于产生周期性排列的像素阵列，所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
显示面板控制模块，与所述显示面板相连接，用于调整所述像素阵列的周期，和/或调整所述像素阵列的倾斜角；
图像获取模块，位于所述显示面板的一侧，用于记录所述光栅与所述像素阵列形成的条纹；
图像处理模块，与所述图像获取模块相连接，用于探测所述条纹的宽度；
调整所述像素阵列的倾斜角并探测所述条纹的宽度，标定所述光栅膜的倾斜角等于所述条纹宽度最大时所述像素阵列的倾斜角；标定所述光栅膜的倾斜角后，调整所述像素阵列的周期，所述条纹的宽度继续增大，当所述条纹的宽度达到第二预设值时，标记所述光栅膜的周期为第一周期；继续调整所述像素阵列的周期，当所述条纹的宽度再次达到所述第二预设值时，标记所述光栅膜的周期为第二周期；标定所述光栅膜的周期等于所述第一周期与所述第二周期的平均值。
15.根据权利要求11-14任一项所述的标定系统，其特征在于，所述光栅包括柱透镜光栅或狭缝光栅。
一种光栅膜参数的标定方法及系统
技术领域
[0001] 本发明实施例涉及立体显示技术，尤其涉及一种光栅膜参数的标定方法及系统。
背景技术
[0002] 随着显示技术的不断发展，人们已经开发出了各种各样无需借助立体眼镜等辅助视距，而直接用裸眼就能够观看立体图像的自由立体显示技术，主要包括光栅膜立体显示、狭缝光栅立体显示、全息立体显示以及体三维立体显示等。
[0003] 在众多的自由立体显示技术中，狭缝光栅和柱镜光栅是比较常用的用于立体显示的光栅膜，但是光栅膜在制作的过程中由于制作工艺的限制，光栅膜的周期等参数与预设值有一定的偏差，因此亟需一种能实现对光栅膜的参数进行标定的方法。
发明内容
[0004] 本发明实施例提供一种光栅膜参数的标定方法及系统，以实现对光栅膜的参数进行准确的标定。
[0005] 本发明实施例提供了一种光栅膜参数的标定方法，所述光栅膜包括周期性排列的光栅，定义相邻两个光栅在第一方向上的间距为光栅的周期，第一方向垂直于光栅的延伸方向，光栅的延伸方向与第二方向的夹角为倾斜角，第一方向与第二方向交叉，所述标定方法包括：
[0006] 提供一显示面板，所述显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
[0007] 将所述光栅膜与所述显示面板对位贴合，所述光栅与所述像素阵列形成条纹；
[0008] 调整所述像素阵列的周期并探测所述条纹的宽度，标定所述光栅膜的周期；和/或，
[0009] 调整所述像素阵列的倾斜角并探测所述条纹的宽度，标定所述光栅膜的倾斜角。
[0010] 可选地，所述标定方法包括：
[0011] 提供一显示面板，所述显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
[0012] 将所述光栅膜与所述显示面板对位贴合，所述光栅与所述像素阵列形成条纹；
[0013] 调整所述像素阵列的周期并探测所述条纹的宽度，标定所述光栅膜的周期等于所述条纹宽度最大时所述像素阵列的周期；和/或，
[0014] 调整所述像素阵列的倾斜角并探测所述条纹的宽度，标定所述光栅膜的倾斜角等于所述条纹宽度最大时所述像素阵列的倾斜角。
[0015] 可选地，所述的标定方法包括：
[0016] 提供一显示面板，所述显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
[0017] 将所述光栅膜与所述显示面板对位贴合，所述光栅与所述像素阵列形成条纹；
[0018] 调整所述像素阵列的周期并探测所述条纹的宽度，标定所述光栅膜的周期等于所述条纹宽度最大时所述像素阵列的周期；
[0019] 标定所述光栅膜的周期后，调整所述像素阵列的倾斜角，所述条纹的宽度继续增大，当所述条纹的宽度达到第一预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第一倾斜角；
[0020] 继续调整所述像素阵列的倾斜角，当所述条纹的宽度再次达到所述第一预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第二倾斜角；
[0021] 标定所述光栅膜的倾斜角等于所述第一倾斜角与所述第二倾斜角的平均值。
[0022] 可选地，所述的标定方法包括：
[0023] 提供一显示面板，所述显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
[0024] 将所述光栅膜与所述显示面板对位贴合，所述光栅与所述像素阵列形成条纹；
[0025] 调整所述像素阵列的倾斜角并探测所述条纹的宽度，标定所述光栅膜的倾斜角等于所述条纹宽度最大时所述像素阵列的倾斜角；
[0026] 标定所述光栅膜的倾斜角后，调整所述像素阵列的周期，所述条纹的宽度继续增大，当所述条纹的宽度达到第二预设值时，标记所述光栅膜的周期为第一周期；
[0027] 继续调整所述像素阵列的周期，当所述条纹的宽度再次达到所述第二预设值时，标记所述光栅膜的周期为第二周期；
[0028] 标定所述光栅膜的周期等于所述第一周期与所述第二周期的平均值。
[0029] 可选地，所述的标定方法包括：
[0030] 提供一显示面板，所述显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
[0031] 将所述光栅膜与所述显示面板对位贴合，所述光栅与所述像素阵列形成条纹；
[0032] 调整所述像素阵列的周期并探测所述条纹的宽度，当所述条纹的宽度达到第三预设值时，标记所述光栅膜的周期为第三周期，当所述条纹的宽度再次达到第三预设值时，标记所述光栅膜的周期为第四周期，标定所述光栅膜的周期等于所述第三周期与所述第四周期的平均值；和/或，
[0033] 调整所述像素阵列的倾斜角并探测所述条纹的宽度，当所述条纹的宽度达到第四预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第三倾斜角，当所述条纹再次达到第四预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第四倾斜角，标定所述光栅膜的倾斜角等于所述第三倾斜角与所述第四倾斜角的平均值。
[0034] 可选地，所述的标定方法包括：
[0035] 提供一显示面板，所述显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
[0036] 将所述光栅膜与所述显示面板对位贴合，所述光栅与所述像素阵列形成条纹；
[0037] 调整所述像素阵列的周期并探测所述条纹的宽度，当所述条纹的宽度达到第三预设值时，标记所述光栅膜的周期为第三周期，当所述条纹的宽度再次达到第三预设值时，标记所述光栅膜的周期为第四周期，标定所述光栅膜的周期等于所述第三周期与所述第四周期的平均值；
[0038] 标定所述光栅膜的周期后，调整所述像素阵列的倾斜角并探测所述条纹的宽度，当所述条纹的宽度达到第五预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第五倾斜角，当所述条纹的宽度再次达到第五预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第六倾斜角，标定所述光栅膜的倾斜角等于所述第五倾斜角与所述第六倾斜角的平均值。
[0039] 可选地，所述的标定方法包括：
[0040] 提供一显示面板，所述显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
[0041] 将所述光栅膜与所述显示面板对位贴合，所述光栅与所述像素阵列形成条纹；
[0042] 调整所述像素阵列的倾斜角并探测所述条纹的宽度，当所述条纹的宽度达到第四预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第三倾斜角，当所述条纹再次达到第四预设值时，标记所述光栅膜的倾斜角为第四倾斜角，标定所述光栅膜的倾斜角等于所述第三倾斜角与所述第四倾斜角的平均值；
[0043] 标定所述光栅膜的倾斜角后，调整所述像素阵列的周期并探测所述条纹的宽度，当所述条纹的宽度达到第六预设值时，标记所述光栅膜的周期为第五周期，当所述条纹的宽度再次达到第六预设值时，标记所述光栅膜的周期为第六周期，标定所述光栅膜的周期等于所述第五周期与所述第六周期的平均值。
[0044] 可选地，所述条纹为第一颜色与第二颜色相间的条纹。
[0045] 可选地，所述光栅包括柱透镜光栅或狭缝光栅。
[0046] 可选地，所述调整所述像素阵列的周期包括：以第一固定数值间隔调整所述像素阵列的周期；
[0047] 所述调整所述像素阵列的倾斜角包括：以第二固定数值间隔调整所述像素阵列的倾斜角。
[0048] 本发明实施例还提供了一种光栅膜参数的标定系统，所述光栅膜包括周期性排列的光栅，定义相邻两个光栅在第一方向上的间距为光栅的周期，第一方向垂直于光栅的延伸方向，光栅的延伸方向与第二方向的夹角为倾斜角，第一方向与第二方向交叉，所述标定系统包括：
[0049] 显示面板，所述显示面板包括像素平面，用于产生周期性排列的像素阵列，所述像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
[0050] 显示面板控制模块，与所述显示面板相连接，用于调整所述像素阵列的周期，和/或调整所述像素阵列的倾斜角；
[0051] 图像获取模块，位于所述显示面板的一侧，用于记录所述光栅与所述像素阵列形成的条纹；
[0052] 图像处理模块，与所述图像获取模块相连接，用于探测所述条纹的宽度。
[0053] 可选地，所述光栅包括柱透镜光栅或狭缝光栅。
[0054] 本发明实施例提供的光栅膜参数的标定方法中，光栅膜包括周期性排列的光栅，通过提供显示面板，使显示面板产生周期性排列的像素阵列，并设定像素阵列的周期初始值和倾斜角初始值，将光栅膜与显示面板对位贴合，光栅膜的光栅与显示面板的像素阵列形成了条纹，条纹一般为莫尔条纹，因此便可以根据莫尔条纹的宽度来实现对光栅膜参数的标定，光栅膜参数例如可以是光栅膜的周期和倾斜角，对光栅膜参数的标定指的是对光栅膜参数的测量并在测量后进行标记。
附图说明
[0055] 图1a为本发明实施例一提供的一种光栅膜的结构示意图；
[0056] 图1b为图1a中所示光栅膜的正视图；
[0057] 图1c为本发明实施一提供的产生条纹的原理示意图；
[0058] 图2为本发明实施例一提供的一种光栅膜参数的标定方法；
[0059] 图3为本发明实施例二提供的一种光栅膜参数的标定方法；
[0060] 图4为本发明实施例三提供的一种光栅膜参数的标定方法；
[0061] 图5为本发明实施例四提供的一种光栅膜参数的标定方法；
[0062] 图6为本发明实施例五提供的一种光栅膜参数的标定方法；
[0063] 图7为本发明实施例六提供的一种光栅膜参数的标定系统的结构示意图；
[0064] 图8为本发明实施例六提供的一种光栅膜参数的标定系统。
具体实施方式
[0065] 下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
[0066] 实施例一
[0067] 图1a为本发明实施例一提供的一种光栅膜的结构示意图，图1b为图1a中所示光栅膜的正视图，图1c为本发明实施一提供的产生条纹的原理示意图，结合图1a-图1c所示，定义相邻两个条纹在第一方向(X方向)上的间距为周期，第一方向(X方向)垂直于条纹的延伸方向，条纹的延伸方向与第二方向(Y方向)的夹角为倾斜角，第一方向(X方向)与第二方向(Y方向)交叉。光栅膜20包括周期性排列的光栅200，需要说明的是，本发明实施例中以光栅膜为柱镜光栅膜，光栅为柱透镜光栅为例进行解释性说明，并非对本发明的限定，在其他实施方式中，光栅膜还可以为狭缝光栅膜，光栅为狭缝光栅。光栅200的周期为a，即光栅膜20的周期为a；光栅200的倾斜角为β，即光栅膜20的倾斜角为β。第二方向(Y方向)可以平行于显示面板10的一条边，若显示面板10为矩形显示面板，第一方向(X方向)与显示面板10的另一条边之间的夹角为β。显示面板10发出的光线经过光栅膜20的分光后分别被人的左右眼接收，因此将光栅膜20设置于显示面板10的出光面一侧，可以实现裸眼三维显示。但是光栅膜20在制作的过程中由于制作工艺的限制，光栅膜20的周期等参数与预设值有一定的偏差，因此亟需一种能实现对光栅膜的参数进行标定的方法。本发明实施例通过使光栅膜20和显示面板10产生莫尔条纹，其中，显示面板10能够产生具有周期排列的像素阵列(图1b中未示出)，显示面板10产生像素阵列的方式例如可以是通过使特定子像素发光来实现，像素阵列的周期b和倾斜角(图1b中未示出)可调，光栅与像素阵列的夹角为θ，则光栅膜20的光栅与显示面板10的像素阵列形成的条纹(莫尔条纹)，条纹可以被人眼视觉接收，条纹的宽度w满足：
[0068]
[0069] a与b的比值等于整数n时，条纹的宽度有极大值。因此当a与b的比值越接近1时，得到的条纹宽度越来越大，并在达到一设定值时，可以认为a＝b，即标定光栅膜20的周期等于像素阵列的周期；同样地，当θ越来越接近0°时，条纹的宽度越来越大，并在达到一设定值时，标定光栅膜20的倾斜角等于像素阵列的倾斜角，基于上述原理本发明实施例提供了光栅膜参数的标定方法，图2为本发明实施例一提供的一种光栅膜参数的标定方法，如图2所示，该标定方法包括：
[0070] S110、提供一显示面板。
[0071] 显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，像素阵列的周期与倾斜角为设定值。
[0072] S120、将光栅膜与显示面板对位贴合。
[0073] 光栅与像素阵列形成条纹。
[0074] S130、调整像素阵列的周期并探测条纹的宽度，标定光栅膜的周期；和/或，调整像素阵列的倾斜角并探测条纹的宽度，标定光栅膜的倾斜角。
[0075] 可选地，条纹为第一颜色与第二颜色相间的彩色条纹。示例性，第一颜色为红色，第二颜色为蓝色，彩色条纹为红蓝相间的彩色条纹。使用彩色条纹有利于人工调节时对条纹宽度的观察。
[0076] 本发明实施例提供的光栅膜参数的标定方法中，光栅膜包括周期性排列的光栅，通过提供显示面板，使显示面板产生周期性排列的像素阵列，并设定像素阵列的周期初始值和倾斜角初始值，将光栅膜与显示面板对位贴合，光栅膜的光栅与显示面板的像素阵列形成了条纹，条纹一般为莫尔条纹，因此便可以根据莫尔条纹的宽度来实现对光栅膜参数的标定，光栅膜参数例如可以是光栅膜的周期和倾斜角，对光栅膜参数的标定指的是对光栅膜参数的测量并在测量后进行标记。
[0077] 实施例二
[0078] 图3为本发明实施例二提供的一种光栅膜参数的标定方法，如图3所示，标定方法包括：
[0079] S210、提供一显示面板。
[0080] 显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，像素阵列的周期与倾斜角为设定值。
[0081] S220、将光栅膜与显示面板对位贴合。
[0082] 光栅与像素阵列形成条纹。
[0083] S230、调整像素阵列的周期并探测条纹的宽度，标定光栅膜的周期等于条纹宽度最大时像素阵列的周期；和/或，调整像素阵列的倾斜角并探测条纹的宽度，标定光栅膜的倾斜角等于条纹宽度最大时像素阵列的倾斜角。
[0084] 本发明实施例提供的光栅膜参数的标定方法中，一种情况是，保持像素阵列的倾斜角不变，调整像素阵列的周期，当条纹的宽度最大时，可以认为光栅膜的周期等于像素阵列此时的周期；另一种情况是，保持像素阵列的周期不变，调整像素阵列的倾斜角，当条纹的宽度达到最大时，可以认为光栅膜的倾斜角等于像素阵列此时的倾斜角；另一种情况是，同时调整像素阵列的周期和像素阵列的倾斜角，当条纹的宽度达到最大时，可以认为光栅膜的周期等于像素阵列此时的周期，以及光栅膜的倾斜角等于像素阵列此时的倾斜角。需要说明的是，这里的条纹宽度达到最大值指的并非是某一个确定的数值，而是在某一范围内出现的极大值，即在调整像素阵列的参数(周期和/或倾斜角)的过程中，条纹宽度会逐渐增大至某一最大值后再减小。通过探测显示面板与光栅膜产生的莫尔条纹，本发明实施例实现了对光栅膜的周期和/或倾斜角的准确标定。
[0085] 实施例三
[0086] 图4为本发明实施例二提供的一种光栅膜参数的标定方法，如图4所示，标定方法包括：
[0087] S310、提供一显示面板。
[0088] 显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，像素阵列的周期与倾斜角为设定值。
[0089] S320、将光栅膜与显示面板对位贴合。
[0090] 光栅与像素阵列形成条纹。
[0091] S330、调整像素阵列的周期并探测条纹的宽度，标定光栅膜的周期等于条纹宽度最大时像素阵列的周期。
[0092] S340、标定光栅膜的周期后，调整像素阵列的倾斜角，条纹的宽度继续增大，当条纹的宽度达到第一预设值时，标记光栅膜的倾斜角为第一倾斜角。
[0093] S350、继续调整像素阵列的倾斜角，当条纹的宽度再次达到第一预设值时，标记光栅膜的倾斜角为第二倾斜角。
[0094] S360、标定光栅膜的倾斜角等于第一倾斜角与第二倾斜角的平均值。
[0095] 本发明实施例的标定方法中，首先保持像素阵列的倾斜角不变，通过调整像素阵列的周期并在条纹宽度最大时标定光栅膜的周期。标定光栅膜的周期后，通过调整像素阵列的倾斜角，此时条纹宽度继续增加，并在达到一定值后开始减小，因此可以将条纹的宽度达会出现两次为第一预设值，并可以将条纹宽度出现两个第一预设值时的像素阵列的倾斜角对应的第一倾斜角和第二倾斜角的平均值作为光栅膜的倾斜角进行标定。可以理解的是，在其他实施方式中，还可以先标定光栅膜的倾斜角，并在标定光栅膜的倾斜角后，再标定光栅膜的周期，该过程如下：
[0096] 提供一显示面板，显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
[0097] 将光栅膜与显示面板对位贴合，光栅与像素阵列形成条纹；
[0098] 调整像素阵列的倾斜角并探测条纹的宽度，标定光栅膜的倾斜角等于条纹宽度最大时像素阵列的倾斜角；
[0099] 标定光栅膜的倾斜角后，调整像素阵列的周期，条纹的宽度继续增大，当条纹的宽度达到第二预设值时，标记光栅膜的周期为第一周期；
[0100] 继续调整像素阵列的周期，当条纹的宽度再次达到第二预设值时，标记光栅膜的周期为第二周期；
[0101] 标定光栅膜的周期等于第一周期与第二周期的平均值。
[0102] 实施例四
[0103] 图5为本发明实施例四提供的一种光栅膜参数的标定方法，如图5所示，标定方法包括：
[0104] S410、提供一显示面板。
[0105] 显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，像素阵列的周期与倾斜角为设定值。
[0106] S420、将光栅膜与显示面板对位贴合。
[0107] 光栅与像素阵列形成条纹。
[0108] S430、调整像素阵列的周期并探测条纹的宽度，当条纹的宽度达到第三预设值时，标记光栅膜的周期为第三周期，当条纹的宽度再次达到第三预设值时，标记光栅膜的周期为第四周期，标定光栅膜的周期等于第三周期与第四周期的平均值；和/或，调整像素阵列的倾斜角并探测条纹的宽度，当条纹的宽度达到第四预设值时，标记光栅膜的倾斜角为第三倾斜角，当条纹再次达到第四预设值时，标记光栅膜的倾斜角为第四倾斜角，标定光栅膜的倾斜角等于第三倾斜角与第四倾斜角的平均值。
[0109] 可以理解的是，调整像素阵列的周期时，像素阵列的倾斜角是固定的，调整像素阵列的倾斜角时，像素阵列的周期是固定的，当然也可以同时调整像素阵列的周期和倾斜角。
[0110] 实施例五
[0111] 图6为本发明实施例五提供的一种光栅膜参数的标定方法，如图6所示，标定方法包括：
[0112] S510、提供一显示面板。
[0113] 显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，像素阵列的周期与倾斜角为设定值。
[0114] S520、将光栅膜与显示面板对位贴合。
[0115] 光栅与像素阵列形成条纹。
[0116] S530、调整像素阵列的周期并探测条纹的宽度，当条纹的宽度达到第三预设值时，标记光栅膜的周期为第三周期，当条纹的宽度再次达到第三预设值时，标记光栅膜的周期为第四周期，标定光栅膜的周期等于第三周期与第四周期的平均值。
[0117] S540、标定光栅膜的周期后，调整像素阵列的倾斜角并探测条纹的宽度，当条纹的宽度达到第五预设值时，标记光栅膜的倾斜角为第五倾斜角，当条纹的宽度再次达到第五预设值时，标记光栅膜的倾斜角为第六倾斜角，标定光栅膜的倾斜角等于第五倾斜角与第六倾斜角的平均值。
[0118] 本发明实施例的标定方法中，首先保持像素阵列的倾斜角不变，通过调整像素阵列的周期，并标定光栅膜的周期为，在条纹的宽度达到第三预设值时对应的光栅膜的第三周期和第四周期的平均值。标定光栅膜的周期后，通过调整像素阵列的倾斜角，此时条纹宽度继续增加，并在达到一定值后开始减小，因此可以将条纹的宽度达会出现两次为第五预设值，并可以将条纹宽度出现两个第五预设值时的像素阵列的倾斜角对应的第五倾斜角和第六倾斜角的平均值作为光栅膜的倾斜角进行标定。可以理解的是，在其他实施方式中，还可以先标定光栅膜的倾斜角，并在标定光栅膜的倾斜角后，再标定光栅膜的周期，该过程如下：
[0119] 提供一显示面板，显示面板包括像素平面，用于形成周期性排列的像素阵列，像素阵列的周期与倾斜角为设定值；
[0120] 将光栅膜与显示面板对位贴合，光栅与像素阵列形成条纹；
[0121] 调整像素阵列的倾斜角并探测条纹的宽度，当条纹的宽度达到第四预设值时，标记光栅膜的倾斜角为第三倾斜角，当条纹再次达到第四预设值时，标记光栅膜的倾斜角为第四倾斜角，标定光栅膜的倾斜角等于第三倾斜角与第四倾斜角的平均值；
[0122] 标定光栅膜的倾斜角后，调整像素阵列的周期并探测条纹的宽度，当条纹的宽度达到第六预设值时，标记光栅膜的周期为第五周期，当条纹的宽度再次达到第六预设值时，标记光栅膜的周期为第六周期，标定光栅膜的周期等于第五周期与第六周期的平均值。
[0123] 在上述各实施例的基础上，可选地，调整像素阵列的周期包括：以第一固定数值间隔调整像素阵列的周期；调整像素阵列的倾斜角包括：以第二固定数值间隔调整像素阵列的倾斜角。
[0124] 在上述各实施例的基础上，条纹的宽度均是在某一特定距离处进行探测的，该特定距离为显示面板贴附光栅膜后的最佳3D观看距离，在标定两个参数时,应保证两个参数标定时对应的探测距离不变，如当最佳3D观看距离为60mm时，则在距离显示面板60cm处实现对条纹的探测。
[0125] 实施例六
[0126] 本发明实施例六还提供了一种光栅膜参数的标定系统，用于实现上述标定方法，图7为本发明实施例六提供的一种光栅膜参数的标定系统的结构示意图，如图7所示，光栅膜参数标定系统包括显示面板110、显示面板控制模块120、图像获取模块130和图像处理模块140。光栅膜包括周期性排列的光栅，显示面板110包括像素平面，用于产生周期性排列的像素阵列，像素阵列的周期与倾斜角为设定值。像素平面指的是显示面板110产生并显示图像的平面，显示面板110产生图像的方式，例如可以通过对控制某些子像素发光而另外一些子像素不发光来实现，发光的子像素或者不发光的子像素构成了周期性的像素阵列。显示面板控制模块120与显示面板110相连接，用于调整像素阵列的周期，和/或调整像素阵列的倾斜角。图像获取模块130位于显示面板110的一侧，用于记录光栅与像素阵列形成的条纹。图像处理模块140与图像获取模块130相连接，用于判断条纹的宽度。
[0127] 示例性地，图像处理模块140判断条纹宽度的过程可以包括：扫描屏幕上十字形的横竖两条线上每一个像素，算出它们第一颜色对应的亮度值与第二颜色对应的亮度值的差值。第一颜色对应的亮度值范围可以为0-255，第二颜色对应的亮度值的范围可以为0-255。记录差值的最大值和最小值所在像素点的坐标值，存储所有差值为零对应的坐标值，并根据差值为零对应的坐标值计算得到条纹的宽度。
[0128] 可选地，光栅包括柱透镜光栅或狭缝光栅。
[0129] 图8为本发明实施例六提供的一种光栅膜参数的标定系统，如图8所示，该标定系统中，光栅膜可以贴附到笔记本屏幕上，且显示面板控制模块可以集成于笔记本中，且可以通过软件和/或硬件的方式实现，图像获取模块例如可以采用摄像机或电荷耦合元件(CCD)，图像处理模块也可以集成于笔记本中，且可以通过软件和/或硬件的方式实现。优选地，图像获取模块与笔记本的屏幕之间的距离为60cm。
[0130] 本发明实施例提供的光栅膜的标定系统包括显示面板、显示面板控制模块、图像获取模块和图像处理模块，光栅膜包括周期性排列的光栅，显示面板产生周期性排列的像素阵列，设定像素阵列的周期初始值和倾斜角初始值，显示面板与光栅膜产生莫尔条纹，并调节显示面板产生的像素阵列的周期和倾斜角，此时光栅和像素阵列形成的条纹的宽度相应地发生变化，通过图像获取模块获取条纹的图像，并通过图像处理模块判断条纹的宽度，标定光栅膜的周期和/或倾斜角，通过探测光栅和像素阵列形成的条纹，即通过探测显示面板与光栅膜产生的条纹，本发明实现了对光栅膜的周期和/或倾斜角的准确标定，且通过本发明实施提供的光栅膜参数的标定系统可以实现对光栅膜参数的自动化标定。
[0131] 注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。
