一种具有多环电场调制衬底的元素半导体横向超结双扩散晶体管

摘要

本发明公开一种具有多环电场调制衬底的元素半导体横向超结双扩散晶体管。该结构中漂移区下方的衬底为电荷补偿多环结构。衬底多环电荷补偿可以扩展横向双扩散金属氧化物半导体场效应管的纵向空间电荷区，同时该多环结构还能在表面横向电场和体内纵向电场分布中均引入新的电场峰，能消除超结存在的衬底辅助耗尽问题，利用电场调制效应对表面横向电场和体内纵向电场同时进行调制，使得表面横向电场和体内纵向电场同时优化。该结构不仅突破了横向双扩散晶体管由于纵向耐压受限而带来的击穿电压饱和问题，还能消除超结存在的衬底辅助耗尽问题，使得表面横向电场和体内纵向电场同时优化，大幅度提高器件的击穿电压。

权利要求

1.一种具有多环电场调制衬底的元素半导体横向超结双扩散晶体管，包括：半导体材料的衬底；

在衬底表面形成的基区；

在衬底表面注入N柱和P柱相间排列形成的超结漂移区，与所述基区邻接；

在所述基区表面形成的源区；

在所述超结漂移区表面形成的漏区；

其特征在于：

所述衬底的材料是元素半导体材料；超结漂移区下方邻接的衬底区域设置为多环电场调制结构；所述多环电场调制结构与超结漂移区的宽度相当，是以靠近漏区的一端为中心，向靠近基区的一端扩展形成多环；

所述多环电场调制结构的每个环分别采用N型或P型掺杂元素半导体材料，或者采用介质材料；相应的，相邻的环以不同材料、不同掺杂类型、不同掺杂浓度之任一或任意组合的方式来区分；所述多环电场调制结构中每个环的径向宽度占超结漂移区整体长度的比例根据耐压需求调整，比例值范围为0.2～0.5，多环电场调制结构不超过超结漂移区整体长度。

2.根据权利要求1所述的具有多环电场调制衬底的元素半导体横向超结双扩散晶体管，其特征在于：元素半导体材料的衬底掺杂浓度为1×1013cm-3～1×1015cm-3。

3.根据权利要求1所述的具有多环电场调制衬底的元素半导体横向超结双扩散晶体管，其特征在于：所述多环电场调制结构中，每个环的掺杂浓度为1×1014cm-3～1×1016cm-3。

4.根据权利要求1所述的具有多环电场调制衬底的元素半导体横向超结双扩散晶体管，其特征在于：所述介质材料选自二氧化硅和氧化铪。

5.根据权利要求1所述的具有多环电场调制衬底的元素半导体横向超结双扩散晶体管，其特征在于：所述多环电场调制结构中各个环的径向宽度相等或者有的环的径向宽度不同；所述多环电场调制结构中环的数量根据耐压需求调整，取值范围为2～5个。

6.根据权利要求1所述的具有多环电场调制衬底的元素半导体横向超结双扩散晶体管，其特征在于：所述多环电场调制结构中环的形状为弧线型环或阶梯型环。

7.根据权利要求6所述的具有多环电场调制衬底的元素半导体横向超结双扩散晶体管，其特征在于：所述多环电场调制结构中环的形状为同心圆环。

8.根据权利要求1所述的具有多环电场调制衬底的元素半导体横向超结双扩散晶体管，其特征在于：对于超结漂移区厚度为2μm、超结漂移区长度为30μm的器件，当击穿电压要求为500V时，采用同心圆环形式的多环电场调制结构，多环以N/P相间掺杂，多环的数量为2～5个，每个环的径向宽度占超结漂移区整体长度的0.2～0.5，多环电场调制结构不超过超结漂移区整体长度。

9.根据权利要求1所述的具有多环电场调制衬底的元素半导体横向超结双扩散晶体管，其特征在于：所述元素半导体材料为硅材料或锗材料。

说明书

一种具有多环电场调制衬底的元素半导体横向超结双扩散晶

体管

技术领域

[0001] 本发明涉及半导体功率器件技术领域，具体涉及一种横向超结双扩散金属氧化物半导体场效应管。

背景技术

[0002] 实现功率集成电路PIC(power integrated circuit)最关键的技术之一是要求LDMOS(lateral double-diffused MOSFET)必须具有低的导通电阻以减小PIC集成电路的功率损耗，而MOS类器件关态击穿电压与开态导通电阻之间的2.5次方关系限制了MOS类器件高功率的应用范围，超结(super junction)结构将这种矛盾关系缓解为1.33次方，所以将super junction技术应用于LDMOS形成SJ-LDMOS是实现超低功率损耗PIC的有效途径。但是应用于LDMOS的super junction存在三个问题：1)N沟道LDMOS具有的P型衬底辅助耗尽了super junction的N型区，带来了衬底辅助耗尽SAD(substrate-assisted depletion)问题；2)传统SJ-LDMOS只是在super junction的N区与P区之间形成电场调制，而在表面没有电场调制；3)消除衬底辅助耗尽的SJ-LDMOS虽然能使漂移区完全耗尽，但由于受纵向电场的影响，表面电场分布不均匀。另外，随着器件漂移区长度的增加，SJ-LDMOS器件的击穿电压主要受限于体内纵向耐压能力，即其击穿电压随着漂移区长度的增加逐渐趋于饱和，这就是横向超结功率器件的电压饱和效应。

[0003] 为了打破击穿电压饱和效应，早期提出的具有REBULF结构的LDMOS，通过在体内埋入一层N+-Floating层，使横向高压器件的电场重新分配，突破了传统上漏端为高电场而源端为低电场的电场分布形式，N+-Floating层的等电势作用使漏端高电场区的高电场降低，在硅达到其临界击穿电场时击穿电压提高，器件的衬底承担了几乎全部的纵向耐压。

发明内容

[0004] 本发明提出了一种具有多环电场调制衬底的元素半导体横向超结双扩散晶体管，不仅突破了横向超结双扩散晶体管由于纵向耐压受限而带来的击穿电压饱和问题，能消除横向超结存在的衬底辅助耗尽问题，还能达到同时优化表面横向电场和体内纵向电场的作用，大幅度提高器件的击穿电压

[0005] 本发明的技术方案如下：

[0006] 该具有多环电场调制衬底的元素半导体横向超结双扩散晶体管，包括：

[0007] 半导体材料的衬底；

[0008] 在衬底表面形成的基区；

[0009] 在衬底表面注入N柱和P柱相间排列形成的超结(Super Junction)漂移区，与所述基区邻接；

[0010] 在所述基区表面形成的源区；

[0011] 在所述超结漂移区表面形成的漏区；

[0012] 其特殊之处在于：

[0013] 所述衬底的材料是元素半导体材料；超结漂移区下方邻接的衬底区域设置为多环电场调制结构；所述多环电场调制结构与超结漂移区的宽度(OA方向)相当，是以靠近漏区的一端为中心，向靠近基区的一端扩展形成多环；

[0014] 所述多环电场调制结构的每个环分别采用N型或P型掺杂元素半导体材料，或者采用介质材料；相应的，相邻的环以不同材料、不同掺杂类型、不同掺杂浓度之任一或任意组合的方式来区分。

[0015] 例如以下三类具体形式：

[0016] 1、多环电场调制结构完全采用元素半导体材料

[0017] 每个环分别由N型或P型掺杂元素半导体材料构成；其中相邻的环的掺杂类型和/或掺杂浓度不同，即(1)掺杂类型不同，掺杂浓度相同；(2)虽然掺杂类型相同但掺杂浓度不同；(3)掺杂类型不同，掺杂浓度也不同；

[0018] 2、多环电场调制结构完全采用介质材料，相邻的环的介质材料不同。

[0019] 3、多环电场调制结构的某些环为元素半导体材料，某些环为介质材料，可通过元素半导体材料与介质材料相间设置的方式来区分，也可仍然或同时采用前两类方式区分。

[0020] 在以上方案的基础上，本发明还进一步作了如下优化：

[0021] 元素半导体材料的衬底掺杂浓度的典型值为1×1013cm-3～1×1015cm-3。

[0022] 多环电场调制结构中，每个环的典型掺杂浓度为1×1014cm-3～1×1016cm-3。

[0023] 介质材料选自二氧化硅和氧化铪。

[0024] 多环电场调制结构中每个环的径向宽度(OB方向)占超结漂移区整体长度的比例根据耐压需求调整，典型的比例值为0.2～0.5，多环电场调制结构不超过超结漂移区整体长度。

[0025] 多环电场调制结构中各个环的径向宽度(OB方向)相等或者有的环的径向宽度不同；所述多环电场调制结构中环的数量根据耐压需求调整，典型值为2～5个。

[0026] 多环电场调制结构中环的形状为弧线型环或阶梯型环。

[0027] 多环电场调制结构中环的形状为同心圆环。

[0028] 对于超结漂移区厚度(OC方向)为2μm、超结漂移区长度(OB方向)为30μm的器件，当击穿电压要求为500V时，采用同心圆环形式的多环电场调制结构，多环以N/P相间掺杂，多环的数量为2～5个，每个环的径向宽度(OB方向)占超结漂移区整体长度的0.2～0.5，多环电场调制结构不超过超结漂移区整体长度。

[0029] 元素半导体材料一般选择硅材料或锗材料。

[0030] 本发明技术方案的有益效果如下：

[0031] 在SJ-LDMOS的漂移区下方的衬底区域设置为多环电荷补偿结构，可以扩展横向双扩散金属氧化物半导体场效应管的纵向空间电荷区，同时该多环结构还能在表面横向电场和体内纵向电场分布中均引入新的电场峰，利用电场调制效应对表面横向电场和体内纵向电场同时进行调制，能消除横向超结存在的衬底辅助耗尽问题，使得表面横向电场和体内纵向电场同时优化。

[0032] 该结构不仅突破了横向超结双扩散晶体管由于纵向耐压受限而带来的击穿电压饱和问题，还能消除横向超结存在的衬底辅助耗尽问题，使得表面横向电场和体内纵向电场同时优化，大幅度提高器件的击穿电压。

附图说明

[0033] 图1为本发明一种具有多环电场调制衬底的元素半导体横向超结双扩散晶体管结构的三维示意图。

[0034] 图2是在多环电荷补偿结构处沿OAC方向的截面图。

[0035] 附图标号说明：

[0036] 1-元素半导体材料衬底；2-基区；3-源区；4-漏区；5，6-超结漂移区；7，8，9，10-多环电场调制结构的各个环。

具体实施方式

[0037] 如图1和图2为一种具有多环电场调制衬底的元素半导体横向超结双扩散晶体管：

[0038] 元素半导体材料衬底1，掺杂浓度为一般元素半导体单晶材料的浓度，典型值为1×1013cm-3～1×1015cm-3；

[0039] 位于元素半导体衬底表面的基区2；

[0040] 位于基区边缘到元素半导体衬底上注入N柱和P柱，相间排列形成超结(Super Junction)漂移区5和6；

[0041] 位于基区表面的源区3；

[0042] 位于超结漂移区表面的漏区4；

[0043] 位于超结漂移区下的多环电场调制结构；

[0044] 具体来说：

[0045] 多环电场调制结构的各个环7、8、9和10可为N型、P型掺杂硅材料，典型的掺杂浓度达到1×1014cm-3～1×1016cm-3；

[0046] 多环电场调制结构的各个环7、8、9和10还可为介质材料，如二氧化硅、氧化铪等；

[0047] 多环电场调制结构的各个环7、8、9和10的环的径向宽度(OB方向)占漂移区整体长度的比例可根据耐压需求调整。典型的多环电场调制结构的环的宽度占漂移区整体长度的比例为0.2～0.5；

[0048] 多环电场调制结构的各个环7、8、9和10中环与环的径向宽度(OB方向)，或者等宽或者不等宽；

[0049] 多环电场调制结构的各个环7、8、9和10的环的数量可根据耐压需求调整。

[0050] 多环电场调制结构的各个环7、8、9和10的形状可为规则图形，如圆形环。也可为不规则图形，如弧线型环、阶梯型环等。

[0051] 设置的衬底多环电荷补偿可以扩展横向超结双扩散金属氧化物半导体场效应管的纵向空间电荷区，同时该多环结构还能在表面横向电场和体内纵向电场分布中均引入新的电场峰，能消除横向超结存在的衬底辅助耗尽问题，利用电场调制效应对表面横向电场和体内纵向电场同时进行调制，使得表面横向电场和体内纵向电场同时优化。该结构不仅突破了横向超结双扩散晶体管由于纵向耐压受限而带来的击穿电压饱和问题，还能消除横向超结存在的衬底辅助耗尽的问题，使得表面横向电场和体内纵向电场同时优化，大幅度提高器件的击穿电压。

[0052] 针对薄漂移区(2μm)N沟道SJ-LDMOS，当漂移区长度为30μm时，普通LDMOS击穿电压仅为300V左右，而采用本发明的结构，利用每个圆环宽度为10μm，N/P/N型相间掺杂的同心圆环结构可以将器件的击穿电压提高到500V左右，提高了66.7％.

[0053] 针对薄漂移区(2μm)N沟道SJ-LDMOS，当漂移区长度为60μm时，普通LDMOS击穿电压仅为400V左右，而采用本发明的结构，利用每个圆环宽度为20μm，N/P/N型相间掺杂的同心圆环结构可以将器件的击穿电压提高到1000V，提高了150％.

[0054] 当然，本发明中的SJ-LDMOS也可以为P沟道，其结构与N沟道SJ-LDMOS等同，在此不再赘述。

[0055] 以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和替换，这些改进和替换的方案也落入本发明的保护范围。