涂层残余应力测试方法及仪器

摘要

本发明公开了一种涂层残余应力测试方法及仪器，其中测试方法包括如下步骤：获取目标物体的涂层与基体的弹性模量；获取目标物体的涂层制备时的温度；获取目标物体的涂层的横截面面积与基体的横截面面积；获取目标物体的涂层的热膨胀系数和基体的热膨胀系数；通过下式计算目标物体的涂层残余应力σc：式中：Sc为目标物体的涂层的横截面面积，Ss为目标物体的基体的横截面面积，Ec为目标物体的涂层的弹性模量，Es为目标物体的基体的弹性模量，αc为目标物体的涂层的热膨胀系数，αs为目标物体的基体的热膨胀系数，ΔTc为目标物体的涂层制备时的温度。本发明方法可测量任何涂层构件的涂层残余应力。

权利要求

1.涂层残余应力测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

获取目标物体的涂层与基体的弹性模量；

获取目标物体的涂层制备时的温度；

获取目标物体的涂层的横截面面积与基体的横截面面积；

获取目标物体的涂层的热膨胀系数和基体的热膨胀系数；

通过下式计算目标物体的涂层残余应力σc：

式中：Sc为目标物体的涂层的横截面面积，Ss为目标物体的基体的横截面面积，Ec为目标物体的涂层的弹性模量，Es为目标物体的基体的弹性模量，αc为目标物体的涂层的热膨胀系数，αs为目标物体的基体的热膨胀系数，ΔTc为目标物体的涂层制备时的温度。

2.根据权利要求1所述的涂层残余应力测试方法，其特征在于，所述目标物体的涂层的热膨胀系数αc及基体的热膨胀系数αs检测时，以室温至目标物体的涂层制备时的温度ΔTc的目标物体的涂层及基体的平均热膨胀系数作为目标物体的涂层的热膨胀系数αc及基体的热膨胀系数αs。

3.根据权利要求1所述的涂层残余应力测试方法，其特征在于，所述目标物体的涂层与基体的平均热膨胀系数的测量采用相对法测试。

4.根据权利要求1所述的涂层残余应力测试方法，其特征在于，目标物体的涂层的热膨胀系数αc及基体的热膨胀系数αs通过如下步骤获取：制备样品A和样品B，其中样品A为目标物体的基体的样品，样品B为目标物体的基体上复合有目标物体涂层的复合样品；

分别获取样品A和样品B的热膨胀系数，其中样品A的热膨胀系数即为目标物体的基体的热膨胀系数αs；

通过样品A和样品B的热膨胀系数得到目标物体的涂层的热膨胀系数αc。

5.根据权利要求4所述的涂层残余应力测试方法，其特征在于，所述样品A及样品B的基体采用目标物体的基体相同的材料制备，所述样品B的涂层采用与目标物体的涂层相同的材料及制备工艺得到。

6.根据权利要求4所述的涂层残余应力测试方法，其特征在于，所述样品B的涂层在样品B的基体上的分布呈对称性，以避免温度变化时发生弯曲变形。

7.根据权利要求4所述的涂层残余应力测试方法，其特征在于，所述样品A与样品B尺寸，均采用符合热膨胀系数测试标准的样品尺寸。

8.根据权利要求1所述的涂层残余应力测试方法，其特征在于，所述目标物体的涂层与基体的弹性模量采用相对法测试得到。

9.根据权利要求1所述的涂层残余应力测试方法，其特征在于，所述目标物体的涂层与基体的弹性模量通过制备材质与目标物体相同的样品，对所述样品进行相应测试得到。

10.根据权利要求1所述的涂层残余应力测试方法，其特征在于，根据获取目标物体的涂层的热膨胀系数和基体的热膨胀系数确定目标物体的涂层的残余应力类型，其中目标物体的涂层的热膨胀系数大于基体的热膨胀系数，则涂层的残余应力为拉应力，否则，涂层的残余应力为压缩应力。

11.涂层残余应力测试仪器，其特征在于，包括：

加热炉，用于加热样品，以使样品受热膨胀；

控温装置，控制所述加热炉的加热温度；

滑轨机构，与所述加热炉连接，所述加热炉沿滑轨机构的轨道滑动；

石英托架，具有样品放置处；

传动杆，用于传递样品膨胀位移；

微位移测量装置，检测传动杆传递的样品膨胀位移；

电脑，接收相关数据，并将相关数据整理为计算涂层残余应力所需参数，将所述参数按如下公式进行处理，得到目标物体的涂层残余应力σc：式中：Sc为目标物体的涂层的横截面面积，Ss为目标物体的基体的横截面面积，Ec为目标物体的涂层的弹性模量，Es为目标物体的基体的弹性模量，αc为目标物体的涂层的热膨胀系数，αs为目标物体的基体的热膨胀系数，ΔTc为目标物体的涂层制备时的温度；

其中，所述石英托架包括第一石英托架和第二石英托架，第一石英托架和第二石英托架内分别具有样品放置处，以分别放置样品；

所述传动杆包括第一传动杆和第二传动杆，所述第一传动杆和第二传动杆分别传递第一石英托架和第二石英托架内样品的膨胀位移。

12.根据权利要求11所述的涂层残余应力测试仪器，其特征在于，所述微位移测量装置的测试分辨率小于0.2mm。

说明书

涂层残余应力测试方法及仪器

技术领域

[0001] 本发明涉及涂层残余应力测试技术领域，尤其涉及一种涂层残余应力测试方法及仪器。

背景技术

[0002] 出于提高构件强度、硬度、抗高温、耐腐蚀、耐磨损等性能的目的，现有技术经常在金属或其他固体材料(基体)上通过化学或物理的方法镀上一层涂层。涂层构件对于现代机械领域包括汽车、航空、航天以及各种高温耐磨器械的性能提高具有重要意义。涂层在面向实际工程应用时必须解决力学性能的评价问题，以便改善工艺，提高其使用寿命。在涂层需要评价的力学性能指标中，残余应力是其中最为重要的指标之一。残余应力是指产生应力的各种外界因素作用不复存在时，在物体内部依然存在并保持自身平衡的应力。对于涂层而言，其残余应力产生的主要原因是涂层一般在较高温度下制备，并冷却至室温环境中，在这一过程中，由于涂层与基体热膨胀系数不匹配，热膨胀系数小的一端在冷却时受到拉应力，而热膨胀系数大的一端受到压应力，即导致涂层内出现残余应力。涂层残余应力的存在会导致涂层内部产生很多出现微小裂纹，一方面导致其结构性能降低，甚至脱落，另一方面，对其抗氧化腐蚀，耐高温等性能也有很大影响。故而准确评价涂层残余应力具有十分重要的意义。

[0003] 目前，常用的涂层残余应力测试方法主要包括基于Stoney公式的曲率测量法以及X射线衍射法。

[0004] 对于基于Stoney公式的曲率测量法，其原理是在残余应力的作用下，镀有涂层的基体会发生挠曲，这种变形尽管很微小，但通过激光干涉仪或者表面轮廓仪，能够测量到挠曲的曲率半径。通过基体的挠曲程度即可根据Stoney公式计算涂层的残余应力。然而，该方法存在很多问题：第一，由于镀涂层后样品的曲率较小并且曲率沿长度方向并不处处相等，故而曲率难以准确测量，另外，大量的构件都是对称式的涂层，或者虽然非对称但基体刚度远大于有涂层，因而不会产生翘曲，该方法不能使用；第二，Stoney公式在推导过程中，忽略了含涂层弹性模量项对结果的影响，对于厚度较大的涂层样品，该项对残余应力的计算结果影响较大；第三，Stoney公式计算残余应力的模型假设涂层仅受到均匀应力，没有弯曲应力的作用，基体只受弯曲，没有均匀应力，对于厚涂层可导致大误差；第四，Stoney公式计算残余应力的模型假设样品内部弯矩为常数，使涂层产生类圆柱形变形，但对于实际上，样品内部应力并非均匀分布，难以反映真实情况。

[0005] 对于X射线衍射法，其原理是利用X光衍射法测量应力引起的点阵间距变化所导致的弹性应变，测试样品常采用粉体或小型块体，其测试结果仅反映样品局部的性能，不能代表构件整体的残余应力，同时，其测量结果不准确，其离散性较高。

[0006] 必须强调，残余应力并非一个材料常数，对于同种涂层而言，当基体与涂层的尺寸、大小不同时，其残余应力也不相同。故采用上述两种方法对涂层残余应力进行评价时，得到的结果仅可反映其所测量样品残余应力的大小，无法用于反映同种材料制备的实际服役涂层残余应力的大小。同时，对于实际服役涂层而言，无法采用上述两种方法进行现场测试，故这两种方法无法用于评价实际服役涂层的残余应力。

发明内容

[0007] 有鉴于此，本发明实施例提供一种涂层残余应力测试方法，主要目的是简单准确地评价涂层的残余应力。

[0008] 为达到上述目的，本发明主要提供如下技术方案：

[0009] 一方面，本发明实施例提供了一种涂层残余应力测试方法，包括如下步骤：

[0010] 获取目标物体的涂层与基体的弹性模量；

[0011] 获取目标物体的涂层制备时的温度；

[0012] 获取目标物体的涂层的横截面面积与基体的横截面面积；

[0013] 获取目标物体的涂层的热膨胀系数和基体的热膨胀系数；

[0014] 通过下式计算目标物体的涂层残余应力σc：

[0015]

[0016] 式中：Sc为目标物体的涂层的横截面面积，Ss为目标物体的基体的横截面面积，Ec为目标物体的涂层的弹性模量，Es为目标物体的基体的弹性模量，αc为目标物体的涂层的热膨胀系数，αs为目标物体的基体的热膨胀系数，ΔTc为目标物体的涂层制备时的温度。

[0017] 作为优选，所述目标物体的涂层的热膨胀系数αc及基体的热膨胀系数αs检测时，以室温至目标物体的涂层制备时的温度ΔTc的目标物体的涂层及基体的平均热膨胀系数作为目标物体的涂层的热膨胀系数αc及基体的热膨胀系数αs。

[0018] 作为优选，所述目标物体的涂层与基体的平均热膨胀系数的测量采用相对法测试。

[0019] 作为优选，目标物体的涂层的热膨胀系数αc及基体的热膨胀系数αs通过如下步骤获取：

[0020] 制备样品A和样品B，其中样品A为目标物体的基体的样品，样品B为目标物体的基体上复合有目标物体涂层的复合样品；

[0021] 分别获取样品A和样品B的热膨胀系数，其中样品A的热膨胀系数即为目标物体的基体的热膨胀系数αs；

[0022] 通过样品A和样品B的热膨胀系数得到目标物体的涂层的热膨胀系数αc。

[0023] 作为优选，所述样品A及样品B的基体采用目标物体的基体相同的材料制备，所述样品B的涂层采用与目标物体的涂层相同的材料及制备工艺得到。

[0024] 作为优选，所述样品B的涂层在样品B的基体上的分布呈对称性，以避免温度变化时发生弯曲变形。

[0025] 作为优选，所述样品A与样品B尺寸，均采用符合热膨胀系数测试标准的样品尺寸。

[0026] 作为优选，所述目标物体的涂层与基体的弹性模量采用相对法测试得到。

[0027] 作为优选，所述目标物体的涂层与基体的弹性模量通过制备材质与目标物体相同的样品，对所述样品进行相应测试得到。

[0028] 作为优选，根据获取目标物体的涂层的热膨胀系数和基体的热膨胀系数确定目标物体的涂层的残余应力类型，其中目标物体的涂层的热膨胀系数大于基体的热膨胀系数，则涂层的残余应力为拉应力，否则，涂层的残余应力为压缩应力。

[0029] 另一方面，本发明实施例提供了一种涂层残余应力测试仪器，包括：

[0030] 加热炉，用于加热样品，以使样品受热膨胀；

[0031] 控温装置，控制所述加热炉的加热温度；

[0032] 滑轨机构，与所述加热炉连接，所述加热炉沿滑轨机构的轨道滑动；

[0033] 石英托架，具有样品放置处；

[0034] 传动杆，用于传递样品膨胀位移；

[0035] 微位移测量装置，检测传动杆传递的样品膨胀位移；

[0036] 电脑，接收相关数据，并将相关数据整理为计算涂层残余应力所需参数，将所述参数按如下公式进行处理，得到目标物体的涂层残余应力σc：

[0037]

[0038] 式中：Sc为目标物体的涂层的横截面面积，Ss为目标物体的基体的横截面面积，Ec为目标物体的涂层的弹性模量，Es为目标物体的基体的弹性模量，αc为目标物体的涂层的热膨胀系数，αs为目标物体的基体的热膨胀系数，ΔTc为目标物体的涂层制备时的温度。

[0039] 作为优选，所述石英托架包括第一石英托架和第二石英托架，第一石英托架和第二石英托架内分别具有样品放置处，以分别放置样品；

[0040] 所述传动杆包括第一传动杆和第二传动杆，所述第一传动杆和第二传动杆分别传递第一石英托架和第二石英托架内样品的膨胀位移。

[0041] 作为优选，所述微位移测量装置的测试分辨率小于0.2mm。

[0042] 与现有技术相比，本发明的有益效果在于：

[0043] 本发明实施例的测试方法可用于任何涂层构件的涂层残余应力的评价。本发明实施例提供的测试方法简单，不受目标涂层构件的限制，可通过易于制备和检测样品来获得涂层残余应力，可操作性强。本发明实施例的方法测试结果准确，离散性小。不但能够获得残余应力的值，而且能够确定涂层上面的残余应力类型是拉伸应力还是压缩应力。

附图说明

[0044] 图1为本发明一实施例的涂层残余应力测试仪器的结构示意图。

[0045] 图2为本发明一实施例膨胀系数测量部分的结构示意图；

[0046] 图3为本发明一实施例的涂层残余应力测试方法的流程图；

[0047] 图4为本发明实施例中石墨基体/CVD(化学气相沉积)碳化硅涂层管材的横截面示意图；

[0048] 图5为本发明实施例中样品B示意图；

[0049] 图6-1为本发明实施例中石墨基体/CVD碳化硅涂层管材的受力示意图正视图；

[0050] 图6-2为本发明实施例中石墨基体/CVD碳化硅涂层管材的受力示意图侧视图；

[0051] 图6-3为本发明实施例中石墨基体/CVD碳化硅涂层管材的受力示意图俯视图。

[0052] 图7为本发明实施例中反应烧结碳化基体/CVD(化学气相沉积)碳化硅涂层板材的横截面示意图；

[0053] 图8为本发明另一实施例中样品B示意图；

[0054] 图9-1为本发明实施例中反应烧结碳化基体/CVD碳化硅涂层板材的受力示意图正视图；

[0055] 图9-2为本发明实施例中反应烧结碳化基体/CVD碳化硅涂层板材的受力示意图侧视图；

[0056] 图9-3为本发明实施例中反应烧结碳化基体/CVD碳化硅涂层板材的受力示意图俯视图。

具体实施方式

[0057] 下面结合具体实施例对本发明作进一步详细描述，但不作为对本发明的限定。在下述说明中，不同的“一实施例”或“实施例”指的不一定是同一实施例。此外，一或多个实施例中的特定特征、结构、或特点可由任何合适形式组合。

[0058] 图1为本发明一实施例的涂层残余应力测试仪器的结构示意图。图2为本发明一实施例膨胀系数测量部分的结构示意图。参见图1和图2，涂层残余应力测试仪器，包括：

[0059] 加热炉4，用于加热样品，以使样品受热膨胀；

[0060] 控温装置1，控制加热炉4的加热温度；

[0061] 滑轨机构，与加热炉4连接，加热炉4沿滑轨机构的轨道2滑动；

[0062] 石英托架，具有样品放置处；

[0063] 传动杆，用于传递样品膨胀位移；

[0064] 微位移测量装置11，检测传动杆传递的样品膨胀位移；

[0065] 电脑12，接收相关数据，并将相关数据整理为计算涂层残余应力所需参数，将相关参数按如下公式进行处理，得到目标物体的涂层残余应力σc：

[0066]

[0067] 式中：Sc为目标物体的涂层的横截面面积，Ss为目标物体的基体的横截面面积，Ec为目标物体的涂层的弹性模量，Es为目标物体的基体的弹性模量，αc为目标物体的涂层的热膨胀系数，αs为目标物体的基体的热膨胀系数，ΔTc为目标物体的涂层制备时的温度。

[0068] 本发明实施例的仪器中电脑12处理的原始数据可以是通过输入设备人工输入，也可以是通过有线或无线方式由各测量机构直接将测得的数据传输至电脑。如微位移测量装置11测得的样品膨胀位移数据可直接传输至电脑，也可人工读取后人工输入。本发明实施例的仪器中电脑12对接收的数据自动处理得到所需的残余应力值，同时还可判断出残余应力的类型是拉应力还是压应力。

[0069] 图2为本发明一实施例膨胀系数测量部分的结构示意图；参见图1和图2。作为上述实施例的优选，石英托架包括第一石英托架7和第二石英托架8，第一石英托架7和第二石英托架8内分别具有样品放置处(第一石英托架7内为第一样品放置处5，第二石英托架8内为第二样品放置处6)，以分别放置样品；

[0070] 传动杆包括第一传动杆9和第二传动杆10，第一传动杆9和第二传动杆10分别传递第一石英托架7和第二石英托架8内样品的膨胀位移。本实施例中可以同时对两个样品进行热膨胀系数的测量，确保数据准确一致，简化操作。

[0071] 作为上述实施例的优选，微位移测量装置11的测试分辨率小于0.2mm，微位移测量装置11可以采用电感式微位移测量装置、差动变压器式微位移测量装置、涡流式微位移测量装置或霍尔传感器。所测数据可直接传输至电脑12进行处理，以得到所需参数。

[0072] 本发明实施例的仪器中还可以包括其他测量所需数据的装置，如还包括弹性模量测量装置，以测量获取相应弹性模量所需的数据。同样，如上面所述的，弹性模量测量装置测得的数据可以直接传输至电脑12或读取后人工输入电脑12。另外，本发明实施例的仪器中还可包括用于测量尺寸数据的装置等测量所述数据的装置。

[0073] 本发明实施例中的滑轨机构的具体构造不限，只要加热炉4能够便于移动，实现样品测量即可。本实施例中，滑轨机构包括轨道2和可沿轨道2滑动的滑动轴承3，加热炉4与滑动轴承3固定，从而与滑动轴承3一起沿轨道2往复移动。

[0074] 图3为本发明一实施例的涂层残余应力测试方法的流程图；参见图3，涂层残余应力测试方法，包括如下步骤：

[0075] 获取目标物体的涂层与基体的弹性模量；

[0076] 获取目标物体的涂层制备时的温度；

[0077] 获取目标物体的涂层的横截面面积与基体的横截面面积；

[0078] 获取目标物体的涂层的热膨胀系数和基体的热膨胀系数；

[0079] 通过下式计算目标物体的涂层残余应力σc：

[0080]

[0081] 式中：Sc为目标物体的涂层的横截面面积，Ss为目标物体的基体的横截面面积，Ec为目标物体的涂层的弹性模量，Es为目标物体的基体的弹性模量，αc为目标物体的涂层的热膨胀系数，αs为目标物体的基体的热膨胀系数，ΔTc为目标物体的涂层制备时的温度。

[0082] 本发明实施例的测试方法可用于任何涂层构件的涂层残余应力的评价，并且方法简单，不受目标涂层构件的限制，可通过易于制备和检测样品来获得涂层残余应力，可操作性强。本发明实施例的方法测试结果准确，离散性小。不但能够获得残余应力的值，而且能够确定涂层上面的残余应力类型是拉伸应力还是压缩应力。本发明方法中所需数据可采用上述测试仪器来获得。

[0083] 作为上述实施例的优选，目标物体的涂层的热膨胀系数αc及基体的热膨胀系数αs为由室温升温至目标物体的涂层制备时的温度ΔTc的平均热膨胀系数。目标物体的涂层与基体的平均热膨胀系数的测量可以是现有技术中任一种。

[0084] 作为上实施例的优选，目标物体的涂层的热膨胀系数αc及基体的热膨胀系数αs通过如下步骤获取：

[0085] 制备样品A和样品B，其中样品A为目标物体的基体的样品，样品B为目标物体的基体上复合有目标物体涂层的复合样品；

[0086] 分别获取样品A和样品B的热膨胀系数，其中样品A的热膨胀系数即为目标物体的基体的热膨胀系数αs；

[0087] 通过样品A和样品B的热膨胀系数得到目标物体的涂层的热膨胀系数αc。

[0088] 本实施例中通过制备易于制备及易于测量的样品来获取相关数据，因此不受实际的目标物体的限制，可实现任一涂层构件的涂层残余应力的定量(大小)及定性(类型)评价。

[0089] 样品A及样品B的基体采用目标物体的基体相同的材料制备，样品B的涂层采用与目标物体的涂层相同的材料及制备工艺得到。由于材质相同，因此根据样品所得膨胀系数即为目标物体的相关膨胀系数。

[0090] 作为作为有上述实施例的优选，样品B的涂层在样品B的基体上的分布呈对称性，以避免温度变化时发生弯曲变形。

[0091] 样品A与样品B尺寸，均采用符合热膨胀系数测试标准的样品尺寸。以利于热膨胀系数的测量。如样品A与样品B均为长方体，样品A与样品B的最小长度为50mm，横截面的边长任一边长小于6mm，横截面的面积大于10mm2。在采用该形状时，涂层至少在样品的两向对面上，以便形成对称，避免温度变化时发生弯曲变形。

[0092] 作为上述实施例的优选，目标物体的涂层与基体的弹性模量采用相对法测试得到。当然，也可采用其他任何适当的方法获得。

[0093] 作为上述实施例的优选，目标物体的涂层与基体的弹性模量通过制备材质与目标物体相同的样品，对所述样品进行相应测试得到。该样品可参照上述样品A和样品B。

[0094] 作为上述实施例的优选，根据获取目标物体的涂层的热膨胀系数和基体的热膨胀系数确定目标物体的涂层的残余应力类型，其中目标物体的涂层的热膨胀系数大于基体的热膨胀系数，则涂层的残余应力为拉应力，否则，涂层的残余应力为压缩应力。本发明实施例不仅能够确定残余应力的大小，而且能够确定残余应力的类型。

[0095] 下面以实际涂层构件的涂层残余应力测试为例对本发明方法及仪器进一步说明。

[0096] 实施例一：石墨基体/CVD(化学气相沉积)碳化硅涂层圆管残余应力测试[0097] 石墨基体/CVD(化学气相沉积)碳化硅涂层圆管，其横截面示意图如图4所示，图4中标号13为碳化硅涂层，14为石墨基体；该管材的外半径R1为330mm，内半径R2为320mm，长度L为400mm，外侧涂层厚度T1为200μm，内侧涂层厚度T2为200μm；

[0098] 样品A与样品B均为长50mm的长条块体，其横截面的长为4mm，宽为3mm，横截面的面积为12mm2，所取的样品B示意图如图5所示，图5中标号15为碳化硅涂层，16为石墨基体，其上下涂层的厚度均为200μm；样品A采用与待测管材的石墨基体相同的材料，样品B与待测的石墨基体/CVD碳化硅涂层管材的制备工艺相同，涂层的制备温度ΔTc为1000℃。

[0099] 采用相对法测试样品A与样品B(具体操作参见国际标准《陶瓷厚涂层弹性模量和强度试验方法》(ISO/TC 206AWI 19603))，得到CVD碳化硅涂层与石墨基体的弹性模量，具体的，其碳化硅涂层的弹性模量为Ec为440GPa，石墨基体的弹性模量Es为9.8GPa。

[0100] 待测的石墨基体/CVD碳化硅涂层管材的残余应力分为切向残余应力σT和轴向(圆管长度方向)残余应力σL，其受力示意图的正视图、侧视图、俯视图分别如图6-1～6-3所示。

[0101] 待测的石墨基体/CVD碳化硅涂层管材的切向残余应力σT的测试：

[0102] 为测试圆管上涂层在切向方向的残余应力，需确定在圆管的横截面面积比，涂层面 积 为 其 基 体的 横 截 面 积采用涂层残余应力测试仪对样品A与样品B进行测试，得到
样品涂层与基体的平均热膨胀系数。具体的，其涂层的热膨胀系数αc为2.47×10-6/℃，基体-6
的热膨胀系数αs为1.63×10 /℃。将样品涂层与基体的弹性模量，涂层与基体横截面面积以及涂层制备时的温度输入电脑12，即可输出所测构件的涂层的残余应力，具体的，石墨基体/CVD碳化硅涂层管材的切向残余应力σT为132.19MPa，由于涂层的热膨胀系数大于基体的热膨胀系数，故所得到的涂层残余应力类型为拉应力；

[0103] 待测的石墨基体/CVD碳化硅涂层管材的轴向残余应力σL的测试：

[0104] 其涂层的横截面积为Sc′＝L×(T1+T2)＝160mm2，其基体的横截面积为Ss′＝L×(R1-R2)＝4×103mm2，将样品涂层与基体的弹性模量，涂层与基体横截面面积以及涂层制备时的温度输入测试仪，即可得到所测构件的涂层的残余应力，具体的，石墨基体/CVD碳化硅涂层管材的轴向残余应力σL为132.19MPa，涂层残余应力类型为拉应力。

[0105] 实施例二：反应烧结碳化硅板材基体/CVD(化学气相沉积)碳化硅涂层的残余应力测试

[0106] 反应烧结碳化硅基体/CVD(化学气相沉积)碳化硅涂层板材，其横截面示意图如图7所示，图7中标号17为CVD(化学气相沉积)碳化硅涂层，18为反应烧结碳化硅基体；该板材的长度L为400mm，宽度B为300mm，基体厚度H为20mm，上侧涂层厚度T1为200μm，下侧涂层厚度T2为200μm；样品A与样品B均为长50mm的块体，其横截面的长为4mm，宽为3mm，横截面的面积为12mm2，所取的样品B示意图如图8所示，图8中标号19为碳化硅涂层，20为反应烧结碳化硅基体基体，其上下涂层的厚度均为200μm；样品A采用与待测板材反应烧结碳化硅基体相同的材料，样品B与待测的反应烧结碳化硅基板/CVD碳化硅涂层的制备工艺相同，其制备温度为1100℃。

[0107] 由于涂层与基体的宽度相同，面积比就等于厚度比，只要确定基体厚度与涂层厚度的比值，即可代入计算。

[0108] 采用相对法测试样品的CVD碳化硅涂层与反应烧结碳化硅基体的弹性模量，具体的，其涂层的弹性模量为Ec为440GPa，基体的弹性模量Es为347GPa。

[0109] 待测的反应烧结碳化硅基板/CVD碳化硅涂层的残余应力分为X方向残余应力σX与Y方向残余应力σY，其受力示意图的正视图、侧视图、俯视图分别如图9-1～9-3所示。

[0110] 待测的反应烧结碳化硅基体/CVD碳化硅涂层板材的X方向残余应力σX的测试：

[0111] 其涂层的横截面积Sc＝B×(T1+T2)＝120mm2，其基体的横截面积Ss＝B×H＝6×103mm2，采用涂层残余应力测试仪对样品A与样品B进行测试，得到样品涂层与基体的平均热膨胀系数，具体的，其涂层的热膨胀系数αc为2.47×10-6/℃，基体的热膨胀系数αs为3.41×
10-6/℃。将样品涂层与基体的弹性模量，涂层与基体横截面面积以及涂层制备时的温度输入测试仪，即可得到所测构件的涂层的残余应力，具体的，反应烧结碳化硅基体/CVD碳化硅涂层板材的X向残余应力σX为403.37MPa，由于涂层的热膨胀系数小于基体的热膨胀系数，故所得到的涂层残余应力类型为压应力；

[0112] 待测的反应烧结碳化硅/CVD碳化硅涂层板材的Y方向残余应力σY的测试：

[0113] 其涂层的横截面积Sc′＝L×(T1+T2)＝160mm2，基体的横截面积Ss′＝L×H＝8×103mm2：将样品涂层与基体的弹性模量，涂层与基体横截面面积以及涂层制备时的温度输入测试仪，即可得到所测构件的涂层的残余应力，具体的，反应烧结碳化硅基体/CVD碳化硅涂层板材的Y方向残余应力σY为403.37MPa，涂层残余应力类型为压应力。

[0114] 通过上述两个陶瓷涂层构件的涂层残余应力的测试，证明本发明方法不受涂层构件具体形状及大小等因素的影响。基于本发明方法的原理，本发明方法适用于由于涂层与基体热膨胀系数不匹配，导致涂层内出现残余应力的任何涂层构件的涂层残余应力，包括金属涂层构件和陶瓷涂层构件等。

[0115] 以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。