基于法向分量的伪三维漏磁信号缺陷轮廓识别方法转让专利
申请号 : CN201710784842.4
文献号 : CN107741454B
文献日 : 2019-11-22
发明人 : 黄松岭 , 彭丽莎 , 赵伟 , 王珅 , 李世松 , 邹军
申请人 : 清华大学
摘要 :
权利要求 :
1.一种基于法向分量的伪三维漏磁信号缺陷轮廓识别方法,其特征在于,包括以下步骤:
获取待测试件,并从所述待测试件中选取识别区域,其中,所述识别区域内包含单个缺陷;
通过单轴磁传感器在扫描平面上扫描所述识别区域,得到所述识别区域内缺陷漏磁信号法向分量的检测数据,并对所述检测数据进行过滤处理,得到漏磁信号法向分量;
将所述漏磁信号法向分量沿水平方向进行差分变换操作,得到所述漏磁信号法向分量的水平差分信号,并通过所述水平差分信号与第一预设倍数相乘得到伪漏磁信号水平分量,其中,所述将所述漏磁信号法向分量沿水平方向进行差分变换操作,进一步包括:获取满足第一预设条件的第一信号矩阵进行卷积运算,所述水平差分信号满足以下公式,所述公式为:Dx=Gx*Bz,其中,Dx为所述水平差分信号,Gx为算子模板,Bz为所述信号矩阵,*表示卷积运算;
将所述漏磁信号法向分量沿垂直方向进行差分变换操作,得到所述漏磁信号法向分量的垂直差分信号,并通过所述垂直差分信号与第二预设倍数相乘得到伪漏磁信号垂直分量,其中,所述将所述漏磁信号法向分量沿垂直方向进行差分变换操作,进一步包括:获取第二预设条件的第二信号矩阵进行卷积运算,所述垂直差分信号满足以下公式,所述公式为:Dy=Gy*Bz,其中,Dy为所述垂直差分信号,Gy为算子模板;所述算子模板为Prewitt算子模板或Sobel算子模板;
将所述漏磁信号法向分量、所述伪漏磁信号水平分量和所述伪漏磁信号垂直分量进行伪三维漏磁信号合成操作,得到合成漏磁信号;以及选取预设阈值,以对所述合成漏磁信号进行二值化处理,并对二值化处理后得到的二值图像进行缺陷边缘连续性识别操作,得到缺陷识别轮廓。
2.根据权利要求1所述的基于法向分量的伪三维漏磁信号缺陷轮廓识别方法,其特征在于,所述待测试件包括油气管道和储罐底板,其中,在通过单轴磁传感器在扫描平面上扫描所述识别区域之前,还包括:通过直流磁化场对所述待测试件进行饱和磁化处理。
3.根据权利要求1所述的基于法向分量的伪三维漏磁信号缺陷轮廓识别方法,其特征在于,所述伪漏磁信号水平分量对应的水平方向在所述扫描平面上沿所述待测试件的磁化方向,所述伪漏磁信号垂直分量对应的垂直方向在所述扫描平面上垂直于所述待测试件的磁化方向,所述漏磁信号法向分量对应的法线方向垂直于所述扫描平面,且所述水平方向、所述垂直方向和所述法线方向满足三维笛卡尔坐标系的右手定则。
4.根据权利要求1所述的基于法向分量的伪三维漏磁信号缺陷轮廓识别方法,其特征在于,通过以下公式进行伪三维漏磁信号合成操作,所述公式为:B(x,y)=Bx′(x,y)+abs[By′(x,y)]+abs[Bz(x,y)],
其中,B(x,y)为所述合成漏磁信号,Bx′(x,y)为所述伪漏磁信号水平分量,By′(x,y)为所述伪漏磁信号垂直分量,Bz(x,y)为所述漏磁信号法向分量,abs[·]表示取绝对值操作。
5.根据权利要求1所述的基于法向分量的伪三维漏磁信号缺陷轮廓识别方法,其特征在于,所述预设阈值处于所述合成漏磁信号的最大值的40%~60%之间。
6.根据权利要求1所述的基于法向分量的伪三维漏磁信号缺陷轮廓识别方法,其特征在于,所述对所述合成漏磁信号进行二值化处理,进一步包括:将所述合成漏磁信号的区域划分为“0-1”区域,得到所述二值图像,其中,若所述合成漏磁信号的信号值小于所述预设阈值时,所述信号值所对应的区域为“0”区域,并在所述二值图像中显示为黑色;若所述合成漏磁信号的信号值大于或等于所述预设阈值时,所述信号值所对应的区域为“1”区域,并在所述二值图像中显示为白色。
7.根据权利要求6所述的基于法向分量的伪三维漏磁信号缺陷轮廓识别方法,其特征在于,所述对二值化处理后得到的二值图像进行缺陷边缘连续性识别操作,进一步包括:沿所述水平方向依次提取所述二值图像中“1”区域的左边界和右边界,并将所述左边界与所述右边界水平连接后得到的连续区域作为最终识别的缺陷区域,其中,所述左边界和所述右边界分别是所述二值图像中“1”区域的水平方向上最左边的“1”像素点连接成的边界和最右边的“1”像素点连接成的边界。
说明书 :
基于法向分量的伪三维漏磁信号缺陷轮廓识别方法
技术领域
背景技术
的检测与评估具有重要意义。
于三维漏磁检测数据进行分析处理以提供更加丰富的缺陷轮廓信息,提高识别精度。但是
三维漏磁检测相较于一维漏磁检测,需要多采用两倍数量的磁传感器,且对三维漏磁信号
的采集位置和精度要求较高,大大增加了漏磁检测装置的研制成本和设计难度。
在保证在不增加漏磁检测装置的研制成本和复杂度的情况下,有效提高缺陷识别精度。然
而,目前尚无对这种三维漏磁信号衍生技术及相关缺陷轮廓识别方法的研究。
发明内容
的近似值,进而构建伪三维漏磁信号实现缺陷轮廓识别,相较于传统的一维漏磁信号缺陷
轮廓识别,具有更高的求解精度和更好的识别效果。
其中,所述识别区域内包含单个缺陷;通过单轴磁传感器在扫描平面上扫描所述识别区域,
得到所述识别区域内缺陷漏磁信号法向分量的检测数据,并对所述检测数据进行过滤处
理,得到漏磁信号法向分量;将所述漏磁信号法向分量沿水平方向进行差分变换操作,得到
所述漏磁信号法向分量的水平差分信号,并通过所述水平差分信号与第一预设倍数相乘得
到伪漏磁信号水平分量;将所述漏磁信号法向分量沿垂直方向进行差分变换操作,得到所
述漏磁信号法向分量的垂直差分信号,并通过所述垂直差分信号与第二预设倍数相乘得到
伪漏磁信号垂直分量;将所述漏磁信号法向分量、所述伪漏磁信号水平分量和所述伪漏磁
信号垂直分量进行伪三维漏磁信号合成操作,得到合成漏磁信号;选取预设阈值,以对所述
合成漏磁信号进行二值化处理,并对二值化处理后得到的二值图像进行缺陷边缘连续性识
别操作,得到缺陷识别轮廓。
维漏磁信号实现缺陷轮廓识别,相较于传统的一维漏磁信号缺陷轮廓识别,具有更高的求
解精度和更好的识别效果。
所述待测试件进行饱和磁化处理。
在所述扫描平面上垂直于所述待测试件的磁化方向,所述漏磁信号法向分量对应的法线方
向垂直于所述扫描平面,且所述水平方向、所述垂直方向和所述法线方向满足三维笛卡尔
坐标系的右手定则。
述水平差分信号满足以下公式,所述公式为:
直差分信号满足以下公式,所述公式为:
操作。
述合成漏磁信号的信号值小于所述预设阈值时,所述信号值所对应的区域为“0”区域,并在
所述二值图像中显示为黑色;若所述合成漏磁信号的信号值大于或等于所述预设阈值时,
所述信号值所对应的区域为“1”区域,并在所述二值图像中显示为白色。
左边界和右边界,并将所述左边界与所述右边界水平连接后得到的连续区域作为最终识别
的缺陷区域,其中,所述左边界和所述右边界分别是所述二值图像中“1”区域的水平方向上
最左边的“1”像素点连接成的边界和最右边的“1”像素点连接成的边界。
附图说明
具体实施方式
图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。
滤处理,得到最终的漏磁信号法向分量Bz(x,y)。
行饱和磁化处理。
分量。
到伪漏磁信号水平分量Bx′(x,y)。需要说明的是,第一预设倍数可以为系数kx,其中,系数kx
的取值范围可以为[0.1,0.9]。
0.25,得到伪漏磁信号水平分量Bx′(x,y)。
号满足以下公式,公式为:
号矩阵进行卷积运算,其中,算子模板可以选择Prewitt算子或Sobel算子的模板。法向分量
的水平差分信号满足下述公式:
分量。
得到伪漏磁信号垂直分量By′(x,y)。需要说明的是,第二预设倍数可以为系数ky,其中,系
数ky的取值范围可以为[0.1,0.9]。
得到伪漏磁信号垂直分量By′(x,y)。
阵进行卷积运算,其中,算子模板可以选择Prewitt算子或Sobel算子的模板。法向分量的垂
直差分信号满足下述公式:
测试件的磁化方向,漏磁信号法向分量对应的法线方向垂直于扫描平面,且水平方向、垂直
方向和法线方向满足三维笛卡尔坐标系的右手定则。
值小于预设阈值时,信号值所对应的区域为“0”区域,并在二值图像中显示为黑色;若合成
漏磁信号的信号值大于或等于预设阈值时,信号值所对应的区域为“1”区域,并在二值图像
中显示为白色。
要说明的是,信号值所对应的区域为“0”区域时,在二值图像中显示为黑色;若合成漏磁信
号值大于或等于阈值δ时,该信号值所对应的区域为“1”区域,需要说明的是,信号值所对应
的区域为“1”区域时,在二值图像中显示为白色。
边界,并将左边界与右边界水平连接后得到的连续区域作为最终识别的缺陷区域,其中,左
边界和右边界分别是二值图像中“1”区域的水平方向上最左边的“1”像素点连接成的边界
和最右边的“1”像素点连接成的边界。
最终识别的缺陷区域。其中,白色区域左边界和右边界分别是二值图像中“1”区域的水平方
向上最左边的“1”像素点连接成的边界和最右边的“1”像素点连接成的边界。
的矩形缺陷和24mm×12mm的矩形缺陷上下拼接而成,深度均为2.4mm。
得到最终的漏磁信号法向分量Bz(x,y)如图2所示。在此步骤之前,先利用直流磁化场对待
测试件进行饱和磁化处理,然后以2m/s的运行速度等间距扫描采样,采用间距为1mm,磁传
感器提离值为2mm。
磁信号法向分量对应的法线方向 垂直于扫描平面xOy,且水平方向 垂直方向 和法线
方向 满足三维笛卡尔坐标系的右手定则。
Gx与漏磁信号法向分量的信号矩阵Bz进行卷积运算,其中,算子模板选择Sobel算子的模
板。法向分量的水平差分信号满足下述公式:
Gy与漏磁信号法向分量的信号矩阵Bz进行卷积运算,其中,算子模板选择Sobel算子的模
板。法向分量的垂直差分信号满足下述公式:
示。
其中,若合成漏磁信号值小于阈值δ时,该信号值所对应的区域为“0”区域,在二值图像中显
示为黑色;若合成漏磁信号值大于或等于阈值δ时,该信号值所对应的区域为“1”区域,在二
值图像中显示为白色。并对处理后的二值图像进行缺陷边缘连续性识别操作,沿水平方向
依次提取的二值图像中“1”区域(即白色区域)的左边界和右边界,并将左边界与右边界水
平连接后得到的连续区域作为最终识别的缺陷区域。其中,白色区域的左边界和右边界分
别是二值图像中“1”区域的水平方向上最左边的“1”像素点连接成的边界和最右边的“1”像
素点连接成的边界,最终得到缺陷识别轮廓。
实际缺陷轮廓较好地吻合。为了与仅采用一维漏磁信号缺陷轮廓识别方法的识别效果进行
比较,图7给出了仅采用漏磁信号法向分量进行缺陷轮廓识别的效果图,对比可见,本发明
实施例的一种基于法向分量的伪三维漏磁信号缺陷轮廓识别方法,可以从漏磁信号的法向
分量中衍生出漏磁信号水平分量和漏磁信号垂直分量的近似值,进而构建伪三维漏磁信号
实现缺陷轮廓识别,相较于传统的一维漏磁信号缺陷轮廓识别,具有更高的求解精度和更
好的识别效果。
12.7mm,宽为25.4mm,深度为2.54mm。
磁信号法向分量Bz(x,y)。在此步骤之前,先利用直流磁化场对待测试件进行饱和磁化处
理。然后以1.5m/s的运行速度等间距扫描采样,采用间距为2.2mm,磁传感器提离值为
2.0mm。
漏磁信号法向分量对应的法线方向 与水平方向 和垂直方向 垂直,即管道径向方向,且
水平方向 垂直方向 和法线方向 满足三维笛卡尔坐标系的右手定则。
Gx与漏磁信号法向分量的信号矩阵Bz进行卷积运算,其中,算子模板选择Prewitt算子的模
板。法向分量的水平差分信号满足下述公式:
Gy与漏磁信号法向分量的信号矩阵Bz进行卷积运算,其中,算子模板选择Prewitt算子的模
板。法向分量的垂直差分信号满足下述公式:
其中,若合成漏磁信号值小于阈值δ时,该信号值所对应的区域为“0”区域,在二值图像中显
示为黑色;若合成漏磁信号值大于或等于阈值δ时,该信号值所对应的区域为“1”区域,在二
值图像中显示为白色。并对处理后的二值图像进行缺陷边缘连续性识别操作,沿水平方向
依次提取的二值图像中“1”区域(即白色区域)的左边界和右边界,并将左边界与右边界水
平连接后得到的连续区域作为最终识别的缺陷区域。其中,白色区域的左边界和右边界分
别是二值图像中“1”区域的水平方向上最左边的“1”像素点连接成的边界和最右边的“1”像
素点连接成的边界,最终得到缺陷识别轮廓。在本发明实施例中,根据本发明实施例的方法
得到的缺陷识别轮廓能够与实际缺陷轮廓较好地吻合。
构建伪三维漏磁信号实现缺陷轮廓识别,相较于传统的一维漏磁信号缺陷轮廓识别,具有
更高的求解精度和更好的识别效果。
隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中,“多个”的含义是至少两个,例如两个,三
个等,除非另有明确具体的限定。
部的连通或两个元件的相互作用关系,除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员
而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示
第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第
一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不
必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任
一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,在不相互矛盾的情况下,本领域的技
术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结
合和组合。
实施例进行变化、修改、替换和变型。