本发明公开了一种合并单元对时测试装置，所述装置包括对时模块、开关量模块、GOOSE收发模块、SV收发模块；对时模块透传转发外部对时源的IRIG‑B对时信号,对外部对时源信号提供监视录波功能,自产IRIG‑B正常及异常信号,用于合并单元及需要对时性能测试的装置的测试；开关量模块用于输出常规开关量,用于辅助合并单元的对时测试；GOOSE收发模块,可以订阅和发布GOOSE信号,对收到的GOOSE报文附上精准时标,对GOOSE变位生成SOE报文,用于辅助合并单元对时测试；SV收发模块,可以给合并单元施加过程层模拟量数据,对收到的收到的SV报文附上精准时标,解析SV报文中的时标同步位，辅助对时测试。
1.合并单元对时测试装置，其特征在于：包括对时模块、开关量模块、GOOSE收发模块和SV收发模块；
所述对时模块采用FPGA芯片，透传转发外部对时源的IRIG-B对时信号给合并单元，对外部对时源信号提供监视录波功能，接收合并单元的秒脉冲信号，用于合并单元的对时和守时功能测试；对时模块自产IRIG-B正常及异常信号,用于合并单元及需要对时性能测试的装置的测试；
所述FPGA芯片解码IRIG-B信号,监视信号的完整性,对IRIG-B编码中的“P”码、“0”码，“1”码提供监视，对于异常编码进行统计，异常情况触发录波，将IRIG-B信号波形录下来，对比验证合并单元的功能，同时也验证对时源信号质量；
所述开关量模块用于输出常规开关量，使合并单元产生GOOSE或者SOE报文，以提取合并单元时标，用于对时判断；
所述GOOSE收发模块订阅和发布GOOSE信号,对收到的GOOSE报文附上精准时标,对GOOSE变位生成SOE报文,用于对时判断；
所述SV收发模块给合并单元施加过程层模拟量数据,对收到的SV报文附上精准时标,解析SV报文中的时标同步位，辅助对时测试。
2.如权利要求1所述的合并单元对时测试装置，其特征在于，所述对时模块产生IRIG-B码的异常编码信号包括:“P”码异常、“1”码异常、“0”码异常、CRC校验异常、IRIG-B秒长异常状况，用于测试异常情况下合并单元的对时性能。
3.如权利要求1所述的合并单元对时测试装置，其特征在于，所述合并单元实现透传转发功能和对时信号异常功能测试时，通过开关量模块或者GOOSE模块同步输出常规开关量或者GOOSE开关量，同时通过GOOSE订阅的方式解析GOOSE报文中的对时信号质量位，通过解析SOE报文时标及SV收发模块解析SV时标同步位的方式用于判断各种情况下合并单元对时的测试结果。
4.如权利要求1所述的合并单元对时测试装置，其特征在于，所述合并单元实现透传转发功能和对时信号异常功能测试时，通过接收合并单元的秒脉冲输出，和本测试装置的秒脉冲自动进行对比，测试出两者之间的差值，用于判断合并单元的对时测试。
一种合并单元对时测试装置
技术领域
[0001] 本发明涉及数字化变电站合并单元装置的测试,具体涉及合并单元对时的测试装置。
背景技术
[0002] 合并单元作为数字化变电站的数据来源,其重要性不言而喻,其对时钟源保持同步的能力即对时和守时的能力,是考核合并单元的一项重要指标,如何进行测试,各个厂家都进行了详细的研究,也给出了不少的方法,在此不一一列举。
[0003] 但是各家的测试方案中，都没有涉及到合并单元对于对时源异常情况的测试，无法检验合并单元对于对时源误码的防误能力，因此无法完整测试合并单元的对时性能；另外市面上也没有见过能产生IRIG-B信号异常情况的对时源，用于合并单元的测试。
发明内容
[0004] 本发明的目的是：针对合并单元对时测试方法的欠缺，提供一种方便应用于合并单元对时测试的装置，通过两种方式测试合并单元的对时、守时性能，一种是转发外部对时源信号给合并单元，提供对对时源信号的监视，出现异常情况时用于分析合并单元的对时性能；另一种是直接产生IRIG-B码的异常情况，用于测试合并单元的异常情况下的对时性能，检验合并单元对时的防误能力。
[0005] 为了达成上述目的，本发明的技术方案为：合并单元对时测试装置，包括对时模块、开关量模块、GOOSE收发模块，SV收发模块；
[0006] 所述对时模块透传转发外部对时源的IRIG-B对时信号给合并单元,并对外部对时源信号提供监视录波功能，同时接收合并单元的秒脉冲信号，用于合并单元的对时和守时功能测试；自产IRIG-B正常及异常信号,用于合并单元及需要对时测试的装置的测试；
[0007] 开关量模块，用于输出常规开关量，使合并单元产生GOOSE或者SOE报文，以提取合并单元时标，用于对时判断；
[0008] GOOSE收发模块,可以订阅和发布GOOSE信号,对收到的GOOSE报文附上精准时标,对GOOSE变位生成SOE报文,用于对时判断；
[0009] SV收发模块,可以给合并单元施加过程层模拟量数据,对收到的SV报文附上精准时标,解析SV报文中的时标同步位，辅助对时测试。
[0010] 进一步的，所述对时模块采用FPGA技术,直接透传转发IRIG-B对时信号给合并单元,用于对时测试，同时FPGA解码IRIG-B信号,监视信号的完整性,对IRIG-B编码中的“P”码、“0”码，“1”码提供监视，对于异常编码进行统计，提供录波功能，异常情况触发录波，将IRIG-B信号波形录下来，验证合并单元的功能，同时也具有验证对时源信号质量的能力。
[0011] 进一步的，所述对时模块自身产生IRIG-B码的异常编码信号:“P”码异常、“1”码异常、“0”码异常、CRC校验异常、IRIG-B秒长异常状况，用于测试异常情况下合并单元的对时性能。
[0012] 进一步的，透传转发功能和自产对时信号异常功能测试合并单元时，通过开关量模块或者GOOSE模块同步输出常规开关量或者GOOSE开关量，同时通过GOOSE订阅的方式解析GOOSE报文中的对时信号质量位，通过GOOSE精准时标和SOE报文时标的方式用于判断各种情况下，合并单元对时的测试结果，检验合并单元的测试性能。
[0013] 进一步的，透传转发功能和自产对时信号异常功能测试合并单元时，通过SV收发模块解析收到的SV报文中的时标同步位,用于判断各种情况下，合并单元对时的测试结果，检验合并单元的测试性能。
[0014] 进一步的，透传转发功能和对时信号异常功能测试合并单元时，通过接收合并单元的秒脉冲输出，和本测试装置的秒脉冲自动进行对比，测试出两者之间的差值，用于判断合并单元的对时测试。
[0015] 进一步的，透传转发功能测试时对时模块的FPGA可以控制透传转发的启动和停止，用于测试合并单元的对时测试中的守时功能。
[0016] 进一步的，自产异常测试时对时模块的FPGA，可以控制IRIG-B码的输出，用于测试合并单元的对时测试中的守时功能。
附图说明
[0017] 图1为本发明的测试系统框图。
具体实施方式
[0018] 以下结合附图详细说明具体实施方式。
[0019] 参见图1，合并单元对时测试装置，包括对时模块、开关量模块、GOOSE收发模块，SV收发模块；
[0020] 对时模块采用FPGA技术,提供两种方式用于合并单元对时性能的检测，一种是直接透传转发IRIG-B对时信号给合并单元,用于对时测试，同时FPGA解码IRIG-B信号,监视信号的完整性,对IRIG-B编码中的“P”码、“0”码，“1”码提供监视，对于异常编码进行统计，提供录波功能，异常情况触发录波，将IRIG-B信号波形录下来，验证合并单元的功能，同时也具有验证对时源信号质量的能力；另一种是自身产生IRIG-B码用于合并单元对时性能的检测，输出正常编码，同时也可叠加异常编码，异常编码信号包括:“P”码异常、“1”码异常、“0”码异常、CRC校验异常、IRIG-B秒长异常状况。
[0021] 开关量模块，用于输出常规开关量，使合并单元产生GOOSE或者SOE报文，以提取合并单元时标；
[0022] GOOSE收发模块,可以订阅和发布GOOSE信号,对收到的GOOSE报文附上精准时标,对GOOSE变位生成SOE报文,用于对时判断；
[0023] SV收发模块,可以给合并单元施加过程层模拟量数据,对收到的SV报文附上精准时标,解析SV报文中的时标同步位，辅助对时测试。
[0024] 透传转发功能和自产对时信号异常功能测试合并单元时，通过开关量模块或者GOOSE模块同步输出常规开关量或者GOOSE开关量，同时通过GOOSE订阅的方式解析GOOSE报文中的对时信号质量位，通过GOOSE精准时标和SOE报文时标的方式用于判断各种情况下，合并单元对时的测试结果，检验合并单元的测试性能。
[0025] 透传转发功能和自产对时信号异常功能测试合并单元时，通过SV收发模块解析收到的SV报文中的时标同步位,用于判断各种情况下，合并单元对时的测试结果，检验合并单元的测试性能。
[0026] 采用透传转发功能和对时信号异常功能测试合并单元时，如果合并单元有秒脉冲输出接口，通过接收合并单元的秒脉冲输出，和本测试装置的秒脉冲自动进行对比，测试出两者之间的差值，用于判断合并单元的对时测试。
[0027] 采用透传转发功能测试时对时模块的FPGA可以控制透传转发的启动和停止，用于测试合并单元的对时测试中的守时功能。
[0028] 采用自产异常测试时对时模块的FPGA，可以控制IRIG-B码的输出，用于测试合并单元的对时测试中的守时功能。
