一种像素电路的驱动方法、驱动装置及显示装置

摘要

本发明公开了一种像素电路的驱动方法、驱动装置及显示装置，现有技术中在进行显示时，由于检测晶体管和驱动晶体管自身存在跨压，驱动晶体管的源极电压会被抬高，导致驱动发光二极管发光的电流不是理论值，即发生偏移，本发明通过根据预先获得的各灰阶数据对应的驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系，将确定的电压补偿值对待显示灰阶数据对应的驱动电压进行补偿，将补偿后的灰阶数据对应的驱动电压作为新的灰阶数据对应的驱动电压驱动发光二极管发光，消除了检测晶体管和驱动晶体管所引起的压降的影响，故本发明解决了由于检测晶体管和驱动晶体管所引起的压降而导致驱动发光二极管发光的电流不是理论值而导致发光二极管发光的亮度不真实的问题。

权利要求

1.一种像素电路的驱动方法，其特征在于，包括：

接收待显示的灰阶数据；

根据预先获得的各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系，确定当前所述待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压对应的电压补偿值；其中，所述电压补偿值为所述像素电路中检测晶体管和驱动晶体管所引起的压降；

采用确定出的所述电压补偿值对所述待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压进行补偿后，驱动所述像素电路中的发光二极管发光；

采用如下方式确定各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系：向所述驱动晶体管的栅极写入各待显示灰阶数据对应的理论驱动电压，向所述检测晶体管的栅极写入第一预设电压，向所述检测晶体管的漏极写入第二预设电压，向所述驱动晶体管的漏极写入电源电压，根据流经所述驱动晶体管的驱动电流和流经所述检测晶体管的检测电流相等确定各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系，具体为通过如下公式确定：其中，I1为流经所述驱动晶体管的驱动电流，I2为流经所述检测晶体管的检测电流，k1为所述驱动晶体管的结构参数，k2为所述检测晶体管的结构参数，Vdata为各所述待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压，Vg’为第一预设电压，Vd为第二预设电压，Vs为电压补偿值，Vth为所述驱动晶体管的阈值电压，V′th为所述检测晶体管的阈值电压。

2.如权利要求1所述的驱动方法，其特征在于，采用如下公式确定各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系：

3.如权利要求1所述的驱动方法，其特征在于，所述第二预设电压与所述驱动晶体管的源极电压差小于所述发光二极管的开启电压。

4.如权利要求3所述的驱动方法，其特征在于，所述第二预设电压的值为0V。

5.一种驱动装置，其特征在于，包括：

接收单元，用于接收待显示的灰阶数据；

确定单元，用于根据预先获得的各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系，确定当前所述待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压对应的电压补偿值；其中，所述电压补偿值为像素电路中检测晶体管和驱动晶体管所引起的压降；

处理单元，用于采用确定出的所述电压补偿值对所述待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压进行补偿后，驱动像素电路中的发光二极管发光；

获取单元，用于预先获得所述各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系；

所述确定单元采用如下方式确定各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系：向所述驱动晶体管的栅极写入各待显示灰阶数据对应的理论驱动电压，向所述检测晶体管的栅极写入第一预设电压，向所述检测晶体管的漏极写入第二预设电压，向所述驱动晶体管的漏极写入电源电压，根据流经所述驱动晶体管的驱动电流和流经所述检测晶体管的检测电流相等确定各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系，具体为通过如下公式确定：其中，I1为流经所述驱动晶体管的驱动电流，I2为流经所述检测晶体管的检测电流，k1为所述驱动晶体管的结构参数，k2为所述检测晶体管的结构参数，Vdata为各所述待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压，Vg’为第一预设电压，Vd为第二预设电压，Vs为电压补偿值，Vth为所述驱动晶体管的阈值电压，V’th为所述检测晶体管的阈值电压。

6.如权利要求5所述的驱动装置，其特征在于，采用如下公式确定各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系：

7.如权利要求5所述的驱动装置，其特征在于，所述第二预设电压与所述驱动晶体管的源极电压差小于所述发光二极管的开启电压。

8.如权利要求7所述的驱动装置，其特征在于，所述第二预设电压的值为0V。

9.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求5-8任一项所述的驱动装置。

10.一种像素电路的驱动装置，其特征在于，包括处理器，所述处理器被配置为权利要求1所述的驱动方法。

11.如权利要求10所述的驱动装置，其特征在于，还包括存储器，所述存储器与所述处理器通讯连接，所述存储器存储有计算指令，所述处理器读取所述计算指令以执行权利要求1所述的驱动方法。

12.如权利要求11所述的驱动装置，其特征在于，所述存储器被配置为存储的对应关系；其中，k1为所述驱动晶体管的结构参数，k2为所述检测晶体管的结构参数，Vdata为各所述待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压，Vg’为第一预设电压，Vs为电压补偿值。

13.如权利要求12所述的驱动装置，其特征在于，所述存储器被配置为存储所述驱动电压与所述电压补偿值的对应表；所述存储器被配置为存储的函数。

说明书

一种像素电路的驱动方法、驱动装置及显示装置

技术领域

[0001] 本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种像素电路的驱动方法、驱动装置及显示装置。

背景技术

[0002] 有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)、量子点发光二极管(Quantum Dot Light Emitting Diodes，QLED)等电致发光二极管具有自发光、低能耗等优点，是当今电致发光显示面板应用研究领域的热点之一。目前，电致发光二极管一般属于电流驱动型，需要稳定的电流来驱动其发光。并且电致发光显示面板中采用像素电路来驱动电致发光二极管发光。现有的像素电路如图1所示，一般包括：驱动晶体管T1、开关晶体管T2以及存储电容Cst。该像素电路通过控制开关晶体管T2打开以将数据信号端Data的数据电压写入驱动晶体管T1的栅极，控制驱动晶体管T1产生工作电流以驱动电致发光二极管L发光。然而随着使用时间的增加，驱动晶体管T1会出现老化等情况，导致驱动晶体管T1的阈值电压与迁移率发生漂移，从而会造成显示亮度差异。

[0003] 为了保证显示质量，可以通过外部补偿的方式对驱动晶体管的阈值电压和迁移率进行补偿。如图1所示，还需要在电致发光显示面板中设置检测线SL以及在像素电路中设置连接于驱动晶体管T1的源极的检测晶体管T3。其中，在对电致发光显示面板中的一行像素进行补偿时，控制该行中每个子像素中的像素电路对检测线SL充电，再通过检测每个检测线SL上的电压，并根据检测到的电压进行补偿计算，以得到该行各子像素对应的用于显示的数据电压。然而，对检测线SL进行充电时，由于检测晶体管T3本身存在跨压，检测到的驱动晶体管T1的源极的电压并非是理论的电压，这就导致驱动发光二极管发光的电流并不是理论的电流，进而导致发光二极管的发光亮度不真实，影响画面显示效果的问题。

发明内容

[0004] 本发明实施例提供一种像素电路的驱动方法、驱动装置及显示装置，用以解决现有技术中由于检测晶体管和驱动晶体管所引起的压降的影响导致驱动发光二极管发光的电流并不是理论的电流，进而导致发光二极管发光的亮度不真实，影响画面显示效果的问题。

[0005] 因此，本发明实施例提供了一种像素电路的驱动方法，包括：

[0006] 接收待显示的灰阶数据；

[0007] 根据预先获得的各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系，确定当前所述待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压对应的电压补偿值；其中，所述电压补偿值为所述像素电路中检测晶体管和驱动晶体管所引起的压降；

[0008] 采用确定出的所述电压补偿值对所述待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压进行补偿后，驱动所述像素电路中的发光二极管发光。

[0009] 较佳地，具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动方法中，采用如下方式确定各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系：

[0010] 向所述驱动晶体管的栅极写入各待显示灰阶数据对应的理论驱动电压，向所述检测晶体管的栅极写入第一预设电压，向所述检测晶体管的漏极写入第二预设电压，向所述驱动晶体管的漏极写入电源电压，根据流经所述驱动晶体管的驱动电流和流经所述检测晶体管的检测电流相等确定各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系，具体为通过如下公式确定：

[0011]

[0012] 其中，I1为流经所述驱动晶体管的驱动电流，I2为流经所述检测晶体管的检测电流，k1为所述驱动晶体管的结构参数，k2为所述检测晶体管的结构参数，Vdata为各所述待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压，Vg’为第一预设电压，Vd为第二预设电压，Vs为电压补偿值，Vth为所述驱动晶体管的阈值电压，V’th为所述检测晶体管的阈值电压。

[0013] 较佳地，具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动方法中，采用如下公式确定各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系：

[0014]

[0015] 较佳地，具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动方法中，所述第二预设电压与所述驱动晶体管的源极电压差小于所述发光二极管的开启电压。

[0016] 较佳地，具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动方法中，所述第二预设电压的值为0V。

[0017] 相应地，本发明实施例还提供了一种驱动装置，包括：

[0018] 接收单元，用于接收待显示的灰阶数据；

[0019] 确定单元，用于根据预先获得的各灰阶数据对应的驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系，确定当前所述待显示的灰阶数据对应的驱动电压对应的电压补偿值；其中，所述电压补偿值为所述像素电路中检测晶体管和驱动晶体管所引起的压降；

[0020] 处理单元，用于采用确定出的所述电压补偿值对所述待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压进行补偿后，驱动所述像素电路中的发光二极管发光；

[0021] 获取单元，用于预先获得所述各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系。

[0022] 较佳地，具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动装置中，采用如下方式确定各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系：

[0023] 向所述驱动晶体管的栅极写入各待显示灰阶数据对应的理论驱动电压，向所述检测晶体管的栅极写入第一预设电压，向所述检测晶体管的漏极写入第二预设电压，向所述驱动晶体管的漏极写入电源电压，根据流经所述驱动晶体管的驱动电流和流经所述检测晶体管的检测电流相等确定各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系，具体为通过如下公式确定：

[0024]

[0025] 其中，I1为流经所述驱动晶体管的驱动电流，I2为流经所述检测晶体管的检测电流，k1为所述驱动晶体管的结构参数，k2为所述检测晶体管的结构参数，Vdata为各所述待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压，Vg’为第一预设电压，Vd为第二预设电压，Vs为电压补偿值，Vth为所述驱动晶体管的阈值电压，V’th为所述检测晶体管的阈值电压。

[0026] 较佳地，具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动装置中，采用如下公式确定各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系：

[0027]

[0028] 较佳地，具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动装置中，所述第二预设电压与所述驱动晶体管的源极电压差小于所述发光二极管的开启电压。

[0029] 较佳地，具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动装置中，所述第二预设电压的值为0V。

[0030] 相应地，本发明实施例还提供了一种像素电路的驱动装置，包括处理器，所述处理器被配置为权利要求1所述的驱动方法。

[0031] 较佳地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动装置中，还包括存储器，所述存储器与所述处理器通讯连接，所述存储器存储有计算指令，所述处理器读取所述计算指令以执行权利要求1所述的驱动方法。

[0032] 较佳地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动装置中，所述存储器被配置为存储 的对应关系；其中，k1为所述驱动晶体管的结构参数，k2为所述检测晶体管的结构参数，Vdata为各所述待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压，Vg’为第一预设电压，Vs为电压补偿值。

[0033] 较佳地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动装置中，所述存储器被配置为存储所述驱动电压与所述电压补偿值的对应表；所述存储器被配置为存储的函数。

[0034] 相应地，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括本发明实施例提供的上述任一项所述的驱动装置。

[0035] 本发明有益效果如下：

[0036] 本发明实施例提供的像素电路的驱动方法、驱动装置及显示装置，现有技术中在进行灰阶显示时，由于检测晶体管和驱动晶体管本身存在跨压，像素电路中的驱动晶体管的源极的电压会被抬高，从而驱动发光二极管发光的电流不是理论值而导致发光二极管发光的亮度不真实，本发明通过采用上述驱动方法，可以根据预先存储的各灰阶数据对应的驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系，即每一待显示灰阶数据对应的驱动电压均对应一由驱动晶体管和检测晶体管所引起的压降相对应的电压补偿值，将确定的电压补偿值对待显示灰阶数据对应的驱动电压进行补偿，将补偿后的灰阶数据对应的驱动电压作为新的灰阶数据对应的驱动电压驱动发光二极管发光，消除了驱动晶体管和检测晶体管所引起的压降的影响，因此本发明实施例提供的像素电路的驱动方法解决了由于现有技术中驱动晶体管和检测晶体管所引起的压降而导致驱动发光二极管发光的电流不是理论值而导致发光二极管的发光亮度不真实的问题，从而提高显示效果。

附图说明

[0037] 图1为现有技术中像素电路的结构示意图；

[0038] 图2为本发明实施例提供的像素电路的驱动方法流程图；

[0039] 图3为本发明实施例提供的像素电路的结构示意图；

[0040] 图4为本发明实施例提供的驱动装置的结构示意图。

具体实施方式

[0041] 为了使本发明的目的，技术方案和优点更加清楚，下面结合附图，对本发明实施例提供的像素电路的驱动方法、像素补偿装置及显示装置的具体实施方式进行详细地说明。应当理解，下面所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。并且在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

[0042] 本发明实施例提供了一种像素电路的驱动方法，如图2所示，包括：

[0043] S201、接收待显示的灰阶数据；

[0044] S202、根据预先获得的各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系，确定当前待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压对应的电压补偿值；其中，电压补偿值为像素电路中检测晶体管和驱动晶体管所引起的压降；

[0045] S203、采用确定出的电压补偿值对待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压进行补偿后，驱动像素电路中的发光二极管发光。

[0046] 本发明实施例提供的像素电路的驱动方法，现有技术中在进行灰阶显示时，由于检测晶体管本身存在跨压，像素电路中的驱动晶体管的源极的电压会被抬高，从而驱动发光二极管发光的电流不是理论值而导致发光二极管发光的亮度不真实，本发明通过采用上述驱动方法，可以根据预先存储的各灰阶数据对应的驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系，即每一待显示灰阶数据对应的驱动电压均对应一由驱动晶体管和检测晶体管所引起的压降相对应的电压补偿值，将确定的电压补偿值对待显示灰阶数据对应的驱动电压进行补偿，将补偿后的灰阶数据对应的驱动电压作为新的灰阶数据对应的驱动电压驱动发光二极管发光，消除了驱动晶体管和检测晶体管所引起的压降的影响，因此本发明实施例提供的像素电路的驱动方法解决了由于现有技术中驱动晶体管和检测晶体管所引起的压降而导致驱动发光二极管发光的电流不是理论值而导致发光二极管的发光亮度不真实的问题，从而提高显示效果。

[0047] 具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动方法中，采用如下方式确定各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系：

[0048] 向所述驱动晶体管的栅极写入各待显示灰阶数据对应的理论驱动电压，向所述检测晶体管的栅极写入第一预设电压，向所述检测晶体管的漏极写入第二预设电压，向所述驱动晶体管的漏极写入电源电压，根据流经所述驱动晶体管的驱动电流和流经所述检测晶体管的检测电流相等确定各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系，具体为通过如下公式确定：

[0049]

[0050] 其中，I1为流经所述驱动晶体管的驱动电流，I2为流经所述检测晶体管的检测电流，k1为所述驱动晶体管的结构参数，k2为所述检测晶体管的结构参数，Vdata为各所述待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压，Vg’为第一预设电压，Vd为第二预设电压，Vs为电压补偿值，Vth为所述驱动晶体管的阈值电压，V’th为所述检测晶体管的阈值电压。

[0051] 需要说明的是，由于像素电路在工作过程中，驱动晶体管是工作在饱和区，开关晶体管是工作在线性区，因此流经驱动晶体管的电流公式为 流经检测晶体管的电流公式为

[0052] 进一步地，具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动方法中，采用如下公式确定各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系：

[0053] 该公式由I1＝I2，即推导得到。

[0054] 进一步地，具体实施时，在检测阶段，为了防止发光二极管发光，第二预设电压与驱动晶体管的源极电压差小于发光二极管的开启电压。

[0055] 在具体实施时，为了保证驱动晶体管能够开启，在本发明实施例提供的上述驱动方法中，第二预设电压的值为0V。由于检测晶体管和驱动晶体管的分压作用，导致驱动晶体管的源极的电压VS的电压被抬高，使得驱动晶体管的栅源电压Vgs＝Vdata-Vs的值降低，驱动电流偏离，由于将第二预设电压设置为0，驱动晶体管的源极的电压VS在理论状态下为0，故计算所得VS就是电压补偿值。并且由于在检测阶段，为了防止发光二极管发光，给驱动晶体管的栅极输入的第一预设电压较小，而为了保证驱动晶体管能够开启，一般通过检测晶体管向驱动晶体管的源极写入的第二预设电压一般为0V。

[0056] 具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动方法中，采用确定出的电压补偿值对待显示的灰阶数据对应的驱动电压进行补偿后，驱动像素电路中的发光二极管发光，具体为：

[0057] 采用确定出的电压补偿值与待显示的灰阶数据对应的驱动电压之和作为新的待显示的灰阶数据对应的驱动电压驱动像素电路中的发光二极管发光。这样可以消除检测晶体管和驱动晶体管所引起的压降的影响，因此解决了由于现有技术中检测晶体管和驱动晶体管所引起的压降的存在导致驱动发光二极管发光的电流不是理论值而导致发光二极管的发光亮度不真实的问题，从而提高显示效果。

[0058] 具体实施时，如图3所示，第二开关晶体管T2的尺寸一般设计的比较小，因此第二开关晶体管T2的跨压忽略不计，通过第二开关晶体管T2写入的电压Vdata近似等于驱动晶体管的栅极电压Vg。

[0059] 下面结合附图3对本发明实施例提供的上述驱动方法的补偿原理进行详细说明：

[0060] 具体实施时，如图3所示，右边虚线圆圈里的图为左边虚线圆圈里的图的部分等效电路图，检测晶体管T3等效为一电阻R，即检测晶体管T3存在跨压，在检测阶段，给检测晶体管T3的栅极输入第一预设电压Vg’，打开检测晶体管T3，并通过检测线SL向检测晶体管T3的漏极输入0V的第二预设电压Vd以保证驱动晶体管T1能够打开，向驱动晶体管T1的栅极写入待显示的灰阶数据对应的驱动电压，向驱动晶体管T1的漏极输入电源电压VDD，由于此阶段向驱动晶体管T1的栅极写入的电压小于发光二极管的启亮电压，因此发光二极管不发光，像素电路中的电流从驱动晶体管T1的漏极流向检测晶体管T3，由于驱动晶体管T1工作在饱和区，所以在该阶段流经驱动晶体管T1的电流为 检测晶体管T3工作在线性区，流经检测晶体管T3的电流为 根据I1＝
I2，即 本申请中假设Vth＝0，V’th＝0，
当然 Vt h和 V’th也 可以 不为 0 ，当V th ＝0 ，V’th ＝0 时 ，可以 推导 出其中，Vg’为向像素电路中的检测晶体管T3的栅极写入的
电压，为已知量，因此从上述公式可以得到各待显示的灰阶数据对应的驱动电压Vdata与电压补偿值Vs之间的关系式，从而可以根据该关系式得到各待显示的灰阶数据对应的驱动电压Vdata对应的电压补偿值Vs，即每一待显示的灰阶数据均对应的一电压补偿值Vs，灰阶数据有0-255级灰阶，即256个灰阶对应256个电压补偿值，将该电压补偿值补偿到待显示的灰阶数据对应的驱动电压Vdata中，将补偿后的灰阶数据对应的驱动电压Vdata作为新的灰阶数据驱动发光二极管L发光。例如，原待显示的灰阶数据对应的驱动电压为5V，假设通过上述关系式可以知道其对应的电压补偿值为0.5V，则将该0.5V的电压补偿值补偿到原待显示灰阶数据对应的驱动电压5V中，即为5+0.5＝5.5V，因此将5.5V作为新的灰阶数据对应的驱动电压驱动发光二极管L发光，从而消除了检测晶体管T3的跨压的影响，因此本发明实施例提供的像素电路的驱动方法解决了由于现有技术中检测晶体管T3的跨压的存在导致驱动发光二极管L发光的电流不是理论值而导致发光二极管L的发光亮度不真实的问题，从而提高显示效果。

[0061] 基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种驱动装置，如图4所示，该驱动装置包括：

[0062] 接收单元401，用于接收待显示的灰阶数据；

[0063] 确定单元402，用于根据预先获得的各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系，确定当前待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压对应的电压补偿值；其中，电压补偿值为像素电路中检测晶体管和驱动晶体管所引起的压降；

[0064] 处理单元403，用于采用确定出的电压补偿值对待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压进行补偿后，驱动像素电路中的发光二极管发光；

[0065] 获取单元404，用于预先获得各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系。

[0066] 进一步地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动装置中，采用如下方式确定各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系：

[0067] 向驱动晶体管的栅极写入各待显示灰阶数据对应的理论驱动电压，向检测晶体管的栅极写入第一预设电压，向检测晶体管的漏极写入第二预设电压，向驱动晶体管的漏极写入电源电压，根据流经驱动晶体管的驱动电流和流经检测晶体管的检测电流相等确定各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系，具体为通过如下公式确定：

[0068]

[0069] 其中，I1为流经驱动晶体管的驱动电流，I2为流经检测晶体管的检测电流，k1为驱动晶体管的结构参数，k2为检测晶体管的结构参数，Vdata为各待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压，Vg’为第一预设电压，Vd为第二预设电压，Vs为电压补偿值，Vth为驱动晶体管的阈值电压，V’th为检测晶体管的阈值电压。

[0070] 进一步地，在具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动装置中，采用如下公式确定各灰阶数据对应的理论驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系：

[0071] 该公式由I1＝I2，即推导得到。

[0072] 进一步地，在具体实施时，为了防止发光二极管发光，在本发明实施例提供的上述驱动装置中，第二预设电压与驱动晶体管的源极电压差小于发光二极管的开启电压。

[0073] 进一步地，在具体实施时，为了保证驱动晶体管能够开启，在本发明实施例提供的上述驱动装置中，第二预设电压的值为0V。由于检测晶体管和驱动晶体管的分压作用，导致驱动晶体管的源极的电压VS被抬高，使得驱动晶体管的栅源电压Vgs＝Vdata-VS的值降低，驱动电流偏离，由于将第二预设电压设置为0，驱动晶体管的源极的电压VS在理论状态下为0，故计算所得VS就是电压补偿值。并且由于在检测阶段，为了防止发光二极管发光，给驱动晶体管的栅极输入的第一预设电压较小，而为了保证驱动晶体管能够开启，一般通过检测晶体管向驱动晶体管的源极写入的第二预设电压一般为0V。

[0074] 基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种像素电路的驱动装置，包括处理器，处理器被配置为发明实施例提供的上述像素电路的驱动方法。

[0075] 具体实施时，发明实施例提供的上述驱动装置中的处理器包括接收单元、确定单元、处理单元和获取单元。

[0076] 具体实施时，处理器中的接收单元接收待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压，确定单元根据存储器中存储的理论驱动电压与电压补偿值的对应表确定电压补偿值，处理单元将电压补偿值补偿到理论驱动电压中后，驱动像素电路中的发光二极管发光。

[0077] 在具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动装置中，处理器可以是中央处理单元(CPU)或图形处理器(GPU)或现场可编程逻辑阵列(FPGA)或数字信号处理器(DSP)或单片机(MCU)等具有数据处理能力和/或程序执行能力的器件，在此不做限定。

[0078] 在具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动装置中，还包括存储器，存储器与处理器通讯连接，存储器存储有计算指令，处理器读取该计算指令以执行发明实施例提供的上述像素电路的驱动方法。

[0079] 在具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动装置中，存储器被配置为存储的对应关系；其中，k1为驱动晶体管的结构参数，k2为检测晶体管的结构参数，Vdata为各待显示的灰阶数据对应的理论驱动电压，Vg’为第一预设电压，Vs为电压补偿值。

[0080] 在具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动装置中，存储器被配置为存储驱动电压与电压补偿值的对应表；存储器被配置为存储 的函数。

[0081] 在具体实施时，在本发明实施例提供的上述驱动装置中，存储器可以包括一个或多个易失性存储器和/或非易失性存储器。易失性存储器例如可以包括随机存取存储器(RAM)和/或高速缓冲存储器(cache)等。非易失性存储器例如可以包括只读存储器(ROM)、硬盘、可擦除可编程只读存储器(EPROM)、USB存储器、Flash闪存等。存储器上可以存储一个或多个运算指令、一个或多个应用程序或各种数据，例如应用程序、运算指令所使用和/或产生的各种数据等。其中，存储器可以单独设置，也可以复用处理器中的寄存器、缓存等，还可以复用显示面板驱动电路中的寄存器，在此不做限定。

[0082] 基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括本发明实施例提供的上述驱动装置。由于该显示装置解决问题的原理与前述一种驱动装置相似，因此该显示装置的实施可以参见前述驱动装置的实施，重复之处不再赘述。

[0083] 在具体实施时，本发明实施例提供的上述显示装置可以为大尺寸电视等任何具有显示功能的大尺寸显示设备中。对于该显示装置的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。

[0084] 上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

[0085] 本发明实施例提供的像素电路的驱动方法、驱动装置及显示装置，现有技术中在进行灰阶显示时，由于检测晶体管本身存在跨压，像素电路中的驱动晶体管的源极的电压会被抬高，从而驱动发光二极管发光的电流不是理论值而导致发光二极管发光的亮度不真实，本发明通过采用上述驱动方法，可以根据预先存储的各灰阶数据对应的驱动电压与对应的电压补偿值之间的关系，即每一待显示灰阶数据对应的驱动电压均对应一由驱动晶体管和检测晶体管所引起的压降相对应的电压补偿值，将确定的电压补偿值对待显示灰阶数据对应的驱动电压进行补偿，将补偿后的灰阶数据对应的驱动电压作为新的灰阶数据对应的驱动电压驱动发光二极管发光，消除了驱动晶体管和检测晶体管所引起的压降的影响，因此本发明实施例提供的像素电路的驱动方法解决了由于现有技术中驱动晶体管和检测晶体管所引起的压降而导致驱动发光二极管发光的电流不是理论值而导致发光二极管的发光亮度不真实的问题，从而提高显示效果。

[0086] 显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。