路径长度校准系统和方法转让专利
申请号 : CN201680049253.5
文献号 : CN108139315B
文献日 : 2021-03-05
发明人 : D·W·阿什米德 , J·V·霍华德 , K·K·金 , A·M·布拉施
申请人 : 热电科学仪器有限公司
摘要 :
一种设备(50)包含耦合到i)摆臂(54)和ii)具有第一光纤(18a)的光源的第一基座表面(13)。所述设备进一步包含磁体(1)、底板(52)、耦合到所述底板的机械止动器(53)以及第二基座表面(15),所述第二基座表面以机械方式耦合到所述底板且被配置成接收液体样本,所述第二基座表面耦合到具有第二光纤(18b)的光谱仪,所述两个表面之间的距离限定用于光学样本分析的光程长度。所述设备进一步包含:磁通量传感器(10),例如霍尔传感器,所述磁通量传感器定位于所述磁体的北磁通量场与南磁通量场之间,使得在所述机械止动器与所述摆臂物理接触时到达所述传感器的磁通量提供所述磁通量传感器的线性输出范围;以及处理器,所述处理器适于使用从所述磁体发射且由所述磁通量传感器检测到的阈值磁通量场来校准最小光程长度的点。