一种直流电子式互感器延时时间测试方法及装置

摘要

本发明提供了一种直流电子式互感器延时时间测试方法及装置，该方法包括：对直流电子式互感器的一次侧施加阶跃信号，从直流电子式互感器的二次侧进行采样得到阶跃标准源信号和阶跃试品信号；对阶跃标准源信号和阶跃试品信号进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线，分别取标准源拟合曲线和试品拟合曲线的90％峰值对应的点作为参考点，得到标准源参考点和试品参考点；对试品参考点的纵坐标进行三次样条插值，得到被试互感器阶跃终止时刻，在阶跃标准源信号中确定与标准源参考点最靠近的采样点，将采样点的横坐标作为标准源阶跃终止时刻；将被试互感器阶跃终止时刻与标准源阶跃终止时刻之差作为直流电子式互感器的延时时间。

权利要求

1.一种直流电子式互感器延时时间测试方法，其特征在于，包括：S1：对直流电子式互感器的一次侧施加阶跃信号，从所述直流电子式互感器的二次侧进行采样得到阶跃标准源信号和阶跃试品信号；

S2：对所述阶跃标准源信号和所述阶跃试品信号进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线，分别取所述标准源拟合曲线和所述试品拟合曲线的90％峰值对应的点作为参考点，得到标准源参考点和试品参考点；

S3：对所述试品参考点的纵坐标进行三次样条插值，得到被试互感器阶跃终止时刻，在所述阶跃标准源信号中确定与所述标准源参考点最靠近的采样点，将所述采样点的横坐标作为标准源阶跃终止时刻；

S4：将所述被试互感器阶跃终止时刻与所述标准源阶跃终止时刻之差作为所述直流电子式互感器的延时时间。

2.根据权利要求1所述的直流电子式互感器延时时间测试方法，其特征在于，所述对所述阶跃标准源信号和所述阶跃试品信号进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线具体为：通过预置第一公式对所述阶跃标准源信号和所述阶跃试品信号的所有采样点的横坐标进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线；

其中，所述预置第一公式为：

式中，f为标准源拟合曲线或试品拟合曲线，xi为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的各个采样点的横坐标，aj为多项式系数，m为多项式阶数。

3.根据权利要求2所述的直流电子式互感器延时时间测试方法，其特征在于，在进行广义多项式曲线拟合时，通过预置第二公式控制所述阶跃标准源信号和所述标准源拟合曲线之间的残差、所述阶跃试品信号和所述试品拟合曲线之间的残差；

其中，所述预置第二公式为：

式中，yi为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的各个采样点的纵坐标，fi为标准源拟合曲线或试品拟合曲线的各个点的纵坐标，N为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的长度，wi为权重。

4.根据权利要求1所述的直流电子式互感器延时时间测试方法，其特征在于，步骤S3具体为：通过预置第三公式组对所述试品参考点的纵坐标进行三次样条插值，得到被试互感器阶跃终止时刻，在所述阶跃标准源信号中确定与所述标准源参考点最靠近的采样点，将所述采样点的横坐标作为标准源阶跃终止时刻；

其中，所述预置第三公式组为：

f(xi)＝yi

g(xi)＝yi＝pi(xi)

g′(xi)＝p′i(xi)＝p′i-1(xi)

g″(xi)＝p″i(xi)＝p″i-1(xi)

y＝Ayi+Byi+1+Cy″i+Dy″i+1

式中， B＝1-A， x为试

品参考点的纵坐标，y为被试互感器阶跃终止时刻。

5.一种直流电子式互感器延时时间测试装置，其特征在于，包括：采样单元，用于对直流电子式互感器的一次侧施加阶跃信号，从所述直流电子式互感器的二次侧进行采样得到阶跃标准源信号和阶跃试品信号；

拟合单元，用于对所述阶跃标准源信号和所述阶跃试品信号进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线，分别取所述标准源拟合曲线和所述试品拟合曲线的90％峰值对应的点作为参考点，得到标准源参考点和试品参考点；

插值单元，用于对所述试品参考点的纵坐标进行三次样条插值，得到被试互感器阶跃终止时刻，在所述阶跃标准源信号中确定与所述标准源参考点最靠近的采样点，将所述采样点的横坐标作为标准源阶跃终止时刻；

求差单元，用于将所述被试互感器阶跃终止时刻与所述标准源阶跃终止时刻之差作为所述直流电子式互感器的延时时间。

6.根据权利要求5所述的直流电子式互感器延时时间测试装置，其特征在于，所述拟合单元包括：拟合子单元，用于对所述阶跃标准源信号和所述阶跃试品信号进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线；

取值子单元，用于分别取所述标准源拟合曲线和所述试品拟合曲线的90％峰值对应的点作为参考点，得到标准源参考点和试品参考点；

所述拟合子单元还用于通过预置第一公式对所述阶跃标准源信号和所述阶跃试品信号的所有采样点的横坐标进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线；

其中，所述预置第一公式为：

式中，f为标准源拟合曲线或试品拟合曲线，xi为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的各个采样点的横坐标，aj为多项式系数，m为多项式阶数。

7.根据权利要求6所述的直流电子式互感器延时时间测试装置，其特征在于，所述拟合单元还包括：计算子单元，用于在进行广义多项式曲线拟合时，通过预置第二公式控制所述阶跃标准源信号和所述标准源拟合曲线之间的残差、所述阶跃试品信号和所述试品拟合曲线之间的残差；

其中，所述预置第二公式为：

式中，yi为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的各个采样点的纵坐标，fi为标准源拟合曲线或试品拟合曲线的各个点的纵坐标，N为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的长度，wi为权重。

8.根据权利要求5所述的直流电子式互感器延时时间测试装置，其特征在于，所述插值单元还用于通过预置第三公式组对所述试品参考点的纵坐标进行三次样条插值，得到被试互感器阶跃终止时刻，在所述阶跃标准源信号中确定与所述标准源参考点最靠近的采样点，将所述采样点的横坐标作为标准源阶跃终止时刻；

其中，所述预置第三公式组为：

f(xi)＝yi

g(xi)＝yi＝pi(xi)

g′(xi)＝p′i(xi)＝p′i-1(xi)

g″(xi)＝p″i(xi)＝p″i-1(xi)

y＝Ayi+Byi+1+Cy″i+Dy″i+1

式中， B＝1-A， x为试品

参考点的纵坐标，y为被试互感器阶跃终止时刻。

说明书

一种直流电子式互感器延时时间测试方法及装置

技术领域

[0001] 本发明涉及直流电子式互感器技术领域，尤其涉及一种直流电子式互感器延时时间测试方法及装置。

背景技术

[0002] 直流电子式互感器是直流输电系统建设和运行的重要一次设备，其一般采用数字化输出为间隔层设备提供电压电流信号，这必然涉及到信号传变的延时时间问题。直流电子式互感器延时是实际一次电气量经直流互感器采集后转换为数字报文输出的时间延迟差，是需要实时处理的控制保护设备极为关心的核心指标之一。直流输电控制保护系统对实时性要求极高，若直流电子式互感器信号传变延时时间过大，将直接导致控制保护系统对一次系统的异常处理变慢。直流电子式互感器的延时时间直接关系到整个系统的反应时间，因此直流电子式互感器的时间特性需要经过严格测试。

[0003] 现有的直流电子式互感器延时测试方法与传统交流电子式互感器稳态延迟测试法类似，采用基于交流工频稳态信号的相位差原理来测量延时。考虑到直流电子式互感器内部包含采集一次直流信号纹波的交流线圈模块，在直流互感器一次侧通入稳态交流信号，通过比较原始交流模拟量信号与经互感器输出的采样数字信号之间的稳态相位差，计算对应的采样延迟时间，用该时间参数间接反映直流互感器的延迟时间特性。

[0004] 然而，由于该方法不能分辨交流信号的周期性变化，无法检测不同周期信号内的相位偏移，即无法计算非同一周期下的信号间延迟时间，故其在技术原理上存在缺陷，故对于不具备交流传变能力的直流电子式互感器，该方法已完全失效，因此，当前直流输电领域内还未有能够完整支持直流电子式互感器延时时间测试的理论方法。

发明内容

[0005] 本发明实施例提供了一种直流电子式互感器延时时间测试方法及装置，为当前直流输电领域内对直流电子式互感器延时时间进行测试提供完整的理论和技术支持。

[0006] 本发明实施例提供了一种直流电子式互感器延时时间测试方法，包括：

[0007] S1：对直流电子式互感器的一次侧施加阶跃信号，从直流电子式互感器的二次侧进行采样得到阶跃标准源信号和阶跃试品信号；

[0008] S2：对阶跃标准源信号和阶跃试品信号进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线，分别取标准源拟合曲线和试品拟合曲线的90％峰值对应的点作为参考点，得到标准源参考点和试品参考点；

[0009] S3：对试品参考点的纵坐标进行三次样条插值，得到被试互感器阶跃终止时刻，在阶跃标准源信号中确定与标准源参考点最靠近的采样点，将采样点的横坐标作为标准源阶跃终止时刻；

[0010] S4：将被试互感器阶跃终止时刻与标准源阶跃终止时刻之差作为直流电子式互感器的延时时间。

[0011] 优选地，对阶跃标准源信号和阶跃试品信号进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线具体为：

[0012] 通过预置第一公式对阶跃标准源信号和阶跃试品信号的所有采样点的横坐标进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线；

[0013] 其中，预置第一公式为：

[0014]

[0015] 式中，f为标准源拟合曲线或试品拟合曲线，xi为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的各个采样点的横坐标，aj为多项式系数，m为多项式阶数。

[0016] 优选地，在进行广义多项式曲线拟合时，通过预置第二公式控制阶跃标准源信号和标准源拟合曲线之间的残差、阶跃试品信号和试品拟合曲线之间的残差；

[0017] 其中，预置第二公式为：

[0018]

[0019] 式中，yi为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的各个采样点的纵坐标，fi为标准源拟合曲线或试品拟合曲线的各个点的纵坐标，N为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的长度，wi为权重。

[0020] 优选地，步骤S3具体为：

[0021] 通过预置第三公式组对试品参考点的纵坐标进行三次样条插值，得到被试互感器阶跃终止时刻，在阶跃标准源信号中确定与标准源参考点最靠近的采样点，将采样点的横坐标作为标准源阶跃终止时刻；

[0022] 其中，预置第三公式组为：

[0023]

[0024] 式中， B＝1-A， x为试品参考点的纵坐标，y为被试互感器阶跃终止时刻。

[0025] 优选地，本发明实施例还提供了一种直流电子式互感器延时时间测试装置，包括：

[0026] 采样单元，用于对直流电子式互感器的一次侧施加阶跃信号，从直流电子式互感器的二次侧进行采样得到阶跃标准源信号和阶跃试品信号；

[0027] 拟合单元，用于对阶跃标准源信号和阶跃试品信号进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线，分别取标准源拟合曲线和试品拟合曲线的90％峰值对应的点作为参考点，得到标准源参考点和试品参考点；

[0028] 插值单元，用于对试品参考点的纵坐标进行三次样条插值，得到被试互感器阶跃终止时刻，在阶跃标准源信号中确定与标准源参考点最靠近的采样点，将采样点的横坐标作为标准源阶跃终止时刻；

[0029] 求差单元，用于将被试互感器阶跃终止时刻与标准源阶跃终止时刻之差作为直流电子式互感器的延时时间。

[0030] 优选地，拟合单元包括：

[0031] 拟合子单元，用于对阶跃标准源信号和阶跃试品信号进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线；

[0032] 取值子单元，用于分别取标准源拟合曲线和试品拟合曲线的90％峰值对应的点作为参考点，得到标准源参考点和试品参考点；

[0033] 拟合子单元还用于通过预置第一公式对阶跃标准源信号和阶跃试品信号的所有采样点的横坐标进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线；

[0034] 其中，预置第一公式为：

[0035]

[0036] 式中，f为标准源拟合曲线或试品拟合曲线，xi为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的各个采样点的横坐标，aj为多项式系数，m为多项式阶数。

[0037] 优选地，拟合单元还包括：

[0038] 计算子单元，用于在进行广义多项式曲线拟合时，通过预置第二公式控制阶跃标准源信号和标准源拟合曲线之间的残差、阶跃试品信号和试品拟合曲线之间的残差；

[0039] 其中，预置第二公式为：

[0040]

[0041] 式中，yi为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的各个采样点的纵坐标，fi为标准源拟合曲线或试品拟合曲线的各个点的纵坐标，N为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的长度，wi为权重。

[0042] 优选地，插值单元还用于通过预置第三公式组对试品参考点的纵坐标进行三次样条插值，得到被试互感器阶跃终止时刻，在阶跃标准源信号中确定与标准源参考点最靠近的采样点，将采样点的横坐标作为标准源阶跃终止时刻；

[0043] 其中，预置第三公式组为：

[0044]

[0045] 式中， B＝1-A， x为试品参考点的纵坐标，y为被试互感器阶跃终止时刻。

[0046] 从以上技术方案可以看出，本发明实施例具有以下优点：

[0047] 本发明实施例提供了一种直流电子式互感器延时时间测试方法及装置，其中，该方法包括：S1：对直流电子式互感器的一次侧施加阶跃信号，从直流电子式互感器的二次侧进行采样得到阶跃标准源信号和阶跃试品信号；S2：对阶跃标准源信号和阶跃试品信号进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线，分别取标准源拟合曲线和试品拟合曲线的90％峰值对应的点作为参考点，得到标准源参考点和试品参考点；S3：对试品参考点的纵坐标进行三次样条插值，得到被试互感器阶跃终止时刻，在阶跃标准源信号中确定与标准源参考点最靠近的采样点，将采样点的横坐标作为标准源阶跃终止时刻；S4：将被试互感器阶跃终止时刻与标准源阶跃终止时刻之差作为直流电子式互感器的延时时间。本发明为直流电子式互感器暂态阶跃响应延时测试提出了完整的测试方案，并提出关键参数计算算法，有效解决了现阶段直流电子式互感器时间特性测试技术比较缺乏的技术问题。

附图说明

[0048] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

[0049] 图1为本发明提供的一种直流电子式互感器延时时间测试方法的一个实施例的流程示意图；

[0050] 图2为本发明提供的一种直流电子式互感器延时时间测试装置的一个实施例的结构示意图。

具体实施方式

[0051] 本发明实施例提供了一种直流电子式互感器延时时间测试方法及装置，为当前直流输电领域内对直流电子式互感器延时时间进行测试提供完整的理论和技术支持。

[0052] 为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

[0053] 请参阅图1，本发明实施例提供的一种直流电子式互感器延时时间测试方法的一个实施例，包括：

[0054] 101、对直流电子式互感器的一次侧施加阶跃信号，从直流电子式互感器的二次侧进行采样得到阶跃标准源信号和阶跃试品信号；

[0055] 在本实施例中，采用阶跃信号源作为测试信号源。测试开始后，在直流电子式互感器一次侧通过阶跃电压信号源施加测试量，阶跃信号的上升时间可以控制在30～100us左右。

[0056] 在施加阶跃信号后，需要在互感器的二次侧同时进行阶跃标准源信号和阶跃试品信号的采样。

[0057] 对阶跃标准源信号的采样过程可以为：通过无感分流器和无感电阻分压器，把一次侧大电流和高电压传变成小幅值阶跃电压信号，经过信号调理后，通过零延时SAR型ADC进行1MHz的高速采样，进行阶跃信号的准确时间捕捉和波形记录，将该信号作为时间测试的阶跃标准源信号。

[0058] 对阶跃试品信号的采样过程可以为：对被测直流电子式互感器输出的FT3数据，在统一时序的控制下，进行同步接收解析，获取对应的阶跃信号试品数据，并将该数据作为阶跃试品信号。

[0059] 以上对阶跃标准源信号和阶跃试品信号的采样过程同步进行，且以上仅仅为对两个信号采样手段的一个例子，实际应用中本领域技术人员可以通过不同的手段进行采样，此处不做限定。

[0060] 102、通过预置第一公式对阶跃标准源信号和阶跃试品信号的所有采样点的横坐标进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线，分别取标准源拟合曲线和试品拟合曲线的90％峰值对应的点作为参考点，得到标准源参考点和试品参考点；

[0061] 在本实施例中，阶跃标准源信号和阶跃试品信号的所有采样点均为二维的点，其横坐标可以为时刻，纵坐标可以为电流幅值。

[0062] 采用广义多项式拟合对阶跃信号进行拟合，计算其阶跃低值(阶跃信号的低状态值)和阶跃高值(阶跃信号的高状态值)，消除掉低值时的噪声误差以及阶跃初期的过冲波动影响，取得一个准确稳定的状态值。为阶跃终止时刻(信号从低到高穿越阶跃幅值90％处的时刻)计算提供精确依据。因此，步骤102通过预置第一公式对阶跃标准源信号和阶跃试品信号的所有采样点的横坐标进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线。

[0063] 其中，预置第一公式为：

[0064]

[0065] 式中，f为标准源拟合曲线或试品拟合曲线，xi为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的各个采样点的横坐标，aj为多项式系数，m为多项式阶数。

[0066] 在进行广义多项式曲线拟合时，通过预置第二公式控制阶跃标准源信号和标准源拟合曲线之间的残差、阶跃试品信号和试品拟合曲线之间的残差；

[0067] 其中，预置第二公式为：

[0068]

[0069] 式中，yi为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的各个采样点的纵坐标，fi为标准源拟合曲线或试品拟合曲线的各个点的纵坐标，N为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的长度，wi为权重。

[0070] 在步骤102中的预置第一公式中，可以选择最小二乘法，依据预置第二公式最小化拟合曲线和原始信号之间的残差，查找多项式模型的多项式系数aj。预置第二公式实际作用即为将拟合得到的曲线与原始的信号之间的差控制在一定范围内。

[0071] 经过曲线拟合后，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线，可以取标准源拟合曲线上90％峰值对应的点作为标准源参考点，可以取试品拟合曲线上90％峰值对应的点作为试品参考点。

[0072] 103、通过预置第三公式组对试品参考点的纵坐标进行三次样条插值，得到被试互感器阶跃终止时刻，在阶跃标准源信号中确定与标准源参考点最靠近的采样点，将该采样点的横坐标作为标准源阶跃终止时刻；

[0073] 在本实施例中，阶跃标准源信号采集间隔时间可以为1us，对于30us左右上升时间的阶跃信号记录和ms级互感器延时测试而言具有足够的时间分辨率，可以不进行插值处理。阶跃试品信号源于直流电子式互感器输出的FT3离散数据帧，采样周期最大可达100us，对于上升时间和延时时间计算而言，具有太大的误差，为了提高测试精度，需要对试品采样值进行插值计算，将采样周期提高到10us以内。

[0074] 因此，步骤103中通过预置第三公式组对试品参考点的纵坐标进行三次样条插值，得到被试互感器阶跃终止时刻。

[0075] 其中，预置第三公式组为：

[0076] f(xi)＝yi

[0077] 插值函数g(x)在下列方程中为分段函数：

[0078]

[0079] 函数pi(x)为满足下列条件的三阶多项式：

[0080] g(xi)＝yi＝pi(xi)

[0081] 在xi连续处的一阶和二阶导数连续，i＝1,…,n-2。

[0082]

[0083]

[0084] g′(xi)为三次插值样条函数的一阶导数， 为三次插值样条函数的二阶导数。在区间[xi,xi+1]内，输出插值y函数可表示为：

[0085]

[0086] 式中， B＝1-A， 将试品参考点的纵坐标作为x输入以上预置第三公式组，可以得到y，y即为被试互感器阶跃终止时刻。

[0087] 104、将被试互感器阶跃终止时刻与标准源阶跃终止时刻之差作为直流电子式互感器的延时时间。

[0088] 本发明实施例为直流电子式互感器暂态阶跃响应延时测试提出了完整的测试系统实现方案，并提出关键参数计算算法，有效解决了现阶段直流电子式互感器时间特性测试技术比较缺乏的问题。

[0089] 本发明的基于暂态阶跃响应的延时测试方式，解决了传统稳态延时测试方法下无法分辨传变信号周期变化的技术原理缺陷。

[0090] 本发明在传统暂态测试方法的基础上引入了数值分析处理技术，避免了阶跃响应初期波动对阶跃信号幅值的计算误差，提高了直流暂态延迟测试方法的时间精度指标。

[0091] 以上是对本发明提供的一种直流电子式互感器延时时间测试方法进行的详细说明，以下对本发明实施例还提供了一种直流电子式互感器延时时间测试装置的结构和连接关系进行说明，请参阅图2，本装置包括：

[0092] 采样单元201，用于对直流电子式互感器的一次侧施加阶跃信号，从直流电子式互感器的二次侧进行采样得到阶跃标准源信号和阶跃试品信号；

[0093] 拟合单元202，用于对阶跃标准源信号和阶跃试品信号进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线，分别取标准源拟合曲线和试品拟合曲线的90％峰值对应的点作为参考点，得到标准源参考点和试品参考点；

[0094] 插值单元203，用于对试品参考点的纵坐标进行三次样条插值，得到被试互感器阶跃终止时刻，在阶跃标准源信号中确定与标准源参考点最靠近的采样点，将该采样点的横坐标作为标准源阶跃终止时刻；

[0095] 求差单元204，用于将被试互感器阶跃终止时刻与标准源阶跃终止时刻之差作为直流电子式互感器的延时时间。

[0096] 在本实施例中，拟合单元202包括：

[0097] 拟合子单元2021，用于对阶跃标准源信号和阶跃试品信号进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线；

[0098] 取值子单元2022，用于分别取标准源拟合曲线和试品拟合曲线的90％峰值对应的点作为参考点，得到标准源参考点和试品参考点；

[0099] 拟合子单元2021还用于通过预置第一公式对阶跃标准源信号和阶跃试品信号的所有采样点的横坐标进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线；

[0100] 其中，预置第一公式为：

[0101]

[0102] 式中，f为标准源拟合曲线或试品拟合曲线，xi为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的各个采样点的横坐标，aj为多项式系数，m为多项式阶数。

[0103] 在本实施例中，拟合单元202还包括：

[0104] 计算子单元2023，用于在进行广义多项式曲线拟合时，通过预置第二公式控制阶跃标准源信号和标准源拟合曲线之间的残差、阶跃试品信号和试品拟合曲线之间的残差；

[0105] 其中，预置第二公式为：

[0106]

[0107] 式中，yi为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的各个采样点的纵坐标，fi为标准源拟合曲线或试品拟合曲线的各个点的纵坐标，N为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的长度，wi为权重。

[0108] 在本实施例中，插值单元还用于通过预置第三公式组对试品参考点的纵坐标进行三次样条插值，得到被试互感器阶跃终止时刻，在阶跃标准源信号中确定与标准源参考点最靠近的采样点，将采样点的横坐标作为标准源阶跃终止时刻；

[0109] 其中，预置第三公式组为：

[0110]

[0111] 式中， B＝1-A， x为试品参考点的纵坐标，y为被试互感器阶跃终止时刻。

[0112] 本发明直接采用阶跃信号源作为测试信号源，通过阶跃信号源信号的阶跃变化与互感器实际采样输出阶跃响应做比对，不使用交流数据源做参考，避免了交流稳态测试方法下无法分辨传变信号周期变化的原理缺陷，可适用于对现阶段所有类型的直流电子式互感器进行延时测试。特别针对直流信号与交流信号的物理特性区别，对阶跃响应比对算法进行了改进，提高了直流暂态延时测试方法的精度指标，为直流控保系统的稳定运行提供了重要保障。

[0113] 所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统，装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

[0114] 在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统，装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

[0115] 所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

[0116] 另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

[0117] 所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

[0118] 以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。