一种集成电路测试设备

摘要

本发明公开了一种集成电路测试设备，包括安装基体和固定设置在所述安装基体的吊装机械臂，所述安装基体底部开设有插合槽，所述插合槽顶部通接设置有电凹槽，所述插合槽左侧通接设置有通道槽，所述通道槽左侧通接设置有伸缩腔，所述伸缩腔中设置有伸缩滑块，所述伸缩滑块左侧面与所述伸缩腔左侧壁之间固定连接有弹性簧，所述伸缩滑块右侧底部固定设置有向右伸进所述通道槽中的凸出锁头，所述伸缩腔顶部通接设置有转换滑腔，所述转换滑腔右侧通接设置有动力传递腔，所述转换滑腔中设置有转换滑块；本发明结构简单，使用方便，整体先固定再通电，先对内部断电再解除固定，安全可靠，方便对集成电路进行测试。

权利要求

1.一种集成电路测试设备，包括安装基体和固定设置在所述安装基体的吊装机械臂，所述安装基体底部开设有插合槽，所述插合槽顶部通接设置有电凹槽，所述插合槽左侧通接设置有通道槽，所述通道槽左侧通接设置有伸缩腔，所述伸缩腔中设置有伸缩滑块，所述伸缩滑块左侧面与所述伸缩腔左侧壁之间固定连接有弹性簧，所述伸缩滑块右侧底部固定设置有向右伸进所述通道槽中的凸出锁头，所述伸缩腔顶部通接设置有转换滑腔，所述转换滑腔右侧通接设置有动力传递腔，所述转换滑腔中设置有转换滑块，所述转换滑腔顶部通接设置有转换驱动腔，所述转换滑块顶部固定设置有导滑块，所述转换驱动腔右侧固定设置有第一电动机，所述第一电动机左侧动力配合连接有转换驱动螺杆，所述转换驱动螺杆与所述导滑块螺纹配合连接，所述转换滑块右部嵌设有第二电动机，所述第二电动机右侧动力配合连接有驱动旋轴，所述驱动旋轴右侧面固定设置有第一齿锥轮，所述动力传递腔中设置有与所述第一齿锥轮齿合连接的第二齿锥轮，所述第二齿锥轮底部固定设置有升降驱动螺杆，所述升降驱动螺杆向下伸进升降滑槽中，所述升降驱动螺杆上螺纹配合连接有升降驱动滑板，所述升降驱动滑板底部固定设置有电触头，所述升降滑槽底部通接设置有带电槽；其中，所述插合槽配合设置有插合杆，所述插合杆底部固定设置有探测头，所述插合杆中左右贯穿设置有锁槽，所述插合杆顶部固定设置有取电头；其中，所述凸出锁头底部设置有斜滑面，所述斜滑面与所述插合杆抵压滑动配合连接，所述伸缩滑块顶部设置有被压面，所述转换滑块左侧设置有压迫面，所述压迫面和被压面抵压滑动配合连接；其中，所述取电头和所述电触头电连接，所述电触头与所述带电槽电连接，所述带电槽与市电连接。

说明书

一种集成电路测试设备

技术领域

[0001] 本发明涉及集成电路测试技术领域，具体是一种集成电路测试设备。

背景技术

[0002] 集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。集成电路需要进行测试，传统的测试设备的探测头不易拆装，检修困难，而且拆装过程容易触电，不够安全。

发明内容

[0003] 本发明所要解决的技术问题是提供一种集成电路测试设备，其能够解决上述现在技术中的问题。

[0004] 本发明是通过以下技术方案来实现的：本发明的一种集成电路测试设备，包括安装基体和固定设置在所述安装基体的吊装机械臂，所述安装基体底部开设有插合槽，所述插合槽顶部通接设置有电凹槽，所述插合槽左侧通接设置有通道槽，所述通道槽左侧通接设置有伸缩腔，所述伸缩腔中设置有伸缩滑块，所述伸缩滑块左侧面与所述伸缩腔左侧壁之间固定连接有弹性簧，所述伸缩滑块右侧底部固定设置有向右伸进所述通道槽中的凸出锁头，所述伸缩腔顶部通接设置有转换滑腔，所述转换滑腔右侧通接设置有动力传递腔，所述转换滑腔中设置有转换滑块，所述转换滑腔顶部通接设置有转换驱动腔，所述转换滑块顶部固定设置有导滑块，所述转换驱动腔右侧固定设置有第一电动机，所述第一电动机左侧动力配合连接有转换驱动螺杆，所述转换驱动螺杆与所述导滑块螺纹配合连接，所述转换滑块右部嵌设有第二电动机，所述第二电动机右侧动力配合连接有驱动旋轴，所述驱动旋轴右侧面固定设置有第一齿锥轮，所述动力传递腔中设置有与所述第一齿锥轮齿合连接的第二齿锥轮，所述第二齿锥轮底部固定设置有升降驱动螺杆，所述升降驱动螺杆向下伸进升降滑槽中，所述升降驱动螺杆上螺纹配合连接有升降驱动滑板，所述升降驱动滑板底部固定设置有电触头，所述升降滑槽底部通接设置有带电槽。

[0005] 作为优选的技术方案，所述插合槽配合设置有插合杆，所述插合杆底部固定设置有探测头，所述插合杆中左右贯穿设置有锁槽，所述插合杆顶部固定设置有取电头。

[0006] 作为优选的技术方案，所述凸出锁头底部设置有斜滑面，所述斜滑面与所述插合杆抵压滑动配合连接，所述伸缩滑块顶部设置有被压面，所述转换滑块左侧设置有压迫面，所述压迫面和被压面抵压滑动配合连接。

[0007] 作为优选的技术方案，所述探测头和所述取电头电连接，所述取电头和所述电触头电连接，所述电触头与所述带电槽电连接，所述带电槽与市电连接。

[0008] 本发明的有益效果是：

[0009] 1.通过将插合杆插入插合槽中，斜滑面受挤压，凸出锁头向左缩入通道槽中，当凸出锁头与锁槽相对时，凸出锁头插进锁槽对插合杆起到固定作用，此时取电头完全插进电凹槽中，控制第二电动机运转，第二电动机带动驱动旋轴以及第一齿锥轮转动，第一齿锥轮带动第二齿锥轮以及升降驱动螺杆转动，升降驱动螺杆带动升降驱动滑板向下滑动，电触头插进带电槽中，此时探测头通电可正常工作，对集成电路进行测试，整体先固定再通电，安全可靠；

[0010] 2.通过控制第二电动机反向运转，第二电动机带动驱动旋轴以及第一齿锥轮转动，第一齿锥轮带动第二齿锥轮以及升降驱动螺杆转动，升降驱动螺杆带动升降驱动滑板向上滑动回到初始状态，对内部进行断电，再控制第一电动机工作，第一电动机带动转换驱动螺杆转动，导滑块带动转换滑块向左滑动，伸缩滑块受挤压向左滑动，直至凸出锁头完全脱离锁槽缩入通道槽中，此时向下拉出插合杆即可拆下探测头进行检修，先对内部断电再解除固定，安全可靠；

[0011] 3.本发明结构简单，使用方便，整体先固定再通电，先对内部断电再解除固定，安全可靠，方便对集成电路进行测试。

附图说明

[0012] 为了易于说明，本发明由下述的具体实施例及附图作以详细描述。

[0013] 图1为本发明的一种集成电路测试设备的整体结构示意图；

[0014] 图2为本发明的一种集成电路测试设备中探测头固定的结构示意图；

[0015] 图3为本发明的一种集成电路测试设备解除固定时的结构示意图。

具体实施方式

[0016] 如图1-图3所示，本发明的一种集成电路测试设备,包括安装基体14和固定设置在所述安装基体14的吊装机械臂10，所述安装基体14底部开设有插合槽35，所述插合槽35顶部通接设置有电凹槽36，所述插合槽35左侧通接设置有通道槽11，所述通道槽11左侧通接设置有伸缩腔17，所述伸缩腔17中设置有伸缩滑块18，所述伸缩滑块18左侧面与所述伸缩腔17左侧壁之间固定连接有弹性簧16，所述伸缩滑块18右侧底部固定设置有向右伸进所述通道槽11中的凸出锁头19，所述伸缩腔17顶部通接设置有转换滑腔15，所述转换滑腔15右侧通接设置有动力传递腔24，所述转换滑腔15中设置有转换滑块32，所述转换滑腔15顶部通接设置有转换驱动腔12，所述转换滑块32顶部固定设置有导滑块20，所述转换驱动腔12右侧固定设置有第一电动机21，所述第一电动机21左侧动力配合连接有转换驱动螺杆13，所述转换驱动螺杆13与所述导滑块20螺纹配合连接，所述转换滑块32右部嵌设有第二电动机31，所述第二电动机31右侧动力配合连接有驱动旋轴22，所述驱动旋轴22右侧面固定设置有第一齿锥轮23，所述动力传递腔24中设置有与所述第一齿锥轮23齿合连接的第二齿锥轮25，所述第二齿锥轮25底部固定设置有升降驱动螺杆26，所述升降驱动螺杆26向下伸进升降滑槽29中，所述升降驱动螺杆26上螺纹配合连接有升降驱动滑板27，所述升降驱动滑板27底部固定设置有电触头28，所述升降滑槽29底部通接设置有带电槽30。

[0017] 有益地，所述插合槽35配合设置有插合杆40，所述插合杆40底部固定设置有探测头44，所述插合杆40中左右贯穿设置有锁槽42，所述插合杆40顶部固定设置有取电头43。

[0018] 有益地，所述凸出锁头19底部设置有斜滑面34，所述斜滑面34与所述插合杆40抵压滑动配合连接，所述伸缩滑块18顶部设置有被压面41，所述转换滑块32左侧设置有压迫面33，所述压迫面33和被压面41抵压滑动配合连接。

[0019] 有益地，所述探测头44和所述取电头43电连接，所述取电头43和所述电触头28电连接，所述电触头28与所述带电槽30电连接，所述带电槽30与市电连接。

[0020] 初始状态时，如图1所示，所述凸出锁头19在所述弹性簧16的顶压作用下对所述插合槽35实现封闭，所述导滑块20位于所述转换驱动腔12的最右侧，所述第一齿锥轮23和所述第二齿锥轮25齿合连接，所述升降驱动滑板27位于所述升降滑槽29内顶部。

[0021] 当需要对集成电路进行测试时，将所述插合杆40插入所述插合槽35中，所述斜滑面34受挤压，所述凸出锁头19向左缩入所述通道槽11中，当所述凸出锁头19与所述锁槽42相对时，所述凸出锁头19插进所述锁槽42对所述插合杆40起到固定作用，此时所述取电头43完全插进所述电凹槽36中，控制所述第二电动机31运转，所述第二电动机31带动所述驱动旋轴22以及所述第一齿锥轮23转动，所述第一齿锥轮23带动所述第二齿锥轮25以及所述升降驱动螺杆26转动，所述升降驱动螺杆26带动所述升降驱动滑板27向下滑动，所述电触头28插进所述带电槽30中，此时所述探测头44通电可正常工作，对集成电路进行测试；

[0022] 当需要拆下所述探测头44进行检修时，控制所述第二电动机31反向运转，所述第二电动机31带动所述驱动旋轴22以及所述第一齿锥轮23转动，所述第一齿锥轮23带动所述第二齿锥轮25以及所述升降驱动螺杆26转动，所述升降驱动螺杆26带动所述升降驱动滑板27向上滑动回到初始状态，对内部进行断电，再控制所述第一电动机21工作，所述第一电动机21带动所述转换驱动螺杆13转动，所述导滑块20带动所述转换滑块32向左滑动，所述伸缩滑块18受挤压向左滑动，直至凸出锁头19完全脱离所述锁槽42缩入所述通道槽11中，此时向下拉出所述插合杆40即可。

[0023] 本发明的有益效果是：

[0024] 4.通过将插合杆插入插合槽中，斜滑面受挤压，凸出锁头向左缩入通道槽中，当凸出锁头与锁槽相对时，凸出锁头插进锁槽对插合杆起到固定作用，此时取电头完全插进电凹槽中，控制第二电动机运转，第二电动机带动驱动旋轴以及第一齿锥轮转动，第一齿锥轮带动第二齿锥轮以及升降驱动螺杆转动，升降驱动螺杆带动升降驱动滑板向下滑动，电触头插进带电槽中，此时探测头通电可正常工作，对集成电路进行测试，整体先固定再通电，安全可靠；

[0025] 5.通过控制第二电动机反向运转，第二电动机带动驱动旋轴以及第一齿锥轮转动，第一齿锥轮带动第二齿锥轮以及升降驱动螺杆转动，升降驱动螺杆带动升降驱动滑板向上滑动回到初始状态，对内部进行断电，再控制第一电动机工作，第一电动机带动转换驱动螺杆转动，导滑块带动转换滑块向左滑动，伸缩滑块受挤压向左滑动，直至凸出锁头完全脱离锁槽缩入通道槽中，此时向下拉出插合杆即可拆下探测头进行检修，先对内部断电再解除固定，安全可靠；

[0026] 6.本发明结构简单，使用方便，整体先固定再通电，先对内部断电再解除固定，安全可靠，方便对集成电路进行测试。

[0027] 以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。