用于样品的分析检查的测试元件分析系统

摘要

公开了用于样品、特别是体液的分析检查的测试元件分析系统（130）。测试元件分析系统（130）包括：‑至少一个评估装置（158），所述至少一个评估装置具有至少一个测试元件固持件（142）和至少一个测量装置（160），所述测试元件固持件用于定位容纳所述样品的测试元件（110），所述测量装置用于测量所述测试元件（110）的测量区域（118）中的变化，所述变化表征所述分析物；‑至少一个电加热元件（132），其被构造成电加热所述测试元件（110）；‑至少一个电力供应源（148），其用于向所述电加热元件（132）供应电能；‑至少一个温度传感器（140），其被连接到所述测试元件固持件（142）以用于检测所述测试元件固持件（142）的温度；‑至少一个间隙检测装置（150），其被构造成监测由所述电力供应源（148）供应到所述电加热元件（132）以用于达到由所述温度传感器（140）测量的预定目标温度的电能Espez。

权利要求

1.一种用于样品的分析检查的测试元件分析系统（130），所述测试元件分析系统包括：

- 至少一个评估装置（158），所述评估装置具有至少一个测试元件固持件（142）和至少一个测量装置（160），所述测试元件固持件用于定位容纳所述样品的测试元件（110），所述测量装置用于测量所述测试元件（110）的测量区域（118）中的变化，所述变化表征分析物；

- 至少一个电加热元件（132），所述电加热元件被构造成电加热所述测试元件（110）；

- 至少一个电力供应源（148），所述电力供应源用于向所述电加热元件（132）供应电能；

- 至少一个温度传感器（140），所述温度传感器被连接到所述测试元件固持件（142）以用于检测所述测试元件固持件（142）的温度；

- 至少一个间隙检测装置（150），所述间隙检测装置被构造成监测由所述电力供应源（148）供应到所述电加热元件（132）以用于达到由所述温度传感器（140）测量的预定目标温度的电能Espez，其中，所述间隙检测装置（150）被构造成评估由所述电力供应源（148）供应到所述电加热元件（132）以用于达到所述预定目标温度的电能Espez，并且基于所述电能Espez的评估来得到关于所述电加热元件（132）与所述测试元件（110）之间的热接触的信息的至少一个条目。

2.根据权利要求1所述的测试元件分析系统（130），其中，所述间隙检测装置（150）还被构造成将关于所述电加热元件（132）与所述测试元件（110）之间的热接触的信息的至少一个条目与至少一个阈值进行比较，以便确定是否给出了足够的热接触以用于利用所述测试元件分析系统（130）和被定位在所述测试元件固持件（142）中的测试元件（110）来执行精确测量。

3.根据权利要求2所述的测试元件分析系统（130），其中，所述间隙检测装置（150）被构造成用于包括如下的组中的一者或多者：在检测到所述电加热元件（132）与所述测试元件（110）之间的热接触不足的情况下，中止所述测量、防止所述测量、标示所述测量、以及发出警告。

4.根据权利要求1或2所述的测试元件（110）分析系统（130），其中，所述间隙检测装置（150）被构造成将所述电能Espez或者从其得到的至少一个值与至少一个阈值进行比较，以便确定在所述电加热元件（132）与所述测试元件（110）之间是否存在足够的热接触。

5.根据权利要求1或2所述的测试元件分析系统（130），其中，所述间隙检测装置（150）被构造成将所述电能Espez标准化以及将所述电能Espez的标准化值与至少一个阈值进行比较，以便确定在所述电加热元件（132）与所述测试元件（110）之间是否存在足够的热接触。

6.根据权利要求1或2所述的测试元件分析系统（130），其中，所述间隙检测装置（150）包括至少一个数据处理装置，所述数据处理装置具有被构造成评估所述电能Espez的软件。

7.根据权利要求1或2所述的测试元件分析系统（130），其中，所述间隙检测装置（150）包括至少一个能量检测装置（151），所述能量检测装置被构造成监测由所述电力供应源（148）供应到所述电加热元件（132）以用于达到由所述温度传感器（140）测量的预定目标温度的电能Espez，其中，所述能量检测装置（151）包括电压计或电流计中的至少一者。

8.根据权利要求1或2所述的测试元件分析系统（130），其中，所述电加热元件（132）包括用于所述测试元件（110）的至少一个平坦支撑表面（134）。

9.根据权利要求1或2所述的测试元件分析系统（130），其中，所述测试元件分析系统（130）还包括至少一个测试元件（110）。

10.根据权利要求9所述的测试元件分析系统（130），其中，所述测试元件（110）包括被构造成接收所述样品的至少一个毛细管（124）。

11.根据权利要求1所述的测试元件分析系统（130），其中，所述样品是体液。

12.一种用于确定测试元件（110）与电加热元件（132）是否具有足够的热接触的方法，所述测试元件被定位在用于样品的分析检查的测试元件分析系统（130）的测试元件固持件（142）内部，所述电加热元件被构造成电加热所述测试元件（110），所述方法包括：a）将所述测试元件（110）插入到所述测试元件固持件（142）中；

b）通过使用所述电加热元件（132）将所述测试元件（110）加热到预定目标温度；

c）监测由电力供应源（148）供应至所述电加热元件（132）以用于达到所述电加热元件（132）的预定目标温度的电能Espez；

d）评估由所述电力供应源（148）供应至所述电加热元件（132）以用于达到所述电加热元件（132）的预定目标温度的电能Espez，并且从其得到关于所述电加热元件（132）与所述测试元件（110）之间的热接触的信息的至少一个条目。

13.根据权利要求12所述的方法，其中，步骤d）包括：将电能Espez或者从其得到的至少一个值与至少一个阈值进行比较并且确定在所述电加热元件（132）与所述测试元件（110）之间是否存在足够的热接触。

14.根据权利要求12或13所述的方法，其中，步骤d）包括：将所述电能Espez标准化并且将所述电能Espez的标准化值Estd与至少一个阈值进行比较，以便确定在所述电加热元件（132）与所述测试元件（110）之间是否存在足够的热接触。

15.根据权利要求12或13所述的方法，其中，步骤d）通过使用至少一个数据处理装置来执行。

16.根据权利要求15所述的方法，其中，所述数据处理装置是具有被构造成评估所述电能Espez的软件的数据处理装置。

说明书

用于样品的分析检查的测试元件分析系统

技术领域

[0001] 本发明涉及用于样品的分析检查的测试元件分析系统以及用于确被定位在用于样品的分析检查的测试元件分析系统的测试元件固持件内部的测试元件与被构造成电加热所述测试元件的电加热元件是否具有足够的热接触的方法。根据本发明的装置和方法可以主要用于定性或定量检测样品（例如体液样品）中的至少一种分析物和/或用于确定样品的至少一个参数的领域中。其他应用领域也是可行的。

背景技术

[0002] 在医学技术和诊断的领域中，用于确定样品、特别是流体样品（例如体液）中的一种或多种分析物的存在性和/或浓度和/或用于确定样品的至少一个参数的许多装置和方法是公知的。在下文中，在不限制本发明的范围的情况下，主要参考血液样品中的凝固参数或血糖浓度的确定。但是，应当注意的是，可以以类似的方式来使用其他类型的样品或者其他类型的分析物或参数。

[0003] 为了执行快速且简单的测量，多种类型的测试元件是公知的，其主要是基于使用适于执行用于检测分析物或确定参数的检测反应的一种或多种测试化学品，即，基于使用一种或多种化学物质、一种或多种化学化合物或者一种或多种化学混合物。测试化学品通常也被称为测试物质、测试试剂、测试化学物、或称为检测器物质。关于也可被用于本发明中的潜在测试化学品和包括这样的测试化学品的测试元件的细节，可以参考J. Hoenes et al.: The Technology Behind Glucose Meters: Test Strips、Diabetes Technology & Therapeutics、Vol. 10、Supplement 1、2008、S-10至S-26（J. Hoenes等人在《Diabetes Technology &  Therapeutics》2008年增刊1第10卷第S-10至S-26页的文章“The Technology Behind Glucose Meters: Test Strips”）。其他类型的测试元件和/或测试物质也是可行的并且可被用于本发明中。

[0004] 通过使用一种或多种测试化学品，可启动检测反应，其进程依赖于至少一种分析物的存在性和/或浓度或者依赖于待确定的参数。检测反应优选地可以是分析物特定（analyte-specific）的。通常，如在本发明中也可能出现的情况，测试化学品适于当分析物存在于体液中时执行至少一种检测反应，其中，检测反应的幅度和/或程度通常取决于分析物的浓度。通常，测试化学品可适于在存在分析物的情况下执行检测反应，其中，由于该检测反应，体液和测试化学品中的至少一者的至少一个可检测的性质发生变化。至少一个可检测的性质通常可选自物理性质和化学性质。在下文中，在不限制潜在的其他实施例的情况下，将可主要参考如下检测反应，其中由于检测反应，一个或多个物理性质发生变化，例如至少一个电性质和至少一个光学性质中的一者或多者发生变化。此外，在不限制替代性方案的情况下，将参考如下检测反应，其中能够被电检测的至少一个化学性质发生变化，即，参考电化学测试元件。但是，诸如光学测试元件的其他测试元件也是可使用的。

[0005] 如在化学分析的领域中众所周知的，检测反应以及因此测量结果可能很大程度上依赖于测试元件的温度、特别是测试元件和/或样品的反应区域或测量区域中的温度。因此，期望实现测试元件的精确温度控制和/或测试元件的温度的精确监测，以便增加测量的精度。因此，多种公知的装置通常提供用于加热测试元件的加热装置并且还被配备成监测测试元件的温度，以便保卫加热装置与测试元件之间的足够的热联接。特别地，在测试元件分析系统的处理期间的机械位移可能会导致测试元件与加热元件之间的热接触变差，所述机械位移例如是由在其中设置有测试元件的分析系统掉落所导致的机械冲击。此外，在其中未设置有测试元件的测试元件分析系统的处理期间，可能发生测试元件固持件和/或电加热元件的机械位移，例如由于分析系统掉落而发生。因此，在测试元件与测试元件分析系统的接触件之间的热接触可能会受到影响。

[0006] 在US 2005/0135968 Al和EP 1 543 935 A2中，提供了用于产生塑料注塑部件的方法，所述塑料注塑部件具有由不同于塑料材料的材料制成的插入件，所述方法包括以下步骤：（a）将插入件引入并定位在注模的腔中；（b）将注模在夹持机构上的夹持力设置成由插入件的材料预先确定的最大力；以及（c）利用在注模内部的塑料注塑部件的塑料材料来无缝地包封该插入件，其中，该包封是无缝的或者完全的。除了其他之外，还公开了将用作的加热元件的插入件无缝地嵌入到由塑料材料制成的壳体本体内部的系统临界区域（system-critical area）中。

[0007] 在US 8,491,185 B2中以及在EP 2 199 792 B1中，公开了用于核查分析仪的测量单元与恒温元件之间的热联接的质量的方法。测量单元可以被可更换地插入到分析仪中以测量样品的至少一个参数，并且在测量通道中设置有至少一个传感器元件。

[0008] 尽管存在由这些装置和方法暗含的优势，但是用于温度控制的公知装置和方法也暗含了多个技术挑战。因此，公知的装置和方法总体上依赖于使用位于测试元件自身上的温度传感器或温度敏感元件。在这些设置中，附加的温度传感器必须被实施到测试元件中，这通常使得测试元件以及接触测试元件的评估评估装置更复杂且因此更昂贵。替代性地，已经存在于测试元件上的传感器元件可附加地被用于温度控制，如在US 8,491,185 B2中或在EP 2 199 792 B1中的那样。但是，该替代方案需要附加电子器件和评估装置以用于施加附加测量信号到测试元件以及用于评估测试元件对于该测量信号的响应，以便评估在测试元件与评估装置的恒温元件之间的热联接。

[0009] 待解决的问题

[0010] 因此本发明的目的在于提出至少部分地解决上述技术挑战的装置和方法。特别地，应当公开用于样品的分析检查的测试元件分析系统，其使得能够简单且成本有效地监测在加热元件与测试元件之间的热联接，优选地不具有依赖于在测试元件内部或测试元件上的测量的附加测试设置。

发明内容

[0011] 该问题通过具有本发明的特征的用于样品的分析检查的测试元件分析系统、以及用于确定被定位在用于样品的分析检查的测试元件分析系统的测试元件固持件内部的测试元件与被构造成电加热所述测试元件的电加热元件是否具有足够的热接触的方法来解决。在优选方案中列出了优选实施例，其可以单独的方式或以任何任意组合的方式来实现。

[0012] 如在下文中所使用的，术语“具有”、“包括”或“包含”或其任何意语法变形以非排他性的方式被使用。因此，这些术语可指代如下两种情形：除了由这些术语引入的特征之外，在该上下文中描述的实体中不存在其他特征的情形；以及存在一个或多个其他特征的情形。举例来说，表述“A具有B”、“A包括B”和“A包含B”可以指代如下两种情形：除了B之外，在A中不存在其他元素的情形（即，A仅仅地且排他地包括B的情形）；以及除了B之外，在实体A中存在一个或多个其他元素，例如，元素C、元素C和D或甚至更多元素的情形。

[0013] 此外，应当注意的是，术语“至少一个”、“一个或多个”或表明特征或元素可能出现一次或多于一次的类似表述通常将仅在引入相应特征或元素时被使用一次。在下文中，在大多数情况下，当指代相应特征或元素时，表述“至少一个”或“一个或多个”将不被重复，尽管事实上相应的特征或元件可能出现一次或多于一次。

[0014] 此外，如在下文中所使用的，术语“优选地”、“更优选地”、“具体地”、“更具体地”、“特别地”、“更特别地”或类似术语与可选特征结合使用，而不限制替代性的可能性。因此，由这些术语引入的特征是可选特征并且不旨在以任何方式限制权利要求的范围。如技术人员将认识到的，本发明可通过使用替代性特征来执行。类似地，由“在本发明的实施例中”或类似表述引入的特征旨在是可选特征，而不对本发明的替代性实施例施加任何限制，不对本发明的范围的施加任何限制、并且不对以这种方式引入的特征与本发明的其他可选或非可选的特征进行组合的可能性施加任何限制。

[0015] 在第一方面中，公开了用于样品、特别是体液的分析检查的测试元件分析系统。测试元件分析系统包括至少一个评估装置。评估装置包括用于定位容纳所述样品的测试元件的至少一个测试元件固持件。此外，评估装置包括用于测量所述测试元件的测量区域中的变化的至少一个测量装置，所述变化表征所述分析物或者待确定的参数。测试元件分析系统还包括被构造成电加热所述测试元件的至少一个电加热元件、以及用于向所述电加热元件供应电能的至少一个电力供应源。此外，测试元件分析系统包括：至少一个温度传感器，其连接到所述测试元件固持件以用于检测所述测试元件固持件的温度；以及至少一个间隙检测装置，其被构造成监测由所述电力供应源供应到所述电加热元件以用于达到由所述温度传感器测量的预定目标温度的电能Espez。

[0016] 如本文进一步使用的，术语“系统”指代相互作用的部件部分形成整体的任意集合。特别地，部件可彼此相互作用以便实现至少一个公共的功能。部件可以被独立地处理或者可与彼此联接或者可能够连接到彼此。因此，术语“测试元件分析系统”总体上指代至少两个元件或部件的组，这些元件或部件能够相互作用以便通过与任意测试元件相互作用来执行至少一种分析检测，特别是样品的至少一种分析物或者参数的至少一种分析检测。测试元件分析系统还可总体上被称为分析系统、分析工具包、传感器系统或测量系统。

[0017] 如在本发明内通常使用的，术语“患者”和“使用者”可指代人类或动物，独立于人类或动物分别可能处于健康状态或者可能遭受一种或多种疾病的事实。举例来说，患者或使用者可能是遭受糖尿病或血液凝固障碍的人类或动物。但是，此外或替代性地，本发明可被应用于其他类型的使用者或患者。

[0018] 如本文进一步使用的，术语“样品”可指代被采集以用于分析、测试或研究的任意材料或材料组合。样品可以是有限量的某物，其旨在类似于较大量并且可代表较大量。但是，样品还可包括全部样本。样品可以是固体样品、液体样品或气体样品或者它们的组合。特别地，样品可以是流体样品，即，完全地或部分地处于液体状态和/或处于气体状态的样品。样品的量可以能够用其体积、质量或尺寸来描述。但是，其他尺寸也是可行的。样品可包括仅一种材料或仅一种化合物。替代性地，样品可包括多种材料或化合物。

[0019] 术语“分析物”总体上指代如下任意元件、部件或化合物，其可存在于样品中并且其存在性和/或浓度可能是使用者、患者或医护人员（例如医师）所感兴趣的。具体地，分析物可以是或可以包括可以参与使用者或患者的新陈代谢的任意化学物质或化学化合物，例如至少一种代谢物。至少一种分析物的检测特别地可以是分析物特定的检测。

[0020] 术语“参数”可总体上指代诸如测量值的任意值，其能够在分析测试中获得或者通过分析测试来获得。示例性地，参数可对应于如上文描述的样品的性质和/或至少一种分析物的性质。特别地，参数可以是例如关于分析物的凝固时间的凝固参数。关于如本文所进一步使用的术语“凝固参数”的其他细节，可参考US 2006/0035298。

[0021] 如本文进一步使用的，术语“体液”可指代如下流体，其通常存在于使用者或患者的身体或身体组织中和/或其可由使用者或患者的身体产生。作为身体组织的示例，可提到间质组织。因此，举例来说，体液可选自包括血液和间质流体的组。但是，此外或替代性地，可使用一种或多种其他类型的体液，例如唾液、泪液、尿液或其他体液。在至少一种分析物的检测期间，体液可存在于身体内或身体组织内。

[0022] 术语“分析检查”可总体上指代确定至少一种分析物的存在性和/或量和/或浓度的过程，或者指代确定表征样品的性质的样品的参数的过程，所述样品的参数例如是表征血液样品的凝固性质的凝固参数。该检测可以是或可以包括定性检测，其仅仅确定至少一种分析物的存在性或者至少一种分析物的缺失；和/或可以是或可以包括定量检测，其确定至少一种分析物的量和/或浓度。由于所述检测，可产生表征检测的结果的至少一个信号，例如至少一个测量信号。所述至少一个测量信号特别地可以是或可以包括至少一个电子信号，例如至少一个电压和/或至少一个电流。至少一个信号可以是或可以包括至少一个模拟信号，和/或可以是或可以包括至少一个数字信号。

[0023] 测试元件分析系统还可包括至少一个测试元件。术语“测试元件”可总体上指代能够检测样品中的分析物或者确定样品的参数的任意装置。测试元件可特别地是条形测试元件。如本文所使用的，术语“条形”指代具有细长形状和厚度的元件，其中，该元件沿横向维度的延伸超过该元件的厚度，例如是厚度的至少2倍、优选地至少5倍、更优选地至少10倍且最优选地至少20倍或者甚至至少30倍。因此，测试元件也可被称为测试条。

[0024] 测试元件可包括如下至少一个部件或至少一种试剂，当在诸如测试化学物的样品中存在分析物时所述部件或试剂使至少一个可检测的性质发生变化。也被称为“测试化学品”的术语“测试化学物”可指代适于在存在分析物的情况下使至少一个可检测的性质发生变化的任意材料或材料的成分。通常，该性质可选自可电化学检测的性质和/或可光学检测的性质，例如颜色变化和/或缓和（remissive）性质的变化。特别地，测试化学物可以是如下高度选择性的测试化学物：仅在被施加到测试元件的体液的样品中存在分析物的情况下，该测试化学物的性质才发生变化；然而在不存在分析物的情况下则不发生变化。更优选地，性质的程度或变化可取决于体液中分析物的浓度，以便允许定量检测分析物。

[0025] 特别地，测试元件可包括被构造成激活体液的成分的凝固至少一种试剂。试剂可包括促凝血酶原激酶和肽底物的反应成分。因此，在试剂暴露于样品的情况下，促凝血酶原激酶可激活凝块并且可产生凝血酶。凝血酶可裂解肽底物并且可产生电化学信号。电化学信号可针对其出现时间被评估。但是，其他试剂和/或测量原理也可以是可行的。

[0026] 如本文所使用的，术语“电化学检测”指代分析物的可电化学检测的性质（例如，电化学检测反应）的直接或间接（例如，经由氧化还原介体）检测。因此，例如，可通过将一个或多个电极电势（例如，工作电极的电势）与一个或多个其他电极（例如，反电极或参考电极）的电势进行比较来检测电化学检测反应。该检测可以是分析物特定的。该检测可以是定性和/或定量检测。

[0027] 测试元件可具有至少一个测量区域，其能够执行表征分析物或参数的至少一种变化。如本文进一步使用的，术语“测量区域”可指代物体的其中执行任意测量、特别是分析测量的任意区域或范围。特别地，如上文所描述的测试化学物可被定位在测量区域内，具体地在测量区域的表面上。

[0028] 测试元件可以是电化学测试元件。术语“电化学测试元件”可指代被构造成执行至少一种电化学检测的任意测试元件。如本文所使用的，术语“电化学检测”指代至少一种任意分析物的可电化学检测的性质（例如，电化学检测反应）的检测。因此，例如，可通过将一个或多个电极电势（例如，工作电极的电势）与一个或多个其他电极（例如，反电极或参考电极）的电势进行比较来检测电化学检测反应。检测可以是分析物特定的。该检测可以是定性和/或定量检测。

[0029] 测试元件可包括被构造成接收样品的至少一个毛细管。术语“毛细管”总体上指代任意小的细长的空隙体积，例如小管。通常，毛细管可包括在毫米或亚毫米范围的尺寸。常见地，流体介质可通过毛细作用迁移通过毛细管，其中，由于在流体介质与毛细管的面向流体介质的表面之间的分子间力，流体介质可在不需要诸如重力的外力的辅助的情况下毛细管的狭窄空间中流动。

[0030] 术语“评估装置”可总体上指代被构造成从数据得到信息的至少一个条目的任意装置。特别地，评估装置可被构造成从至少一个信号得到关于体液中分析物的存在性和/或浓度或者关于体液的参数的信息的至少一个条目。

[0031] 如上文所描述，评估装置包括测量装置。术语“测量装置”可总体上指代可被构造成检测至少一个信号的任意装置，优选电子装置。该信号可以是光学信号和/或电化学信号。测量装置可独立于测试元件被处理并且可适于与测试元件相互作用，以便例如通过检测至少一个信号来执行分析。因此，术语“测量装置（measuring device）”通常还可被称为测量装置（measurement device）、分析装置、计量器或测试装置。术语“测量值”可总体上指代由测量装置提供的任意值。特别地，测量值可对应于如下值，该值对应于至少一个所检测的信号或者从所检测的信号得到。

[0032] 如上文所描述，评估装置包括测试元件固持件。术语“测试元件固持件”可总体上指代被构造成接收或固持任意测试元件的任意物体。特别地，测试元件被可定位在测试元件固持件内的特定位置上，使得测试元件沿至少一个方向的运动可至少很大程度上受到抑制。因此，测试元件的测量区域可被定位在相对于测量装置来说的预定位置中。测试元件可特别地被构造成被可逆地放置到测试元件固持件中。因此，测试元件可能够从测试元件固持件容易地被移除。但是，其他实施例也是可行的。测试元件可至少部分地被接收在测试元件固持件中。术语“被接收”可总体上指代物体被完全地或至少部分地定位或插入到容座中或另一元件的开口中的状态。因此，物体的一部分可以被定位在另一元件的外部。示例性地，测试元件固持件可包括被构造成接收测试元件的至少一个容座。因此，容座可被成形为与测试元件互补。因此，容座和测试元件可被构造成建立形状配合连接。但是，其他实施例也是可行的。

[0033] 术语“电加热元件”可指代被构造成向另一物体加载热能的任意元件。其中，热能可由电加热元件产生，例如通过将一种类型的能量变换为另一类型的能量来产生。因此，电加热元件可包括至少一个电加热源。术语“电加热源”可指代被构造成将电能转换为热能的任意装置。此外或替代性地，电加热元件可被构造成将能量传输到另一物体。示例性地，电加热元件可包括至少一个热敏电阻。

[0034] 电加热元件可包括用于测试元件的至少一个平坦支撑表面。如本文进一步使用的，术语“支撑表面”可指代被构造成固持任意元件的任意表面。支撑表面可被构造成建立至该元件的紧密连接。因此，支撑表面可以特别地是平坦和/或光滑的表面。该元件可被构造成松弛地放置在支撑表面上。但是，支撑表面可具有可被成形为与该元件互补的容座和/或可包括诸如弹簧元件的固定元件，使得该元件在支撑表面上的运动可至少很大程度上受到抑制。

[0035] 示例性地，电加热元件可包括至少一个陶瓷板。陶瓷板可以与至少一个电加热源（特别地，与热敏电阻）热接触。术语“热接触”可指代两个或更多个元件被布置成使得热能可能够从一个元件传递到另一元件的性质。如本文进一步使用的，术语“不足的热接触”可指代被布置成使得没有热能或仅较少的热能可能够从一个元件传递到另一元件的在两个或更多个元件之间的任意接触的性质。当两个或更多个元件被布置成彼此隔开一距离时，情况可能示例性地如此。相反，术语“足够的热接触”可指代两个或更多个元件被布置成使得热能可能够以期望的量和/或以对于某些目的来说足够的量从一个元件传递到另一元件的性质。

[0036] 陶瓷板可包括面向被定位在测试元件固持件中的测试元件的至少一个加热表面。测试元件可与加热表面热接触。术语“加热表面”可指代被构造成向另一物体传递热能的任意表面。加热表面可以可选地与平坦支撑表面相同。特别地，温度传感器可以在陶瓷板的背侧上与陶瓷板热接触。其中，背侧可与加热表面相反。电加热元件可以完全地或部分地是测试元件固持件的部分（例如，通过完全地或部分地集成在其中来实现），或者可完全地或部分地被实施为单独的装置。因此，术语“温度传感器被连接到测试元件固持件以用于检测测试元件固持件的温度”还可暗含温度传感器监测至少一个加热元件的温度和/或加热元件的至少一个加热表面的温度的可能性，所述加热元件其完全地或部分地是测试元件固持件的部分。温度传感器特别地可以被构造成监测电加热元件、特别是电加热元件的加热表面的温度。

[0037] 术语“侧”可总体上指代物体的可能够从一个视角看到的任意部件或部分。在物体具有立方体形状的情况下，术语“侧”可特别地指代立方体的一个表面。术语“背侧”可被认为是不指定顺序、并且不排除可存在多种类型的背侧的可能性的描述。

[0038] 术语“电力供应源”可指代被构造成向另一元件、特别是向电力负载提供电能的任意电装置。电力供应源可被构造成从各种类型的能量源获得能量，所述能量源包含电能传递系统、例如电池或燃料电池的能量存储装置、例如发电机的机电系统、或其他功率源。电力供应源可被构造成将一种形式的电能转换为另一形式。因此，电力供应源还可被称为电力转换器。特别地，电加热元件可包括至少一个脉宽调制电压源和/或至少一个脉宽调制电流源。

[0039] 术语“传感器”可总体上指代被构造成检测环境或物体的物理、化学和/或生物参数或性质的变化的任意装置。因此，传感器可以是换能器，因为传感器可被构造成将参数或性质转换为任意类型的输出。术语“温度传感器”可指代被构造成测量温度或温度梯度的任意装置。因此，温度传感器可包括用于将所测量的温度或温度梯度转换为数值的一些手段。示例性地，温度传感器可包括至少一个依赖于温度的电阻。

[0040] 如本文进一步使用的，术语“间隙检测装置”可指代如下任意装置，该装置被构造成确定任意物体与另一元件、特别地与加热元件是否具有足够的热接触、或者是否存在会防止或阻碍物体与元件之间的足够热传递的间隙。如本文所使用的，术语“足够的”可通过使用阈值方法来限定，该阈值方法将热阻与一个或多个阈值进行比较并且在热阻低于阈值或者不超过阈值的情况下将热阻限定为“足够的”。代替使用热阻，可使用在限定的实验条件下的热传递速率，其中，具有至少阈值或者超过阈值的热传递速率被限定为“足够的”。阈值可通过实验来限定，例如通过测量正常状态下的热阻和/或热传递速率来限定，在正常状态下系统令人满意地且无任何失效地操作。

[0041] 如上文所描述，间隙检测装置被构造成监测由所述电力供应源供应到所述电加热元件以用于达到由所述温度传感器测量的预定目标温度的电能Espez。术语“电能Espez”可总体上指代经由电被传递或者被存储在电场中的能量。特别地，间隙检测装置可被构造成评估由所述电力供应源供应到所述电加热元件以用于达到预定目标温度的电能Espez、以及从电能Espez的评估得到关于在电加热元件与测试元件之间的热接触的信息的至少一个条目。特别地，间隙检测装置还可被构造成将关于在电加热元件与测试元件之间的热接触的信息的至少一个条目与至少一个阈值进行比较，以便确定是否给出了足够的热接触以用于利用测试元件分析系统和被定位在测试元件固持件中的测试元件来执行精确测量。如本文所使用的，术语“精确”总体上指代导致如下测量结果的测量，该测量结果至少在预定公差内与由标定测量（例如，实验室标定测量）所获得的测量结果相同。特别地，间隙测量装置可被构造用于包括如下的组中的一者或多者：在检测到电加热元件与测试元件之间的热接触不足的情况下中止测量、防止测量、标示测量、以及发出警告。

[0042] 特别地，间隙测量装置可被构造成确定是否给出下述情形中的一者：测试元件被定位在测试元件固持件内部且测试元件与电加热元件具有预定热接触的情形；没有测试元件被定位在测试元件固持件内部、或者测试元件被定位在测试元件固持件内部且所述测试元件与电加热元件具有不足的热接触或没有热接触的情形。因此，间隙检测装置可被构造成将电能Espez或者从其得到的至少一个值与至少一个阈值相比较以便确定在电加热元件与测试元件之间是否存在足够的热接触。

[0043] 术语“目标温度”可总体上指代任意系统应当达到的期望温度。术语“预定”可总体上指代在某个事件发生或者被引入之前被确定、声明或固定的性质。因此，可以在确定被定位在用于样品的分析检查的测试元件分析系统的测试元件固持件内部的测试元件与电加热元件是否具有足够的热接触之前来限定目标温度的值。术语“阈值”可总体上指代如下最小值，该最小值对于使得某些、期望的动作或事件发生来说是必要的。

[0044] 间隙检测装置可构造成将电能Espez标准化以及将所述电能Espez的标准化值Estd与至少一个阈值进行比较，以便确定在所述电加热元件与所述测试元件之间是否存在足够的热接触。术语“标准化”可总体上指代将原始值变换成使得产生可能够与其他标准化值进行比较的标准化值的数学过程。特别地，电能的标准化值由下述公式来确定：

[0045]     （1）

[0046] Estd可代表电能Espez的标准化值。E∞可代表在没有测试元件被定位在测试元件固持件中的情况下需要由电力供应源供应到电加热元件以用于达到预定目标温度的电能。E0可代表在测试元件被定位在测试元件固持件中并且在电加热元件与测试元件之间没有间隙的情况下需要由电力供应源供应到电加热元件以用于达到预定目标温度的电能。此外，fdev可代表依赖于装置的标定因子和/或仪器特定（instrument-specific）因子。特别地，E∞、E0和fdev可以是被存储在间隙检测装置的数据存储装置中的预定标定参数和/或仪器特定参数。

[0047] 术语“标定”可指代由任意测量装置或控制单元提供的所测量变量相对于所测量变量的正确值的偏差的评估和/或记录。因此，标定测量可被执行、特别地在限定的条件下被执行，以便确定输入参数与输出参数（特别地，所测量变量）之间的相关性。该相关性可能够由标定因子来表述。对于使用标定装置的后续测量，可能够通过标定因子来校正测量值，并且所测量变量的校正值可被用于评估。

[0048] 间隙检测装置可包括至少一个能量检测装置。术语“能量检测装置”可总体上指代如下任意装置、优选地电子装置，其被构造成检测与能量、特别地与电能相关的至少一个信号。特别地，间隙检测装置可被构造成监测由所述电力供应源供应到所述电加热元件以用于达到由所述温度传感器测量的预定目标温度的电能Espez。特别地，能量检测装置可包括电压计或电流计中的至少一者。但是，其他实施例也是可行的。此外，间隙检测装置可包括具有被构造成评估所述电能Espez的软件的至少一个数据处理装置。术语“数据处理装置”可总体上指代被构造成计算或处理数据的任意装置。

[0049] 此外，测试元件分析系统可包括至少一个电接触元件以用于与测试元件、特别地电化学测试元件电接触。如本文所使用的，术语“接触元件”总体上指代导电的任意元件。此外，接触元件可包括一个或多个表面、特别是平坦表面，其可被构造成与其他导电元件建立紧密连接。

[0050] 在本发明的另一方面中，公开了用于确定被定位在用于样品的分析检查的测试元件分析系统的测试元件固持件内部的测试元件与被构造成电加热所述测试元件的电加热元件是否具有足够的热接触的方法。该方法包括在本发明中给出以及如在下文列出的方法步骤。方法步骤可以以给定顺序来执行。但是，方法步骤的其他顺序也是可行的。此外，方法步骤中的一个或多个可以并行地和/或以时间重叠的方式被执行。此外，方法步骤中的一个或多个可以重复地被执行。此外，可能存在未被列出的附加方法步骤。

[0051] 所述方法包括：

[0052] a）将所述测试元件插入到所述测试元件固持件中；

[0053] b）通过使用所述电加热元件将所述测试元件加热到预定目标温度；

[0054] c）监测由电力供应源供应至所述电加热元件以用于达到预定目标温度的电能；

[0055] d）评估由所述电力供应源供应至所述电加热元件以用于达到所述预定目标温度的电能，并且从其得到关于所述电加热元件与所述测试元件之间的热接触的信息的至少一个条目。

[0056] 该方法可特别地通过利用根据如上文所描述或如在下文进一步描述的任何实施例的测试元件分析系统来执行。

[0057] 步骤d）可特别地包括：将电能Espez或者从其得到的至少一个值与至少一个阈值进行比较并且确定在所述电加热元件与所述测试元件之间是否存在足够的热接触。此外，步骤d）可包括：将电能Espez标准化并且将所述电能Espez的标准化值与至少一个阈值进行比较，以便确定在所述电加热元件与所述测试元件之间是否存在足够的热接触。

[0058] 电能的标准化值可通过上述公式（1）来确定。该方法还可包括用于确定标定参数E∞、E0和fdev以及将标定参数存储在至少一个数据存储装置中的至少一个标定步骤。常见地，标定参数可在产生测试元件分析系统期间被确定并且可被存储在测试元件分析系统上，使得可以减少在使用者方面的工作量或处理步骤。特别地，步骤d）可通过使用至少一个数据处理装置来执行，所述数据处理装置特别地是具有被构造成评估所述电能Espez的软件的数据处理装置。

[0059] 所提出的用于样品的分析检查的测试元件分析系统以及所提出的用于确定被定位在用于样品的分析检查的测试元件分析系统的测试元件固持件内部的测试元件与被构造成电加热所述测试元件的电加热元件是否具有足够的热接触的方法相比于公知装置和方法来说提供许多优势。

[0060] 通常，多个测试元件可能必须被加热到某个温度值，特别是以便接收正确的测量结果。温度从目标温度的偏差可能会导致使得测量值偏差。因此，可能通常重要的是知晓测试元件的正确温度。通常，常见测试元件分析系统包括附加温度传感器，该附加温度传感器被引导至测试元件或者在位于测试元件上方的构造体积内。此外或替代性地，可使用导电路径。导电路径和/或温度传感器可能必须被电连接。除了电加热元件之外，这可能特别地需要其他传感器元件和/或其他电子部件。其他传感器元件可能会导致对测量结果产生影响，可能需要构造体积，可能会导致更复杂的测试元件分析系统，并且可能会导致成本增加。此外，可能会需要更复杂且因此更昂贵的测试元件。

[0061] 根据本发明的测试元件分析系统包括电加热元件。在测试元件放置在电加热元件的支撑表面上的情况下，测试元件可良好地热联接到电加热元件。与测试元件不放置在电加热元件的支撑表面上的情况相比，至少包括电加热元件和放置在电加热元件的支撑表面上的应当被加热的测试元件的整个系统的热容量可因此更大。与测试元件不放置在支撑表面上的情况相比，在测试元件放置在支撑表面上的情况下，为了将电加热元件加热至预定目标温度，更大量的能量可能是必要的。在测试元件不放置在支撑表面上的情况下，电加热元件被加热，但是测试元件不被加热，在第一近似（first approximation）中。经由间隙检测算法，可以评估多快达到预定目标温度和/或因此多少能量可能是必要的。因此，可以评估测试元件多好地被电加热元件支撑和热联接到电加热元件。

[0062] 总结本发明的发现，下述实施例是优选的：

[0063] 实施例1：一种用于样品、特别是体液的分析检查的测试元件分析系统，所述测试元件分析系统包括：

[0064] - 至少一个评估装置，所述评估装置具有至少一个测试元件固持件和至少一个测量装置，所述测试元件固持件用于定位容纳所述样品的测试元件，所述测量装置用于测量所述测试元件的测量区域中的变化，所述变化表征所述分析物；

[0065] - 至少一个电加热元件，所述电加热元件被构造成电加热所述测试元件；

[0066] - 至少一个电力供应源，所述电力供应源用于向所述电加热元件供应电能；

[0067] - 至少一个温度传感器，所述温度传感器被连接到所述测试元件固持件以用于检测所述测试元件固持件的温度；

[0068] - 至少一个间隙检测装置，所述间隙检测装置被构造成监测由所述电力供应源供应到所述电加热元件以用于达到由所述温度传感器测量的预定目标温度的电能Espez。

[0069] 实施例2：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，所述间隙检测装置被构造成评估由所述电力供应源供应到所述电加热元件以用于达到所述预定目标温度的电能Espez，以及得到关于在所述电加热元件与所述测试元件之间的热接触的信息的至少一个条目。

[0070] 实施例3：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，所述间隙检测装置还被构造成将关于所述电加热元件与所述测试元件之间的热接触的信息的至少一个条目与至少一个阈值进行比较，以便确定是否给出了足够的热接触以用于利用测试元件分析系统和被定位在所述测试元件固持件中的测试元件来执行精确测量。

[0071] 实施例4：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，所述间隙检测装置被构造用于包括如下的组中的一者或多者：在检测到所述电加热元件与所述测试元件之间的热接触不足的情况下，中止所述测量、防止所述测量、标示所述测量、以及发出警告。

[0072] 实施例5：根据前述实施例中任一项所述的测试元件分析系统，其中，所述间隙检测装置被构造成确定是否给出了下述情形中的一者：测试元件被定位在测试元件固持件内部且测试元件与电加热元件具有预定热接触的情形；没有测试元件被定位在测试元件固持件内部或者测试元件被定位在测试元件固持件内部且所述测试元件与电加热元件具有不足的热接触或没有热接触的情形。

[0073] 实施例6：根据前述实施例中任一项所述的测试元件分析系统，其中，所述间隙检测装置被构造成将电能Espez或者从其得到的至少一个值与至少一个阈值进行比较，以便确定在所述电加热元件与所述测试元件之间是否存在足够的热接触。

[0074] 实施例7：根据前述实施例中任一项所述的测试元件分析系统，其中，所述间隙检测装置被构造成将电能Espez标准化并且将所述电能Espez的标准化值与至少一个阈值进行比较，以便确定在所述电加热元件与所述测试元件之间是否存在足够的热接触。

[0075] 实施例8：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，电能Espez的标准化值Estd由下述公式来确定：

[0076]

[0077] 其中，

[0078] - Estd代表电能Espez的标准化值；

[0079] - E∞代表在没有测试元件被定位在测试元件固持件中的情况下需要由电力供应源供应到电加热元件以用于达到预定目标温度的电能；

[0080] - E0代表在测试元件被定位在测试元件固持件中并且在电加热元件与测试元件之间没有间隙的情况下需要由电力供应源供应到电加热元件以用于达到预定目标温度的电能；以及

[0081] - fdev代表依赖于装置的标定因子。

[0082] 实施例9：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，E∞、E0和fdev是被存储在间隙检测装置的数据存储装置中的预定标定参数。

[0083] 实施例10：根据前述实施例中任一项所述的测试元件分析系统，其中，所述间隙检测装置包括至少一个数据处理装置，所述数据处理装置具有被构造成评估所述电能Espez的软件。

[0084] 实施例11：根据前述实施例中任一项所述的测试元件分析系统，其中，用于向电加热元件供应能量的电力供应源包括脉宽调制电力供应源，特别是至少一个脉宽调制电压源和/或至少一个脉宽调制电流源。

[0085] 实施例12：根据前述实施例中任一项所述的测试元件分析系统，其中，所述至少一个温度传感器包括至少一个依赖于温度的电阻。

[0086] 实施例13：根据前述实施例中任一项所述的测试元件分析系统，其中，所述间隙检测装置包括至少一个能量检测装置，所述能量检测装置被构造成监测由所述电力供应源供应到所述电加热元件以用于达到由所述温度传感器测量的预定目标温度的电能Espez，其中，能量检测装置包括电压计或电流计中的至少一者。

[0087] 实施例14：根据前述实施例中任一项所述的测试元件分析系统，其中，所述电加热元件包括至少一个热敏电阻。

[0088] 实施例15：根据前述实施例中任一项所述的测试元件分析系统，其中，所述电加热元件包括用于所述测试元件的至少一个平坦支撑表面。

[0089] 实施例16：根据前述实施例中任一项所述的测试元件分析系统，其中，所述电加热元件包括至少一个陶瓷板，其中，所述至少一个陶瓷板与至少一个电加热源、特别地与至少一个热敏电阻热接触，其中，所述陶瓷板包括面向被定位在所述测试元件固持件中的测试元件的至少一个加热表面，其中，所述测试元件与所述加热表面热接触。

[0090] 实施例17：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，所述温度传感器在所述陶瓷板的背侧上与所述陶瓷板热接触，所述背侧与所述加热表面相反。

[0091] 实施例18：根据前述实施例中任一项所述的测试元件分析系统，其中，所述测试元件是电化学测试元件。

[0092] 实施例19：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，所述测试元件分析系统还包括用于与所述电化学测试元件电接触的至少一个电接触件。

[0093] 实施例20：根据前述实施例中任一项所述的测试元件分析系统，其中，所述测试元件分析系统还包括至少一个测试元件。

[0094] 实施例21：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，所述测试元件包括被构造成接收所述样品的至少一个毛细管。

[0095] 实施例22：根据前述两项实施例中任一项所述的测试元件分析系统，其中，所述样品是血液样品，并且其中，所述测试元件包括被构造成激活所述血液样品的凝固的至少一种试剂。

[0096] 实施例23：根据前述三项实施例中任一项所述的测试元件分析系统，其中，所述测试元件固持件包括被构造成接收所述测试元件的至少一个容座。

[0097] 实施例24：根据前述实施例中任一项所述的测试元件分析系统，其中，所述电力供应源和所述间隙检测装置被提供为一个单元。

[0098] 实施例25：根据前述实施例中任一项所述的测试元件分析系统，其中，所述电加热元件完全地或部分地是测试元件固持件的部分。

[0099] 实施例26：根据前述实施例中任一项所述的测试元件分析系统，其中，所述温度传感器被构造成监测所述电加热元件、特别是所述电加热元件的加热表面的温度。

[0100] 实施例27：一种用于确定被定位在用于样品的分析检查的测试元件分析系统的测试元件固持件内部的测试元件与被构造成电加热所述测试元件的电加热元件是否具有足够的热接触的方法，所述方法包括：

[0101] a）将所述测试元件插入到所述测试元件固持件中；

[0102] b）通过使用所述电加热元件将所述测试元件加热到预定目标温度；

[0103] c）监测由电力供应源供应至所述电加热元件以用于达到预定目标温度的电能Espez；

[0104] d）评估由所述电力供应源供应至所述电加热元件以用于达到预定目标温度的电能Espez，并且从其得到关于在所述电加热元件与测试元件之间的热接触的信息的至少一个条目。

[0105] 实施例28：根据前述实施例所述的测试元件分析系统，其中，步骤d）包括：将电能Espez或者从其得到的至少一个值与至少一个阈值进行比较并确定在所述电加热元件与所述测试元件之间是否存在足够的热接触。

[0106] 实施例29：根据前述方法实施例中任一项所述的方法，其中，步骤d）包括：将电能Espez标准化并且将所述电能Espez的标准化值Estd与至少一个阈值进行比较，以便确定在所述电加热元件与所述测试元件之间是否存在足够的热接触。

[0107] 实施例30：根据前述两项方法实施例中任一项所述的方法，其中，电能Espez的标准化值Estd由下述公式来确定：

[0108]

[0109] 其中，

[0110] - Estd代表电能Espez的标准化值；

[0111] - E∞代表在没有测试元件被定位在测试元件固持件中的情况下需要由电力供应源供应到电加热元件以用于达到预定目标温度的电能；

[0112] - E0代表在测试元件被定位在测试元件固持件中并且在电加热元件与测试元件之间没有间隙的情况下需要由电力供应源供应到电加热元件以用于达到预定目标温度的电能；以及

[0113] - fdev代表依赖于装置的标定因子。

[0114] 实施例31：根据前述实施例所述的方法，其中，所述方法还包括用于确定标定参数E∞、E0和fdev以及将标定参数存储在至少一个数据存储装置中的至少一个标定步骤。

[0115] 实施例32：根据前述方法实施例中任一项所述的方法，其中，步骤d）通过使用至少一个数据处理装置来执行，所述数据处理装置特别是具有被构造成评估所述电能Espez的软件的数据处理装置。

附图说明

[0116] 优选地结合优选方案，本发明的其他可选特征和实施例将在随后的优选实施例的描述中被更详细地公开。其中，如技术人员将认识到的，相应可选的特征可以以单独的方式以及以任何任意可行组合的方式被实现。本发明的范围不受优选实施例限制。所述实施例在附图中被示意性地示出。其中，在这些附图中，相同的附图标记指代相同或功能上可相比较的元件。

[0117] 在附图中：

[0118] 图1A至图1B以后视图（图1A）和前视图（图1B）示出了测试元件的示例性实施例；

[0119] 图2示出了测试元件和测试元件分析系统的部件；

[0120] 图3以截面图示出了测试元件分析系统的示例性实施例；以及

[0121] 图4示出了电加热元件和测试元件的示例性温度曲线。

具体实施方式

[0122] 图1A和1B以后视图（图1A）和前视图（图1B）示出了测试元件110的示例性实施例。测试元件110可特别地是条形测试元件112并且还可被称为测试条114。测试元件110可特别地是电化学测试元件116。电化学测试元件116可被构造成执行至少一种电化学检测。因此，测试元件110可具有至少一个测量区域118，其能够执行表征样品的分析物或参数的至少一种变化。可借助于设置在测量区域118中的电极（未示出）来测量电量。测试元件110可包括导电接触表面120。电信号可经由导体路径122被传送到导电接触表面120上。测试元件110可包括被构造成接收样品的至少一个毛细管124。毛细管124可被构造成使得诸如样品的流体介质可通过毛细作用迁移通过毛细管124。毛细管124可包括至少一个入口126和至少一个通风开口128。

[0123] 图2示出了测试元件110和测试元件分析系统130的部件。测试元件110至少在很大程度上对应于如图1A和图1B中所示出的测试元件110。因此，可以参考上文对于图1A和图1B的描述。

[0124] 测试元件分析系统130包括被构造成电加热测试元件110的至少一个电加热元件132。电加热元件132可包括用于测试元件110的至少一个平坦支撑表面134。示例性地，电加热元件132可包括至少一个陶瓷板136。陶瓷板136可包括至少一个加热表面138。加热表面
138可与平坦支撑表面134是相同的。陶瓷板136可以与至少一个电加热源139、特别是与至少一个热敏电阻141热接触。此外，测试元件分析系统130包括至少一个温度传感器140，其如图3所示出连接到测试元件固持件142以用于检测测试元件固持件142的温度。平坦支撑表面134和/或加热表面138可以附加地被构造成固持测试元件110。温度传感器140可以在陶瓷板136的背侧144上与陶瓷板136热接触，该背侧144与加热表面138相反。温度传感器
140可包括至少一个依赖于温度的热敏电阻146。

[0125] 此外，测试元件分析系统130包括用于向电加热元件132供应电能Espez的至少一个电力供应源148以及至少一个间隙检测装置150，间隙检测装置150被构造成监测由电力供应源148供应至电加热元件132以用于达到由温度传感器140测量的预定目标温度的电能Espez。间隙检测装置150可包括至少一个能量检测装置151。关于间隙检测装置150的功能的进一步细节，参考上文的描述。电力供应源148和间隙检测装置150可被提供为一个单元152。电力供应源148可包括至少一个脉宽调制电力供应源154，例如至少一个脉宽调制电压源156。

[0126] 图3以截面图示出了测试元件分析系统130的示例性实施例。测试元件分析系统130被构造成用于样品、特别是体液的分析检查。测试元件分析系统130包括具有测试元件固持件142和测量装置160的至少一个评估装置158。此外，测试元件分析系统130包括至少一个电加热元件132、至少一个电力供应源148、至少一个温度传感器140和至少一个间隙检测装置150。电加热元件132、电力供应源148、温度传感器140和间隙检测装置150至少在很大程度上对应于如图2中所示出的电加热元件132、电力供应源148、温度传感器140和间隙检测装置150。因此，可以参考上文对于图2的描述。

[0127] 测试元件固持件142被构造成定位容纳样品的测试元件110。因此，测试元件固持件142可包括构造成接收测试元件110的至少一个容座162。因此，容座162可成形为与测试元件110互补。容座162和测试元件110可被构造成建立形状配合连接。特别地，测试元件110可被固定地定位在测试元件固持件142内的特定位置上，使得测试元件110沿至少一个方向的运动可至少在很大程度上受到抑制。因此，测试元件110的测量区域118可被定位在相对于测量装置160来说的预定位置中。

[0128] 测量装置160被构造成测量测试元件110的测量区域118中的变化，所述变化表征样品的分析物或特征。测试元件固持件142可包括具有接触表面166的接触元件164，所述接触表面可以允许在测试元件110的导电接触表面120之间的电接触。接触元件164可被连接到测量和评估电子器件168，所述测量和评估电子器件可以是高度集成的以便实现非常紧凑的构造和高可靠度。测量和评估电子器件168可特别地包括印刷电路板170和集成电路172。但是，其他实施例也是可行的。

[0129] 图4示出了电加热元件132和测试元件110的示例性电加热元件温度曲线174。电加热元件132和测试元件110可至少在很大程度上对应于如图2中所示出的电加热元件132，并且测试元件110可至少很大程度上对应于如图1A和图1B中所示出的测试元件110。但是，其他实施例也是可行的。

[0130] 在图4中示出了电加热元件132的电加热元件温度曲线174。其中，示出了依赖于时间t的温度T。此外，示出了电加热元件132的脉宽调制信号176。其中，示出了依赖于时间t的脉宽调制PWM。电加热元件132可具有被示出为第一线178的起始温度T1。当加热电加热元件132时，电加热元件温度曲线174可持续地增加并且可达到被示出为第二线180的最大温度T2。之后，电加热元件温度曲线174稳定在被示出为第三线182的预定目标温度T3附近。如上文所描述的电能Espez可对应于在时间间隔∆t期间的能量输入。

[0131] 可相应地形成电加热元件132的脉宽调制信号176。因此，脉宽调制信号176可持续地增加并且可达到被示出为第四线184的最大脉宽调制PWM1。之后，脉宽调制信号176可稳定在被示出为第五线186的目标脉宽调制PWM2附近。

[0132] 此外，在图4中示出了测试元件110的测试元件温度曲线188。当加热电加热元件132时，测试元件温度曲线188可与电加热元件温度曲线188相对应地形成。测试元件温度曲线188可持续地增加并且可达到被示出为第六线190的最大温度T4。之后，测试元件温度曲线188可稳定在被示出为第七线192的预定目标温度T5附近。测试元件110的预定目标温度T5可略微小于电加热元件132的预定目标温度T3。特别地，测试元件110的预定目标温度T5可以是37°C。但是，从该值的微小偏差或甚至用于测试元件110的预定目标温度T5的不同值也可以是可行的。

[0133] 可在时间t1处开始测量测试元件110的测量区域118中的变化。时间t1可对应于当达到测试元件110的预定目标温度T5时的时间。

[0134] 附图标记列表

[0135] 110   测试元件

[0136] 112   条形测试元件

[0137] 114   测试条

[0138] 116   电化学测试元件

[0139] 118   测量区域

[0140] 120   接触表面

[0141] 122   导体路径

[0142] 124   毛细管

[0143] 126   入口

[0144] 128   通风开口

[0145] 130   测试元件分析系统

[0146] 132   电加热元件

[0147] 134   平坦支撑表面

[0148] 136   陶瓷板

[0149] 138   加热表面

[0150] 139   热源

[0151] 140   温度传感器

[0152] 141   热敏电阻

[0153] 142   测试元件固持件

[0154] 144   背侧

[0155] 146   依赖于温度的电阻

[0156] 148   电力供应源

[0157] 150   间隙检测装置

[0158] 151   能量检测装置

[0159] 152   单元

[0160] 154   脉宽调制电力供应源

[0161] 156   脉宽调制电压源

[0162] 158   评估装置

[0163] 160   测量装置

[0164] 162   容座

[0165] 164   接触元件

[0166] 166   接触表面

[0167] 168   测量和评估电子器件

[0168] 170   印刷电路板

[0169] 172   集成电路

[0170] 174   电加热温度曲线

[0171] 176   脉宽调制信号

[0172] 178   第一线

[0173] 180   第二线

[0174] 182   第三线

[0175] 184   第四线

[0176] 186   第五线

[0177] 188   测试元件温度曲线

[0178] 190   第六线

[0179] 192   第七线