一种电源适配器额定寿命测试方法

摘要

本发明公开了一种电源适配器额定寿命测试方法，所述方法包括：获取电源适配器，使所述电源适配器处于满载状态；对所述电源适配器进行高低温循环试验；所述高低温循环试验结束后，检测所述电源适配器是否失效；如果否，对所述电源适配器进行电磁兼容试验；所述电磁兼容试验结束后，检测所述电源适配器是否失效；如果否，对所述电源适配器进行平均无故障时间试验；在所述平均无故障时间试验进行第一设定时间后，计算所述电源适配器中所有电解电容的寿命；将所有电解电容中寿命最短的电解电容的寿命作为所述电源适配器的额定寿命。通过本发明，可以有效预估电源适配器的额定寿命。

权利要求

1.一种电源适配器额定寿命测试方法，其特征在于，所述方法包括：获取电源适配器，使所述电源适配器处于满载状态，所述电源适配器包括初级电解电容以及次级电解电容；

对所述电源适配器进行高低温循环试验；

所述高低温循环试验结束后，检测所述电源适配器是否失效；

如果否，对所述电源适配器进行电磁兼容试验；

所述电磁兼容试验结束后，检测所述电源适配器是否失效；

如果否，对所述电源适配器进行平均无故障时间试验；

在所述平均无故障时间试验进行第一设定时间后，获取所述初级电解电容以及所述次级电解电容的最大额定温度、最大纹波电流、保证寿命以及频率系数；

获取所述初级电解电容的额定电压与实际输入电压；

测试得到所述初级电解电容以及所述次级电解电容的实际纹波电流和表面温度；

将所述初级电解电容的保证寿命、最大额定温度、最大纹波电流、额定电压、实际输入电压、频率系数、实际纹波电流和表面温度代入第一公式得到所述初级电解电容的寿命；所述第一公式为：Lo*2(To-Tx)/10*2(ΔTo-ΔTx)/8*(Vo/Vx)4.4，其中，△To＝(5-(实际纹波电流/最大纹波电流*频率系数))，△Tx＝(实际纹波电流/(最大纹波电流*频率系数))*5，Lo为保证寿命，To为最大额定温度，Tx为表面温度，Vo为额定电压，Vx为实际输入电压；

将所述次级电解电容的保证寿命、最大额定温度、最大纹波电流、频率系数、实际纹波电流和表面温度代入第二公式得到所述次级电解电容的寿命，所述第二公式为：Lo*2(To-Tx)/10*2(5-ΔTx)/5，Lo为保证寿命，To为最大额定温度，Tx为表面温度，△Tx＝(实际纹波电流/(最大纹波电流*频率系数))*5；比较所述初级电解电容的寿命与所述次级电解电容的寿命，得到寿命最短的电解电容的寿命；

将所有电解电容中寿命最短的电解电容的寿命作为所述电源适配器的额定寿命。

2.根据权利要求1所述的电源适配器额定寿命测试方法，其特征在于，所述使所述电源适配器处于满载状态包括：通过电子负载向所述电源适配器配置与所述电源适配器相应的输出电压、电流，或为所述电源适配器配置标称功率的水泥电阻，以使所述电源适配器向所述水泥电阻输出标称电压和电流。

3.根据权利要求2所述的电源适配器额定寿命测试方法，其特征在于，对所述电源适配器进行高低温循环试验之前，所述方法还包括：对所述电源适配器进行老化试验；

所述老化试验结束后，检测所述电源适配器是否失效；

如果否，对所述电源适配器进行高低温循环试验。

4.根据权利要求3所述的电源适配器额定寿命测试方法，其特征在于，对所述电源适配器进行老化试验之前，所述方法还包括：对所述电源适配器进行振动试验；

所述振动试验结束后，检测所述电源适配器是否失效；

如果否，对所述电源适配器进行老化试验。

5.根据权利要求4所述的电源适配器额定寿命测试方法，其特征在于，对所述电源适配器进行平均无故障时间试验之前，所述方法还包括：对所述电源适配器进行开关机试验；

所述开关机试验结束后，检测所述电源适配器的断电与上电的循环次数是否大于或等于设定次数；

如果是，对所述电源适配器进行平均无故障时间试验。

6.根据权利要求5所述的电源适配器额定寿命测试方法，其特征在于，所述开关机试验具体包括：所述电源适配器上电，在所述电源适配器上电第二设定时间后断开所述电源适配器的供电，并在所述电源适配器断电第三设定时间后为所述电源适配器恢复供电，使所述电源适配器重新工作，依次循环，直至所述电源适配器的断电与上电的循环次数大于或等于设定次数为止；所述第一设定时间大于所述第二设定时间，所述第二设定时间大于所述第三设定时间。

说明书

一种电源适配器额定寿命测试方法

技术领域

[0001] 本发明涉及自动化技术领域，更具体地，涉及一种电源适配器额定寿命测试方法。

背景技术

[0002] 电源适配器，作为小型便携式电子设备及电子电器的供电电源变换设备，一般泛指将符合使用地所在的市电转化为符合用电设备输入电压的小型部件，属于电子产品的核心设备，设备出厂前除了需要对电源适配器进行功能测试，还要对电源适配器进行可靠性测试，并预估设备的理论寿命。

[0003] 现有的测试方法对电源适配器进行可靠性测试时，对电源适配器进行长时间不间断工作模拟实验，通过肉眼观测电源适配器输入输出检查电源适配器的工作状态。此方法有以下不足：

[0004] 1、整个测试过程需要有人值守，占用人力，需要较长时间进行模拟老化。

[0005] 2、测试工程无法对电源适配器的元器件进行有效的检测，并不能确定核心器件的理论寿命，电源适配器核心器件主要为开关变压器、次级整流管、电感线圈、电源适配器保险丝、滤波电容、芯片、整流桥、滤波电容、压敏电阻，当仅进行老化实验可以确定在老化实验的范围内上述器件是有效性的，但是无法确定核心器件的理论寿命。

[0006] 3、单纯的老化实验并不具备严谨的科学性，一台电源适配器理论寿命至少5000h，老化实验不可能进行5000h的长时间测试，一般为7*24h，存在一定程度的几率让不合格产品通过测试。

发明内容

[0007] 有鉴于此，本发明提供了一种电源适配器额定寿命测试方法，以有效地预估电源适配器的额定寿命。

[0008] 一种电源适配器额定寿命测试方法，所述方法包括：

[0009] 获取电源适配器，使所述电源适配器处于满载状态，所述电源适配器包括初级电解电容以及次级电解电容；

[0010] 对所述电源适配器进行高低温循环试验；

[0011] 所述高低温循环试验结束后，检测所述电源适配器是否失效；

[0012] 如果否，对所述电源适配器进行电磁兼容试验；

[0013] 所述电磁兼容试验结束后，检测所述电源适配器是否失效；

[0014] 如果否，对所述电源适配器进行平均无故障时间试验；

[0015] 在所述平均无故障时间试验进行第一设定时间后，获取所述初级电解电容以及所述次级电解电容的最大额定温度、最大纹波电流、保证寿命以及频率系数；

[0016] 获取所述初级电解电容的额定电压与实际输入电压；

[0017] 测试得到所述初级电解电容以及所述次级电解电容的实际纹波电流和表面温度；

[0018] 将所述初级电解电容的保证寿命、最大额定温度、最大纹波电流、额定电压、实际输入电压、频率系数、实际纹波电流和表面温度代入第一公式得到所述初级电解电容的寿命；

[0019] 将所述次级电解电容的最大额定温度、最大纹波电流、频率系数、实际纹波电流和表面温度代入第二公式得到所述次级电解电容的寿命，所述第二公式是与所述第一公式不相同的公式；

[0020] 比较所述初级电解电容的寿命与所述次级电解电容的寿命，得到寿命最短的电解电容的寿命；

[0021] 将所有电解电容中寿命最短的电解电容的寿命作为所述电源适配器的额定寿命。

[0022] 可选地，所述第一公式为：

[0023] Lo*2(To-Tx)/10*2(ΔTo-ΔTx)/8*(Vo/Vx)4.4，其中，△To＝(5-(实际纹波电流/最大纹波电流*频率系数))，△Tx＝(实际纹波电流/(最大纹波电流*频率系数))*5，Lo为保证寿命，To为最大额定温度，Tx为表面温度，Vo为额定电压，Vx为实际输入电压。

[0024] 可选地，所述第二公式为：

[0025] Lo*2(To-Tx)/10*2(5-ΔTx)/5，Lo为保证寿命，To为最大额定温度，Tx为表面温度，△Tx＝(实际纹波电流/(最大纹波电流*频率系数))*5。

[0026] 可选地，所述使所述电源适配器处于满载状态包括：

[0027] 通过电子负载向所述电源适配器配置与所述电源适配器相应的输出电压、电流，或为所述电源适配器配置标称功率的水泥电阻，以使所述电源适配器向所述水泥电阻输出标称电压和电流。

[0028] 可选地，对所述电源适配器进行高低温循环试验之前，所述方法还包括：

[0029] 对所述电源适配器进行老化试验；

[0030] 所述老化试验结束后，检测所述电源适配器是否失效；

[0031] 如果否，对所述电源适配器进行高低温循环试验。

[0032] 可选地，对所述电源适配器进行老化试验之前，所述方法还包括：

[0033] 对所述电源适配器进行振动试验；

[0034] 所述振动试验结束后，检测所述电源适配器是否失效；

[0035] 如果否，对所述电源适配器进行老化试验。

[0036] 可选地，对所述电源适配器进行平均无故障时间试验之前，所述方法还包括：

[0037] 对所述电源适配器进行开关机试验；

[0038] 所述开关机试验结束后，检测所述电源适配器的断电与上电的循环次数是否大于或等于设定次数；

[0039] 如果是，对所述电源适配器进行平均无故障时间试验。

[0040] 可选地，所述开关机试验具体包括：

[0041] 所述电源适配器上电，在所述电源适配器上电第二设定时间后断开所述电源适配器的供电，并在所述电源适配器断电第三设定时间后为所述电源适配器恢复供电，使所述电源适配器重新工作，依次循环，直至所述电源适配器的断电与上电的循环次数大于或等于设定次数为止；所述第一设定时间大于所述第二设定时间，所述第二设定时间大于所述第三设定时间。

[0042] 与现有技术相比，本发明提供的电源适配器额定寿命测试方法，至少实现了如下的有益效果：

[0043] 1)本发明提供的电源适配器额定寿命测试方法，采用高低温循环试验、电磁兼容试验以及平均无故障时间试验多种测试试验的组合判断出一款电源适配器的理论寿命，使得电源适配器这一核心部件在实际生产中得到了质量保证。

[0044] 2)本发明提供的电源适配器额定寿命测试方法，采用平均无故障时间试验进行理论寿命预估可以准确地测试出具体小时的寿命，便于量化，结合电磁兼容试验可以保证使用中不因电源适配器失效造成其他电气设备的损害。

[0045] 3)本发明提供的电源适配器额定寿命测试方法，仅需要在实际生产前，根据流程进行封样测试，大大节省了生产人力成本。

[0046] 当然，实施本发明的任一产品必不特定需要同时达到以上所述的所有技术效果。

[0047] 通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明

[0048] 被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例，并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。

[0049] 图1是本发明实施例电源适配器额定寿命测试方法的一种流程图；

[0050] 图2是本发明实施例电源适配器额定寿命测试方法的另一种流程图；

[0051] 图3是本发明实施例中开机试验的一种流程图。

具体实施方式

[0052] 现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。

[0053] 以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。

[0054] 对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

[0055] 在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

[0056] 应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

[0057] 如图1所示是本发明实施例电源适配器额定寿命测试方法的一种流程图，包括以下步骤：

[0058] 步骤100：获取电源适配器，使所述电源适配器处于满载状态。

[0059] 其中，所述电源适配器包括初级电解电容以及次级电解电容。需要说明的是，根据电源适配器的内部结构，所述电源适配器包括初级电解电容以及次级电解电容，具体地，电源适配器中具有变压器，位于变压器初级端的电解电容称为初级电解电容，位于变压器次级端的电解电容称为次级电解电容。

[0060] 具体地，所述使所述电源适配器处于满载状态包括：

[0061] 通过电子负载向所述电源适配器配置与所述电源适配器相应的输出电压、电流，或为所述电源适配器配置标称功率的水泥电阻，以使所述电源适配器向所述水泥电阻输出标称电压和电流。

[0062] 比如，当前电源适配器的标称电流为1.5A，标称电压为12V(标称电压与标称电流通过查阅电源适配器铭牌和电源适配器说明书得到)，则一种实施例中电子负载与电源适配器连接并且电源适配器向电子负载输出12V1.5A电源，或者另一种实施例中标称功率的水泥电阻与电源适配器连接，以模拟负载，所述标称水泥电阻可以为P＝UI＝12*1.5＝18W的水泥电阻，从而可以满足电源适配器满载工作要求。

[0063] 步骤101：对所述电源适配器进行高低温循环试验。

[0064] 具体地，高低温试验中低温试验可以参照GB-T2423.1_2008，高低温试验中高温试验可以参照GB-T2423.2-2008；具体地，高低温试验过程为：设定每6小时进行一个高低温循环，高温温度为55摄氏度，低温温度为-20摄氏度，电源适配器外接电子负载，仅电源适配器放置在高低温环境中进行高低温循环，一般高低温循环需要进行28个周期。

[0065] 步骤102：所述高低温循环试验结束后，检测所述电源适配器是否失效；如果是，执行步骤103；否则，执行步骤104。

[0066] 需要说明的是，本发明实施例中电源适配器失效是指电源适配器进行高低温循环试验后无法正常工作。

[0067] 步骤103：结束。

[0068] 步骤104：对所述电源适配器进行电磁兼容试验。

[0069] 具体地，电磁兼容性(Electro Magnetic Compatibility，EMC)，是指设备或系统在其电磁环境中符合要求运行并不对其环境中的任何设备产生无法忍受的电磁干扰的能力。其中，浪涌试验为电磁兼容试验中的一种，浪涌也叫突波，浪涌为超出正常工作电压的瞬间过电压。本质上讲，浪涌是发生在仅仅几百万分之一秒时间内的一种剧烈脉冲。日常生活中的浪涌比如打雷。进一步，本发明中电磁兼容试验可以参照GB17626.5-2008-T执行。

[0070] 步骤105：所述电磁兼容试验结束后，检测所述电源适配器是否失效；如果是，执行步骤103；否则，执行步骤106。

[0071] 需要说明的是，本发明实施例中电源适配器失效是指电源适配器进行电磁兼容试验后无法正常工作。

[0072] 步骤106：对所述电源适配器进行平均无故障时间试验。

[0073] 平均无故障时间，也即平均故障间隔时间(Mean Time Between Failure，MTBF)。MTBF是衡量一个产品(尤其是电器产品)的可靠性指标。单位为“小时”。它反映了产品的时间质量，是体现产品在规定时间内保持功能的一种能力。

[0074] 步骤107：在所述平均无故障时间试验进行第一设定时间后，获取所述初级电解电容以及所述次级电解电容的最大额定温度、最大纹波电流、保证寿命以及频率系数。

[0075] 需要说明的是，第一设定时间可以根据平均无故障时间试验标定确定，比如，第一设定时间为1小时。

[0076] 步骤108：获取所述初级电解电容的额定电压与实际输入电压。

[0077] 步骤109：测试得到所述初级电解电容以及所述次级电解电容的实际纹波电流和表面温度。

[0078] 步骤110：将所述初级电解电容的保证寿命、最大额定温度、最大纹波电流、额定电压、实际输入电压、频率系数、实际纹波电流和表面温度代入第一公式得到所述初级电解电容的寿命。

[0079] 具体地，所述第一公式为：

[0080] Lo*2(To-Tx)/10*2(ΔTo-ΔTx)/8*(Vo/Vx)4.4，其中，△To＝(5-(实际纹波电流/最大纹波电流*频率系数))，△Tx＝(实际纹波电流/(最大纹波电流*频率系数))*5，Lo为保证寿命，To为最大额定温度，Tx为表面温度，Vo为额定电压，Vx为实际输入电压。

[0081] 下面以一颗10μF/450V初级电解电容为例，保证寿命Lo为2000h，其中最大额定温度To为105℃，平均无故障时间试验试验在恒温25℃中进行，检测到该电解电容表面温度为60℃，最大纹波电流为160mA，实际纹波电流121mA，频率系数为1，额定电压Vo为450V，实际输入电压Vx为360V，根据第一公式可得该电解电容的预计寿命为436446h。

[0082] 步骤111：将所述次级电解电容的最大额定温度、最大纹波电流、频率系数、实际纹波电流和表面温度代入第二公式得到所述次级电解电容的寿命，所述第二公式是与所述第一公式不相同的公式。

[0083] 具体地，所述第二公式为：

[0084] Lo*2(To-Tx)/10*2(5-ΔTx)/5，Lo为保证寿命，To为最大额定温度，Tx为表面温度，△Tx＝(实际纹波电流/(最大纹波电流*频率系数))*5。

[0085] 下面以一颗10μF/50V次级电解电容为例，保证寿命Lo为2000h，其中最大额定温度To为105℃，平均无故障时间试验试验在恒温25℃中进行，检测到电解电容表面温度Tx为55℃，频率系数为1，最大纹波电流28mA，实际纹波电流为120mA，根据第二公式可得该次级电解电容的预计寿命为123260h。

[0086] 步骤112：比较所述初级电解电容的寿命与所述次级电解电容的寿命，得到寿命最短的电解电容的寿命。

[0087] 步骤113：将所有电解电容中寿命最短的电解电容的寿命作为所述电源适配器的额定寿命。

[0088] 需要说明的是，本实施例中，所有点解电容是指所有的初级电解电容以及次级电解电容。

[0089] 本发明实施例提供的电源适配器额定寿命测试方法，在电源适配器处于满载状态时，对电源适配器进行高低温循环试验、电磁兼容试验，在电源适配器满足高低温循环试验、电磁兼容试验后，进行平均无故障时间时间，并在所述平均无故障时间试验进行第一设定时间后，计算所述电源适配器中所有电解电容的寿命，得到所述电源适配器的寿命。本发明基于木桶效应，电源适配器的额定寿命与所有元器件相关，其中电源适配器中电解电容为最敏感的核心元器件，也是可以得到电源适配器理论寿命数值的器件，因此，将所有电解电容中寿命最短的电解电容的寿命作为所述电源适配器的额定寿命可以有效确定电源适配器的额定寿命。

[0090] 进一步为了，更加有效地确定电源适配器的额定寿命，如图2所示是本发明实施例电源适配器额定寿命测试方法的另一种流程图，包括以下步骤：

[0091] 步骤200：获取电源适配器，使所述电源适配器处于满载状态，所述电源适配器包括初级电解电容以及次级电解电容。

[0092] 步骤201：对所述电源适配器进行振动试验。

[0093] 具体地，振动试验为控制电源适配器在设定扫描频率、加速度值、位移量以及测试时间中进行不规律振动，不规律振动后检查电源适配器外观是否损伤，晃动是否有异响，电气性能是否正常，出现任一异常现象确定电源适配器失效。

[0094] 步骤202：所述振动试验结束后，检测所述电源适配器是否失效；如果是，执行步骤203；否则，执行步骤204。

[0095] 需要说明的是，所述电源适配器的失效是指：电源适配器外观损伤、晃动时有异响、电源适配器电气性能不正常三种中的任一种。

[0096] 步骤203：结束。

[0097] 步骤204：对所述电源适配器进行老化试验。

[0098] 具体地，老化试验是指：使电源适配器维持满载状态7*24h，检测电源适配器是否失效。

[0099] 步骤205：所述老化试验结束后，检测所述电源适配器是否失效；如果是，执行步骤203；否则，执行步骤206。

[0100] 需要说明的是，本发明实施例中，所述电源适配器失效是指电源适配器无法正常工作。

[0101] 步骤206：对所述电源适配器进行高低温循环试验。

[0102] 步骤207：所述高低温循环试验结束后，检测所述电源适配器是否失效；如果是，执行步骤203；否则，执行步骤208。

[0103] 步骤208：对所述电源适配器进行电磁兼容试验。

[0104] 步骤209：所述电磁兼容试验结束后，检测所述电源适配器是否失效；如果是，执行步骤203；否则，执行步骤210。

[0105] 步骤210：对所述电源适配器进行开关机试验。

[0106] 具体地，所述开关机试验具体包括：

[0107] 所述电源适配器上电，在所述电源适配器上电第二设定时间后断开所述电源适配器的供电，并在所述电源适配器断电第三设定时间后为所述电源适配器恢复供电，使所述电源适配器重新工作，依次循环，直至所述电源适配器的断电与上电的循环次数大于或等于设定次数为止；所述第一设定时间大于所述第二设定时间，所述第二设定时间大于所述第三设定时间。

[0108] 需要说明的是，第二设定时间、第三设定时间可以根据具体地开关试验标定确定，比如，第二设定时间为15s、第三设定时间为5s。

[0109] 如图3所示，所述开关机试验具体流程包括以下步骤：

[0110] 步骤2100：初始化计数器。

[0111] 步骤2101：电源适配器上电。

[0112] 步骤2102：检测所述电源适配器上电是否持续第二设定时间；如果是，执行步骤2103；否则，继续执行步骤2102。

[0113] 步骤2103：使所述电源适配器断电。

[0114] 步骤2104：检测所述电源适配器断电是否持续第三设定时间；如果是，执行步骤2105；否则，继续执行步骤2104。

[0115] 步骤2105：所述计数器加一，检测所述计数器是否大于或等于设定次数；如果是，执行步骤2106；否则，返回执行步骤2101。

[0116] 需要说明的是，设定次数可以根据电源适配器标定确定，设定次数为电源适配器成功开关机次数，与电源适配器额定的开关机次数相同，比如，设定次数为5000次。

[0117] 本实施例中，每一个导通的周期，计数器+1当计数器的数值大于或等于5000时，我们可以选择计数此项实验，没有必要做到电源完全失效，5000次已经是一个非常大的数值，如果在低于5000次时发生失效，则以实际成功开关机次数为最终开关机次数。

[0118] 步骤2106：结束。

[0119] 步骤211：所述开关机试验结束后，检测所述电源适配器的断电与上电的循环次数是否大于或等于设定次数；如果是，执行步骤212；否则，执行步骤203。

[0120] 需要说明的是，设定次数可以根据电源适配器标定确定，比如，设定次数为5000次。

[0121] 步骤212：对所述电源适配器进行平均无故障时间试验。

[0122] 步骤213：在所述平均无故障时间试验进行第一设定时间后，获取所述初级电解电容以及所述次级电解电容的最大额定温度、最大纹波电流、保证寿命以及频率系数。

[0123] 步骤214：获取所述初级电解电容的额定电压与实际输入电压。

[0124] 步骤215：测试得到所述初级电解电容以及所述次级电解电容的实际纹波电流和表面温度。

[0125] 步骤216：将所述初级电解电容的保证寿命、最大额定温度、最大纹波电流、额定电压、实际输入电压、频率系数、实际纹波电流和表面温度代入第一公式得到所述初级电解电容的寿命。

[0126] 步骤217：将所述次级电解电容的最大额定温度、最大纹波电流、频率系数、实际纹波电流和表面温度代入第二公式得到所述次级电解电容的寿命，所述第二公式是与所述第一公式不相同的公式。

[0127] 步骤218：比较所述初级电解电容的寿命与所述次级电解电容的寿命，得到寿命最短的电解电容的寿命。

[0128] 步骤219：将所有电解电容中寿命最短的电解电容的寿命作为所述电源适配器的额定寿命。

[0129] 本发明实施例提供的电源适配器额定寿命测试方法，在进行平均无故障时间试验之前增加了振动试验、老化试验以及开关机试验，本发明实施例结合EMC实验和MTBF实验进行电源寿命的预估，较为科学的预估电源适配器的寿命，并不单纯地用单一的方法来预估电源适配器的寿命；通过EMC实验我们可知在发生雷击情况下整机是否可以抵御较大浪涌。振动试验我们可知在运输中是否可以抵御较大幅度震动跌落。通过高低温循环和老化试验我们可以模拟连续运行是否出现失效情况。通过MTBF实验我们可知在长时间连续运行中核心部件能否持续工作。电源适配器每次开关机都会产生一定的损耗，通过进行开关机实验，我们可以对电源的开关寿命做出一个预估从而使本发明的电源适配器的性能更稳定，确定得到的电源适配器的额定寿命更加有效。

[0130] 通过上述实施例可知，本发明提供的电源适配器额定寿命测试方法，至少实现了如下的有益效果：

[0131] 1)本发明提供的电源适配器额定寿命测试方法，采用高低温循环试验、电磁兼容试验以及平均无故障时间试验多种测试试验的组合判断出一款电源适配器的理论寿命，使得电源适配器这一核心部件在实际生产中得到了质量保证。

[0132] 2)本发明提供的电源适配器额定寿命测试方法，采用平均无故障时间试验进行理论寿命预估可以准确地测试出具体小时的寿命，便于量化，结合电磁兼容试验可以保证使用中不因电源适配器失效造成其他电气设备的损害。

[0133] 3)本发明提供的电源适配器额定寿命测试方法，仅需要在实际生产前，根据流程进行封样测试，大大节省了生产人力成本。

[0134] 虽然已经通过例子对本发明的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上例子仅是为了进行说明，而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本发明的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。