跳纤测试方法

摘要

本发明涉及光纤通信技术领域，具体公开一种跳纤测试方法，先对所有站点两侧的纤芯进行成对环回接线，然后采用一批人在起点配合测试，另一批人在各节点依次进行拆纤对接，可充分利用有限的人力高效率高质量的完成跳纤工作，让工作变得更为简单、清晰，提高了跳纤的质量，一旦出现紧急情况可立即跳通应急通道，可保障通信网快速恢复。

权利要求

1.一种跳纤测试方法，适用于对通信网络进行跳纤测试，所述通信网络依次包括A站点、B站点、C站点……J站点和K站点，相邻两站点之间均通过电力光缆连通，其特征在于，所述跳纤测试方法包括：

环回接线：将相邻两站点之间的电力光缆内的纤芯按每两根为一组分成若干纤芯组，并使位于同一站点内的同一纤芯组的两纤芯导通；所有电力光缆的纤芯组数量相同；

断线对接：断开连接A站点与B站点的AB电力光缆位于B站点的一端的各纤芯组，断开连接B站点与C站点的BC电力光缆位于B站点的一端的各纤芯组；将每组被断开的AB电力光缆的纤芯组均与一组被断开的BC电力光缆的纤芯组对接，被对接的两纤芯组组成待测回路；

损耗测试：在A站点对每一组待测回路进行损耗测试，损耗测试所得数值的1/2即为A站点与C站点间的纤芯损耗值；若纤芯损耗值不满足要求，则更换AB电力光缆和/或BC电力光缆；若纤芯损耗值满足要求，则依次对下一站点进行断线对接和损耗测试。

2.根据权利要求1所述的跳纤测试方法，其特征在于，所述在A站点对每一组待测回路进行损耗测试，损耗测试所得数值的1/2即为A站点与C站点间的纤芯损耗值，具体为：在A站点使用光源器和光功率器对每一组待测回路进行损耗测试，检测所得的功率损耗值的1/2即为A站点与C站点间的纤芯损耗值。

3.根据权利要求1所述的跳纤测试方法，其特征在于，还包括：断开末端环回：断开连接J站点与K站点的JK电力光缆位于K站点的一端的各纤芯组。

4.根据权利要求3所述的跳纤测试方法，其特征在于，还包括：在A站点和K站点接入设备，实现通信。

5.根据权利要求1所述的跳纤测试方法，其特征在于，所述电力光缆的纤芯数量为复数。

说明书

跳纤测试方法

技术领域

[0001] 本发明涉及光纤通信技术领域，尤其涉及一种跳纤测试方法。

背景技术

[0002] 南方电网各地市局之间组成了多个通信网，各通信网之间有些是通过光缆直连接通的，有些则是通过连续几条光缆进行跳纤接通的。在通信网运行得过程中，总是不可避免
地会遇到需要跳纤转移或者跳纤恢复等情况，这些时候都需要进行跳纤测试。

[0003] 跳纤测试的目的是保证各站点之间均可通。假设有A、B、C和D四个站点需要进行跳纤接通，目前的跳纤测试方法如下：

[0004] ①A站和B站进行对光操作；

[0005] ②B站与C站进行对光，然后用尾纤跳接连通AB段和BC段；

[0006] ③C站与D站进行对光，然后用尾纤跳纤连通BC段和CD段；

[0007] ④最后，A站与D站进行全程对光。

[0008] 上述的跳纤测试方法具有以下弊端：

[0009] 有些光缆的纤芯质量不佳，在传输过程中的损耗较大，最终会导致输出功率无法达到站点设备所需的功率要求的情况，然而，当前的测试方法仅进行对光操作，并不能当场
检测出光缆的质量问题，因此，经常会出现诸如以下的情况：

[0010] 经检测，B站到C站可通，到第C站到D站进行检测时却发现B站到C站的纤芯损耗太大，需返回B站重新跳纤。

[0011] 上述弊端会极大地降低跳纤测试的工作效率，为了避免多次返回，则需要在每个站点都配备工作人员，这又会导致人力资源浪费的问题。

发明内容

[0012] 本发明的一个目的在于，提供一种跳纤测试方法，能当场对站点之间的纤芯损耗情况进行检测，既能提高工作效率，又能节约人力。

[0013] 为达以上目的，本发明提供一种跳纤测试方法，适用于对通信网络进行跳纤测试，所述通信网络依次包括A站点、B站点、C站点……J站点和K站点，相邻两站点之间均通过电
力光缆连通，其特征在于，所述跳纤测试方法包括：

[0014] 环回接线：将相邻两站点之间的电力光缆内的纤芯按每两根为一组分成若干纤芯组，并使位于同一站点内的同一纤芯组的两纤芯导通；所有电力光缆的纤芯组数量相同；

[0015] 断线对接：断开连接A站点与B站点的AB电力光缆位于B站点的一端的各纤芯组，断开连接B站点与C站点的BC电力光缆位于B站点的一端的各纤芯组；将每组被断开的AB电力
光缆的纤芯组均与一组被断开的BC电力光缆的纤芯组对接，被对接的两纤芯组组成待测回
路；

[0016] 损耗测试：在A站点对每一组待测回路进行损耗测试，损耗测试所得数值的1/2即为A站点与C站点间的纤芯损耗值；若纤芯损耗值不满足要求，则更换AB电力光缆和/或BC电
力光缆；若纤芯损耗值满足要求，则依次对下一站点进行断线对接和损耗测试。

[0017] 优选地，所述在A站点对每一组待测回路进行损耗测试，损耗测试所得数值的1/2即为A站点与C站点间的纤芯损耗值，具体为：

[0018] 在A站点使用光源器和光功率器对每一组待测回路进行损耗测试，检测所得的功率损耗值的1/2即为A站点与C站点间的纤芯损耗值。

[0019] 优选地，还包括：

[0020] 断开末端环回：断开连接J站点与K站点的JK电力光缆位于K站点的一端的各纤芯组。

[0021] 优选地，还包括：

[0022] 在A站点和K站点接入设备，实现通信。

[0023] 优选地，所述电力光缆的纤芯数量为复数。

[0024] 本发明的有益效果在于：提供一种跳纤测试方法，能当场对站点之间的纤芯损耗情况进行检测，既能提高工作效率，又能节约人力。

附图说明

[0025] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本
发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可
以根据这些附图获得其它的附图。

[0026] 图1为实施例提供的环回接线的示意图；

[0027] 图2为实施例提供的三站点的断线对接示意图；

[0028] 图3为实施例提供的四站点的断线对接示意图。

具体实施方式

[0029] 为使得本发明的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实
施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通
技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范
围。

[0030] 在本发明的描述中，需要理解的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。当一个组件被认为是“设
置在”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中设置的组件。

[0031] 此外，术语“长”“短”“内”“外”等指示方位或位置关系为基于附图所展示的方位或者位置关系，仅是为了便于描述本发明，而不是指示或暗示所指的装置或原件必须具有此
特定的方位、以特定的方位构造进行操作，以此不能理解为本发明的限制。

[0032] 下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。

[0033] 一方面，本实施例提供一种通信网络，其依次包括A站点、B站点、C站点……J站点和K站点，相邻两站点之间均通过电力光缆连通。可于本实施例中，A站点为起点站点，B站
点、C站点……J站点等均为中间站点，K站点为终点站点。可以理解的是，中间站点的数量可
以是零个，一个，两个，三个，四个，或者任意多个。优选地，所述电力光缆的纤芯数量为复
数。

[0034] 另一方面，本实施例提供一种跳纤测试方法，适用于对通信网络进行跳纤测试，其包括以下步骤：

[0035] S10：环回接线：参见图1，将相邻两站点之间的电力光缆2内的纤芯按每两根为一组分成若干纤芯组201，并使位于同一站点内的同一纤芯组201的两纤芯导通；所有电力光
缆2的纤芯组201数量相同。

[0036] 优选地，电力光缆为24芯结构，若所有纤芯均为空余纤芯，则每段的电力光缆均可以组成12组纤芯组。一般地，采用空余纤芯进行跳纤。

[0037] 参见图1～图2，每个站点内均设有光纤配线单元1，具体地，起点站点和终点站点均配置一个光纤配线单元1；中间站点均配置两个光纤配线单元2，一个用于与上一个站点
连接，另一个用于与下一个站点连接。在步骤S10中，先使相连接的两光纤配线单元1之间的
电力光缆2构成环回回路。

[0038] 优选地，因为在步骤S40中需要使用AB电力光缆位于A站点的一端的各纤芯组作为检测设备的接入端，所以在进行步骤S10时，可以不连接连接A站点与B站点的AB电力光缆位
于A站点的一端的各纤芯组。

[0039] 优选地，可以设置自动合闸装置，当出现故障时，各光纤配线单元配备的自动合闸装置自动合闸以实现相邻两站点间的环回接线。当然，因为跳纤主要采用空余纤芯，所以也
可以使空余纤芯一开始就处于环回状态，当需要测试时，只需要两批工作人员，一批直接在
起点站点进行测试，另一批依次到下游的各站点进行断线对接即可。

[0040] S20：断线对接：断开连接A站点与B站点的AB电力光缆位于B站点的一端的各纤芯组，断开连接B站点与C站点的BC电力光缆位于B站点的一端的各纤芯组；将每组被断开的AB
电力光缆的纤芯组均与一组被断开的BC电力光缆的纤芯组对接，被对接的两纤芯组组成待
测回路。

[0041] 具体地，将AB电力光缆和BC电力光缆进行对接，在A站点就可以得到12组待测回路，每一组待测回路的长度均是AC电力光缆长度的两倍。

[0042] S30：损耗测试：在A站点对每一组待测回路进行损耗测试，损耗测试所得数值的1/2即为A站点与C站点间的纤芯损耗值；若纤芯损耗值不满足要求，则更换AB电力光缆和/或
BC电力光缆；若纤芯损耗值满足要求，则依次对下一站点进行断线对接和损耗测试。

[0043] 具体地，在A站点依次对12组待测回路进行检测，若纤芯损耗值不满足要求，则可以立刻发现，无需到C站点才能发现，从而减少了返回检修的时间。

[0044] 优选地，所述在A站点对每一组待测回路进行损耗测试，损耗测试所得数值的1/2即为A站点与C站点间的纤芯损耗值，具体为：

[0045] 在A站点使用光源器和光功率器对每一组待测回路进行损耗测试，检测所得的功率损耗值的1/2即为A站点与C站点间的纤芯损耗值。

[0046] 本实施例中，若纤芯损耗值满足要求，则依次对下一站点进行断线对接和损耗测试，具体如下：

[0047] 可以理解的是，若中间站点只有B站点一个，C站点为终点站点，参见图2，所述S30包括：

[0048] 若纤芯损耗值满足要求，则执行S40。

[0049] 若中间站点有B站点和C站点两个，D站点为终点站点，参见图3，各光纤配线单元1均通过电力光缆2进行连接，所述S30包括：

[0050] 若纤芯损耗值满足要求，则：

[0051] 对C站点执行断线对接：断开连接B站点与C站点的BC电力光缆位于C站点的一端的各纤芯组，断开连接C站点与D站点的CD电力光缆位于C站点的一端的各纤芯组；将每组被断
开的BC电力光缆的纤芯组均与一组被断开的CD电力光缆的纤芯组对接，被对接的两纤芯组
组成待测回路；

[0052] 对C站点执行损耗测试：在A站点对每一组待测回路进行损耗测试，损耗测试所得数值的1/2即为A站点与D站点间的纤芯损耗值；若纤芯损耗值不满足要求，则更换CD电力光
缆；若纤芯损耗值满足要求，则执行S40。

[0053] 如此类推，当中间站点的数量逐渐增大时，依次对下一站点进行断线对接和损耗测试，直至与终点站点连接的中间站点所测的纤芯损耗值满足要求，则执行S40。

[0054] S40：断开末端环回：断开连接J站点与K站点的JK电力光缆位于K站点的一端的各纤芯组。

[0055] 可以理解的是，K站点为终点站点。

[0056] S50：在A站点和K站点接入设备，实现通信。

[0057] 可以理解的是，K站点为终点站点。

[0058] 本实施例提供的跳纤测试方法，先对所有站点两侧的纤芯进行成对环回接线，然后采用一批人在起点配合测试，另一批人在各节点依次进行拆纤对接，可充分利用有限的
人力高效率高质量的完成跳纤工作，让工作变得更为简单、清晰，提高了跳纤的质量，一旦
出现紧急情况可立即跳通应急通道，可保障通信网快速恢复。

[0059] 相对于现有技术方法，本实施例提供的跳纤测试方法具有如下有益效果：

[0060] 1、减少了运维人员的工作量，相对缩短了时间，降低了作业的成本，提高了工作效率。

[0061] 2、采用该方法法能够及时发现并立即更换问题纤芯，确保跳纤工作质量，提高工作的可靠性。特别是在出现紧急光路故障时，能够快速恢复业务，提高通信网稳定性，降低
电网风险。

[0062] 本发明提供的跳纤测试方法，能当场对站点之间的纤芯损耗情况进行检测，既能提高工作效率，又能节约人力。

[0063] 以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施
例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者
替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。