磁盘装置以及致动器的控制方法

摘要

实施方式提供一种提高伺服控制的精度的磁盘装置以及致动器的控制方法。本实施方式涉及的磁盘装置具备具有第1面和与所述第1面相反侧的第2面的盘；对所述第1面执行读/写处理的第1头；对所述第2面执行读/写处理的第2头；将所述第1头以及所述第2头定位于所述盘的致动器；以及基于具有抑制干扰成分的第1波形的第1值来控制所述致动器的控制器，所述控制器当在第1定时从所述第1头变更为所述第2头时，在所述第1波形中，相对于所述第1定时之前的第2波形的极性，使所述第1定时之后的第3波形的极性反转。

权利要求

1.一种磁盘装置，具备：

盘，其具有第1面和与所述第1面相反侧的第2面；

第1头，其对所述第1面执行读/写处理；

第2头，其对所述第2面执行读/写处理；

致动器，其将所述第1头以及所述第2头定位于所述盘；以及控制器，其基于具有抑制干扰成分的第1波形的第1值来控制所述致动器，所述控制器当在第1定时从所述第1头变更为所述第2头时，在所述第1波形中，相对于所述第1定时之前的第2波形的极性，使所述第1定时之后的第3波形的极性反转。

2.根据权利要求1所述的磁盘装置，

所述控制器将所述第3波形调整为与所述第2波形连续。

3.根据权利要求2所述的磁盘装置，

所述控制器生成对所述第3波形乘以第1增益而得到的第2值，生成对所述第1定时的所述第2波形的第1振幅乘以第2增益而得到的第3值，对所述第2值加上所述第3值来调整所述第3波形。

4.根据权利要求2所述的磁盘装置，

所述控制器生成对所述第3波形乘以第1增益而得到的第2值，生成使从所述第1定时到第2定时的期间的所述第3波形的一部分的第4波形反转并乘以第2增益而得到的第3值，对所述第2值加上所述第3值来调整所述第3波形。

5.根据权利要求3或4所述的磁盘装置，

所述第1增益随着时间的经过而增加，

所述第2增益随着时间的经过而减小。

6.根据权利要求2所述的磁盘装置，

所述控制器在从所述第1定时到第2定时的期间乘以从第1极性随着时间的经过而变化为与所述第1极性相反的第2极性的第1增益来调整所述第3波形。

7.根据权利要求1～4以及6中任一项所述的磁盘装置，所述控制器在所述第1定时开始所述第2头的寻道。

8.根据权利要求1～4以及6中任一项所述的磁盘装置，所述控制器具备基于所输入的输入值来输出所述第1值的滤波器、和记录在所述输入值之前输入到所述滤波器的过去输入值和在所述第1值之前从所述滤波器输出的过去输出值的存储器。

9.根据权利要求8所述的磁盘装置，

所述滤波器执行环路整形处理。

10.根据权利要求9所述的磁盘装置，

所述滤波器是IIR滤波器，基于所述过去输入值以及所述过去输出值来输出所述第1值。

11.根据权利要求9所述的磁盘装置，

所述滤波器是FIR滤波器，基于所述过去输入值来输出所述第1值。

12.一种致动器的控制方法，所述致动器应用于磁盘装置，所述磁盘装置具备具有第1面和与所述第1面相反侧的第2面的盘、对所述第1面执行读/写处理的第1头、对所述第2面执行读/写处理的第2头、将所述第1头以及所述第2头定位于所述盘的所述致动器、以及基于具有抑制干扰成分的第1波形的第1值来控制所述致动器的控制器，所述控制方法包括：当在第1定时从所述第1头变更为所述第2头时，在所述第1波形中，相对于所述第1定时之前的第2波形的极性，使所述第1定时之后的第3波形的极性反转。

说明书

磁盘装置以及致动器的控制方法

[0001] 本申请享受以日本专利申请2018-36787号(申请日：2018年3月1 日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的 全部内容。

技术领域

[0002] 本发明的实施方式涉及磁盘装置以及致动器的控制方法。

背景技术

[0003] 磁盘装置具备至少一个盘和头。在因干扰等而多个盘振动的情况下， 多个头有可能分别偏到不同的位置。因此，在将头变更为其他头的情况下， 磁盘装置会变为难以将各头定位到预定轨道。

发明内容

[0004] 本发明的实施方式提供一种能够提高伺服控制的精度的磁盘装置以及 致动器的控制方法。

[0005] 本实施方式涉及的磁盘装置具备具有第1面和与所述第1面相反侧的 第2面的盘、对所述第1面执行读/写处理的第1头、对所述第2面执行读 /写处理的第2头、将所述第1头以及所述第2头定位于所述盘的致动器、 以及基于具有抑制干扰成分的第1波形的第1值来控制所述致动器的控制 器，所述控制器当在第1定时从所述第1头变更为所述第2头时，在所述 第1波形中，相对于所述第1定时之前的第2波形的极性，使所述第1定 时之后的第3波形的极性反转。

附图说明

[0006] 图1是表示第1实施方式涉及的磁盘装置的构成的一例的示意图。

[0007] 图2是示意表示盘的一例的俯视图。

[0008] 图3是表示臂的前端部的构成的一例的示意图。

[0009] 图4是表示沿着图2的IV－IV切断后的HDA(头盘组件)的构成的 一例的断面图。

[0010] 图5是表示图4所示的HDA振动了的状态的一例的断面图。

[0011] 图6是表示如图5所示HDA振动了的情况下的头以及臂所对应的振 幅的一例的图。

[0012] 图7是表示第1实施方式涉及的两自由度控制系统的定位控制系统的 一例的框图。

[0013] 图8是表示干扰抑制处理系统的一例的框图。

[0014] 图9是表示干扰抑制处理的一例的图。

[0015] 图10是表示干扰抑制处理的一例的图。

[0016] 图11是干扰抑制处理的一例的流程图。

[0017] 图12是表示变形例1涉及的干扰抑制处理系统的一例的框图。

[0018] 图13是表示变形例1涉及的干扰抑制处理的一例的图。

[0019] 图14是表示变形例1涉及的干扰抑制处理的一例的流程图。

[0020] 图15是表示变形例2涉及的干扰抑制处理系统的一例的框图。

[0021] 图16是表示变形例2涉及的干扰抑制处理的一例的图。

[0022] 图17是表示变形例3涉及的干扰抑制处理系统的一例的框图。

[0023] 图18是表示变形例3涉及的干扰抑制处理的一例的图。

[0024] 图19是表示第2实施方式涉及的在HDA发生了共振模式的情况下的 头、臂以及VCM振动了的状态的一例的图。

[0025] 图20是表示第2实施方式涉及的在HDA发生了共振模式的情况下的 头、臂以及VCM振动了的状态的一例的图。

[0026] 图21是表示如图19以及图20所示那样HDA振动了的情况下的头以 及臂所对应的振幅的一例的图。

[0027] 图22是表示第2实施方式涉及的在HDA发生了共振模式的情况下的 头、臂以及VCM振动了的状态的一例的图。

[0028] 图23是表示第2实施方式涉及的在HDA发生了共振模式的情况下的 头、臂以及VCM振动了的状态的一例的图。

[0029] 图24是表示如图22以及图23所示那样HDA振动了的情况下的头以 及臂所对应的振幅的一例的图。

具体实施方式

[0030] 以下，参照附图对实施方式进行说明。此外，附图是一个例子，并不 是限定发明的范围。

[0031] (第1实施方式)

[0032] 图1是表示第1实施方式涉及的磁盘装置1的构成的一例的示意图。

[0033] 磁盘装置1具备壳体HS、头盘组件(HDA)10、驱动器IC20、头放 大器集成电路(以下称为头放大器IC或者预放大器)30、易失性存储器 70、缓冲存储器(缓存)80、非易失性存储器90、作为单芯片的集成电路 的系统控制器130。另外，磁盘装置1与主机系统(以下简称为主机)100 连接。图1示出HDA10的断面。

[0034] HDA10具有磁盘(以下称为盘)DK、以主轴12为中心而使盘DK旋 转的主轴马达(以下称为SPM)13、搭载头HD的臂AM、音圈马达(以 下称为VCM)14。SPM13以及VCM14固定于壳体HS。盘DK安装于主 轴12，通过SPM13的驱动来旋转。臂AM以及VCM14构成致动器AC。 致动器AC控制头HD的位置。盘DK以及头HD分别设有至少一个以上。

[0035] 盘DK具有记录数据的表面DKA和与表面DKA相反侧的背面DKB。 背面DKB面向与表面DKA相反的方向。以下，有时也将“盘DK的表面 DKA以及背面DKB”一并称为“记录面”。在图1所示的例子中，盘DK 包括盘DK0和盘DK1。盘DK0具有表面DK0A和与表面DK0A相反侧 的背面DK0B。盘DK1具有表面DK1A和与表面DK1A相反侧的背面 DK1B。此外，盘DK既可以仅包括一个盘，也可以包括三个以上的盘。

[0036] 图2是示意表示盘DK的一例的俯视图。图中的第1方向X、第2方 向Y、以及第3方向Z彼此正交，但也可以以正交以外的状态交叉。将朝 向表示第3方向Z的箭头的前端的方向称为上方(或者仅是上)，将从表 示第3方向Z的箭头的前端朝向相反方向的方向称为下方(或者仅是下)。 另外，有时也将第1方向的长度称为宽度。

[0037] 盘DK在其能够写数据的区域分配有能够由用户利用的用户数据区域 UA、和写入系统管理所需要的信息的系统区SA。在图2所示的例子中， 盘DK0在表面DK0A分配有用户数据区域UA0和系统区SA0。以下，将 与盘DK的半径方向正交的方向称为圆周方向。在半径方向上，将主轴12 侧的方向称为内侧(或者内方向)，将内侧(内方向)的相反方向称为外侧 (外方向)。

[0038] 头HD安装于从VCM14延伸出来的臂AM的前端部。头HD与盘DK 的记录面相对向。在图1所示的例子中，头HD包括头HD0、头HD1、头 HD2以及头HD3。另外，臂AM包括臂AM0、臂AM1、臂AM2以及臂 AM3。头HD0安装于从VCM14向盘DK0的表面DK0A侧延伸出来的臂 AM0的前端部。头HD1安装于从VCM14向盘DK0的背面DK0B侧延伸 出来的臂AM1的前端部。头HD2安装于从VCM14向盘DK1的表面DK1A 侧延伸出来的臂AM2的前端部。头HD3安装于从VCM14向盘DK1的 背面DK1B侧延伸出来的臂AM3的前端部。头HD0与盘DK0的表面 DK0A相对向。头HD1与盘DK0的背面DK0B相对向。头HD2与盘DK1 的表面DK1A相对向。头HD3与盘DK1的背面DK1B相对向。头HD0 隔着盘DK0与头HD1相对向。头HD2隔着盘DK1与头HD3相对向。换 言之，头HD0、HD2和头HD1、HD3朝向相反的方向。头HD0和头HD2 朝向相同的方向。头HD1和头HD3朝向相同的方向。以下，有时也将“与 盘DK的表面DKA相对向的头HD”称为“表面头HDs”，将“与背面 DKB相对向的头HD”称为“背面头HDb”。在图1所示的例子中，表面 头HDs包括头HD0以及HD2，背面头HDb包括头HD1以及HD3。此外， 头HD既可以仅包括一个头，也可以包括三个以上的头。另外，臂AM既 可以仅包括一个臂，也可以包括三个以上的臂。

[0039] 另外，头HD通过致动器AC(例如VCM14)的驱动而被定位于盘 DK的记录面上的预定位置。在图2所示的例子中，头HD0通过VCM14 的旋转驱动而被定位于盘DK0的表面DK0A上的预定位置。

[0040] 图3是表示臂AM的前端部的构成的一例的示意图。头HD将滑块SD 作为主体，具备以与盘DK相对向的方式安装于该滑块SD的磁头部MH。 磁头部MH向盘DK写数据，并从盘DK读数据。磁头部MH向所对向的 记录面的预定位置写数据，从所对向的记录面的预定位置读数据。磁头部 MH具备写头和读头。写头向盘DK上写数据。读头读取在盘DK上的数 据轨道所记录的数据。头HD安装于在臂AM的前端设置的平衡架 (gimbal)GB。头HD以形成于半球状的突起DIP为支点而可动。突起 DIP安装于从提升片LT延伸出来的承载梁RB。突起DIP与安装有头HD 的常平架GB的位置相对向。

[0041] 图4是表示沿着图2的IV－IV而切断后的HDA10的构成的一例的断 面图，图5是表示图4所示的HDA10振动了的状态的一例的断面图。在 图4以及图5中仅示出说明所需要的构成。在图4以及图5中，壳体HS 向第1方向X延伸，主轴12以及SPM13向第3方向Z延伸，盘DK从主 轴12向第1方向X延伸。

[0042] 在HDA10未振动的情况下，如图4所示，多个头HD排列在向第3 方向Z延伸的轴AX上。在图4所示的例子，头HD0至HD3的宽度的中 心分别位于轴AX上。也即是，头HD0至HD3排列在轴AX上。头HD0 与表面DK0A的轴AX上的位置相对向。头HD1与背面DK0B的轴AX 上的位置相对向。头HD2与表面DK1A的轴AX上的位置相对向。头HD3 与背面DK1B的轴AX上的位置相对向。在因干扰等而HDA10振动了的 情况下，多个头HD由于分别以图3所示的突起(dimple)DIP为支点而 可动，因此，有可能从作为盘DK上的对象的位置(以下简称为对象位置) 错开。在HDA10以预定低频、例如0～500Hz的频率振动了的情况下，多 个盘DK可能以相同的振幅、且以第3方向Z而朝向相同的方向振动。在 此，相同当然可以是成为对象的两个以上的物理量完全相同，也可以包括 两个以上的物理量以视为实质上相同的程度而这些物理量不同的情况。这 样，将“以相同的振幅、且朝向相同的方向振动”表现为“同步振动”。以 下，将“因HDA10以预定低频振动而多个盘DK同步振动的现象”称为 “同步共振模式”。同步共振模式有时也被称为鼓模式。

[0043] 在发生了同步共振模式的情况下，多个盘DK同步地振动。在该情况 下，多个头HD与多个盘DK的振动相应地振动。多个头HD内的表面头 HDs相对于与表面DKA向相同的方向偏。多个头HD内的背面头HDb相 对于与背面DKB向相同的方向偏。表面头HDs向与背面头HDb相反的 方向偏。在图5所示的例子中，盘DK0以及盘DK1因同步共振模式而在 第3方向Z上同步地振动。盘DK0以及盘DK1从内侧向外侧而朝斜上倾 斜。头HD0沿着表面DK0A从内侧向外侧而朝斜上倾斜。因此，头HD0 从表面DK0A的轴AX上的位置向外侧的位置偏。头HD1沿着背面DK0B 从外侧向内侧而朝斜下倾斜。因此，头HD1从表面DK0B的轴AX上的 位置向内侧的位置偏。头HD2沿着表面DK1A从内侧向外侧而朝斜上倾 斜。因此，头HD2从表面DK1A的轴AX上的位置向外侧的位置偏。头 HD3沿着背面DK1B从外侧向内侧而朝斜下倾斜。因此，头HD3从背面 DK1B的轴AX上的位置向内侧的位置偏。头HD0以及头HD2向相同的 方向偏。头HD1以及头HD3向相同的方向偏。

[0044] 图6是表示如图5所示那样HDA10振动了的情况下的头HD以及臂 AM所对应的振幅的一例的图。在图6中，纵轴表示振幅，横轴表示与各 振幅对应的头HD以及臂AM。在图6中，与头HD以及臂AM对应的振 幅以预定值进行了标准化。因此，在图6中，与头HD以及臂AM对应的 振幅在从正极性的预定值例如1到负极性的预定值例如－1之间变动。在 图6中，振幅的1是正极性的最大值，－1是负极性的最大值。在此，负 极性是正极性的相反的极性。

[0045] 如图5所示，在发生了同步共振模式的情况下，与多个表面头HDs 分别对应的多个振幅的极性相同。在该情况下，与多个背面头HDb分别 对应的多个振幅的极性相同。另外，在发生了同步共振模式的情况下，成 为与背面头HDb所对应的振幅的极性相反的极性。在图6所示的例子中， 与头HD0以及臂AM0对应的振幅AP60以及与头HD2以及臂AM2对应 的振幅AP62相同，与头HD1以及臂AM1对应的振幅AP61以及头HD3 以及与臂AM3对应的振幅AP63相同。振幅AP60以及AP62和振幅AP61 以及AP63的大小相同。振幅AP60以及振幅AP62的极性是正极性，振幅 AP60以及振幅AP62的极性是负极性。也即是，振幅AP60以及振幅AP62 的极性是与振幅AP61以及振幅AP63的极性相反的极性。

[0046] 驱动器IC20按照系统控制器130(详细而言，后述的MPU50)的控 制，控制SPM13以及VCM14的驱动。驱动器IC20具备SPM控制部21 和VCM控制部22。SPM控制部21控制SPM13的旋转。VCM控制部22 通过控制进行供给的电流，控制VCM14的驱动。此外，驱动器IC20的功 能也可以设于系统控制器130。

[0047] 头放大器IC(预放大器)30对从盘DK读取的读信号进行放大，并 输出给系统控制器130(详细而言，后述的读/写(R/W)通道40)。另外， 头放大器IC30将与从R/W通道40输出的信号相应的写电流输出至头HD。 头放大器IC30具备头选择部31和信号检测部32。头选择部31按照系统 控制器130(详细而言，后述的MPU50)的控制，从多个头HD选择执行 读/写处理的头。信号检测部32检测由写头写入的信号和由读头读取的信 号。此外，头放大器IC30的功能也可以设于系统控制器130。

[0048] 易失性存储器70是当电力供给被被切断时所保存的数据会消失的半 导体存储器。易失性存储器70储存磁盘装置1的各部的处理所需的数据等。 易失性存储器70例如是DRAM(Dynamic Random Access Memory)或者 SDRAM(Synchronous Dynamic Random Access Memory)。

[0049] 缓冲存储器80是暂时记录在磁盘装置1与主机100之间收发的数据等 的半导体存储器。此外，缓冲存储器80也可以构成为与易失性存储器70 一体。缓冲存储器80例如是DRAM、SRAM(Static Random Access Memory)、SDRAM、FeRAM(Ferroelectric Random Access memory)、 或者MRAM(Magnetoresistive Random Access Memory)等。

[0050] 非易失性存储器90是即使电力供给被切断、也记录所保存的数据的半 导体存储器。非易失性存储器90例如是NOR型或者NAND型的闪速ROM (Flash Read Only Memory：FROM)。

[0051] 系统控制器(控制器)130例如可使用多个元件集成于单一芯片的被 称为System-on-a-Chip(SoC)的大规模集成电路(LSI)来实现。系统控 制器130包括读/写(R/W)通道40、微处理器(MPU)50、硬盘控制器 (HDC)60。系统控制器130与驱动器IC20、头放大器IC30、易失性存 储器70、缓冲存储器80、非易失性存储器90以及主机系统100电连接。 此外，系统控制器130也可以具有SPM控制部21、VCM控制部22、头 选择部31以及信号检测部32。另外，系统控制器130也可以具有驱动器 IC20以及头放大器IC30。

[0052] R/W通道40按照来自后述的MPU50的指示，执行从盘DK传送至主 机100的读数据以及从主机100传送的写数据的信号处理。R/W通道40 具有测定读数据的信号质量的电路或者功能。R/W通道40例如与头放大 器IC30、MPU50以及HDC60等电连接。

[0053] MPU50是根据来自主机100等的指示、控制磁盘装置1的各部的主控 制器。MPU50经由驱动器IC20控制致动器AC，执行进行头HD的定位 的伺服控制。MPU50控制向盘DK的数据的写动作，并且，选择写数据 的保存目的地。另外，MPU50控制从盘DK的数据的读动作，并且，控 制读数据的处理。MPU50与磁盘装置1的各部连接。MPU50例如与驱动 器IC20、R/W通道40以及HDC60等电连接。

[0054] HDC60按照来自MPU50的指示，控制读/写处理，控制主机100与 R/W通道40之间的数据传送。HDC60例如与R/W通道40、MPU50、易 失性存储器70、缓冲存储器80以及非易失性存储器90等电连接。

[0055] HDC60具备头控制部61和伺服控制部62。HDC60使这些各部例如 头控制部61以及伺服控制部62等的处理在固件上执行。此外，HDC60 也可以具备这些各部来作为电路。另外，HDC60的功能也可以设于MPU50。 例如头控制部61以及伺服控制部62也可以设于MPU50。

[0056] 头控制部61对执行读/写处理的头HD进行控制。头控制部61经由头 选择部31选择执行读/写处理的头HD。头控制部61变更执行读/写处理的 头HD。以下，有时也将“变更执行读/写处理的头HD”称为“头变更”。 在进行头变更的情况下，头控制部61向后述的伺服控制部62输出进行头 变更的信号。在当前正在执行读/写处理的头(以下称为当前的头)HD和 要进行头变更的头HD(以下称为接下来的头)HD为相反朝向的情况下， 头控制部61输出当前的头HD和接下来的头HD为相反朝向的信号、例如 标志(以下称为相反朝向标志)。例如，在从表面头HDs变更为背面头HDb 的情况下，头控制部61输出相反朝向标志。另外，头控制部61对头HD 进行控制使其向盘DK的半径方向的预定位置移动。在头HD开始寻道的 情况下，头控制部61向伺服控制部62输出开始头HD的寻道的信号、例 如标志(以下称为开始标志)。

[0057] 伺服控制部62按照头控制部61的控制，控制头HD向盘DK上的预 定位置的定位。伺服控制部62具备跟踪控制部621、寻道控制部622、干 扰控制部623。

[0058] 跟踪控制部621控制头HD以使得在读/写处理中追踪盘DK的预定位 置、例如预定轨道。

[0059] 寻道控制部622对头HD的寻道进行控制。寻道控制部622例如在从 头控制部61接受到开始标志的情况下，使头HD的寻道开始。

[0060] 干扰控制部623执行用于抑制对致动器AC的驱动和/或头HD的定位 等的由干扰等造成的影响(以下有时也称为干扰成分)的处理(以下称为 干扰抑制处理)。例如，干扰控制部623为了抑制由各种振动、例如同步共 振模式引起的对致动器AC的驱动和/或头HD的定位等的影响，执行环路 整形(Loop Shaping)处理。

[0061] 图7是表示第1实施方式涉及的两自由度控制系统的定位控制系统 SY1的一例的框图。图7示出执行前馈寻道的控制系统。

[0062] 磁盘装置1具有用于对头HD进行定位的设备控制系统(定位控制系 统)SY1。定位控制系统SY1具备状态推定部S1、干扰抑制部S2、设备 控制部S3、设备(plant)S4、运算部C1、C2以及C3。在一个例子中， 状态推定部S1、干扰抑制部S2、设备控制部S3以及运算部C1～C3设于 伺服控制部62。设备S4例如与头HD以及致动器AC等对应。定位控制 系统SY1执行两自由度控制系统的反馈控制。

[0063] 状态推定部S1是状态观测器，具有设备S4的模型(以下称为设备模 型)和内部状态变量。状态推定部S1基于设备模型、内部状态变量、设 备S4的驱动量(以下称为实际驱动量)U以及设备S4的当前的盘DK上 的位置(以下称为实际位置)P，推定设备S4的当前伺服的接下来的伺服 的采样(以下称为接下来的采样)中的设备S4的盘DK上的目标位置(以 下称为推定位置)Psm。另外，状态推定部S1基于设备模型、内部状态变 量、实际驱动量U以及实际位置P，算出实际位置P与和实际位置P对应 的设备模型中的设备S4的位置之间的误差(以下称为模型位置误差)Epm。 状态推定部S1执行观察(observer)控制以使得模型位置误差Epm不变 大，按设备S4的伺服的每个采样更新内部状态变量。

[0064] 干扰抑制部S2执行干扰抑制处理、例如环路整形处理。干扰抑制部 S2基于模型位置误差Epm与目标位置Ptgt和推定位置Psm的误差(以下 称为推定位置误差)Ep，生成用于抑制干扰成分的信号(以下称为抑制量) Uls。

[0065] 设备控制部S3控制干扰抑制处理以外的处理、例如设备S4。设备控 制部S3例如基于模型位置误差Epm和推定位置误差Ep，生成设备S4的 驱动量Uc。此外，设备控制部S3例如也可以基于模型位置误差Epm以 及推定位置误差Ep以外的值，生成驱动量Uc。

[0066] 设备S4基于实际驱动量U来进行驱动。

[0067] 在HDC60中，在指定了读或者写数据的盘DK上的预定位置(以下 称为指定位置)的情况下，运算部C1被输入基于反馈控制的指定位置 Ptgt_dc和对基于前馈控制的指定位置Ptgt_dc进行修正的修正位置 Ptgt_ff。修正位置Ptgt_ff例如在头HD正跟踪预定轨道的情况下为0，在 头HD正在寻道的情况下随着时间经过而变化。运算部C1向运算部C2 输出对指定位置Ptgt_dc加上修正位置Ptgt_ff而得到的目标位置Ptgt。

[0068] 状态推定部S1被输入相对于设备S4的位置而加上了干扰Dp的实际 位置P和实际驱动量U。状态推定部S1向运算部C2输出推定位置Psm， 向干扰抑制部S2和设备控制部S3输出模型位置误差Epm。运算部C2被 输入目标位置Ptgt和推定位置Psm。运算部C2向干扰抑制部S2和设备 控制部S3输出从目标位置Ptgt减去推定位置Psm而得到的推定位置误差 Ep。此外，在不执行前馈控制的情况下，运算部C2不被输入目标位置Ptgt， 而被输入头HD的目标速度和/或由状态推定部S1推定的推定速度等。运 算部C2向干扰抑制部S2和设备控制部S3输出从目标速度减去推定速度 而得到的推定速度误差。

[0069] 干扰抑制部S2被输入模型位置误差Epm和推定位置误差Ep。例如 在进行头变更的情况下，干扰抑制部S2被从头控制部61输入相反朝向标 志FG1和开始标志FG2。干扰抑制部S2向运算部C3输出抑制量Uls。

[0070] 设备控制部S3被输入模型位置误差Epm和推定位置误差Ep。设备 控制部S3向运算部C3输出驱动量Uc。此外，在不执行前馈控制的情况 下，设备控制部S3被输入头HD的目标加速度等。运算部C3被输入驱动 量Uc、抑制量Uls以及通过前馈控制对驱动量Uc进行修正的信号(以下 称为修正量)Uff。运算部C3向设备S4输出将驱动量Uc、抑制量Uls以 及修正量Uff相加而得到的实际驱动量U。设备S4根据实际驱动量U进 行驱动，移动到对与实际驱动量U对应的位置加上干扰Dp而得到的实际 位置P。此外，实际驱动量U、驱动量Uc、抑制量Uls以及修正量Uff例 如与驱动VCM14的电流值对应。

[0071] 图8是表示干扰抑制处理系统SY2的一例的框图。

[0072] 干扰抑制部S2具有执行干扰抑制处理的干扰抑制处理系统SY2。干 扰抑制处理系统SY2具备增益G1、增益G2、滤波器FT、保存区域SR1。 保存区域SR1例如也可以是存储器等。

[0073] 增益G1被输入推定位置误差Ep。增益G1向滤波器FT以及保存区 域SR1输出乘以可变增益而得到的推定位置误差Ep。增益G2被输入模 型位置误差Epm。增益G2向滤波器FT以及保存区域SR1输出乘以可变 增益而得到的模型位置误差Epm。

[0074] 滤波器FT包括对所输入的信号的特定周波数成分进行抑制的系数 等。滤波器FT基于当前所输入的推定位置误差Ep、当前所输入的模型位 置误差Epm、在当前之前所输入的推定位置误差Ep、在当前之前所输入 的模型位置误差Epm和/或在当前之前输出的抑制量Uls等，执行干扰抑 制处理、例如环路整形处理，生成当前的抑制量Uls。以下，将“当前所 输入的推定位置误差”称为“当前的推定位置误差”，将“当前所输入的模 型位置误差”称为“当前的模型位置误差”，将“在当前之前所输入的推 定位置误差”称为“之前的推定位置误差”，将“在当前之前所输入的模型 位置误差”称为“之前的模型位置误差”，将“在当前之前输出的抑制量” 称为“之前的抑制量”。以下，为了便于说明，有时也将“之前的推定位置 误差”以及“之前的模型位置误差”一并称为“过去输入值”，将“之前的 抑制量”称为“过去输出值”。另外，有时也将“过去输入值”以及“过去 输出值”一并称为“过去值”。滤波器FT向保存区域SR1以及图7所示 的运算部C3输出当前的抑制量Uls。滤波器FT是环路整形滤波器，例如 是FIR(finite impulse response，有限冲激响应)滤波器或者IIR(Infinite impulse response，无限冲激响应)滤波器等。

[0075] 保存区域SR1记录有过去值。保存区域SR1将过去值输出至滤波器 FT。在被输入了相反朝向标志FG1以及开始标志FG2的情况下，保存区 域SR1向滤波器FT输出使极性反转后的过去值。例如，在滤波器FT是 IIR滤波器、且被输入了相反朝向标志FG1以及开始标志FG2的情况下， 保存区域SR1向滤波器FT输出使极性反转后的过去值。另外，在滤波器 FT是FIR滤波器、且被输入了相反朝向标志FG1以及开始标志FG2的情 况下，保存区域SR1向滤波器FT输出使极性反转后的过去输入值。换言 之，在被输入了相反朝向标志FG1和开始标志FG2的情况下，保存区域 SR1向滤波器FT输出乘以表面头HDs的振幅相对于背面头HDb的振幅 之比、或者背面头HDb的振幅相对于表面头HDs的振幅之比(增益)后 的过去值。在一个例子中，在被输入了相反朝向标志FG1和开始标志FG2 的情况下，保存区域SR1向滤波器FT输出乘以表面头HD0的振幅AP60 (1)相对于图6所示的头HD1的振幅AP61(－1)之比(－1)后的过 去值。

[0076] 图9是表示干扰抑制处理的一例的图。在图9中，横轴表示时间。在 图9中，驱动量Ub表示与实际驱动量U内的抑制量Uls以外的设备S4 的驱动量对应的电流值。如图9所示，抑制量Uls具有用于抑制干扰成分 的波形WV0。在图9所示的例子中，波形WV0是正弦波，是一定的振幅 且一定的波长。在图9中示出了以图8所示的增益G1以及增益G2施加 的可变增益。为了便于说明，有时也将以增益G1以及增益G2施加的可 变增益分别称为增益G1以及增益G2。在图9中，定时Tch0表示从头HD0 变更为头HD2的定时，定时Ti1表示头HD2向预定轨道开始置位(setting) 的定时，定时Ti2表示头HD2向预定轨道完成了置位的定时。

[0077] 在图9所示的例子中，系统控制器130在定时Tch0从头HD0变更为 了头HD2的情况下，在定时Tch0对预定轨道开始头HD2的寻道。系统 控制器130从定时Tch0开始使驱动量Ub增大，对头HD2进行加速，随 着接近预定轨道而使驱动量Ub随着时间经过而减少，对头HD2进行减速。 系统控制器130对模型位置误差Epm乘以增益G2、例如1。系统控制器 130从定时Tch0到定时Ti1对推定位置误差Ep乘以0的增益G1，从定时 Ti1到定时Ti2乘以从0到1随着时间经过而增大的增益G1。另外，系统 控制器130以具有波形WV0的抑制量Uls对干扰成分进行抑制。

[0078] 图10是表示干扰抑制处理的一例的图。在图10中，定时Tch1表示 从头HD0变更为HD1的定时。

[0079] 在图10所示的例子中，系统控制器130在定时Tch1从头HD1变更 为头HD0的情况下，在定时Tch1对预定的轨道开始头HD2的寻道。系 统控制器130在抑制量Uls的波形WV0下，相对于定时Tch1之前的波形 (以下称为之前的波形)WV1的极性，使定时Tch1之后的波形(以下称 为之后的波形)WV2的极性反转。换言之，系统控制器130将图6所示的 头HD0的振幅(1)与头HD1的振幅(－1)之比(－1)乘于定时Tch1 之后的抑制量Uls。系统控制器130输出具有与之前的波形WV1不连续的 之后的波形WV2的抑制量Uls。在发生了同步共振模式的状态下从表面头 HDs变更为背面头HDb、或者从背面头HDb变更为表面头HDs的情况下， 如图10所示，系统控制器130能够通过使之后的波形WV2反转，抑制接 下来的头HD的寻道中的由同步共振模式造成的影响。

[0080] 图11是表示干扰抑制处理的一例的流程图。

[0081] 系统控制器130按照来自主机100的指示，使头HD跟踪预定轨道 (B1101)。系统控制器130判定是否进行头变更(B1102)。在不进行头变 更的情况下(B1102：否)，系统控制器130向B1105的处理前进。在进行 头变更的情况下(B1102)。系统控制器130判定接下来的头是与当前的头 HD相反朝向、还是不是相反朝向(B1103)。在判定为接下来的头与当前 的头HD不是相反朝向的情况下(B1103：否)，系统控制器130向B1105 的处理前进。在接下来的头是当前的头HD与相反朝向的情况下(B1103： 是)，系统控制器130使之后的波形WV2的极性反转(B1104)。系统控制 器130使头HD对预定轨道进行寻道(B1105)，结束处理。

[0082] 根据本实施方式，在接下来的头HD是与当前的头相反朝向的情况下， 磁盘装置1使之后的波形WV2的极性反转。因此，在发生了同步共振模 式的状态下从表面头HDs变更为背面头HDb、或者从背面头HDb变更为 表面头HDs的情况下，系统控制器130能够通过使之后的波形WV2反转， 抑制接下来的头HD的寻道中的由同步共振模式造成的影响。因此，磁盘 装置1能够提高伺服控制的精度。

[0083] 接着，对变形例以及其他的实施方式涉及的磁盘装置进行说明。在变 形例以及其他的实施方式中，对于前述的实施方式相同的部分标记相同的 参照标号并省略其详细的说明。

[0084] (变形例1)

[0085] 变形例1的磁盘装置1的干扰抑制处理系统SY2的构成与前述的实施 方式不同。

[0086] 图12是表示变形例1涉及的干扰抑制处理系统SY2的一例的框图。

[0087] 干扰抑制处理系统SY2还具备增益G3、增益G4、保存区域SR2以 及运算部C4。保存区域SR2例如也可以是存储器等。

[0088] 滤波器FT算出抑制量Uls0，将抑制量Uls0输出给保存区域SR1、增 益G3以及保存区域SR2。抑制量Uls0与图8所示的抑制量Uls对应。增 益G3被输入抑制量Uls0。增益G3将对抑制量Uls0乘以可变增益而得到 的抑制量Uls1输出给运算部C4。

[0089] 保存区域SR2记录有抑制量Uls0等。在被输入开始标志FG2的情况 下，保存区域SR2将进行了头变更的定时、即接下来的头HD开始了寻道 的定时的抑制量Uls0输出给增益G4。增益G4将对进行了头变更的定时 的抑制量Uls0乘以可变增益而得到的抑制量Uls2输出给运算部C4。运算 部C4将对抑制量Uls1加上抑制量Uls2而算出的抑制量Uls输出给图7所 示的运算部C3。

[0090] 图13是表示变形例1涉及的干扰抑制处理的一例的图。在图13中， 驱动量Ub、增益G1以及增益G2与图10相同，因此进行了省略。图13 中示出图12所示的开始标志FG2。在开始标志FG2为比0大的值(以下 称为High)的情况下，开始接下来的头的寻道。图13示出标志FG3。标 志FG3指定执行用于调整为抑制量Uls0的波形WV0的之前的波形WV1 和之后的波形WV2连续的处理(以下称为连续化处理)的期间(以下称 为切换时间)dT。在此，两个波形连续当然包括两个波形相连接的情况， 也包括两个波形以视为实质上相连接的程度而不连续的情况。在标志FG3 为High的情况下，执行连续化处理。在标志FG3为0(以下称为Lоw) 的情况下，不执行连续化处理。切换时间dT既可以基于接下来的头HD 的寻道距离和/或寻道速度等的寻道条件而任意地决定，也可以与寻道条件 相应地作为表记录于存储器、例如非易失性存储器90等。图13示出以图 12所示的增益G3以及增益G4施加的可变增益。为了便于说明，有时也 将以增益G3以及增益G4施加的可变增益分别称为增益G3以及增益G4。

[0091] 在图13所示的例子中，系统控制器130开始在开始标志FG2成为High 的定时Tch1从头HD1变更后的头HD0的寻道。系统控制器130在抑制 量Uls0的波形WV0中使之后的波形WV2的极性反转。系统控制器130 以从定时Tch1到开始标志FG2成为Low的定时Tо1为止的切换时间dT 执行之前的波形WV1和之后的波形WV2的连续化处理。系统控制器130 在切换时间dT期间，例如对之后的波形WV2乘以从0到1而随着时间经 过而增加的增益G3，生成抑制量Uls1。系统控制器130在切换时间dT的 期间，例如对定时Tch1的之前的波形WV1的振幅A1乘以从1到0而随 着时间经过而减少的增益G4，生成抑制量Uls2。系统控制器130对抑制 量Uls1加上抑制量Uls2，生成之前的波形WV1和之后的波形WV2连续 的抑制量Uls。

[0092] 图14是表示变形例1涉及的干扰抑制处理的一例的流程图。

[0093] 系统控制器130使头HD跟踪预定轨道(B1101)，判定是否进行头变 更(B1102)，判定接下来的头是与当前的头HD相反朝向、还是不是相反 朝向(B1103)，使之后的波形WV2的极性反转(B1104)。系统控制器130 对抑制量Uls0执行连续化处理(B1401)。例如，系统控制器130在切换 时间dT的期间，例如对之后的波形WV2乘以从0到1而随着时间经过而 增加的增益G3，生成抑制量Uls1。系统控制器130在切换时间dT的期间， 例如对定时Tch1的之前的波形WV1的振幅A1乘以从1到0而随着时间 经过而减少的增益G4，生成抑制量Uls2。系统控制器130对抑制量Uls1 加上抑制量Uls2，生成之前的波形WV1和之后的波形WV2连续的抑制 量Uls。系统控制器130使头HD对预定位置进行寻道(B1105)，结束处 理。

[0094] 根据变形例1，在接下来的头HD与当前的头相反朝向的情况下，磁 盘装置1能够使之后的波形WV2的极性反转，调整为之前的波形WV1 与之后的波形WV2连续。磁盘装置1中，生成为对之后的波形WV2乘以 在切换时间dT的期间随着时间经过而增加的增益G3后的抑制量Uls1、 和对定时Tch1的之前的波形WV1的振幅A1乘以在切换时间dT的期间 随着时间经过而减少的增益G4后的抑制量Uls2。磁盘装置1通过对抑制 量Uls1加上抑制量Uls2，能够输出具有之前的波形WV1与之后的波形 WV2成为连续的波形WV0的抑制量Uls。换言之，磁盘装置1能使之后 的波形WV2的极性反转，能够输出使之前的波形WV1和之后的波形WV2 平滑地连接了的抑制量Uls。因此，磁盘装置能够防止在刚进行了头变更 之后头HD的加速度和/或加加速度(jerk，冲击)急剧变化。

[0095] (变形例2)

[0096] 变形例2的磁盘装置1的干扰抑制处理系统SY2的构成与前述的实施 方式不同。

[0097] 图15是表示变形例2涉及的干扰抑制处理系统SY2的一例的框图。

[0098] 干扰抑制处理系统SY2与图12所示的干扰抑制处理系统SY2相比不 具备保存区域SR2。

[0099] 滤波器FT算出抑制量Uls0，将抑制量Uls0输出给增益G3以及增益 G4。增益G3被输入抑制量Uls0。增益G3将对抑制量Uls0乘以可变增益 而得到的抑制量Uls1输出给运算部C4。增益G4被输入抑制量Uls0。增 益G4将对抑制量Uls0乘以可变增益而得到的抑制量Uls2输出给运算部 C4。运算部C4将对抑制量Uls1加上抑制量Uls2而得到的抑制量Uls输 出给图7所示的运算部C3。

[0100] 图16是表示变形例2涉及的干扰抑制处理的一例的图。在图16中， 驱动量Ub、增益G1以及增益G2与图10相同，因此进行了省略。

[0101] 在图16所示的例子中，系统控制器130例如对与切换时间dT对应的 之后的波形WV2的一部分的波形WV21乘以从－1到0随着时间经过而 减少的增益G4，生成抑制量Uls2。换言之，系统控制器130使波形WV21 的极性反转，在切换时间dT的期间，例如乘以从0到1随着时间经过而 减少的增益G4来生成抑制量Uls2。系统控制器130对抑制量Uls1加上抑 制量Uls2，生成之前的波形WV1和之后的波形WV2连续的抑制量Uls。

[0102] 根据变形例2，磁盘装置能够通过简单的构成，输出具有之前的波形 WV1和之后的波形WV2成为连续的波形的波形WV0的抑制量Uls。

[0103] (变形例3)

[0104] 变形例3的磁盘装置1的干扰抑制处理系统SY2的构成与前述的实施 方式不同。

[0105] 图17是表示变形例3涉及的干扰抑制处理系统SY2的一例的框图。

[0106] 干扰抑制处理系统SY2与图15所示的干扰抑制处理系统SY2相比， 不具备增益G4以及运算部C4。

[0107] 滤波器FT算出抑制量Uls0，将抑制量Uls0输出给增益G3。增益G3 被输入抑制量Uls0。增益G3将对抑制量Uls0乘以可变增益而得到的抑制 量Uls输出给图7所示的运算部C3。

[0108] 图18是表示变形例3涉及的干扰抑制处理的一例的图。在图18中， 驱动量Ub、增益G1以及增益G2与图10相同，因此进行了省略。

[0109] 在图18所示的例子中，系统控制器130在切换时间dT的期间，对之 后的波形WV2乘以从负极性的预定值到正极性的预定值、例如从－1到1 随着时间经过而变化的增益G3，生成抑制量Uls。换言之，系统控制器130 在切换时间dT的期间，使之后的波形WV2的极性反转，在切换时间dT 的期间，例如乘以从－1到0随着时间经过而减少的增益和从0到1随着 时间经过而增加的增益，生成抑制量Uls。

[0110] 根据变形例3，磁盘装置能够通过简单的构成，输出具有之前的波形 WV1和之后的波形WV2成为连续的波形的波形WV0的抑制量Uls。

[0111] (第2实施方式)

[0112] 第2实施方式涉及的磁盘装置1的能够应用于发生了同步共振模式以 外的共振模式的情况下的构成与前述的实施方式不同。

[0113] 在进行头变更的情况下，系统控制器130具有如下功能：根据在 HDA10等发生的共振模式，修正对过去值施加的增益和/或过去值的相位， 调整抑制量Uls。例如，系统控制器130也可以对与在到输入至滤波器FT 为止的系统和/或从滤波器FT输出之后的系统中发生了的相位偏移相当的 过去值的相位进行修正。另外，系统控制器130也可以对相对于从到输入 至滤波器FT为止的系统和/或从滤波器FT输出之后的系统确定的环路整 形周波数的相位的相位偏移量进行修正。

[0114] 图19以及图20是表示第2实施方式涉及的在HDA10发生了共振模 式的情况下的头HD、臂AM以及VCM14振动了的状态的一例的图。图 19以及图20示出从图2的第2方向Y的箭头的前端侧观察X－Z平面的 情况下的头HD、臂AM以及VCM14。在图19以及图20所示的在HDA10 发生了共振模式的情况下，头HD、臂AM以及VCM14可能会耦合振动。 以下，将第1方向X的箭头朝向的方向称为左侧，将与左侧相反的方向称 为右侧。图19所示的头HD、臂AM以及VCM14相对于轴AX向左侧倾 斜。图20所示的头HD、臂AM以及VCM14相对于轴AX向右侧倾斜。 在图19以及图20中，头HD还包括头HD4、头HD5、头HD6以及头HD7。 另外，在图19以及图20中，臂AM还包括臂AM4、臂AM5、臂AM6 以及臂AM7。

[0115] 在图19所示的例子中，头HD0～HD3相对于轴AX向左侧偏。头 HD4～HD7相对于轴AX向右侧偏。头HD0～HD7以相对于轴AX向左 上倾斜的方式排列。

[0116] 在图20所示的例子，头HD0～HD3相对于轴AX向右侧偏。头HD4～ HD7相对于轴AX向左侧偏。头HD0～HD7以相对于轴AX向右上倾斜 的方式排列。

[0117] 图21是表示在如图19以及图20所示HDA10振动了的情况下的头 HD以及臂AM所对应的振幅的一例的图。在图21中，纵轴表示振幅，横 轴表示与各振幅对应的头HD以及臂AM。在图21中，与头HD以及臂 AM对应的振幅以预定值被进行标准化。因此，在图21中，与头HD以及 臂AM对应的振幅在从正极性的预定值、例如1到负极性的预定值、例如 －1之间变动。在图21中，振幅的1为正极性的最大值，－1为负极性的 最大值。

[0118] 在图21所示的例子中，头HD0～HD7和臂AM0～AM7的振幅 AP210～AP217从正极性的最大值(1)到负极性的最大值(1)以一定倾 斜度变化。

[0119] 在头HD以及臂AM的振幅发生了如图21所示那样变化的共振模式 的情况下，系统控制器130执行干扰抑制处理、例如环路整形处理。例如， 在从头HD0变更为头HD1的情况下，系统控制器130将乘以了头HD0 的振幅AP210与头HD1的振幅AP211之比(AP211/AP210)后的过去值 输入至滤波器FT。另外，在头0变更为头HD6的情况下，系统控制器130 将对过去值乘以头HD0的振幅AP210与头HD6的振幅AP216之比 (AP216/AP210)后的过去值输入至滤波器FT。系统控制器130中，滤波 器FT基于当前所输入的推定位置误差Ep、当前所输入的模型位置误差 Epm、过去值等生成抑制量Uls。

[0120] 图22以及图23表示第2实施方式涉及的在HDA10发生了共振模式 的情况下的头HD、臂AM以及VCM14振动了的状态的一例的图。图22 以及图23示出从图2的第2方向Y的箭头的前端侧观察X－Z平面的情 况下的头HD、臂AM以及VCM14。

[0121] 在图22所示的例子中，头HD0以及臂AM0相对于轴AX向右侧倾 斜。头HD1～HD6和臂AM1～AM6相对于轴AX几乎不倾斜。头HD7 以及臂AM7相对于轴AX向左侧倾斜。

[0122] 在图23所示的例子中，头HD0以及臂AM0相对于轴AX向左侧倾 斜。头HD1～HD6和臂AM1～AM6相对于轴AX几乎不倾斜。头HD7 以及臂AM7相对于轴AX向右侧倾斜。

[0123] 图24是表示如图22以及图23所示那样HDA10振动了的情况下的头 HD以及臂AM所对应的振幅的一例的图。在图21中，纵轴表示振幅，横 轴表示与各振幅对应的头HD以及臂AM。在图24中，与头HD以及臂 AM对应的振幅以预定值被进行了标准化。因此，在图24中，与头HD以 及臂AM对应的振幅在从正极性的预定值、例如1到负极性的预定值、例 如－1之间变动。在图24中，振幅的1是正极性的最大值，－1是负极性 的最大值。

[0124] 在图24所示的例子中，头HD0以及臂AM0的振幅AP240是正极性 的最大值(1)。头HD1～HD6和臂AM1～AM6的振幅AP241～AP246 是0。头HD7以及臂AM7的振幅AP247是正极性的最大值(1)。

[0125] 在发生了头HD和臂AM的振幅如图24所示那样变化的共振模式的 情况下，系统控制器130执行干扰抑制处理、例如环路整形处理。例如， 在从头HD0变更为头HD1的情况下，系统控制器130将乘以了头HD0 的振幅AP240与头HD1的振幅AP241之比(AP241/AP240)后的过去值 输入至滤波器FT。另外，在从头HD0变更为头HD7的情况下，系统控 制器130将乘以了头HD0的振幅AP240与头HD7的振幅AP247之比 (AP247/AP240)后的过去值输入至滤波器FT。系统控制器130中，滤波 器FT基于当前所输入的推定位置误差Ep、当前所输入的模型位置误差 Epm、过去值等生成抑制量Uls。

[0126] 根据第2实施方式，在发生了同步共振模式以外的共振模式的状态下 进行了头变更的情况下，磁盘装置1能够抑制接下来的头HD的寻道中的 由同步共振模式以外的共振模式造成的振动的影响。因此，磁盘装置1能 够提高伺服控制的精度。

[0127] 以上对几个实施方式进行了说明，但这些实施方式是作为例子提示的， 并不是意在限定发明的范围。这些新的实施方式可以由其他各种各样的形 态来实施，能够在不脱离发明的宗旨的范围内进行各种各样的省略、置换、 变更。这些实施方式及其变形包含在发明的范围以及宗旨中，并且，包含 在权利要求书记载的发明及其等同的范围内。