用于控制电源的装置和方法

摘要

本发明实施例提供一种用于控制电源的装置和方法。该方法包括：在开关元件的周期内根据下坡波形生成第一校正信号并且根据上坡波形生成第二校正信号。因此，采用一个振荡器可以进行两种类型的校正，能够减少电路的面积，并且能够降低集成电路的成本。

权利要求

1.一种用于控制电源的装置，所述电源包括开关元件以及具有一次绕组和二次绕组的变压器；

其中，所述装置包括：

电流检测电路，所述电流检测电路用于检测在所述开关元件中传导的电流以生成检测信号；

振荡器，所述振荡器用于在所述开关元件的周期内生成至少一个下坡波形和一个上坡波形，其中，将所述振荡器的至少两个周期分配给所述开关元件的开关周期；

信号生成电路，所述信号生成电路用于在所述开关元件的开关周期内，异步地根据所述开关元件的开关周期基于所述下坡波形生成第一斜坡信号并且在所述第一斜坡信号关闭之后基于所述上坡波形生成第二斜坡信号；以及信号叠加电路，所述信号叠加电路用于将所述第一斜坡信号叠加在所述检测信号上以生成第一校正信号，并且将所述第二斜坡信号叠加在所述检测信号上以生成第二校正信号。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第一校正信号用于对由所述装置的传播时延而导致的失真信号进行校正。

3.根据权利要求2所述的装置，其中，所述装置还包括：第一比较电路，所述第一比较电路用于将所述第一校正信号与电流参考信号进行比较，以输出用于控制所述开关元件的第一控制信号。

4.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第二校正信号用于对所述装置的子谐波振荡进行校正。

5.根据权利要求4所述的装置，其中，装置还包括：第二比较电路，所述第二比较电路用于将所述第二校正信号与来自误差放大电路的误差信号进行比较，以输出用于控制所述开关元件的第二控制信号。

6.根据权利要求1所述的装置，其中，所述下坡波形和所述上坡波形在所述振荡器的至少两个周期内被生成，并且所述振荡器的至少两个周期被分配在所述开关元件的所述周期内。

7.根据权利要求1所述的装置，其中，基于所述下坡波形的斜率和/或持续时间，所述第一校正信号的校正周期和/或校正量被确定；和/或基于所述上坡波形的斜率和/或持续时间，所述第二校正信号的校正周期和/或校正量被确定。

8.根据权利要求1所述的装置，其中，在所述开关元件的所述周期内，所述第一校正信号在所述第二校正信号生成之前生成；

在所述装置中使用具有脉冲宽度调制的电流模式，并且所述装置基于反馈信号对所述检测信号进行控制。

9.一种集成电路，包括权利要求1至8任一项所述的用于控制电源的装置。

10.一种用于控制电源的方法，包括：检测在开关元件中传导的电流以生成检测信号；

在所述开关元件的周期内生成至少一个下坡波形和一个上坡波形，其中，将振荡器的至少两个周期分配给所述开关元件的开关周期；

在所述开关元件的开关周期内，异步地根据所述开关元件的开关周期基于所述下坡波形生成第一斜坡信号并且在所述第一斜坡信号关闭之后基于所述上坡波形生成第二斜坡信号；以及

将所述第一斜坡信号叠加在所述检测信号上以生成第一校正信号，并且将所述第二斜坡信号叠加在所述检测信号上以生成第二校正信号。

说明书

用于控制电源的装置和方法

技术领域

[0001] 本发明实施例总体上涉及电源领域，尤其涉及一种用于控制电源的装置和方法。

背景技术

[0002] 通常应用在电信、交通、工业以及其它用途中的电源要求在电源的输入与输出之间的电气隔离。具有一次绕组(primary winding)和二次绕组(secondary winding)的变压
器通常用于提供这种隔离。此外，电源还可以包括开关元件和连接二次绕组的整流二极管。

[0003] 图1是示出了现有技术中的电源和用于控制电源的装置的示意图。如图1所示，电源100用于将第一电压(Vin，例如直流电压)变换为第二电压(Vo，例如直流电压)。电源100
可以包括开关元件101、具有一次绕组1021和二次绕组1022的变压器102以及连接该二次绕
组1022的整流二极管103。

[0004] 如图1所示，用于控制电源100的装置110可以包括源电压端子111(例如，可以称为VCC)、反馈端子112(例如，可以称为FB)和用于驱动开关元件101的驱动端子113(例如，可以
称为DRV)。开关元件101的开/关(ON/OFF)操作可以由来自驱动端子113的具有脉冲宽度调
制(PWM，pulse width modulation)的驱动信号进行控制。此外，COMP表示比较端子。

[0005] 如图1所示，装置110还可以包括用于将斜坡信号(ramp signal)输出到驱动电路115的振荡器114。此外，如图1所示，可以在第一比较器117内将来自过电流保护(OCP，over 
current protection)端子116的电流信号与电流参考信号(例如，可以称为REF1)进行比
较。因此，可以从该第一比较器117将第一控制信号输出到该驱动电路115中，并且可以在过
载时对在该开关元件101中传导(或者可称为经过或流过)的电流进行限制，以使该开关元
件101得到保护。

[0006] 如图1所示，可以将(例如来自二次绕组1022侧的)反馈信号输入该反馈端子112。可以在误差放大器118内将该反馈信号与参考信号(例如，可以称为REF2)进行比较，由比较
后的信号生成补偿误差信号，并且在第二比较器119内可以将从该误差放大器118输出的该
补偿误差信号与来自该OCP端子116的电流信号进行比较。因此，可以从该第二比较器119将
第二控制信号输出到该驱动电路115中。

[0007] 本节的内容引入了多个方面，这些方面是用于对本发明的更好的理解。因此，应在此方面阅读本节的陈述，且不应该理解为是对哪些是现有技术或哪些不是现有技术的认
可。

发明内容

[0008] 然而，发明人发现，由于传播时延(propagation delay)的原因，来自该开关元件的电流信号可能会失真，例如经过检测的电流会由于在OCP电路中存在传播时延而升高。因
此，需要对该电流信号进行校正，这可以称之为第一校正或者输入校正(input 
correction)。

[0009] 此外，装置中可能会存在子谐波振荡(sub‑harmonic oscillation)，例如在采用连续传导模式(CCM，continuous conduction mode)和PWM信号(驱动信号)的占空比(duty)
超过50％的情况下。因此，需要对该子谐波振荡进行校正，这可以称之为第二校正或者斜坡
校正(ramp correction)。

[0010] 再者，可能分别在不同的电路中进行第一校正和第二校正。因此，该装置的面积会相对较大，而且难以降低包括用于控制电源的装置的集成电路的成本。

[0011] 为了至少解决上述这些问题中的一部分，本发明提供方法、装置和器件。结合附图阅读下面对具体实施例的描述，能够理解本发明的实施例的特征和优点，这些具体实施例
通过实例描述了本发明的实施例的原理。

[0012] 总体上来讲，本发明实施例提供了一种控制电源的装置和方法。希望使用一个震荡器生成第一校正信号和第二校正信号。

[0013] 根据本发明实施例的第一方面，提供一种用于控制电源的装置，该电源包括开关元件以及具有一次绕组和二次绕组的变压器；

[0014] 其中，该装置包括：

[0015] 电流检测电路，该电流检测电路用于检测在该开关元件中传导的电流以生成检测信号；振荡器，该振荡器用于在该开关元件的周期内生成至少一个下坡波形和一个上坡波
形；信号生成电路，该信号生成电路用于基于该下坡波形生成第一斜坡信号并且基于该上
坡波形生成第二斜坡信号；以及信号叠加电路，该信号叠加电路用于将该第一斜坡信号叠
加在该检测信号上以生成第一校正信号，并且将该第二斜坡信号叠加在该检测信号上以生
成第二校正信号。

[0016] 在一个实施例中，该第一校正信号用于对由该装置的传播时延而导致的失真信号进行校正。

[0017] 在一个实施例中，该装置还包括：第一比较电路，该第一比较电路用于将该第一校正信号与电流参考信号进行比较，以输出用于控制该开关元件的第一控制信号。

[0018] 在一个实施例中，该第二校正信号用于对该装置的子谐波振荡进行校正。

[0019] 在一个实施例中，该装置还包括：第二比较电路，该第二比较电路用于将该第二校正信号与来自误差放大电路的误差信号进行比较，以输出用于控制该开关元件的第二控制
信号。

[0020] 在一个实施例中，在该振荡器的至少两个周期内生成该下坡波形和该上坡波形，且该振荡器的至少两个周期被分配在该开关元件的该周期内。

[0021] 在一个实施例中，基于该下坡波形的斜率和/或持续时间确定该第一校正信号的校正周期和/或校正量。

[0022] 在一个实施例中，基于该上坡波形的斜率和/或持续时间确定该第二校正信号的校正周期和/或校正量。

[0023] 在一个实施例中，在该开关元件的该周期内，在生成该第二校正信号之前生成该第一校正信号。

[0024] 在一个实施例中，在该装置中使用具有脉冲宽度调制的电流模式，且该装置用于基于反馈信号对该检测信号进行控制。

[0025] 根据本发明实施例的第二方面，提供一种集成电路，包括第一方面所述的用于控制电源的装置。

[0026] 根据本发明实施例的第三方面，提供一种用于控制电源的方法。该方法包括：检测在开关元件中传导的电流以生成检测信号；在该开关元件的周期内生成至少一个下坡波形
和一个上坡波形；基于该下坡波形生成第一斜坡信号并且基于该上坡波形生成第二斜坡信
号；以及将该第一斜坡信号叠加在该检测信号上以生成第一校正信号，并且将该第二斜坡
信号叠加在该检测信号上以生成第二校正信号。

[0027] 在一个实施例中，该方法还包括：将该第一校正信号与电流参考信号进行比较，以输出用于控制该开关元件的第一控制信号。

[0028] 在一个实施例中，该方法还包括：将该第二校正信号与误差信号进行比较，以输出用于控制该开关元件的第二控制信号。

[0029] 根据本发明的各种实施例，在开关元件的周期内根据下坡波形生成第一校正信号并且根据上坡波形生成第二校正信号。因此，采用一个振荡器可以进行两种类型的校正，能
够减少电路的面积，并且可降低集成电路的成本。

附图说明

[0030] 参照下面结合附图通过实例进行的具体描述，能够充分理解本发明的各种实施例的前述和其它方面、特征和优点，在这些附图中，相同的附图标记或字母用于指明相同或等
同的元素。示出这些附图用于便于更好地理解本发明的实施例，且这些附图并不一定按比
例绘制。在这些图中：

[0031] 图1是示出了现有技术中的电源和用于控制电源的装置的示意图；

[0032] 图2是示出了本发明实施例的不存在传播时延的电流信号的一个实例的示意图；

[0033] 图3是示出了本发明实施例的存在传播时延的电流信号的一个实例的示意图；

[0034] 图4是示出了本发明实施例的存在传播时延时的电流信号的一个实例的另一个示意图；

[0035] 图5是示出了本发明实施例的输入电压改变时的电流信号的一个实例的示意图；

[0036] 图6是示出了本发明实施例的PWM信号的占空比小于50％时的输出电流的一个实例的示意图；

[0037] 图7是示出了本发明实施例的PWM信号的占空比超过50％时的输出电流的一个实例的示意图；

[0038] 图8是示出了本发明实施例的电源800和用于控制电源800的装置810的示意图；

[0039] 图9是示出了本发明实施例的图8中的一个或多个元件中的信号的示意图；

[0040] 图10是示出了本发明实施例的信号的一些实例的示意图；

[0041] 图11是示出了本发明实施例的信号的一些实例的另一个示意图；

[0042] 图12是示出了本发明实施例的信号的一些实例的再一个示意图；

[0043] 图13是示出了本发明实施例的信号的一些实例的又一个示意图；

[0044] 图14是示出了本发明实施例的信号的一些实例的再一个示意图；

[0045] 图15是示出了本发明实施例的用于控制电源的方法的示意图。

具体实施方式

[0046] 以下将参考几个实例对本发明进行说明。应该理解的是，对这些实施例的描述仅是为了使本领域中的技术人员能够更好地理解并实施本发明，而并不是对本发明的范围进
行限制。

[0047] 应该理解的是，当一个元件“连接到”或“偶合到”或“接触到”另一个元件时，它可以直接与另一个元件连接或偶合或接触，而且可以有中间元件的出现。相反，当一个元件
“直接连接到”或“直接偶合到”或“直接接触到”另一个元件时，不会有中间元件的出现。用
于对元件之间的关系进行描述的其它词语(例如“在…之间”与“直接在…之间”，以及“临
近”与“直接临近”，等等)也应使用类似的方式进行解释。

[0048] 本文中所使用的术语“第一”和“第二”是指不同的要素。单数形式“一”也可以包括复数形式，除非另有明确的说明。本文中所使用的术语“包括”、“具有”和/或“包含”用于说
明所陈述的特征、要素和/或成分的存在，但并不排除一个或多个其它特征、要素和/或成分
和/或它们的组合的存在或增加。

[0049] 本文中所使用的术语“基于”应理解为“至少部分地基于”。术语“覆盖”应理解为“至少部分地覆盖”。术语“一个实施例”和“实施例”应理解为“至少一个实施例”。术语“另一
个实施例”应理解为“至少另一个实施例”。其它限定，无论是显式的还是隐含的，均包括在
以下的说明中。

[0050] 在本发明中，除非另有限定，本文中所采用的所有术语(包括技术术语和科学术语)的含义，均与示例性实施例所属的领域中的技术人员所通常理解的含义相同。还应该理
解的是，应将术语(例如在常用词典中所限定的术语)解释为具有与它们在相关领域的背景
下的含义一致的含义，而不应在理想化或过度正式的意义上进行解释，除非此处另有明确
限定。

[0051] 图2是示出了本发明实施例的不存在传播时延时的电流信号的一个实例的示意图，图3是示出了本发明实施例的存在传播时延时的电流信号的一个实例的示意图。

[0052] 如图2所示，在理想情况下，可以将检测电流限制在保护水平内。不过，如图3所示，在实际的电路中存在传播时延ΔT。由于该传播时延ΔT，该检测电流升高并且在保护水平
上存在失真部分ΔI1。

[0053] 图4是示出了本发明实施例的存在传播时延时的电流信号的一个实例的另一个示意图，图5是示出了本发明实施例的输入电压改变时的电流信号的一个实例的示意图。

[0054] 如图4所示，当输入电压高时，该检测信号的斜率会大，这样，该开关元件中的电流可能增加。如图5所示，当输入电压增加时，输出电流可能会增大。

[0055] 因此，需要第一校正信号或输入校正信号来对该装置的传播时延所导致的失真信号进行校正。

[0056] 图6是示出了本发明实施例的PWM信号的占空比小于50％时的输出电流的一个实例的示意图，图7是示出了根据本发明的实施例的PWM信号的占空比超过50％时的输出电流
的一个实例的示意图。

[0057] 如图6和图7所示，与理想情况相比，在实际的情形中在该开关元件的每个周期(T)内存在失真部分，例如ΔI1，ΔI2，ΔI3…。此外，在该装置中可能会出现子谐波振荡，例如在
采用连续传导模式(CCM)和PWM信号的占空比超过50％时。

[0058] 因此，需要第二校正信号或者斜坡校正信号对该装置的子谐波振荡进行校正。

[0059] 应该理解的是，在图2至7中例示了一些信号或波形，但本发明并不仅限于此。此外，在该装置中使用具有脉冲宽度调制的电流模式，且该装置用于基于反馈信号对检测信
号进行控制。例如，该装置可以是FLYBACK类型，例如BUCK，BOOST，BUCK‑BOOST，等等。

[0060] 实施例的第一方面

[0061] 本发明实施例提供一种控制电源的装置。

[0062] 图8是示出了本发明实施例的电源800和用于控制电源800的装置810的示意图。

[0063] 如图8所示，电源800用于将第一电压(Vin，例如直流电压)变换为第二电压(Vo，例如直流电压)。电源800可以包括开关元件801、具有一次绕组8021和二次绕组8022的变压器
802以及连接该二次绕组8022的整流二极管803。

[0064] 在一个实施例中，该开关元件801例如可以是晶体管，例如IGFET(Insulated Gate Field Effect Transistor，绝缘栅场效应晶体管)、MOSFET(Metal Oxide Semiconductor 
Field Effect Transistor，金属氧化物半导体场效应晶体管)或IGBT(Insulated Gate 
Bipolar Transistor，绝缘栅双极晶体管)，等等。该整流二极管803可以是任何类型的二极
管，例如，可以是一种萧特基二极管(Schottky diode)。作为增加和/或替代，还可以使用多
种其它类型的整流二极管和/或开关元件，但本发明并不仅限于此。

[0065] 如图8所示，该装置810可以包括源电压端子811、反馈端子812和用于驱动开关元件801的驱动端子813。该开关元件801的开/关操作可以由来自驱动端子813的具有脉冲宽
度调制(PWM)的驱动信号进行控制。

[0066] 如图8所示，该装置810还可以包括电流检测电路814，其用于检测在该开关元件801中传导的电流以生成检测信号。例如，该电流检测电路814可以对OCP端子上的电流进行
检测。

[0067] 如图8所示，该装置810还可以包括：用于在该开关元件801的周期(period或cycle)内生成至少一个下坡波形(down‑slope waveform)和一个上坡波形(up‑slope 
waveform)的振荡器815；用于基于该下坡波形生成第一斜坡信号(a first slope signal)
并且基于该上坡波形生成第二斜坡信号(a second slope signal)的信号生成电路816；以
及用于将该第一斜坡信号叠加在该检测信号上以生成第一校正信号并且将该第二斜坡信
号叠加在该检测信号上以生成第二校正信号的信号叠加电路817。

[0068] 例如，信号生成电路816可以包括缩放元件，并且在振荡器815中生成的斜坡信号(ramp signal)可以用于形成该第一斜坡信号和该第二斜坡信号。

[0069] 图9是示出了本发明实施例的图8中的一个或多个元件中的信号的示意图。如图9所示，例如，振荡器815的两个周期(T’)被分配在该开关元件801的一个周期(T)内，并且在
这两个周期(T’)内生成下坡波形(例如图中所示的A至B)和上坡波形(例如图中所示的B至
C)。此外，CLK表示时钟信号。

[0070] 此外，如图9所示，可以根据该下坡波形生成第一斜坡信号，并且可以根据该上坡波形生成第二斜坡信号。

[0071] 因此，可以通过将该第一斜坡信号叠加在该检测信号上来生成第一校正信号，并且可以通过将该第二斜坡信号叠加在该检测信号上来生成第二校正信号。

[0072] 在一个实施例中，该第一校正信号可以用于对由该装置的传播时延而导致的失真信号进行校正。如图8所示，该装置810还可以包括第一比较电路818，该第一比较电路818用
于将该第一校正信号与电流参考信号(REF1，例如OCP参考信号)进行比较，且第一比较电路
818用于将第一控制信号输出到驱动电路819中，以对该开关元件801进行控制。

[0073] 在一个实施例中，该第二校正信号可以用于对该装置的子谐波振荡进行校正。如图8所示，该装置810还可以包括第二比较电路820，该第二比较电路820用于将该第二校正
信号与来自误差放大电路821的误差信号进行比较，并将第二控制信号输出到驱动电路819
中，以对该开关元件801进行控制。

[0074] 因此，在该开关元件的周期内可以根据下坡波形生成第一校正信号，并且可以根据上坡波形生成第二校正信号。可以利用一个振荡器进行该输入校正和该斜坡校正，能够
减少电路的面积，并且能够降低集成电路的成本。

[0075] 应该理解的是，在图8中示出的部件或元件仅作为示例。不过，本发明并不仅限于此。例如，这些部件或元件的连接或位置可以进行调整，和/或，一些部件或元件可以省略。

[0076] 此外，可以增加在图8中未示出的部件或元件，例如用于生成某些脉冲作为驱动信号来进行脉冲宽度调制(PWM)的调制电路；而在图8中示出但并未解释的部件或元件，例如
图8中的过电流保护(OCP)电路，可以参考相关技术。

[0077] 图10是示出了本发明实施例的信号的一些实例的示意图。如图10所示，在该振荡器的这两个周期(T’)内生成至少一个下坡波形(例如图中所示的A至B)和一个上坡波形(例
如图中所示的B至C)。

[0078] 如图10所示，可以根据该下坡波形生成第一斜坡信号，并且可以根据该上坡波形生成第二斜坡信号。此外，可以在OCP端子检测电流信号。

[0079] 如图10所示，可以通过将该第一斜坡信号叠加在该检测信号上来生成输入校正信号。可以在OCP比较器内将该输入校正信号与OCP参考信号进行比较，且可以从该OCP比较器
将第一控制信号输入到该驱动电路中。

[0080] 如图10所示，可以通过将该第二斜坡信号叠加在该检测信号上来生成斜坡校正信号。可以在反馈比较器内将该斜坡校正信号与误差信号进行比较，且可以从该反馈比较器
将第二控制信号输入到该驱动电路中。

[0081] 在一个实施例中，在该振荡器的至少两个(例如整数N，N≥2)周期内生成该下坡波形和该上坡波形，且该振荡器的至少两个周期被分配在该开关元件的该周期内。例如，该振
荡器的两个周期在图9中作为实例被示出，但本发明并不仅限于此。

[0082] 图11是示出了本发明实施例的信号的一些实例的另一个示意图。如图11所示，该振荡器的两个周期(N＝2)用于生成该第一斜坡信号和该第二斜坡信号。

[0083] 图12是示出了本发明实施例的信号的一些实例的再一个示意图。如图12所示，该振荡器的三个周期(N＝3)用于生成该第一斜坡信号和该第二斜坡信号。

[0084] 应该理解的是，N＝2和N＝3在图11和图12中作为实例示出，但本发明并不仅限于此。例如，N可以大于3。此外，由于在较高频率情况下电容器的面积可以较小，所以当N较大
时，该电路的面积可以较小。

[0085] 在一个实施例中，在该开关元件的该周期内，在生成该第二校正信号之前生成该第一校正信号。

[0086] 在一个实施例中，基于该下坡波形的斜率(slop)和/或持续时间(duration)，可以确定该第一校正信号的校正周期和/或校正量。

[0087] 在一个实施例中，基于该上坡波形的斜率和/或持续时间，可以确定该第二校正信号的校正周期和/或校正量。

[0088] 图13是示出了本发明实施例的信号的一些实例的又一个示意图，图14是示出了本发明实施例的信号的一些实例的再一个示意图。

[0089] 如图13和图14所示，当该下坡波形的斜率和/或持续时间发生变化时，该第一校正信号的校正周期和/或校正量可以发生变化。当该上坡波形的斜率和/或持续时间发生变化
时，该第二校正信号的校正周期和/或校正量可以发生变化。

[0090] 在一个实施例中，在该装置中使用具有脉冲宽度调制的电流模式，且该装置用于基于反馈信号对该检测信号进行控制。

[0091] 在一个实施例中，提供一种集成电路(IC，integrated circuit)，该集成电路包括如上所述的控制电源的装置。

[0092] 应该理解的是，以上实例或实施例仅仅是用于例示性说明，而并不旨在进行限制。本领域中的技术人员应该理解，在本发明的范围之内，还存在多种其它的实施例或实例。

[0093] 从上述实施例中可知，在开关元件的周期内根据下坡波形生成第一校正信号并且根据上坡波形生成第二校正信号。因此，采用一个振荡器可以进行两种类型的校正，能够减
少电路的面积，并且能够降低集成电路的成本。

[0094] 实施例的第二方面

[0095] 本发明实施例提供一种用于控制电源的方法。由于在实施例的第一方面对相应的装置810和电源800已经进行了描述，与实施例的第一方面相同的内容在此略去。

[0096] 图15是示出了本发明实施例的用于控制电源的方法的示意图。如图15所示，该方法1500包括：

[0097] 步骤1501：检测在开关元件中传导的电流以生成检测信号；

[0098] 步骤1502：在该开关元件的周期内生成至少一个下坡波形和一个上坡波形；

[0099] 步骤1503：基于该下坡波形生成第一斜坡信号并且基于该上坡波形生成第二斜坡信号；以及

[0100] 步骤1504：将该第一斜坡信号叠加在该检测信号上以生成第一校正信号，并且将该第二斜坡信号叠加在该检测信号上以生成第二校正信号。

[0101] 在一个实施例中，该第一校正信号用于对由该装置的传播时延而导致的失真信号进行校正。

[0102] 如图15所示，该方法1500还可以包括：

[0103] 步骤1505：将该第一校正信号与电流参考信号进行比较，以输出用于控制该开关元件的第一控制信号。

[0104] 在一个实施例中，该第二校正信号用于对该装置的子谐波振荡进行校正。

[0105] 如图15所示，该方法1500还可以包括：

[0106] 步骤1506：将该第二校正信号与误差信号进行比较，以输出用于控制该开关元件的第二控制信号。

[0107] 应该理解的是，图15仅仅是本发明的一个实例，但本发明并不仅限于此。例如，这些步骤的执行顺序可以进行调整，和/或，某些步骤可以省略。此外，可以增加在图15中未示
出的步骤。

[0108] 在一个实施例中，在该振荡器的至少两个周期内生成该下坡波形和该上坡波形，且该振荡器的至少两个周期被分配在该开关元件的该周期内。

[0109] 在一个实施例中，基于该下坡波形的斜率和/或持续时间，确定该第一校正信号的校正周期和/或校正量。

[0110] 在一个实施例中，基于该上坡波形的斜率和/或持续时间，确定该第二校正信号的校正周期和/或校正量。

[0111] 在一个实施例中，在该开关元件的该周期内，在生成该第二校正信号之前生成该第一校正信号。

[0112] 从上述实施例中知，在开关元件的周期内根据下坡波形生成第一校正信号并且根据上坡波形生成第二校正信号。因此，采用一个振荡器可以进行两种类型的校正，能够减少
电路的面积，并且能够降低集成电路的成本。

[0113] 此外，尽管本领域中的技术人员可能做出很大的努力，并且在可用的时间、目前的技术和经济方面的考虑的驱使下有多种设计方面的选择，但他们在本文中所公开的理念和
原理的指导下，能够容易地通过极少的实验生成这些软件指令和程序以及集成电路(IC)。

[0114] 总之，本发明的各种实施例可以在软件或专用电路、硬件、逻辑或它们的任意组合中实施。在一些方面可以在硬件中实施，而在另一些方面可以在由控制器、微处理器或其它
计算设备执行的固件或软件中实施。

[0115] 虽然通过框图、流程图或使用其它形象化表示方式对本发明实施例进行了图示和描述，但应该理解的是，本文中所描述的块、装置、系统或方法可以在硬件、软件、固件、专用
电路或逻辑、通用硬件或控制器或其它计算设备或它们的组合中实施，而并不限于这些示
例。

[0116] 此外，虽然以具体顺序对这些操作进行了描述，但这并不应理解为要求以所示出的具体顺序或者先后顺序来执行这些操作或者执行示出的这些所有的操作来达到所希望
的结果。在某些情况下，多任务处理和平行处理是有益的。

[0117] 同样，虽然以上的描述中包含了几种具体实施方式的细节，但不应将这些细节解释为是对本发明的范围的限制，而应解释为是具体实施例的特定特征的描述。在独立的实
施例的上下文中所描述的某些特征也可以在单独的实施例中组合起来实施。相反，在单独
的实施例的上下文中所描述的各种特征也可以在多个实施例中以单独或适当的组合方式
实施。

[0118] 虽然用结构性特征和/或方法论行为特有的语言对本发明进行了描述，但应理解在权利要求书中所限定的本发明不必仅限于上述特定特征或行为。相反，公开以上所描述
的这些特定特征和行为，可以作为实施这些权利要求的示例形式。