一种快速识别平面平整度的方法转让专利

申请号 : CN201910657320.7

文献号 : CN110360962B

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相似专利:

发明人 : 胡志刚王长军唐葆华李勇会王保平赵昆鹏

申请人 : 北京中建建筑科学研究院有限公司中国建筑一局(集团)有限公司北京市建设工程质量第六检测所有限公司

摘要 :

本发明涉及一种快速识别平面平整度的方法,平面包括平整部位、凹陷部位、凸出部位,包括激光发生器,激光发生器发射的激光为激光平面,激光平面以与平面成一定角度照射在平面上,在平整部位、凹陷部位及凸出部位上形成识别线。本发明根据激光斜射投影长度远大于障碍物高度的原理,根据缺陷高度与其逆向投影长度的关系,来准确快速识别其平整度大小,达到判断施工过程中、质量验收时、维保监测时的平面的平整度是否合格的目的,加快测试、验收、监测速度,具有速度快、效率高、性能稳定,高精度、低成本的特点。

权利要求 :

1.一种快速识别平面平整度的方法,所述平面包括平整部位、凹陷部位、凸出部位,其特征在于,包括激光发生器,所述激光发生器发射的激光为激光平面,所述激光平面以与平面成一定角度照射在平面上,在所述平整部位、凹陷部位及凸出部位上形成识别线;

包括标定测试设备绘制标准曲线:

步骤(1),设置激光平面以与测试位置的角度为α,激光平面投射在测试平面上,呈现识别线;

步骤(2),设置所述识别线相对凹区缺陷位和凸区缺陷位的中心轴线,使用直尺测量凹区缺陷位或/和凸区缺陷位距离中心轴线的垂直距离为激光测量缺陷距离L;

步骤(3),使用塞尺测量实际缺陷距离L’,重复步骤(2)和(3);

步骤(4),直尺读数L为横坐标,以塞尺读数L’为纵坐标,绘制标准曲线;

通过下式计算缺陷处的平整度x,平整度x=k·L,其中k=tgα=L’/L;

步骤(2)设置所述识别线相对凹区缺陷位和凸区缺陷位的中心轴线,并使用靠尺对准识别线的中心轴线,进一步使用塞尺测量L’;

包括现场测试,步骤(A),启动激光发生器,待待激光平面在平面上显示的识别线稳定;

步骤(B),开始测量,观察识别线形状;选取异常缺陷处测量相对缺陷距离L,并根据标准曲线换算L’,获得平整度x。

2.根据权利要求1所述一种快速识别平面平整度的方法,其特征在于,所述激光平面为水平方向或者竖直方向设置。

3.根据权利要求1所述一种快速识别平面平整度的方法,其特征在于,所述测量激光测量缺陷距离L的直尺,精确至0.5mm。

4.根据权利要求1所述一种快速识别平面平整度的方法,其特征在于,现场测试使用两台激光发生器对称布置,分别提供识别线,准确定位识别线的中心轴线。

说明书 :

一种快速识别平面平整度的方法

技术领域

[0001] 本发明涉及一种快速识别平面平整度的方法,建筑工程质量检测、验收、监测。

背景技术

[0002] 平面是建筑、道路的主要表现形式。在当前公路交通中,路面平整度质量的好坏直接关系到车辆在行驶安全、油耗、速度、机械磨损、舒适度等方面的情况,建筑墙面平整度更
是关系到每一个使用者的视觉感受,因此,必须要加强对平面平整度的重视和控制。截止目
前,平整度均采用2m靠尺控制和测量。
[0003] 同时由于工程体量巨大,测量工作繁重,技术人员劳心劳力。多少年来,平整度的测量可谓是“一把尺子量到底”,目前还没有一个可靠的快速测试技术。

发明内容

[0004] 本发明所要解决的技术问题是提供一种快速识别平面平整度的方法,克服现有技术中采用靠尺控制和验收工程的巨大缺陷。
[0005] 本发明解决上述技术问题的技术方案如下:一种快速识别平面平整度的方法,所述平面包括平整部位、凹陷部位、凸出部位,包括激光发生器,所述激光发生器发射的激光
为激光平面,所述激光平面以与平面成一定角度照射在平面上,在所述平整部位、凹陷部位
及凸出部位上形成识别线。
[0006] 本发明的有益效果是:采用激光发生器发射的激光为激光平面,所述激光平面以与平面成一定角度照射在平面上,在所述平整部位、凹陷部位及凸出部位上形成识别线,根
据激光斜射投影长度远大于障碍物高度的原理,根据缺陷高度与其逆向投影长度的关系,
来准确快速识别其平整度大小,达到判断施工过程中、质量验收时、维保监测时平面的平整
度是否合格的目的,加快测试、验收、监测速度,具有测试速度快、效率高、性能稳定,高精
度、低成本。
[0007] 在上述技术方案的基础上,本发明还可以做如下改进。
[0008] 本发明一种快速识别平面平整度的方法,进一步,所述激光平面为水平方向或者竖直方向设置。
[0009] 本发明一种快速识别平面平整度的方法,进一步,包括标定测试设备绘制标准曲线:
[0010] 步骤(1),设置激光平面以与测试位置的角度为α,激光平面投射在测试平面上,呈现识别线;
[0011] 步骤(2),设置所述识别线相对凹区缺陷位和凸区缺陷位的中心轴线,使用直尺测量凹区缺陷位或/和凸区缺陷位距离中心轴线的垂直距离为激光测量缺陷距离L;
[0012] 步骤(3),使用塞尺测量实际缺陷距离L’,重复步骤(2)和(3);
[0013] 自0‑10cm均匀集满10对数(其中必须有一对定量数,即至少具有一组实际缺陷距离L’与激光测量缺陷距离L相对应,如实际缺陷距离L’为2mm,激光测量缺陷距离L确定为
2cm,这样方便准确判定),
[0014] 步骤(4),直尺读数L为横坐标,以塞尺读数L’为纵坐标,绘制标准曲线。
[0015] 本发明一种快速识别平面平整度的方法,进一步,通过下式计算缺陷处的平整度x,平整度x=kL,其中k=tgα=L’/L。
[0016] 本发明一种快速识别平面平整度的方法,进一步,所述测量激光测量缺陷距离L的直尺,精确至0.5mm。
[0017] 本发明一种快速识别平面平整度的方法,进一步,步骤(2)设置所述识别线相对凹区缺陷位和凸区缺陷位的中心轴线,并使用靠尺对准识别线的中心轴线。
[0018] 本发明一种快速识别平面平整度的方法,进一步,包括现场测试,步骤(A),启动激光发生器,待激光平面在平面上显示的识别线稳定;
[0019] 步骤(B),开始测量,观察识别线形状;选取异常缺陷处测量相对缺陷距离L,并根据标准曲线换算L’,获得平整度x。
[0020] 本发明一种快速识别平面平整度的方法,进一步,现场测试使用两台激光发生器对称布置,分别提供识别线,准确定位识别线的中心轴线。
[0021] 采用上述进一步方案的有益效果是:采用两台激光发生器发射两个激光平面定位出定位识别线,可以准确确定位具有凹区缺陷位和凸区缺陷位的识别线的中心轴线。

附图说明

[0022] 图1为本发明快速识别平面平整度的方法中激光发射器发射的激光平面与待测平面形成的识别线的结构示意图;
[0023] 图2为本发明快速识别平面平整度的方法测量的原理结构示意图;
[0024] 图3为本发明快速识别平面平整度的方法测量过程中制作的标准缺陷示意图图;
[0025] 附图中,各标号所代表的部件列表如下:
[0026] 1、平整部位,2、凹陷部位,3、凸出部位,4、平面,11、激光发生器,12、激光,13、识别线。

具体实施方式

[0027] 以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述,所举实例只用于解释本发明,并非用于限定本发明的范围。
[0028] 如图1所示,根据本发明实施例,快速识别平面平整度的方法,平面4包括平整部位1、凹陷部位2、凸出部位3,包括激光发生器11,所述激光发生器11发射的激光为激光平面
12,激光平面12以与平面成一定角度照射在平面上,在平整部位1、凹陷部位2及凸出部位3
上形成识别线13。具体地,激光平面可以为水平方向或者竖直方向设置。
[0029] 如图2和图3所示,根据本发明快速识别平面平整度的方法,包括标定测试设备绘制标准曲线:步骤(1),设置激光平面以与平面的角度为α;α大于0度小于90度;优选15‑60
度。
[0030] 步骤(2),设置所述识别线相对凹区缺陷位和凸区缺陷位的中心轴线,使用直尺测量凹区缺陷位或/和凸区缺陷位距离中心轴线的垂直距离为激光测量缺陷距离L;该直尺要
求可以精确至0.5mm;
[0031] 该步骤中设置所述识别线相对凹区缺陷位和凸区缺陷位的中心轴线,可以通过使用靠尺对准识别线的中心轴线,再直尺测量凹区缺陷位距离中心轴线的垂直距离为激光测
量缺陷距离L。
[0032] 步骤(3),使用塞尺测量实际缺陷距离L’,重复步骤(2)和(3);
[0033] 步骤(4),直尺读数L为横坐标,以塞尺读数L’为纵坐标,绘制标准曲线。具体的测试平面的平整度x可以通过下式计算,平整度x=kL,其中k=tgα=L’/L,L为激光投射的位
置与识别线中轴线之间的垂直距离,L’为实际平整度。
[0034] 本发明快速识别平面平整度的方法进行现场测试,步骤(A),启动激光发生器,待激光平面在待测平面上显示的识别线稳定;
[0035] 步骤(B),开始测量,观察识别线形状;选取异常缺陷处测量相对缺陷距离L,并根据标准曲线换算L’,获得平整度x。
[0036] 具体地,本发明现场测试时,可以使用两台激光发生器对称布置,分别提供识别线,准确定位识别线的中心轴线。由此,采用两台激光发生器发射两个激光平面定位出定位
识别线,可以准确确定位识别线的中心轴线。
[0037] 以上所述仅为本发明的较佳实施例,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。