一种测试缺陷数据存储方法和装置

摘要

本发明公开了一种测试缺陷数据存储方法、装置、电子设备和计算机存储介质。该方法包括：接收用于提出测试请求的提测单；建立提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系；获取与提测单对应的测试获得的缺陷数据；根据映射关系，将获取的缺陷数据存储至缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。通过本技术方案，建立了提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系，测试人员可以根据自己的需求提交测试单，然后测试得到的缺陷数据自动存储到缺陷存储系统，不需要按照缺陷存储系统的目录层级，也可以实现缺陷数据的存储，提高了存储效率，使得缺陷数据的存储更加人性化，增强用户的使用体验。

权利要求

1.一种测试缺陷数据存储方法，其中，该方法包括：

接收用于提出测试请求的提测单；

查询映射关系表，判断所述映射关系表中是否存在与所述提测单的业务层级对应的映射关系；其中，所述映射关系表存储的是提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系；

若不存在，在缺陷存储系统中创建新的目录层级，建立所述提测单对应的业务层级与创建的新的目录层级的映射关系；

获取与所述提测单对应的测试获得的缺陷数据；

根据所述映射关系，将获取的缺陷数据存储至所述缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中；

若存在，则根据所述映射关系，将获取的缺陷数据直接存储至所述缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。

2.如权利要求1所述的方法，其中，该方法进一步包括：创建映射关系表；

将建立的所述提测单的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系保存至所述映射关系表中；

当接收到指定提测单的缺陷数据的获取请求时，查询所述映射关系表，确定与所述指定提测单的业务层级具有映射关系的缺陷存储系统的目录层级；

从确定的缺陷存储系统的目录层级下的存储文件中获取所述指定提测单对应的缺陷数据。

3.如权利要求2所述的方法，其中，该方法进一步包括：根据获取的指定提测单对应的缺陷数据生成相应的测试报告。

4.如权利要求1所述的方法，其中，所述建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系包括：获取所述提测单对应的业务层级；

根据获取的业务层级，建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系。

5.如权利要求4所述的方法，其中，所述获取所述提测单对应的业务层级包括：直接从所述提测单中获取对应的业务层级；

或者，

提供业务层级输入接口，通过所述接口接收所述提测单对应的业务层级；

或者，

在接收到所述提测单时，从指定数据库中获取与所述提测单对应的业务层级；其中，所述指定数据库中存储有提测单对应的业务层级。

6.如权利要求1所述的方法，其中，所述缺陷存储系统的目录层级包括第一层级和第二层级，其中，第一层级包括有一个或多个第二层级；

所述建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系包括：根据所述业务层级中的业务线信息，建立所述提测单对应的业务线与所述缺陷存储系统的目录层级的第一层级的映射关系；

根据所述业务层级中的测试标识信息，建立所述提测单对应的测试标识信息与所述缺陷存储系统的所述第一层级下的第二层级的映射关系。

7.如权利要求6所述的方法，其中，所述缺陷存储系统包括第一层级和第二层级，其中，第一层级包括有一个或多个第二层级；

所述在缺陷存储系统中创建新的目录层级，建立所述提测单对应的业务层级与创建的新的目录层级的映射关系包括：查询所述映射关系表中是否存在与所述提测单对应的业务层级的业务线信息对应的映射关系；

若存在，则在与所述业务线信息具有映射关系的第一层级下创建新的第二层级，建立所述提测单对应的业务层级的测试标识信息与创建的第二层级之间的映射关系；

若不存在，则在所述缺陷存储系统中创建新的第一层级，以及在创建的第一层级下创建新的第二层级；建立所述提测单对应的业务层级的业务线信息与创建的第一层级的映射关系，以及建立所述提测单对应的业务层级的测试标识信息与创建的第二层级的映射关系。

8.如权利要求1‑7中任一项所述的方法，其中，所述缺陷存储系统是指缺陷跟踪系统bugzilla。

9.一种测试缺陷数据存储装置，其中，该装置包括：

提测单接收单元，适于接收用于提出测试请求的提测单；

映射关系查询单元，适于查询映射关系表，判断所述映射关系表中是否存在与所述提测单的业务层级对应的映射关系；其中，所述映射关系表存储的是提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系；若不存在，在缺陷存储系统中创建新的目录层级，建立所述提测单对应的业务层级与创建的新的目录层级的映射关系；

缺陷数据获取单元，适于获取与所述提测单对应的测试获得的缺陷数据；

缺陷数据存储单元，适于根据所述映射关系，将获取的缺陷数据存储至所述缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中；

映射关系查询单元在查询映射关系表，判断所述映射关系表中是否存在与所述提测单的业务层级对应的映射关系之后，还适于若存在，则根据所述映射关系，将获取的缺陷数据直接存储至所述缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。

10.如权利要求9所述的装置，其中，该装置进一步包括：映射关系存储单元，适于创建映射关系表；将建立的所述提测单的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系保存至所述映射关系表中；

缺陷数据确定单元，适于当接收到指定提测单的缺陷数据的获取请求时，查询所述映射关系表，确定与所述指定提测单的业务层级具有映射关系的缺陷存储系统的目录层级；

从确定的缺陷存储系统的目录层级下的存储文件中获取所述指定提测单对应的缺陷数据。

11.如权利要求10所述的装置，其中，该装置进一步包括：测试报告生成单元，适于根据获取的指定提测单对应的缺陷数据生成相应的测试报告。

12.如权利要求9所述的装置，其中，

映射关系建立单元，适于获取所述提测单对应的业务层级；根据获取的业务层级，建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系。

13.如权利要求12所述的装置，其中，

所述映射关系建立单元，适于直接从所述提测单中获取对应的业务层级；或者，提供业务层级输入接口，通过所述接口接收所述提测单对应的业务层级；或者，在接收到所述提测单时，从指定数据库中获取与所述提测单对应的业务层级；其中，所述指定数据库中存储有提测单对应的业务层级。

14.如权利要求9所述的装置，其中，所述缺陷存储系统的目录层级包括第一层级和第二层级，其中，第一层级包括有一个或多个第二层级；

映射关系建立单元，适于根据所述业务层级中的业务线信息，建立所述提测单对应的业务线与所述缺陷存储系统的目录层级的第一层级的映射关系；根据所述业务层级中的测试标识信息，建立所述提测单对应的测试标识信息与所述缺陷存储系统的所述第一层级下的第二层级的映射关系。

15.如权利要求14所述的装置，其中，所述缺陷存储系统包括第一层级和第二层级，其中，第一层级包括有一个或多个第二层级；

所述映射关系查询单元，适于查询所述映射关系表中是否存在与所述提测单对应的业务层级的业务线信息对应的映射关系；若存在，则在与所述业务线信息具有映射关系的第一层级下创建新的第二层级，建立所述提测单对应的业务层级的测试标识信息与创建的第二层级之间的映射关系；若不存在，则在所述缺陷存储系统中创建新的第一层级，以及在创建的第一层级下创建新的第二层级；建立所述提测单对应的业务层级的业务线信息与创建的第一层级的映射关系，以及建立所述提测单对应的业务层级的测试标识信息与创建的第二层级的映射关系。

16.如权利要求9‑15中任一项所述的装置，其中，所述缺陷存储系统是指缺陷跟踪系统bugzilla。

17.一种电子设备，其中，该电子设备包括：

处理器；以及，

被安排成存储计算机可执行指令的存储器，所述可执行指令在被执行时使所述处理器执行根据权利要求1～8中任一项所述的方法。

18.一种计算机可读存储介质，其中，所述计算机可读存储介质存储一个或多个程序，所述一个或多个程序当被处理器执行时，实现权利要求1～8 中任一项所述的方法。

说明书

一种测试缺陷数据存储方法和装置

技术领域

[0001] 本发明涉及计算机技术领域，具体涉及一种测试缺陷数据存储方法、装置、电子设备和计算机存储介质。

背景技术

[0002] 一个应用开发新版本或者增加新功能时，在该新版本应用或新功能发布前，需要进行测试，以便使开发人员得知该新版本应用或新功能的运行状态。在测试时，会得到一些缺陷数据，为了开发人员调用或分析这些缺陷数据，一般会将测试时得到的缺陷数据进行存储，例如，存储至专门的缺陷存储系统。但是专门的缺陷存储系统有自身的目录层级，在进行缺陷存储时，需要按照缺陷存储系统的目录层级进行存储，一旦缺陷数据的业务层级不符合，则无法存储，例如，缺陷数据对应的业务层级可能是三级，而缺陷存储系统的目录层级是二级，这就使得缺陷数据的存储不是很友好，存储效率低下。

发明内容

[0003] 鉴于上述问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的测试缺陷数据存储方法、装置、电子设备和计算机存储介质。

[0004] 根据本发明的一个方面，提供了一种测试缺陷数据存储方法，其中，该方法包括：

[0005] 接收用于提出测试请求的提测单；

[0006] 建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系；

[0007] 获取与所述提测单对应的测试获得的缺陷数据；

[0008] 根据所述映射关系，将获取的缺陷数据存储至所述缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。

[0009] 可选地，该方法进一步包括：

[0010] 创建映射关系表；

[0011] 将建立的所述提测单的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系保存至所述映射关系表中；

[0012] 当接收到指定提测单的缺陷数据的获取请求时，查询所述映射关系表，确定与所述指定提测单的业务层级具有映射关系的缺陷存储系统的目录层级；

[0013] 从确定的缺陷存储系统的目录层级下的存储文件中获取所述指定提测单对应的缺陷数据。

[0014] 可选地，该方法进一步包括：

[0015] 根据获取的指定提测单对应的缺陷数据生成相应的测试报告。

[0016] 可选地，所述建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系包括：

[0017] 获取所述提测单对应的业务层级；

[0018] 根据获取的业务层级，建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系。

[0019] 可选地，所述获取所述提测单对应的业务层级包括：

[0020] 直接从所述提测单中获取对应的业务层级；

[0021] 或者，

[0022] 提供业务层级输入接口，通过所述接口接收所述提测单对应的业务层级；

[0023] 或者，

[0024] 在接收到所述提测单时，从指定数据库中获取与所述提测单对应的业务层级；其中，所述指定数据库中存储有提测单对应的业务层级。

[0025] 可选地，所述缺陷存储系统的目录层级包括第一层级和第二层级，其中，第一层级包括有一个或多个第二层级；

[0026] 所述建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系包括：

[0027] 根据所述业务层级中的业务线信息，建立所述提测单对应的业务线与所述缺陷存储系统的目录层级的第一层级的映射关系；

[0028] 根据所述业务层级中的测试标识信息，建立所述提测单对应的测试标识信息与所述缺陷存储系统的所述第一层级下的第二层级的映射关系。

[0029] 可选地，在所述建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系之前，该方法进一步包括：

[0030] 查询映射关系表，判断所述映射关系表中是否存在与所述提测单的业务层级对应的映射关系；其中，所述映射关系表存储的是提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系；

[0031] 若不存在，在缺陷存储系统中创建新的目录层级，建立所述提测单对应的业务层级与创建的新的目录层级的映射关系；

[0032] 若存在，则根据所述映射关系，将获取的缺陷数据直接存储至所述缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。

[0033] 可选地，所述缺陷存储系统包括第一层级和第二层级，其中，第一层级包括有一个或多个第二层级；

[0034] 所述在缺陷存储系统中创建新的目录层级，建立所述提测单对应的业务层级与创建的新的目录层级的映射关系包括：

[0035] 查询所述映射关系表中是否存在与所述提测单对应的业务层级的业务线信息对应的映射关系；

[0036] 若存在，则在与所述业务线信息具有映射关系的第一层级下创建新的第二层级，建立所述提测单对应的业务层级的测试标识信息与创建的第二层级之间的映射关系；

[0037] 若不存在，则在所述缺陷存储系统中创建新的第一层级，以及在创建的第一层级下创建新的第二层级；建立所述提测单对应的业务层级的业务线信息与创建的第一层级的映射关系，以及建立所述提测单对应的业务层级的测试标识信息与创建的第二层级的映射关系。

[0038] 可选地，所述缺陷存储系统是指缺陷跟踪系统bugzilla。

[0039] 根据本发明的另一方面，提供了一种测试缺陷数据存储装置，其中，该装置包括：

[0040] 提测单接收单元，适于接收用于提出测试请求的提测单；

[0041] 映射关系建立单元，适于建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系；

[0042] 缺陷数据获取单元，适于获取与所述提测单对应的测试获得的缺陷数据；

[0043] 缺陷数据存储单元，适于根据所述映射关系，将获取的缺陷数据存储至所述缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。

[0044] 可选地，该装置进一步包括：

[0045] 映射关系存储单元，适于创建映射关系表；将建立的所述提测单的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系保存至所述映射关系表中；

[0046] 缺陷数据确定单元，适于当接收到指定提测单的缺陷数据的获取请求时，查询所述映射关系表，确定与所述指定提测单的业务层级具有映射关系的缺陷存储系统的目录层级；从确定的缺陷存储系统的目录层级下的存储文件中获取所述指定提测单对应的缺陷数据。

[0047] 可选地，该装置进一步包括：

[0048] 测试报告生成单元，适于根据获取的指定提测单对应的缺陷数据生成相应的测试报告。

[0049] 可选地，

[0050] 所述映射关系建立单元，适于获取所述提测单对应的业务层级；根据获取的业务层级，建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系。

[0051] 可选地，

[0052] 所述映射关系建立单元，适于直接从所述提测单中获取对应的业务层级；或者，提供业务层级输入接口，通过所述接口接收所述提测单对应的业务层级；或者，在接收到所述提测单时，从指定数据库中获取与所述提测单对应的业务层级；其中，所述指定数据库中存储有提测单对应的业务层级。

[0053] 可选地，所述缺陷存储系统的目录层级包括第一层级和第二层级，其中，第一层级包括有一个或多个第二层级；

[0054] 所述映射关系建立单元，适于根据所述业务层级中的业务线信息，建立所述提测单对应的业务线与所述缺陷存储系统的目录层级的第一层级的映射关系；根据所述业务层级中的测试标识信息，建立所述提测单对应的测试标识信息与所述缺陷存储系统的所述第一层级下的第二层级的映射关系。

[0055] 可选地，该装置进一步包括：

[0056] 映射关系查询单元，适于在所述建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系之前，查询映射关系表，判断所述映射关系表中是否存在与所述提测单的业务层级对应的映射关系；其中，所述映射关系表存储的是提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系；若不存在，在缺陷存储系统中创建新的目录层级，建立所述提测单对应的业务层级与创建的新的目录层级的映射关系；若存在，则根据所述映射关系，将获取的缺陷数据直接存储至所述缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。

[0057] 可选地，所述缺陷存储系统包括第一层级和第二层级，其中，第一层级包括有一个或多个第二层级；

[0058] 所述映射关系查询单元，适于查询所述映射关系表中是否存在与所述提测单对应的业务层级的业务线信息对应的映射关系；若存在，则在与所述业务线信息具有映射关系的第一层级下创建新的第二层级，建立所述提测单对应的业务层级的测试标识信息与创建的第二层级之间的映射关系；若不存在，则在所述缺陷存储系统中创建新的第一层级，以及在创建的第一层级下创建新的第二层级；建立所述提测单对应的业务层级的业务线信息与创建的第一层级的映射关系，以及建立所述提测单对应的业务层级的测试标识信息与创建的第二层级的映射关系。

[0059] 可选地，所述缺陷存储系统是指缺陷跟踪系统bugzilla。

[0060] 根据本发明的又一方面，提供了一种电子设备，其中，该电子设备包括：

[0061] 处理器；以及，

[0062] 被安排成存储计算机可执行指令的存储器，所述可执行指令在被执行时使所述处理器执行根据前述的方法。

[0063] 根据本发明的再一方面，提供了一种计算机可读存储介质，其中，所述计算机可读存储介质存储一个或多个程序，所述一个或多个程序当被处理器执行时，实现前述的方法。

[0064] 根据本发明的技术方案，接收用于提出测试请求的提测单；建立提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系；获取与提测单对应的测试获得的缺陷数据；根据映射关系，将获取的缺陷数据存储至缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。通过本技术方案，建立了提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系，测试人员可以根据自己的需求提交测试单，然后测试得到的缺陷数据自动存储到缺陷存储系统，不需要按照缺陷存储系统的目录层级，也可以实现缺陷数据的存储，提高了存储效率，使得缺陷数据的存储更加人性化，增强用户的使用体验。

[0065] 上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明

[0066] 通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：

[0067] 图1示出了根据本发明一个实施例的测试缺陷数据存储方法的流程示意图；

[0068] 图2示出了根据本发明一个实施例的测试缺陷数据存储装置的结构示意图；

[0069] 图3示出了根据本发明一个实施例的电子设备的结构示意图；

[0070] 图4示出了根据本发明一个实施例的计算机可读存储介质的结构示意图。

具体实施方式

[0071] 下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。

[0072] 图1示出了根据本发明一个实施例的测试缺陷数据存储方法的流程示意图。如图1所示，该方法包括：

[0073] 步骤S110，接收用于提出测试请求的提测单。

[0074] 本实施例中，可以采用提供接口的方式，通过接口接收用户提出测试请求的测试单。测试人员可以根据自己的需求或根据自己的习惯输入相应的提测单，而不需要考虑提测单的业务层级是否符合缺陷存储系统的目录层级。

[0075] 步骤S120，建立提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系。

[0076] 步骤S130，获取与提测单对应的测试获得的缺陷数据。

[0077] 步骤S140，根据映射关系，将获取的缺陷数据存储至缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。

[0078] 测试人员提交提测单后，根据该提测单会进行相应的测试，测试过程中会获得缺陷数据，为了实现缺陷数据的存储，可以采用本实施例的方案，根据映射关系，将缺陷数据直接进行存储，而无需考虑对应的业务层级与目录层级是否一致的问题。通过本实施例，实现了缺陷数据的存储，提高了存储效率，使得缺陷数据的存储更加人性化，增强用户的使用体验。

[0079] 另外，缺陷数据存储系统是一个独立的系统，针对具有一定的流程的测试来说，缺陷存储系统与测试其他流程缺乏关联，需要测试人员进行特定的缺陷数据存储操作，才可以实现缺陷数据的存储。

[0080] 通过本实施例，将缺陷存储系统与整个测试流程关联起来，测试人员只要提交测试单即可，不需要进行单独的操作也可以实现缺陷数据的存储，进一步提高用户的使用体验。

[0081] 在本发明的一个实施例中，图1所示的方法进一步包括：创建映射关系表；将建立的提测单的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系保存至映射关系表中；当接收到指定提测单的缺陷数据的获取请求时，查询映射关系表，确定与指定提测单的业务层级具有映射关系的缺陷存储系统的目录层级；从确定的缺陷存储系统的目录层级下的存储文件中获取指定提测单对应的缺陷数据。

[0082] 考虑到现有技术中缺陷存储系统与测试其他流程缺乏关联，而且，在读取缺陷数据时，也需要操作人员数值该缺陷系统的目录层级信息，以及需要读取的缺陷数据相应的信息才可以。因此，提出了本实施例的方案。

[0083] 通过本实施例的方案，一方面可以将缺陷存储系统与测试其他流程相关联，也可以实现缺陷数据的灵活读取，只需要根据提测单信息(例如标识信息)就可以获取到对应的缺陷数据。

[0084] 进一步地，图1所示方法进一步包括：根据获取的指定提测单对应的缺陷数据生成相应的测试报告。

[0085] 通过本实施例，将测试过程中的测试单提交、测试、缺陷数据存储、缺陷数据读取以及测试报告的生成等测试流程整合到一起，进一步方便了测试人员的操作，提高了用户的使用体验。

[0086] 在本发明的一个实施例中，图1所示的步骤S120中的建立提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系包括：获取提测单对应的业务层级；根据获取的业务层级，建立提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系。

[0087] 在本实施例中，为了建立提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系，首先需要获取提测单对应的业务层级。

[0088] 优选地，提测单对应的业务层级包括业务线信息、项目信息或测试标识信息。

[0089] 进一步地，上述的获取提测单对应的业务层级包括：直接从提测单中获取对应的业务层级；或者，提供业务层级输入接口，通过接口接收提测单对应的业务层级；或者，在接收到提测单时，从指定数据库中获取与提测单对应的业务层级；其中，指定数据库中存储有提测单对应的业务层级。

[0090] 本实施例中，可以通过三个途径获取到测试单对应的业务层级。如果接收到的提测单中有对应的业务层级，则可以直接从提测单中获取对应的业务层级；也可以提供业务层级输入的接口，用户通过该接口输入提测单对应的业务层级，即通过该接口获取到提测单对应的业务层级；如果测试人员将提测单的相关信息存储在指定数据库中，则在接收到提测单时，从指定数据库中获取对应的业务层级，例如，指定数据库中对应保存有提测单的标识信息和业务层级，则可以通过提测单的标识信息，从指定数据库中获取对应的业务层级。

[0091] 在本发明的一个实施例中，图1所示的方法中的缺陷存储系统的目录层级包括第一层级和第二层级，其中，第一层级包括有一个或多个第二层级。

[0092] 则图1所示方法中的步骤S120中的建立提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系包括：根据业务层级中的业务线信息，建立提测单对应的业务线与缺陷存储系统的目录层级的第一层级的映射关系；根据业务层级中的测试标识信息，建立提测单对应的测试标识信息与缺陷存储系统的第一层级下的第二层级的映射关系。

[0093] 在本发明中，缺陷存储系统的目录层级包括两个层级，那么就将提测单的业务线信息和测试标识信息分别与缺陷存储系统有两个层级建立映射关系。这里的测试标识信息可以是唯一标识码也可以是测试人员定义的测试名称。

[0094] 例如，缺陷存储系统的目录层级包括产品层级和组件层级，则将提测单的业务线信息与产品层级建立关系，将提测单的测试标识信息与组件层级建立关系。

[0095] 在一个具体的例子中，缺陷存储系统有产品层级和组件层级。提测单1的业务层级是业务线信息1、测试标识1；提测单2的业务层级是业务线信息2、测试标识2；提测单3的业务层级是业务线信息1、测试标识3。建立映射关系时，将提测单1的业务线信息1与缺陷存储系统的产品层级1建立映射关系，将提测单1的测试标识信息1与缺陷存储系统的组件层级1建立映射关系；将提测单2的业务线信息2与缺陷存储系统的产品层级2建立映射关系，将提测单2的测试标识信息2与缺陷存储系统的组件层级2建立映射关系；将提测单3的业务线信息1与缺陷存储系统的产品层级1建立映射关系，将提测单3的测试标识信息3与缺陷存储系统的组件层级3建立映射关系。

[0096] 那么在缺陷数据存储时，则将提测单1对应的缺陷数据1存储到产品层级1下的组件层级1下的存储文件中；提测单2对应的缺陷数据2存储到产品层级2下的组件层级2下的存储文件中；将提测单3对应的缺陷数据3存储到产品层级1下的组件层级3下的存储文件中。

[0097] 上述实施例是对缺陷存储系统有两个层级的情况下进行的说明，如果缺陷存储系统有两个以上的层级，也可以通过本技术方案实现。

[0098] 在本发明的一个实施例中，缺陷存储系统的目录层级有三个层级，则建立提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系包括：根据业务层级中的业务线信息，建立提测单对应的业务线与缺陷存储系统的目录层级的第一层级的映射关系；根据业务层级中的项目信息，建立提测单对应的项目信息与缺陷存储系统的第一层级下的第二层级的映射关系；根据业务层级中的测试标识信息，建立提测单对应的测试标识信息与缺陷存储系统的该第一层级下的该第二层级的第三层级的映射关系。

[0099] 在一个具体的例子中，缺陷存储系统有产品层级、版本层级和组件层级，提测单1的业务层级是业务线信息1、项目信息1、测试标识1；提测单2的业务层级是业务线信息2、项目信息2、测试标识2；提测单3的业务层级是业务线信息1、项目信息1、测试标识3。建立映射关系时，将提测单1的业务线信息1与缺陷存储系统的产品层级1建立映射关系，将提测单1的项目信息1与缺陷存储系统的版本层级1建立映射关系，将提测单1的测试标识信息1与缺陷存储系统的组件层级1建立映射关系；将提测单2的业务线信息2与缺陷存储系统的产品层级2建立映射关系，将提测单2的项目信息2与缺陷存储系统的版本层级2建立映射关系，将提测单2的测试标识信息2与缺陷存储系统的组件层级2建立映射关系；将提测单3的业务线信息1与缺陷存储系统的产品层级1建立映射关系，将提测单3的项目信息1与缺陷存储系统的版本层级1建立映射关系，将提测单3的测试标识信息3与缺陷存储系统的组件层级3建立映射关系。

[0100] 那么在缺陷数据存储时，则将提测单1对应的缺陷数据1存储到产品层级1的版本层级1的组件层级1下的存储文件中；提测单2对应的缺陷数据2存储到产品层级2的版本层级2的组件层级2下的存储文件中；将提测单3对应的缺陷数据3存储到产品层级1的版本层级1的组件层级3下的存储文件中。

[0101] 也就是说，本技术方案在建立映射关系时，不限定缺陷存储系统的目录层级的层技数，只要是依据本技术方案的建立映射关系的思路实现的，均包括在本技术方案内。

[0102] 在本发明的一个实施例中，在图1所示的方法的步骤S120中的建立提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系之前，该方法进一步包括：查询映射关系表，判断映射关系表中是否存在与提测单的业务层级对应的映射关系；其中，映射关系表存储的是提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系；若不存在，在缺陷存储系统中创建新的目录层级，建立提测单对应的业务层级与创建的新的目录层级的映射关系；若存在，则根据映射关系，将获取的缺陷数据直接存储至缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。

[0103] 考虑到测试人员可能会对同样的测试内容提出相同的测试请求，即相同的测试单，那么相应的缺陷数据应该存储到同一个存储文件中。本实施例中，创建映射关系表，将建立的提测单的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系保存至映射关系表中。当再次接受提测单时，首先查询该映射关系表中是否已经存在与该提测单的业务层级对应的映射关系，如果存在，不需要重新建立映射关系，而是直接根据已有的映射关系进行缺陷数据的存储，实现同样的提测单的测试获得的缺陷数据存储在同一存储文件中。如果不存在，为了建立映射关系，需要创建新的目录层级，使得提测单的业务层级与新的目录层级建立映射关系。

[0104] 例如，映射关系表中，存储有提测单1的业务线信息1与产品层级1的映射关系，以及提测单1的测试标识信息1与产品层级1的组件层级1的映射关系，则将提测单1的测试获得的缺陷数据存储在产品层级1的组件层级1下的存储文件中。如果没有，则说明没有与提测单1的业务层级具有映射关系的组件层级1和/或产品层级1，需要创建新的目录层级，建立提测单对应的业务层级与创建的新的目录层级的映射关系。

[0105] 进一步地，上述的缺陷存储系统包括第一层级和第二层级，其中，第一层级包括有一个或多个第二层级。

[0106] 则上述的在缺陷存储系统中创建新的目录层级，建立提测单对应的业务层级与创建的新的目录层级的映射关系包括：查询映射关系表中是否存在与提测单对应的业务层级的业务线信息对应的映射关系；若存在，则在与业务线信息具有映射关系的第一层级下创建新的第二层级，建立提测单对应的业务层级的测试标识信息与创建的第二层级之间的映射关系；若不存在，则在缺陷存储系统中创建新的第一层级，以及在创建的第一层级下创建新的第二层级；建立提测单对应的业务层级的业务线信息与创建的第一层级的映射关系，以及建立提测单对应的业务层级的测试标识信息与创建的第二层级的映射关系。

[0107] 考虑到测试人员的测试需求是针对同一业务线下的不同内容的测试，那么就需要将该测试的缺陷数据存储到对应该业务线信息的缺陷存储系统的同一目录层级下。

[0108] 在上述实施例的基础上，创建新的目录层级时，还需要确定是建立新的第一层级还是建立新的第二层级。具体是，查询映射关系表中是否存在提测单的业务层级的业务线信息对应的映射关系，如果存在，说明该业务线信息对应的第一层级已经存在，则只需要建立第二层级即可，如果不存在，则说明既需要创建新的第二层级，也需要创建新的第一层级。

[0109] 例如，接收到提测单1后，获取提测单1的业务层级的业务线信息1和测试标识信息1，查询映射关系表中，如果存储有提测单1的业务线信息1与产品层级1的映射关系，但是不存在提测单1的测试标识信息1与产品层级1的组件层级1的映射关系，则在产品层级1下创建新的组件x，建立提测单1的业务层级的业务线信息1与产品层级1的映射关系，以及建立测试标识信息1与组件x的映射关系，将提测单1的测试获得的缺陷数据存储在产品层级1的组件x下的存储文件中。如果既没有与提测单1的业务线信息1对应的映射关系，也没有提测单1的测试标识信息1对应的映射关系，则创建新的产品x，以及在产品x下创建新的组件y，建立提测单1的业务层级的业务线信息1与产品x的映射关系，以及建立测试标识信息1与组件y的映射关系，将提测单1的测试获得的缺陷数据存储在产品x的组件y下的存储文件中。

[0110] 在本发明的一个实施例中，图1所述的方法中的缺陷存储系统是指缺陷跟踪系统bugzilla。

[0111] bugzilla是一个独立的系统，将本发明的技术方案应用在使用bugzilla存储缺陷数据的场景中，可以实现bugzilla系统与其他测试流程的关联。具体地，bugzilla系统的目录层级包括有产品层级和组件层级(版本层级)，那么就建立提测单的业务线信息与产品层级的映射关系，以及建立提测单的测试标识信息与组件(版本)层级的映射关系。

[0112] 图2示出了根据本发明一个实施例的测试缺陷数据存储装置的结构示意图。如图2所示，该测试缺陷数据存储装置200包括：

[0113] 提测单接收单元210，适于接收用于提出测试请求的提测单。

[0114] 本实施例中，可以采用提供接口的方式，通过接口接收用户提出测试请求的测试单。测试人员可以根据自己的需求或根据自己的习惯输入相应的提测单，而不需要考虑提测单的业务层级是否符合缺陷存储系统的目录层级。

[0115] 映射关系建立单元220，适于建立提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系。

[0116] 缺陷数据获取单元230，适于获取与提测单对应的测试获得的缺陷数据。

[0117] 缺陷数据存储单元240，适于根据映射关系，将获取的缺陷数据存储至缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。

[0118] 测试人员提交提测单后，根据该提测单会进行相应的测试，测试过程中会获得缺陷数据，为了实现缺陷数据的存储，可以采用本实施例的方案，根据映射关系，将缺陷数据直接进行存储，而无需考虑对应的业务层级与目录层级是否一致的问题。通过本实施例，实现了缺陷数据的存储，提高了存储效率，使得缺陷数据的存储更加人性化，增强用户的使用体验。

[0119] 另外，缺陷数据存储系统是一个独立的系统，针对具有一定的流程的测试来说，缺陷存储系统与测试其他流程缺乏关联，需要测试人员进行特定的缺陷数据存储操作，才可以实现缺陷数据的存储。

[0120] 通过本实施例，将缺陷存储系统与整个测试流程关联起来，测试人员只要提交测试单即可，不需要进行单独的操作也可以实现缺陷数据的存储，进一步提高用户的使用体验。

[0121] 在本发明的一个实施例中，图2所示的装置进一步包括：

[0122] 映射关系存储单元，适于创建映射关系表；将建立的提测单的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系保存至映射关系表中。

[0123] 缺陷数据确定单元，适于当接收到指定提测单的缺陷数据的获取请求时，查询映射关系表，确定与指定提测单的业务层级具有映射关系的缺陷存储系统的目录层级；从确定的缺陷存储系统的目录层级下的存储文件中获取指定提测单对应的缺陷数据。

[0124] 考虑到现有技术中缺陷存储系统与测试其他流程缺乏关联，而且，在读取缺陷数据时，也需要操作人员数值该缺陷系统的目录层级信息，以及需要读取的缺陷数据相应的信息才可以。因此，提出了本实施例的方案。

[0125] 通过本实施例的方案，一方面可以将缺陷存储系统与测试其他流程相关联，也可以实现缺陷数据的灵活读取，只需要根据提测单信息(例如标识信息)就可以获取到对应的缺陷数据。

[0126] 在本发明的一个实施例中，图2所示的装置进一步包括：

[0127] 测试报告生成单元，适于根据获取的指定提测单对应的缺陷数据生成相应的测试报告。

[0128] 通过本实施例，将测试过程中的测试单提交、测试、缺陷数据存储、缺陷数据读取以及测试报告的生成等测试流程整合到一起，进一步方便了测试人员的操作，提高了用户的使用体验。

[0129] 在本发明的一个实施例中，图2所示的映射关系建立单元220，适于获取提测单对应的业务层级；根据获取的业务层级，建立提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系。

[0130] 在本实施例中，为了建立提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系，首先需要获取提测单对应的业务层级。

[0131] 优选地，提测单对应的业务层级包括业务线信息、项目信息或测试标识信息。

[0132] 进一步地，上述映射关系建立单元220，适于直接从提测单中获取对应的业务层级；或者，提供业务层级输入接口，通过接口接收提测单对应的业务层级；或者，在接收到提测单时，从指定数据库中获取与提测单对应的业务层级；其中，指定数据库中存储有提测单对应的业务层级。

[0133] 本实施例中，可以通过三个途径获取到测试单对应的业务层级。如果接收到的提测单中有对应的业务层级，则可以直接从提测单中获取对应的业务层级；也可以提供业务层级输入的接口，用户通过该接口输入提测单对应的业务层级，即通过该接口获取到提测单对应的业务层级；如果测试人员将提测单的相关信息存储在指定数据库中，则在接收到提测单时，从指定数据库中获取对应的业务层级，例如，指定数据库中对应保存有提测单的标识信息和业务层级，则可以通过提测单的标识信息，从指定数据库中获取对应的业务层级。

[0134] 在本发明的一个实施例中，上述的缺陷存储系统的目录层级包括第一层级和第二层级，其中，第一层级包括有一个或多个第二层级。

[0135] 则图2所示的映射关系建立单元220，适于根据业务层级中的业务线信息，建立提测单对应的业务线与缺陷存储系统的目录层级的第一层级的映射关系；根据业务层级中的测试标识信息，建立提测单对应的测试标识信息与缺陷存储系统的第一层级下的第二层级的映射关系。

[0136] 在本发明中，缺陷存储系统的目录层级包括两个层级，那么就将提测单的业务线信息和测试标识信息分别与缺陷存储系统有两个层级建立映射关系。这里的测试标识信息可以是唯一标识码也可以是测试人员定义的测试名称。

[0137] 例如，缺陷存储系统的目录层级包括产品层级和组件层级，则将提测单的业务线信息与产品层级建立关系，将提测单的测试标识信息与组件层级建立关系。

[0138] 在一个具体的例子中，缺陷存储系统有产品层级和组件层级。提测单1的业务层级是业务线信息1、测试标识1；提测单2的业务层级是业务线信息2、测试标识2；提测单3的业务层级是业务线信息1、测试标识3。建立映射关系时，将提测单1的业务线信息1与缺陷存储系统的产品层级1建立映射关系，将提测单1的测试标识信息1与缺陷存储系统的组件层级1建立映射关系；将提测单2的业务线信息2与缺陷存储系统的产品层级2建立映射关系，将提测单2的测试标识信息2与缺陷存储系统的组件层级2建立映射关系；将提测单3的业务线信息1与缺陷存储系统的产品层级1建立映射关系，将提测单3的测试标识信息3与缺陷存储系统的组件层级3建立映射关系。

[0139] 那么在缺陷数据存储时，则将提测单1对应的缺陷数据1存储到产品层级1下的组件层级1下的存储文件中；提测单2对应的缺陷数据2存储到产品层级2下的组件层级2下的存储文件中；将提测单3对应的缺陷数据3存储到产品层级1下的组件层级3下的存储文件中。

[0140] 上述实施例是对缺陷存储系统有两个层级的情况下进行的说明，如果缺陷存储系统有两个以上的层级，也可以通过本技术方案实现。

[0141] 在本发明的一个实施例中，缺陷存储系统的目录层级有三个层级，则映射关系建立单元220，适于根据业务层级中的业务线信息，建立提测单对应的业务线与缺陷存储系统的目录层级的第一层级的映射关系；根据业务层级中的项目信息，建立提测单对应的项目信息与缺陷存储系统的第一层级下的第二层级的映射关系；根据业务层级中的测试标识信息，建立提测单对应的测试标识信息与缺陷存储系统的该第一层级下的该第二层级的第三层级的映射关系。

[0142] 在一个具体的例子中，缺陷存储系统有产品层级、版本层级和组件层级，提测单1的业务层级是业务线信息1、项目信息1、测试标识1；提测单2的业务层级是业务线信息2、项目信息2、测试标识2；提测单3的业务层级是业务线信息1、项目信息1、测试标识3。建立映射关系时，将提测单1的业务线信息1与缺陷存储系统的产品层级1建立映射关系，将提测单1的项目信息1与缺陷存储系统的版本层级1建立映射关系，将提测单1的测试标识信息1与缺陷存储系统的组件层级1建立映射关系；将提测单2的业务线信息2与缺陷存储系统的产品层级2建立映射关系，将提测单2的项目信息2与缺陷存储系统的版本层级2建立映射关系，将提测单2的测试标识信息2与缺陷存储系统的组件层级2建立映射关系；将提测单3的业务线信息1与缺陷存储系统的产品层级1建立映射关系，将提测单3的项目信息1与缺陷存储系统的版本层级1建立映射关系，将提测单3的测试标识信息3与缺陷存储系统的组件层级3建立映射关系。

[0143] 那么在缺陷数据存储时，则将提测单1对应的缺陷数据1存储到产品层级1的版本层级1的组件层级1下的存储文件中；提测单2对应的缺陷数据2存储到产品层级2的版本层级2的组件层级2下的存储文件中；将提测单3对应的缺陷数据3存储到产品层级1的版本层级1的组件层级3下的存储文件中。

[0144] 也就是说，本技术方案在建立映射关系时，不限定缺陷存储系统的目录层级的层技数，只要是依据本技术方案的建立映射关系的思路实现的，均包括在本技术方案内。

[0145] 在本发明的一个实施例中，图2所示的装置进一步包括：

[0146] 映射关系查询单元，适于在建立提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系之前，查询映射关系表，判断映射关系表中是否存在与提测单的业务层级对应的映射关系；其中，映射关系表存储的是提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系；若不存在，在缺陷存储系统中创建新的目录层级，建立提测单对应的业务层级与创建的新的目录层级的映射关系；若存在，则根据映射关系，将获取的缺陷数据直接存储至缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。

[0147] 考虑到测试人员可能会对同样的测试内容提出相同的测试请求，即相同的测试单，那么相应的缺陷数据应该存储到同一个存储文件中。本实施例中，创建映射关系表，将建立的提测单的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系保存至映射关系表中。当再次接受提测单时，首先查询该映射关系表中是否已经存在与该提测单的业务层级对应的映射关系，如果存在，不需要重新建立映射关系，而是直接根据已有的映射关系进行缺陷数据的存储，实现同样的提测单的测试获得的缺陷数据存储在同一存储文件中。如果不存在，为了建立映射关系，需要创建新的目录层级，使得提测单的业务层级与新的目录层级建立映射关系。

[0148] 例如，映射关系表中，存储有提测单1的业务线信息1与产品层级1的映射关系，以及提测单1的测试标识信息1与产品层级1的组件层级1的映射关系，则将提测单1的测试获得的缺陷数据存储在产品层级1的组件层级1下的存储文件中。如果没有，则说明没有与提测单1的业务层级具有映射关系的组件层级1和/或产品层级1，需要创建新的目录层级，建立提测单对应的业务层级与创建的新的目录层级的映射关系。

[0149] 进一步地，上述的缺陷存储系统包括第一层级和第二层级，其中，第一层级包括有一个或多个第二层级；

[0150] 则上述的映射关系查询单元，适于查询映射关系表中是否存在与提测单对应的业务层级的业务线信息对应的映射关系；若存在，则在与业务线信息具有映射关系的第一层级下创建新的第二层级，建立提测单对应的业务层级的测试标识信息与创建的第二层级之间的映射关系；若不存在，则在缺陷存储系统中创建新的第一层级，以及在创建的第一层级下创建新的第二层级；建立提测单对应的业务层级的业务线信息与创建的第一层级的映射关系，以及建立提测单对应的业务层级的测试标识信息与创建的第二层级的映射关系。

[0151] 考虑到测试人员的测试需求是针对同一业务线下的不同内容的测试，那么就需要将该测试的缺陷数据存储到对应该业务线信息的缺陷存储系统的同一目录层级下。

[0152] 在上述实施例的基础上，创建新的目录层级时，还需要确定是建立新的第一层级还是建立新的第二层级。具体是，查询映射关系表中是否存在提测单的业务层级的业务线信息对应的映射关系，如果存在，说明该业务线信息对应的第一层级已经存在，则只需要建立第二层级即可，如果不存在，则说明既需要创建新的第二层级，也需要创建新的第一层级。

[0153] 例如，接收到提测单1后，获取提测单1的业务层级的业务线信息1和测试标识信息1，查询映射关系表中，如果存储有提测单1的业务线信息1与产品层级1的映射关系，但是不存在提测单1的测试标识信息1与产品层级1的组件层级1的映射关系，则在产品层级1下创建新的组件x，建立提测单1的业务层级的业务线信息1与产品层级1的映射关系，以及建立测试标识信息1与组件x的映射关系，将提测单1的测试获得的缺陷数据存储在产品层级1的组件x下的存储文件中。如果既没有与提测单1的业务线信息1对应的映射关系，也没有提测单1的测试标识信息1对应的映射关系，则创建新的产品x，以及在产品x下创建新的组件y，建立提测单1的业务层级的业务线信息1与产品x的映射关系，以及建立测试标识信息1与组件y的映射关系，将提测单1的测试获得的缺陷数据存储在产品x的组件y下的存储文件中。

[0154] 在本发明的一个实施例中，上述的缺陷存储系统是指缺陷跟踪系统bugzilla。

[0155] bugzilla是一个独立的系统，将本发明的技术方案应用在使用bugzilla存储缺陷数据的场景中，可以实现bugzilla系统与其他测试流程的关联。具体地，bugzilla系统的目录层级包括有产品层级和组件层级(版本层级)，那么就建立提测单的业务线信息与产品层级的映射关系，以及建立提测单的测试标识信息与组件(版本)层级的映射关系。

[0156] 综上所述，根据本发明的技术方案，接收用于提出测试请求的提测单；建立提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系；获取与提测单对应的测试获得的缺陷数据；根据映射关系，将获取的缺陷数据存储至缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。通过本技术方案，建立了提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系，测试人员可以根据自己的需求提交测试单，然后测试得到的缺陷数据自动存储到缺陷存储系统，不需要按照缺陷存储系统的目录层级，也可以实现缺陷数据的存储，提高了存储效率，使得缺陷数据的存储更加人性化，增强用户的使用体验。

[0157] 需要说明的是：

[0158] 在此提供的算法和显示不与任何特定计算机、虚拟装置或者其它设备固有相关。各种通用装置也可以与基于在此的示教一起使用。根据上面的描述，构造这类装置所要求的结构是显而易见的。此外，本发明也不针对任何特定编程语言。应当明白，可以利用各种编程语言实现在此描述的本发明的内容，并且上面对特定语言所做的描述是为了披露本发明的最佳实施方式。

[0159] 在此处所提供的说明书中，说明了大量具体细节。然而，能够理解，本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中，并未详细示出公知的方法、结构和技术，以便不模糊对本说明书的理解。

[0160] 类似地，应当理解，为了精简本公开并帮助理解各个发明方面中的一个或多个，在上面对本发明的示例性实施例的描述中，本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而，并不应将该公开的方法解释成反映如下意图：即所要求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说，如下面的权利要求书所反映的那样，发明方面在于少于前面公开的单个实施例的所有特征。因此，遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式，其中每个权利要求本身都作为本发明的单独实施例。

[0161] 本领域那些技术人员可以理解，可以对实施例中的设备中的模块进行自适应性地改变并且把它们设置在与该实施例不同的一个或多个设备中。可以把实施例中的模块或单元或组件组合成一个模块或单元或组件，以及此外可以把它们分成多个子模块或子单元或子组件。除了这样的特征和/或过程或者单元中的至少一些是相互排斥之外，可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述，本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。

[0162] 此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如，在下面的权利要求书中，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。

[0163] 本发明的各个部件实施例可以以硬件实现，或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现，或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解，可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(DSP)来实现根据本发明实施例的测试缺陷数据存储装置、电子设备和计算机存储介质中的一些或者全部部件的一些或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的设备或者装置程序(例如，计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储在计算机可读介质上，或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到，或者在载体信号上提供，或者以任何其他形式提供。

[0164] 例如，图3示出了根据本发明一个实施例的电子设备的结构示意图。该电子设备300传统上包括处理器310和被安排成存储计算机可执行指令(程序代码)的存储器320。存储器320可以是诸如闪存、EEPROM(电可擦除可编程只读存储器)、EPROM、硬盘或者ROM之类的电子存储器。存储器320具有存储用于执行图1所示的以及各实施例中的任何方法步骤的程序代码340的存储空间330。例如，用于程序代码的存储空间330可以包括分别用于实现上面的方法中的各种步骤的各个程序代码340。这些程序代码可以从一个或者多个计算机程序产品中读出或者写入到这一个或者多个计算机程序产品中。这些计算机程序产品包括诸如硬盘，紧致盘(CD)、存储卡或者软盘之类的程序代码载体。这样的计算机程序产品通常为例如图4所述的计算机可读存储介质400。该计算机可读存储介质400可以具有与图3的电子设备中的存储器320类似布置的存储段、存储空间等。程序代码可以例如以适当形式进行压缩。通常，存储单元存储有用于执行根据本发明的方法步骤的程序代码410，即可以由诸如
310之类的处理器读取的程序代码，当这些程序代码由电子设备运行时，导致该电子设备执行上面所描述的方法中的各个步骤。

[0165] 应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制，并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的元件。本发明可以借助于包括有若干不同元件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。

[0166] 本发明公开了A1、一种测试缺陷数据存储方法，其中，该方法包括：

[0167] 接收用于提出测试请求的提测单；

[0168] 建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系；

[0169] 获取与所述提测单对应的测试获得的缺陷数据；

[0170] 根据所述映射关系，将获取的缺陷数据存储至所述缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。

[0171] A2、如A1所述的方法，其中，该方法进一步包括：

[0172] 创建映射关系表；

[0173] 将建立的所述提测单的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系保存至所述映射关系表中；

[0174] 当接收到指定提测单的缺陷数据的获取请求时，查询所述映射关系表，确定与所述指定提测单的业务层级具有映射关系的缺陷存储系统的目录层级；

[0175] 从确定的缺陷存储系统的目录层级下的存储文件中获取所述指定提测单对应的缺陷数据。

[0176] A3、如A2所述的方法，其中，该方法进一步包括：

[0177] 根据获取的指定提测单对应的缺陷数据生成相应的测试报告。

[0178] A4、如A1所述的方法，其中，所述建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系包括：

[0179] 获取所述提测单对应的业务层级；

[0180] 根据获取的业务层级，建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系。

[0181] A5、如A4所述的方法，其中，所述获取所述提测单对应的业务层级包括：

[0182] 直接从所述提测单中获取对应的业务层级；

[0183] 或者，

[0184] 提供业务层级输入接口，通过所述接口接收所述提测单对应的业务层级；

[0185] 或者，

[0186] 在接收到所述提测单时，从指定数据库中获取与所述提测单对应的业务层级；其中，所述指定数据库中存储有提测单对应的业务层级。

[0187] A6、如A1所述的方法，其中，所述缺陷存储系统的目录层级包括第一层级和第二层级，其中，第一层级包括有一个或多个第二层级；

[0188] 所述建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系包括：

[0189] 根据所述业务层级中的业务线信息，建立所述提测单对应的业务线与所述缺陷存储系统的目录层级的第一层级的映射关系；

[0190] 根据所述业务层级中的测试标识信息，建立所述提测单对应的测试标识信息与所述缺陷存储系统的所述第一层级下的第二层级的映射关系。

[0191] A7、如A1所述的方法，其中，在所述建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系之前，该方法进一步包括：

[0192] 查询映射关系表，判断所述映射关系表中是否存在与所述提测单的业务层级对应的映射关系；其中，所述映射关系表存储的是提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系；

[0193] 若不存在，在缺陷存储系统中创建新的目录层级，建立所述提测单对应的业务层级与创建的新的目录层级的映射关系；

[0194] 若存在，则根据所述映射关系，将获取的缺陷数据直接存储至所述缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。

[0195] A8、如A7所述的方法，其中，所述缺陷存储系统包括第一层级和第二层级，其中，第一层级包括有一个或多个第二层级；

[0196] 所述在缺陷存储系统中创建新的目录层级，建立所述提测单对应的业务层级与创建的新的目录层级的映射关系包括：

[0197] 查询所述映射关系表中是否存在与所述提测单对应的业务层级的业务线信息对应的映射关系；

[0198] 若存在，则在与所述业务线信息具有映射关系的第一层级下创建新的第二层级，建立所述提测单对应的业务层级的测试标识信息与创建的第二层级之间的映射关系；

[0199] 若不存在，则在所述缺陷存储系统中创建新的第一层级，以及在创建的第一层级下创建新的第二层级；建立所述提测单对应的业务层级的业务线信息与创建的第一层级的映射关系，以及建立所述提测单对应的业务层级的测试标识信息与创建的第二层级的映射关系。

[0200] A9、如A1‑A8中任一项所述的方法，其中，所述缺陷存储系统是指缺陷跟踪系统bugzilla。

[0201] 本发明还公开了B10、一种测试缺陷数据存储装置，其中，该装置包括：

[0202] 提测单接收单元，适于接收用于提出测试请求的提测单；

[0203] 映射关系建立单元，适于建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系；

[0204] 缺陷数据获取单元，适于获取与所述提测单对应的测试获得的缺陷数据；

[0205] 缺陷数据存储单元，适于根据所述映射关系，将获取的缺陷数据存储至所述缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。

[0206] B11、如B10所述的装置，其中，该装置进一步包括：

[0207] 映射关系存储单元，适于创建映射关系表；将建立的所述提测单的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系保存至所述映射关系表中；

[0208] 缺陷数据确定单元，适于当接收到指定提测单的缺陷数据的获取请求时，查询所述映射关系表，确定与所述指定提测单的业务层级具有映射关系的缺陷存储系统的目录层级；从确定的缺陷存储系统的目录层级下的存储文件中获取所述指定提测单对应的缺陷数据。

[0209] B12、如B11所述的装置，其中，该装置进一步包括：

[0210] 测试报告生成单元，适于根据获取的指定提测单对应的缺陷数据生成相应的测试报告。

[0211] B13、如B10所述的装置，其中，

[0212] 所述映射关系建立单元，适于获取所述提测单对应的业务层级；根据获取的业务层级，建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系。

[0213] B14、如B13所述的装置，其中，

[0214] 所述映射关系建立单元，适于直接从所述提测单中获取对应的业务层级；或者，提供业务层级输入接口，通过所述接口接收所述提测单对应的业务层级；或者，在接收到所述提测单时，从指定数据库中获取与所述提测单对应的业务层级；其中，所述指定数据库中存储有提测单对应的业务层级。

[0215] B15、如B10所述的装置，其中，所述缺陷存储系统的目录层级包括第一层级和第二层级，其中，第一层级包括有一个或多个第二层级；

[0216] 所述映射关系建立单元，适于根据所述业务层级中的业务线信息，建立所述提测单对应的业务线与所述缺陷存储系统的目录层级的第一层级的映射关系；根据所述业务层级中的测试标识信息，建立所述提测单对应的测试标识信息与所述缺陷存储系统的所述第一层级下的第二层级的映射关系。

[0217] B16、如B10所述的装置，其中，该装置进一步包括：

[0218] 映射关系查询单元，适于在所述建立所述提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系之前，查询映射关系表，判断所述映射关系表中是否存在与所述提测单的业务层级对应的映射关系；其中，所述映射关系表存储的是提测单对应的业务层级与缺陷存储系统的目录层级的映射关系；若不存在，在缺陷存储系统中创建新的目录层级，建立所述提测单对应的业务层级与创建的新的目录层级的映射关系；若存在，则根据所述映射关系，将获取的缺陷数据直接存储至所述缺陷存储系统中相应的目录层级下的存储文件中。

[0219] B17、如B16所述的装置，其中，所述缺陷存储系统包括第一层级和第二层级，其中，第一层级包括有一个或多个第二层级；

[0220] 所述映射关系查询单元，适于查询所述映射关系表中是否存在与所述提测单对应的业务层级的业务线信息对应的映射关系；若存在，则在与所述业务线信息具有映射关系的第一层级下创建新的第二层级，建立所述提测单对应的业务层级的测试标识信息与创建的第二层级之间的映射关系；若不存在，则在所述缺陷存储系统中创建新的第一层级，以及在创建的第一层级下创建新的第二层级；建立所述提测单对应的业务层级的业务线信息与创建的第一层级的映射关系，以及建立所述提测单对应的业务层级的测试标识信息与创建的第二层级的映射关系。

[0221] B18、如B10‑B17中任一项所述的装置，其中，所述缺陷存储系统是指缺陷跟踪系统bugzilla。

[0222] 本发明还公开了C19、一种电子设备，其中，该电子设备包括：

[0223] 处理器；以及，

[0224] 被安排成存储计算机可执行指令的存储器，所述可执行指令在被执行时使所述处理器执行根据A1～A9中任一项所述的方法。

[0225] 本发明还公开了D20、一种计算机可读存储介质，其中，所述计算机可读存储介质存储一个或多个程序，所述一个或多个程序当被处理器执行时，实现A1～A9中任一项所述的方法。