一种半导体激光器脉冲驱动测试方法

摘要

一种半导体激光器脉冲驱动测试方法，包括如下步骤：T1时间段进行脉冲峰值测试，主要测试激光器的的抗大电流冲击性能。T2时间段为高频测试，主要是测试激光器在高频率下可靠性性能，T3时间段测试是进行LD可靠性分析，是用于T1阶段和T2阶段测试激光器管子性能后，用于长期考评或是按照客户反馈的数据进行调整。通过三个阶段的测试可以对激光器的各项性能实现一个完整可靠的测试，提高了激光器测试的准确性和全面性。

权利要求

1.一种半导体激光器脉冲驱动测试方法，其特征在于，包括如下步骤：a)在T1时间段内半导体激光器老化测试仪自0时刻起向激光器输出N个等频率的脉冲信号，T1时间段每个脉冲信号的输出时的时间为Xn，各个脉冲信号的峰值电流强度Y1至Yn按公式Yn＝k1＜Xn＞*A所计算的函数变化，式中k1为斜率，当Xn‑[Xn]＞D时A＝0，当Xn‑[Xn]＜D时A＝1，D为占空比，其取值为0.1‑0.99，[Xn]为取整函数，其取值为不大于Xn的最大整数，＜Xn＞为向上取整函数；

b)在T1时间段后的T2时间段内半导体激光器老化测试仪以相同的峰值电流向激光器输出M个等峰值电流强度的脉冲信号，各个脉冲信号的脉冲信号的频率F(X1)至F(Xn)按公式F(Xn)＝k2＜Xm＞*A所计算的函数变化，式中k2为斜率，Xm为T2时间段每个脉冲信号的输出时的时间，＜Xm＞为向上取整函数；

c)在T2时间段后的T3时间段内半导体激光器老化测试仪以相同的峰值电流及相同的频率输出P个脉冲信号。

2.根据权利要求1所述的半导体激光器脉冲驱动测试方法，其特征在于：步骤a)中k1其取值为1≤k1≤3，单位为Hz/s。

3.根据权利要求1所述的半导体激光器脉冲驱动测试方法，其特征在于：步骤a)中Xn≤3×P额定，P额定为半导体激光器的额定功率。

4.根据权利要求1所述的半导体激光器脉冲驱动测试方法，其特征在于：步骤b)中1≤k2≤3，k2单位为Hz/s。

5.根据权利要求1所述的半导体激光器脉冲驱动测试方法，其特征在于：步骤b)中F(Xn)小于等于激光器在高频脉冲电流下的失效临界点。

6.根据权利要求1所述的半导体激光器脉冲驱动测试方法，其特征在于：步骤c)中峰值电流小于等于步骤a)中最大的峰值电流强度，步骤c)中频率小于等于步骤b)中最大的脉冲信号频率。

说明书

一种半导体激光器脉冲驱动测试方法

技术领域

[0001] 本发明涉及半导体测试技术领域，具体涉及一种半导体激光器脉冲驱动测试方法。

背景技术

[0002] 半导体激光器老化测试，是为了在出厂前通过此测试筛选出可靠性差的产品。之前老化测试一般均使用的直流测试，或是恒流，或是恒功率测试。随着市场需求的不断变
化，为了减少LD的工作时间，提高LD期间的发光强度。越来越多的厂家采用脉冲电流驱动作
为LD工作驱动电流。为顺应市场变化、测试所生产的LD在脉冲下的可靠性以及探索在脉冲
驱动下LD失效的临界点，故此设计脉冲驱动测试方法。在高频脉冲驱动下肉眼基本无法分
辨是否为脉冲驱动，但在相同的有效电流下脉冲驱动的瞬时亮度更高，在标线仪市场等应
用广泛。

[0003] LD脉冲老化测试装置的组装受制于脉冲电源。为方便测试及监控电流一般采用串联测试，由单极性电源输出如附图1所示的脉冲信号加载在所有管子上。但是其发出的脉冲
信号的频率与电流信号强度为规则的矩形波，其无法满足激光器的各项指标的测试。

发明内容

[0004] 本发明为了克服以上技术的不足，提供了一种对激光器进行脉冲峰值测试、高频测试以及恒定峰值电流、恒定频率测试的半导体激光器脉冲驱动测试方法。

[0005] 本发明克服其技术问题所采用的技术方案是：

[0006] 一种半导体激光器脉冲驱动测试方法，包括如下步骤：

[0007] a)在T1时间段内半导体激光器老化测试仪自0时刻起向激光器输出N个等频率的脉冲信号，每个脉冲信号的输出时间为Xn，各个脉冲信号的峰值电流强度Y1至Yn按公式Yn＝
k1＜Xn＞*A所计算的函数变化，式中k1为斜率，当Xn‑[Xn]＞D时A＝0，当Xn‑[Xn]＜D时A＝1，D
为占空比，其取值为0.1‑0.99，[Xn]为取整函数，其取值为不大于Xn的最大整数，＜Xn＞为向
上取整函数；

[0008] b)在T1时间段后的T2时间段内半导体激光器老化测试仪以相同的峰值电流向激光器输出M个等峰值电流强度的脉冲信号，各个脉冲信号的脉冲信号的频率F(X1)至F(Xn)按
公式F(Xn)＝k2＜Xm＞*A所计算的函数变化，式中k2为斜率，Xm为T2时间段每个脉冲信号的输
出时的时间，＜Xm＞为向上取整函数；

[0009] c)在T2时间段后的T3时间段内半导体激光器老化测试仪以相同的峰值电流及相同的频率输出P个脉冲信号。

[0010] 优选的，步骤a)中k1其取值为1≤k1≤3，单位为Hz/s。

[0011] 优选的，步骤a)中Xn≤3×P额定，P额定为半导体激光器的额定功率。

[0012] 优选的，步骤b)中1≤k2≤3，k2单位为Hz/s。

[0013] 优选的，步骤b)中F(Xn)小于等于激光器在高频脉冲电流下的失效临界点。

[0014] 优选的，步骤c)中峰值电流小于等于步骤a)中最大的峰值电流强度，步骤c)中频率小于等于步骤b)中最大的脉冲信号频率。

[0015] 本发明的有益效果是：T1时间段进行脉冲峰值测试，主要测试激光器的的抗大电流冲击性能。T2时间段为高频测试，主要是测试激光器在高频率下可靠性性能，T3时间段测
试是进行LD可靠性分析，是用于T1阶段和T2阶段测试激光器管子性能后，用于长期考评或
是按照客户反馈的数据进行调整。通过三个阶段的测试可以对激光器的各项性能实现一个
完整可靠的测试，提高了激光器测试的准确性和全面性。

附图说明

[0016] 图1为现有半导体激光测试时的脉冲信号图；

[0017] 图2为本发明的测试波形图。

具体实施方式

[0018] 下面结合附图1、附图2对本发明做进一步说明。

[0019] 一种半导体激光器脉冲驱动测试方法，包括如下步骤：

[0020] a)在T1时间段内半导体激光器老化测试仪自0时刻起向激光器输出N个等频率的脉冲信号，每个脉冲信号的输出时间为Xn，各个脉冲信号的峰值电流强度Y1至Yn按公式Yn＝
k1＜Xn＞*A所计算的函数变化，式中k1为斜率，当Xn‑[Xn]＞D时A＝0，当Xn‑[Xn]＜D时A＝1，D
为占空比，其取值为0.1‑0.99，[Xn]为取整函数，其取值为不大于Xn的最大整数，＜Xn＞为向
上取整函数。T1时间段进行脉冲峰值测试，主要测试激光器的的抗大电流冲击性能。通过连
续不断输出N个等频率的脉冲信号，可以一直测试直到激光器失效位置。通过设置函数变化
来逐步提高峰值电流强度，可以准确测出失效临界点时的脉冲峰值电流。

[0021] b)在T1时间段后的T2时间段内半导体激光器老化测试仪以相同的峰值电流向激光器输出M个等峰值电流强度的脉冲信号，各个脉冲信号的脉冲信号的频率F(X1)至F(Xn)按
公式F(Xn)＝k2＜Xm＞*A所计算的函数变化，式中k2为斜率，Xm为T2时间段每个脉冲信号的输
出时的时间，＜Xm＞为向上取整函数。T2时间段为高频测试，主要是测试激光器在高频率下
可靠性性能，测试时电流峰值相等，脉冲频率按一定的函数变化调整。

[0022] c)在T2时间段后的T3时间段内半导体激光器老化测试仪以相同的峰值电流及相同的频率输出P个脉冲信号。T3时间段测试是进行LD可靠性分析，是用于T1阶段和T2阶段测
试激光器管子性能后，用于长期考评或是按照客户反馈的数据进行调整。通过三个阶段的
测试可以对激光器的各项性能实现一个完整可靠的测试，提高了激光器测试的准确性和全
面性。

[0023] 实施例1：

[0024] 步骤a)中k1其取值为1≤k1≤3，单位为Hz/s。

[0025] 实施例2：

[0026] 步骤a)中Xn≤3×P额定，P额定为半导体激光器的额定功率。

[0027] 实施例3：

[0028] 步骤b)中1≤k2≤3，k2单位为Hz/s。

[0029] 实施例4：

[0030] 步骤b)中F(Xn)小于等于激光器在高频脉冲电流下的失效临界点。

[0031] 实施例5：

[0032] 步骤c)中峰值电流小于等于步骤a)中最大的峰值电流强度，步骤c)中频率小于等于步骤b)中最大的脉冲信号频率。