一种半导体激光器的自动测试分类系统及其应用

摘要

本发明涉及一种半导体激光器的自动测试分类系统及其应用。本发明所述半导体激光器的自动测试分类系统，包括送料系统、测试转盘、分类系统和横向滑动臂，运作流程是先将待测的半导体激光器放置在送料系统待命，再依序将待测的半导体激光器移至测试转盘进行测试，以确保半导体激光器的功能正常可以运作，待测的半导体激光器完成测试之后，再将其依照系统设定好的产品等级进行分类放置在分类系统内，以便下一步工序的进行。

权利要求

1.一种半导体激光器的自动测试分类系统，其特征在于，包括设置在工作平台上表面的送料系统、测试转盘、分类系统和横向滑动臂；送料系统和分类系统设置在测试转盘的左右两侧；所述送料系统包括送料盘和设置在送料盘正上方的送料吸嘴；所述测试转盘的上表面设置有测试机座；所述分类系统包括接料盘和设置在接料盘正上方的接料吸嘴；所述送料盘和接料盘分别通过前后方向的滑轨滑动设置在工作平台的上表面；所述送料盘和接料盘的上表面均设置有凹槽；所述送料吸嘴和接料吸嘴分别通过竖直设置的送料滑动臂和接料滑动臂滑动设置在横向滑动臂上；所述送料吸嘴和接料吸嘴分别滑动设置在送料滑动臂和接料滑动臂上；所述横向滑动臂上设置有分别使送料滑动臂和接料滑动臂沿左右方向滑动的送料x轴马达和接料x轴马达；送料滑动臂和接料滑动臂上分别设置有使送料吸嘴和接料吸嘴沿竖直方向滑动的送料z轴马达和接料z轴马达；所述工作平台的上表面设置有使送料盘和接料盘沿前后方向滑动的送料y轴马达和接料y轴马达。

2.根据权利要求1所述的半导体激光器的自动测试分类系统，其特征在于，所述测试转盘上表面的圆周上均匀设置有多个测试机座。

3.根据权利要求1所述的半导体激光器的自动测试分类系统，其特征在于，所述送料盘和接料盘上分别设置有多个凹槽。

4.根据权利要求1所述的半导体激光器的自动测试分类系统，其特征在于，所述测试转盘由驱动马达驱动。

5.一种利用权利要求1-4任意一项所述系统进行半导体激光器自动测试分类的方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)将装有待测产品的料盒设置在送料盘的凹槽内，将空置料盒放置在接料盘的凹槽内；

2)送料y轴马达和送料x轴马达配合工作，使待测产品移动至送料吸嘴的正下方；送料z轴马达工作，控制送料吸嘴竖直向下移动至待测产品上表面，送料吸嘴通过真空吸附吸取待测产品；

3)送料z轴马达、送料x轴马达依次工作，送料吸嘴将待测产品搬送至测试转盘上方靠近送料系统的一侧；

4)待测产品到达测试转盘上方后，测试转盘转动，使测试机座到达送料吸嘴的正下方；

然后，送料z轴马达动作，控制送料吸嘴竖直向下移动，将待测产品放置在测试机座上表面；

5)送料吸嘴的真空取消，待测产品落在测试机座上；送料z轴马达控制送料吸嘴离开测试机座，送料x轴马达控制送料吸嘴回到送料系统；

6)产品在测试机座完成测试后，测试转盘转动，将测试完成的产品移动至靠近分类系统的一侧；

7)接料x轴马达、接料z轴马达依次动作，将接料吸嘴移动到产品的上表面，接料吸嘴通过真空吸附吸取产品；

8)接料z轴马达、接料x轴马达依次动作，将产品搬送至接料盘的上表面；

9)接料y轴马达动作，根据产品的性能参数将产品放置在接料盘上相应空置料盒的正上方；

10)接料吸嘴的真空取消，产品落在空置料盒内。

说明书

一种半导体激光器的自动测试分类系统及其应用

技术领域

[0001] 本发明涉及一种半导体激光器的自动测试分类系统及其应用，属于半导体激光器测试分类的技术领域。

背景技术

[0002] 经过几十年的发展，半导体激光器越来越被社会所熟知，并且已经在多处领域得到应用，半导体激光器的光电转换效率在60％以上，远远高于其他同类产品的光电转换效率，其能耗低，器件中热积累少、寿命长、准直性好、照明距离远等优点在社会同类行业中作为一种新兴的技术应用越来越广泛。半导体激光器所具有的各类优点决定其越来越高受到社会各界的广泛重视。

[0003] 半导体激光器需要经过多个生产工序才能够成型并且投入使用，半导体激光器封装完成之后，为了确保半导体激光器在使用时的质量、速率、稳定性及兼容性等相关问题，通常均需执行检测作业以淘汰不良品半导体激光器，并对测试后的半导体激光器进行分类处理。

[0004] 目前在半导体激光器领域，半导体激光器的测试项目主要是看产品通电后功率以及光谱的波长情况。目前半导体激光器的测试与分类主要是通过手动方式进行，人工将半导体激光器装设到专门的插座上，然后手动加电进行测试，通过显示屏上的测试结果判断出半导体激光器的优良等级，根据优良等级将测试完成的产品放入不同的产品盒中，从而实现分类的目的。这种手动测试的方式效率太低，并且产品的波长以及功率需要分开测试，测试过程中主要通过肉眼观察判断产品的好坏，难免会出现偏差，同时手动测试不可避免对产品造成污染，影响产品质量。

[0005] 中国文献CN206514762U公开了一种连线自动测试机，该连线自动测试分类机在使用时，人工上料，经过自动测试后，自动下料，此设备可以扩展成和前工位的自动连接，完成自动上下料，自动测试的功能，降低生产成本，提高产品的测试成品率。但是，此专利公开的自动测试机主要是实现了与前后工序的自动连线，在测试过程中并没有对产品的分类功能。

[0006] 在半导体激光器领域，对半导体激光器的功率和波长进行自动测试已经属于现有技术，例如，中国专利，公开号103308159A公开了一种半导体激光管功率和波长特性自动测试装置及方法，通过分别将半导体激光器的电流信号输入端和光信号输出端与可控电流源、可调光衰减器连接，实现半导体激光器的功率和波长自动测试。

发明内容

[0007] 针对现有技术的不足，本发明提供一种半导体激光器的自动测试分类系统。

[0008] 本发明还提供一种利用上述系统进行半导体激光器自动测试分类的方法。

[0009] 发明概述：

[0010] 本发明提供一种半导体激光器的自动测试分类系统，此设备包括送料系统、测试转盘、分类系统和横向滑动臂，运作流程是先将待测的半导体激光器放置在送料系统待命，再依序将待测的半导体激光器移至测试转盘进行测试，以确保半导体激光器的功能正常可以运作，待测的半导体激光器完成测试之后，再将其依照系统设定好的产品等级进行分类放置在分类系统内，以便下一步工序的进行。

[0011] 本发明的技术方案为：

[0012] 一种半导体激光器的自动测试分类系统，包括设置在工作平台上表面的送料系统、测试转盘、分类系统和横向滑动臂；送料系统和分类系统设置在测试转盘的左右两侧；所述送料系统包括送料盘和设置在送料盘正上方的送料吸嘴；所述测试转盘的上表面设置有测试机座；所述分类系统包括接料盘和设置在接料盘正上方的接料吸嘴；所述送料盘和接料盘分别通过前后方向的滑轨滑动设置在工作平台的上表面；所述送料盘和接料盘的上表面均设置有凹槽；所述送料吸嘴和接料吸嘴分别通过竖直设置的送料滑动臂和接料滑动臂滑动设置在横向滑动臂上；所述送料吸嘴和接料吸嘴分别滑动设置在送料滑动臂和接料滑动臂上；所述横向滑动臂上设置有分别使送料滑动臂和接料滑动臂沿左右方向滑动的送料x轴马达和接料x轴马达；送料滑动臂和接料滑动臂上分别设置有使送料吸嘴和接料吸嘴沿竖直方向滑动的送料z轴马达和接料z轴马达；所述工作平台的上表面设置有使送料盘和接料盘沿前后方向滑动的送料y轴马达和接料y轴马达。送料盘中的凹槽用于固定产品料盒，料盒中存放待测产品；接料盘上的凹槽也用于固定产品料盒，料盒中存放测试完成的产品；送料吸嘴将产品由送料盘搬运至测试转盘，送料吸嘴由送料z轴马达控制其沿竖直方向上下移动，送料吸嘴由送料x轴马达控制其沿左右方向左右移动；接料吸嘴将测试完成的产品由测试系统搬送至分类系统，接料吸嘴由接料z轴马达控制其沿竖直方向上下移动，接料吸嘴由接料x轴马达控制其沿左右方向左右移动。

[0013] 根据本发明优选的，所述测试转盘上表面的圆周上均匀设置有多个测试机座。

[0014] 根据本发明优选的，所述送料盘和接料盘上分别设置有多个凹槽。

[0015] 根据本发明优选的，所述测试转盘由驱动马达驱动。

[0016] 一种利用上述系统进行半导体激光器自动测试分类的方法，包括以下步骤：

[0017] 1)将装有待测产品的料盒设置在送料盘的凹槽内，将空置料盒放置在接料盘的凹槽内；待测产品都有专门的料盒盛放，送料盘设置专门用于固定产品的凹槽，避免产品料盒左右、上下移动，确保半导体激光器始终保持在原位置，送料吸嘴够准确吸取待测产品。进料系统的主要作用是固定待测产品的料盒，同时为测试转盘提供待测产品。

[0018] 2)送料y轴马达和送料x轴马达配合工作，使待测产品移动至送料吸嘴的正下方；送料z轴马达工作，控制送料吸嘴竖直向下移动至待测产品上表面，送料吸嘴通过真空吸附吸取待测产品；

[0019] 3)送料z轴马达、送料x轴马达依次工作，送料吸嘴将待测产品搬送至测试转盘上方靠近送料系统的一侧；

[0020] 4)待测产品到达测试转盘上方后，测试转盘转动，使测试机座到达送料吸嘴的正下方；然后，送料z轴马达动作，控制送料吸嘴竖直向下移动，将待测产品放置在测试机座上表面；

[0021] 5)送料吸嘴的真空取消，待测产品落在测试机座上；送料z轴马达控制送料吸嘴离开测试机座，送料x轴马达控制送料吸嘴回到送料系统；

[0022] 6)产品在测试机座完成测试后，测试转盘转动，将测试完成的产品移动至靠近分类系统的一侧；

[0023] 7)接料x轴马达、接料z轴马达依次动作，将接料吸嘴移动到产品的上表面，接料吸嘴通过真空吸附吸取产品；

[0024] 8)接料z轴马达、接料x轴马达依次动作，将产品搬送至接料盘的上表面；

[0025] 9)接料y轴马达动作，根据产品的性能参数将产品放置在接料盘上相应空置料盒的正上方；

[0026] 10)接料吸嘴的真空取消，产品落在空置料盒内。产品在测试机座完成的测试包括功率测试和光谱波长测试。测试软件根据产品的性能参数给出产品等级，接料吸嘴根据产品的等级将产品放在响应的空置料盒内。

[0027] 本发明的有益效果为：

[0028] 1.本发明所述半导体激光器的自动测试分类系统，实现对半导体激光器自动测试，经过自动测试后，系统根据测试结果自动分类；解决了手动测试的工作弊端，同时实现了波长与功率的一体化测试，实现了测试产线的自动化生产，减少了人工，降低了生产成本，提高产品的测试成品率；

[0029] 2.本发明所述半导体激光器的自动测试分类系统，测试精度高、速度快，提高工作效率的同时避免手动测试对产品的污染。

附图说明

[0030] 图1为本发明所述半导体激光器的自动测试分类系统的机构示意图；

[0031] 图中，1、送料盘；2、接料盘；3、测试转盘；4、测试机座；5、送料吸嘴；6、接料吸嘴；7、凹槽；8、送料y轴马达；9、接料y轴马达；10、送料z轴马达；11、接料z轴马达；12、送料x轴马达；13、接料x轴马达；14、送料滑动臂；15、横向滑动臂；16、接料滑动臂。

具体实施方式

[0032] 下面结合实施例和说明书附图对本发明做进一步说明，但不限于此。

[0033] 实施例1

[0034] 如图1所示。

[0035] 一种半导体激光器的自动测试分类系统，包括设置在工作平台上表面的送料系统、测试转盘3、分类系统和横向滑动臂15；送料系统和分类系统设置在测试转盘3的左右两侧；所述送料系统包括送料盘1和设置在送料盘1正上方的送料吸嘴5；所述测试转盘3的上表面设置有测试机座4；所述分类系统包括接料盘2和设置在接料盘2正上方的接料吸嘴6；所述送料盘1和接料盘2分别通过前后方向的滑轨滑动设置在工作平台的上表面；所述送料盘1和接料盘2的上表面均设置有凹槽7；所述送料吸嘴5和接料吸嘴6分别通过竖直设置的送料滑动臂14和接料滑动臂16滑动设置在横向滑动臂15上；所述送料吸嘴5和接料吸嘴6分别滑动设置在送料滑动臂14和接料滑动臂16上；所述横向滑动臂15上设置有分别使送料滑动臂14和接料滑动臂16沿左右方向滑动的送料x轴马达12和接料x轴马达13；送料滑动臂14和接料滑动臂16上分别设置有使送料吸嘴5和接料吸嘴6沿竖直方向滑动的送料z轴马达10和接料z轴马达11；所述工作平台的上表面设置有使送料盘1和接料盘2沿前后方向滑动的送料y轴马达8和接料y轴马达9。送料盘1中的凹槽7用于固定产品料盒，料盒中存放待测产品；接料盘2上的凹槽7也用于固定产品料盒，料盒中存放测试完成的产品；送料吸嘴5将产品由送料盘1搬运至测试转盘3，送料吸嘴5由送料z轴马达10控制其沿竖直方向上下移动，送料吸嘴5由送料x轴马达12控制其沿左右方向左右移动；接料吸嘴6将测试完成的产品由测试系统搬送至分类系统，接料吸嘴6由接料z轴马达11控制其沿竖直方向上下移动，接料吸嘴6由接料x轴马达13控制其沿左右方向左右移动。

[0036] 所述测试转盘3上表面的圆周上均匀设置有四个测试机座4。测试转盘3可以按照固定的角度旋转，旋转角度为90°，测试转盘3上装有4个测试机座4，测试机座按90°的间隔设置，测试转盘每转90°，测试机座4恰巧处于测试区域；测试机座4用于固定待测产品，同时对测试机座4上的产品进行相应的测试。

[0037] 所述送料盘1和接料盘2上分别设置有12个凹槽7。所述测试转盘3由驱动马达驱动。

[0038] 实施例2

[0039] 一种利用实施例1所述系统进行半导体激光器自动测试分类的方法，包括以下步骤：

[0040] 1)将装有待测产品的料盒设置在送料盘1的凹槽7内，将空置料盒放置在接料盘2的凹槽7内；待测产品都有专门的料盒盛放，送料盘设置专门用于固定产品的凹槽，避免产品料盒左右、上下移动，确保半导体激光器始终保持在原位置，送料吸嘴5够准确吸取待测产品。进料系统的主要作用是固定待测产品的料盒，同时为测试转盘3提供待测产品。

[0041] 2)送料y轴马达8和送料x轴马达12配合工作，使待测产品移动至送料吸嘴5的正下方；送料z轴马达10工作，控制送料吸嘴5竖直向下移动至待测产品上表面，送料吸嘴5通过真空吸附吸取待测产品；

[0042] 3)送料z轴马达10、送料x轴马达12依次工作，送料吸嘴5将待测产品搬送至测试转盘3上方靠近送料系统的一侧；

[0043] 4)待测产品到达测试转盘3上方后，测试转盘3转动，使测试机座4到达送料吸嘴5的正下方；然后，送料z轴马达10动作，控制送料吸嘴5竖直向下移动，将待测产品放置在测试机座4上表面；

[0044] 5)送料吸嘴5的真空取消，待测产品落在测试机座4上；送料z轴马达10控制送料吸嘴5离开测试机座4，送料x轴马达12控制送料吸嘴5回到送料系统；测试机座4内部的感应器感应到待测产品后给待测产品加电，然后通过测试机座4内部的光谱仪测试产品的性能参数并发送到测试软件，测试软件根据产品性能参数对产品进行分类。

[0045] 6)产品在测试机座4完成测试后，测试转盘3转动，将测试完成的产品移动至靠近分类系统的一侧；

[0046] 7)接料x轴马达13、接料z轴马达11依次动作，将接料吸嘴6移动到产品的上表面，接料吸嘴6通过真空吸附吸取产品；

[0047] 8)接料z轴马达11、接料x轴马达13依次动作，将产品搬送至接料盘2的上表面；

[0048] 9)接料y轴马达9动作，根据产品的性能参数将产品放置在接料盘2上相应空置料盒的正上方；

[0049] 10)接料吸嘴6的真空取消，产品落在空置料盒内。产品在测试机座4完成的测试包括功率测试和光谱波长测试。测试软件根据产品的性能参数给出产品等级，接料吸嘴根据产品的等级将产品放在响应的空置料盒内。