一种光缆测量装置

摘要

本发明涉及一种基于X射线照射投影技术的测量装置，尤其是涉及一种测量光缆直径以及光缆内部各部分的直径的测量装置。本发明的目的在于提供一种光缆测量装置，透过设有的两个互相垂直射出的X射线穿透所需要测量的光缆以及光缆内部各层结构，从而实现无损测量光缆以及光缆内部各层的内外径，并且其测量精度高，操作简单。一种光缆测量装置，其特征在于，由第一发射管、第二发射管、第一接收板、第二接收板、图像处理系统组成，所述第一发射管与第二发射管均能射出X射线，所述第一发射管射出的X射线与第二发射管射出的X射线呈垂直关系。

权利要求

1.一种光缆测量装置，其特征在于，由第一发射管(1)、第二发射管(2)、第一接收板(3)、第二接收板(4)、图像处理系统组成(5)，所述第一发射管(1)与第二发射管(2)均能射出X射线，所述第一发射管(1)正对着第一接收板(3)，且第一发射管(1)射出的X射线竖直直射到第一接收板(3)上，所述第二发射管(2)正对着第二接收板(4)，且第二发射管(2)射出的X射线竖直直射到第二接收板(4)上，所述第一发射管(1)射出的X射线与第二发射管(2)射出的X射线呈垂直关系，所述第一接收板(3)和第二接收板(4)均与图像处理系统(5)电气连接，所述第一发射管(1)与第二发射管(2)均采用微焦距技术集束所产生的X射线，使得X射线均能撞击阳极上的同一个地方，

所述微焦距技术，即在电子高速从阴极向阳极撞击形成X射线时，在电子撞击路上设有磁透镜，透过控制磁透镜的电流大小，控制电子最终撞击阳极的位置均为同一个地方，使得形成的X射线能以较强的电子束射出，穿透被测量的光缆，最终形成一个清晰的成像，所述第一接收板(3)与第二接收板(4)均采用TDI成像技术接收穿透被测量的光缆的X射线后，使其转换为可见光，所述TDI成像技术，即时间延时积分成像技术，所述TDI成像技术设有时间延时积分相机，通过采用时间延时积分相机，利用逐行扫描的方法将其转换为可见光，对高速移动的物体例如X射线进行连续的输出，使其提供一种高分辨率的图像。

2.根据权利要求1所述的一种光缆测量装置，其特征在于，所述一种光缆测量装置设有报警装置(6)，所述报警装置(6)与图像处理系统(5)电气连接。

说明书

一种光缆测量装置

技术领域

[0001] 本发明涉及一种基于X射线照射投影技术的测量装置，尤其是涉及一种测量光缆直径以及光缆内部各部分的直径的测量装置。

背景技术

[0002] 光缆，是由一定数量的光导纤维按照一定的组合方式组合成缆芯，在缆芯外面包裹有保护套、包层带以及填充物组成。目前，测量光缆的直径还是依靠传统的办法，直接用带刻度的工具进行测量，导致其测量精度不高，并且只能测量光缆外侧的直径。而当需要测量光缆内各层的内外径，只能把光缆剪开，逐一测量，在此过程中对光缆以及各层都进行了破坏、变形，使之直接影响了测量结果，导致实际测量出来的数据不准确。

发明内容

[0003] 本发明的目的在于提供一种光缆测量装置，透过设有的两个互相垂直射出的X射线穿透所需要测量的光缆以及光缆内部各层结构，从而实现无损测量光缆以及光缆内部各层的内外径，并且其测量精度高，操作简单。

[0004] 一种光缆测量装置，其特征在于，由第一发射管、第二发射管、第一接收板、第二接收板、图像处理系统组成，所述第一发射管与第二发射管均能射出X射线，所述第一发射管正对着第一接收板，且第一发射管射出的X射线竖直直射到第一接收板上，所述第二发射管正对着第二接收板，且第二发射管射出的X射线竖直直射到第二接收板上，所述第一发射管射出的X射线与第二发射管射出的X射线呈垂直关系，所述第一接收板和第二接收板均与图像处理系统电气连接，

[0005] 所述第一发射管与第二发射管均采用微焦距技术集束所产生的X射线，使得X射线均能撞击阳极上的同一个地方，

[0006] 所述微焦距技术，即在电子高速从阴极向阳极撞击形成X射线时，在电子撞击路上设有磁透镜，透过控制磁透镜的电流大小，控制电子最终撞击阳极的位置均为同一个地方，使得形成的X射线能以较强的电子束射出，穿透被测量的光缆，最终形成一个清晰的成像，[0007] 所述第一接收板与第二接收板均采用TDI成像技术接收穿透被测量的光缆的X射线后，使其转换为可见光，

[0008] 所述TDI成像技术，即时间延时积分成像技术，所述TDI成像技术设有时间延时积分相机，通过采用时间延时积分相机，利用逐行扫描的方法将其转换为可见光，对高速移动的物体例如X射线进行连续的输出，使其提供一种高分辨率的图像。

[0009] 根据权利要求1所述的一种光缆测量装置，其特征在于，所述一种光缆测量装置设有报警装置，所述报警装置与图像处理系统电气连接。

附图说明

[0010] 图1为本发明的一种光缆测量装置的结构示意图。

[0011] 图2为安装了需要被测量的光缆的本发明的一种光缆测量装置的结构示意图。

具体实施方式

[0012] 下面结合附图对本发明作进一步详细的说明。

[0013] 参考图1：本发明的一种光缆测量装置，由第一发射管1、第二发射管2、第一接收板3、第二接收板4、图像处理系统5组成，第一发射管1与第二发射管2均能射出X射线，第一发射管1正对着第一接收板3，且第一发射管1射出的X射线竖直直射到第一接收板3上，第二发射管2正对着第二接收板4，且第二发射管2射出的X射线竖直直射到第二接收板4上，第一发射管1射出的X射线与第二发射管2射出的X射线呈垂直关系，第一接收板3和第二接收板4均与图像处理系统5电气连接。

[0014] 第一接收板3与第二接收板4的接收部分均为平直的板件，用于接收第一发射管1与第二发射管2射出的X射线穿透被测量的光缆后形成的成像。第一发射管1射出的X射线与第二发射管2射出的X射线呈垂直关系，且第一发射管1和第一接收板3之间的距离，与第二发射管2和第二接收板4之间的距离相同，使得第一接收板3与第二接收板4接收到的成像传输到图像处理系统5时能传输一个最适于测量计算的图像，避免了因为角度或者距离不同使得借由平面成像出来最终的重建模型尺寸出错，图像处理系统5能结合第一接收板3与第二接收板4接收到的成像计算出被测量的光缆外层以及内层的壁厚、偏心、外径与内径、椭圆度等数据。

[0015] 第一发射管1与第二发射管2均采用微焦距技术集束所产生的X射线，使得X射线均能撞击阳极上的同一个地方，

[0016] 所述微焦距技术，即在电子高速从阴极向阳极撞击形成X射线时，在电子撞击路上设有磁透镜，透过控制磁透镜的电流大小，控制电子最终撞击阳极的位置均为同一个地方，使得形成的X射线能以较强的电子束射出，穿透被测量的光缆，最终形成一个清晰的成像。

[0017] 第一接收板3与第二接收板4均采用TDI成像技术接收穿透被测量的光缆的X射线后，使其转换为可见光，

[0018] TDI成像技术，即时间延时积分成像技术，TDI成像技术设有时间延时积分相机，通过采用时间延时积分相机，利用逐行扫描的方法将其转换为可见光，对高速移动的物体例如X射线进行连续的输出，使其提供一种高分辨率的图像。

[0019] 光缆测量装置设有报警装置6，报警装置6与图像处理系统5电气连接。当实际测量计算出来的数值低于默认的数值范围或者低于第一批测量的数据的指定的数值范围时，响起警报，提醒使用者把该光缆样品作为不良品筛选出去，减少了使用者需要仔细比对完样品数据才能筛选出不良品的工序，使其更加效率。

[0020] 参考图2：本发明工作时，使用者首先调整第一发射管1、第二发射管2、第一接收板3、第二接收板4的位置，使得第一发射管1射出的X射线与第二发射管2射出的X射线呈垂直关系；第一发射管1和第一接收板3之间的距离，与第二发射管2和第二接收板4之间的距离相同。接着竖直固定摆放好需要被测量的光缆，让第一发射管1与第二发射管2发射X射线，成像，传输到图像处理系统5上，通过图像处理系统5进行计算，测量出光缆外层以及内层的壁厚、偏心、外径与内径、椭圆度等数据。

[0021] 当图像处理系统5实际测量计算出来的数值低于默认的数值范围或者低于第一批测量的数据的指定的数值范围时，响起警报，提醒使用者把该光缆样品作为不良品筛选出去。

[0022] 以上所述的仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。