调整式摄像模组及其组装测试方法转让专利
申请号 : CN201811081788.8
文献号 : CN110913095B
文献日 : 2021-06-04
发明人 : 黄桢 , 刘筱迪 , 陈振宇
申请人 : 宁波舜宇光电信息有限公司
摘要 :
权利要求 :
1.一调整式摄像模组的组装测试方法,其特征在于,包括步骤:(a)组装一光学镜片组、一调整式致动器和一感光组件,成一调整式摄像模组;
(b)通过对所述调整式摄像模组进行离焦曲线测试,测取所述光学镜片组与所述感光组件间的静态倾斜量;
(c)根据静态倾斜量,分析一调整线圈组各调整线圈的静态调整电量;
(d)向所述调整式摄像模组通入各所述调整线圈所需的静态调整电量;及(e)测取调整后的离焦曲线,如果调整后测取离焦曲线,表示静态倾斜量处于可接受误差范围内,烧录各所述调整线圈所需的静态调整电量;如果位置差值超过可接受误差范围,重复所述步骤(b)、步骤(c)和步骤(d)。
2.根据权利要求1所述的调整式摄像模组的组装测试方法,进一步包括步骤:(f)测取所述调整式摄像模组处于不同对焦位置对应的动态倾斜量;和(g)根据动态倾斜量,分析各个对焦位置所述调整线圈组的各所述调整线圈所需的动态调整电量。
3.根据权利要求2所述的调整式摄像模组的组装测试方法,在所述步骤(g)之后进一步包括步骤:
(h)驱动所述光学镜片组移动至不同的对焦位置,向所述调整式摄像模组通入对应对焦位置各所述调整线圈所需的动态调整电量;和(i)测取调整后的动态倾斜量,如果调整后的动态倾斜量处于可接受误差范围内,烧录对应对焦位置各所述调整线圈所需的动态调整电量;如果调整后的动态倾斜量超过可接受误差范围,重复步骤(f)和步骤(g)。
4.根据权利要求3所述的调整式摄像模组的组装测试方法,进一步包括步骤:(j)根据不同对焦位置,预设各所述调整线圈对应的驱动电流量。
5.根据权利要求4所述的调整式摄像模组的组装测试方法,进一步包括步骤:(k)向所述调整式摄像模组通入被烧录的静态调整电量和对应的对焦位置的动态调整电量后,通入各所述调整线圈对应预设的驱动电流量;和(l)检测驱动电量输入后对焦是否成功,如果对焦成功,烧录各所述调整线圈对应的驱动电流量;如果不成功,重复步骤(j)和步骤(k)。
6.根据权利要求1所述的调整式摄像模组的组装测试方法,进一步包括步骤:(m)向各所述调整线圈通入预设的驱动电流量;和(n)检测驱动电量输入后对焦是否成功,如果对焦成功,烧录各所述调整线圈对应的驱动电流量;如果不成功,重复步骤(m)。
7.一调整式摄像模组的组装测试方法,其特征在于,包括:(A)组装一光学镜片组、一调整式致动器和一感光组件,成一调整式摄像模组;
(B)测取所述调整式摄像模组处于不同对焦位置对应的动态倾斜量;
(C)根据动态倾斜量,分析各个对焦位置一调整线圈组的各调整线圈所需的动态调整电量;
(D)驱动所述光学镜片组对焦,向所述调整式摄像模组通入对应对焦位置各所述调整线圈所需的动态调整电量;和
(E)测取调整后的动态倾斜量,如果调整后的动态倾斜量处于可接受误差范围内,烧录对应对焦位置各所述调整线圈所需的动态调整电量;如果调整后的动态倾斜量超过可接受误差范围,重复步骤(B)和步骤(C)。
8.一调整式摄像模组,其特征在于,包括:所述调整式摄像模组如权利要求1至7任一所述的组装测试方法制成,其中所述调整式致动器支撑所述光学镜片组,安装于所述感光组件顶部,所述光学镜片组对应于所述感光组件的感光路径。
9.根据权利要求8所述的调整式摄像模组,其中所述调整式致动器包括一框架主体、一弹性组件、所述调整线圈组、至少一磁体和一基座,其中所述框架主体和所述基座耦合界定一安装腔,所述弹性组件、所述磁体、所述光学镜片组和所述调整线圈组,被容置和固定于所述安装腔内,其中当所述调整线圈组通入对应的静态调整电量,在所述磁体的作用下,所述光学镜片组被所述调整线圈组驱动,调整静态倾斜量,以便于所述光学镜片组对焦。
10.根据权利要求9所述的调整式摄像模组,其中当所述光学镜片组被驱动对焦,所述调整线圈组被通入对焦位置对应的动态调整电量,在所述磁体的作用下,所述光学镜片组被所述调整线圈驱动,弥补动态倾斜量。
11.根据权利要求8所述的调整式摄像模组,其中所述调整式致动器包括一框架主体、一弹性组件、一调整线圈组、至少一磁体和一基座,其中所述框架主体和所述基座耦合界定一安装腔,所述弹性组件、所述磁体、所述光学镜片组和所述调整线圈组,被容置和固定于所述安装腔内,其中当所述光学镜片组被驱动对焦,所述调整线圈通入对焦位置对应的动态调整电量,在所述磁体的作用下,所述光学镜片组被所述调整线圈组驱动,弥补动态倾斜量。
12.根据权利要求9或11所述的调整式摄像模组,其中所述调整线圈组被固定于所述光学镜片组的外周壁,各个调整线圈间隔地分布,其中所述磁体被固定于所述框架主体的内侧壁。
13.根据权利要求9或11所述的调整式摄像模组,其中各个所述调整线圈间隔地固定于所述框架主体的内侧壁,所述磁体被间隔地固定于一镜筒的外侧壁。
14.根据权利要求9所述的调整式摄像模组,其中所述调整式致动器进一步包括一自动对焦线圈,其中所述自动对焦线圈环绕于所述光学镜片组,其中当所述调整线圈组通入对应的静态调整电量,弥补静态倾斜量后,所述自动对焦线圈实现自动对焦。
15.根据权利要求9所述的调整式摄像模组,其中所述调整式致动器进一步包括一自动对焦线圈,其中所述自动对焦线圈环绕于所述光学镜片组,其中所述自动对焦线圈实现自动对焦后,所述调整线圈组被通入对应的静态调整电量,弥补静态倾斜量。
16.根据权利要求10或11所述的调整式摄像模组,其中所述调整式致动器进一步包括一自动对焦线圈,其中所述自动对焦线圈环绕于所述光学镜片组,其中当所述光学镜片组被所述自动对焦线圈驱动对焦时,所述调整线圈组被通入对应的动态调整电量,弥补动态倾斜量。
17.根据权利要求8所述的调整式摄像模组,其中当所述调整线圈组通入对应的静态调整电量和\或动态调整电量,弥补静态倾斜量和\或动态倾斜量后,通入驱动电量,所述调整线圈组驱动所述光学镜片组自动对焦。
说明书 :
调整式摄像模组及其组装测试方法
技术领域
背景技术
者对拍摄性能要求越来越高,对摄像模组厂商的生产和设计要求也越来越高。同时,科技的
发展,产品的不断迭代,要求摄像模组厂商能够尽可能缩短生产周期,快速适应行业发展速
度。
模组的镜头与芯片之间产生倾斜,也就是说镜头的成像面与感光芯片的感光面不重合,进
而导致摄像模组的解像力降低。
器组装时就存在组装倾斜问题,很有可能超出AA技术的调整范围,或者增加AA技术的调整
难度。也就是说,AA技术并不能完全保证对准完全,如果想要通过AA技术实现对准,对摄像
模组厂商工艺水平要求和成本都增加。
到针对不同对焦位置调整致动器的位置,不仅工作量大,耗时费力,难度进一步加大。
发明内容
镜片组和一感光芯片的对准,提高解像力。
获组得预设调整通电量,调整一光学镜片组倾斜量,实现所述光学镜片组和一感光芯片的
对准,提高解像力。
线圈组可调整范围内即可。
适应快节奏的产品迭代。
从而实现静态倾斜量调整。当然,本领域技术人员可以通过其他方法测取所述组装倾斜量。
所述动态倾斜量,预设动态调整通电量,实现动态倾斜量调整。
少了产品的报废率,降低生产成本。
倾斜量后实现自动对焦。也就是说,本发明的所述调整式致动器,相比于现有的AF致动器,
整体体积尺寸减小,符合当下整体轻薄化的趋势。
接受误差范围,重复所述步骤(b)、步骤(c)和步骤(d)。
接受误差范围,重复步骤(f)和步骤(g)。
接受误差范围,重复步骤(B)和步骤(C)。
光路径。
磁体、所述光学镜片组和所述调整线圈,被容置和固定于所述安装腔内,其中当所述调整线
圈组通入对应的静态调整电量,在所述磁体的作用下,所述光学镜片组被所述调整线圈驱
动,调整静态倾斜量,以便于所述光学镜片组对焦。
动,弥补动态倾斜量。
弥补静态倾斜量后,所述自动对焦线圈实现自动对焦。
线圈组被通入对应的静态调整电量,弥补静态倾斜量。
焦时,所述调整线圈组被通入对应的动态调整电量,弥补动态倾斜量。
述光学镜片组自动对焦。
附图说明
具体实施方式
的本发明的基本原理可以应用于其他实施方案、变形方案、改进方案、等同方案以及没有背
离本发明的精神和范围的其他技术方案。
关系是基于附图所示的方位或位置关系,其仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是
指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此上述
术语不能理解为对本发明的限制。
能理解为对数量的限制。
方便使用时,所述调整线圈组40获得预设调整通电量,调整一光学镜片组200,实现所述光
学镜片组200和一感光组件400的一感光芯片410的对准,提高解像力。如图1所示,为本发明
的所述致动器生产方法流程图。
光学镜片组200、所述调整式致动器100和所述感光组件400的组装方式不限,本领域技术人
员可以采用任何可执行的方法组装两者。
述光学镜片210固定于所述镜筒220内侧壁的方法并不限制,可以是卡扣、镶嵌、粘结等等。
所述调整式致动器100可以通过固定所述镜筒220,与所述光学镜片组200组装。
部,对应于所述感光芯片410的感光路径。所述感光组件400可以通过MOB、MOC、COB等封装工
艺形成,此处并不限制,如图10和图11所示。
组装后,再执行后续步骤,从而减小静态倾斜量,将静态倾斜量调整至所述调整线圈组40可
调整的范围内。
理是:通过向所述调整式致动器100的AF线圈或者调整线圈通电,使得所述光学镜片组200
相对感光芯片410上下移动,对所述调整式致动器进行离焦曲线测试,记录所述调整式摄像
模组在一模组测试图像左上B、右上E、左下C、右下D四个位置0.8视场处的解像力曲线,例如
可以是MTF(Modulation Transfer Function,调制传递函数)或SFR(Spatial frequency
response)。
其不作为本发明的限制。另,本领域技术人员可以知道离焦曲线测试的具体步骤和所用设
备,此处不再赘述。
焦位置;当所述光学镜片组200的成像面与所述感光芯片410之间存在倾斜时,也就是当静
态倾斜量存在时,所述光学镜片组200在各位置处的对焦位置间存在差值,该位置差值越
大,表示静态倾斜量越大。根据对焦位置间的位置差值和所述调整式摄像模组的成像方向,
可计算出所述静态倾斜量,如图3B和图3C所示。
也会不同,如图4A至4C所示。
学镜片组200走完所述调整式致动器100的全部行程,从而可以得到全部行程的动态倾斜情
况,并对其进行调整)。当所述光学镜片组200处于某一对焦位置时,检测此时所述光学镜片
组200反射的激光是否发生动态偏移以及偏移量,根据偏移量换算对应的动态倾斜量。或者
动态倾斜量的测试方式可以让处于不同的对焦位置的所述光学镜片组200,针对同一测试
标板拍摄,根据所得拍摄结果,判断是否发生动态偏移以及偏移量。也就是说,动态倾斜量
的测试方式并不限制,本领域技术人员可以采用其他可实施的方式执行所述步骤305。
线圈41通电后受到电磁力,沿各自的Z轴方向(垂直于感光芯片的方向)向上或向下移动,带
动所述光学镜片组200转动,并使其于感光芯片对准,即,使所述光学镜片组200的成像面与
所述感光芯片410的成像面基本平行。
和所述调整式致动器100组装状态如图3A所示。所述步骤303根据离焦曲线获得静态倾斜
量,而根据静态倾斜量,三个调整线圈需要移动的方向和电量各有不同。此时,第一调整线
圈41A需要向下移动,第二调整线圈41B需要向上移动,第三调整线圈41C可能不需要移动,
或者需要向上或向下移动,才能弥补静态倾斜量。对应地,三个调整线圈41所需的静态调整
电量不同,所述第一调整线圈41A为静态调整电量IA,所述第二调整线圈41B为静态调整电
量IB,所述第三调整线圈41C为静态调整电量IC。
同。
置时,其动态倾斜状态,如图4A所示,此时所测取的动态倾斜量,第一调整线圈41A需要向下
移动,第二调整线圈41B需要向上移动,第三调整线圈41C可能不需要移动,或者需要向上或
向下移动,才能弥补动态倾斜量。对应地,所述第一调整线圈41A为动态调整电量Ia1,所述第
二调整线圈41B为动态调整电量Ib1,所述第三调整线圈41C为动态调整电量Ic1。
三调整线圈41C可能不需要移动,或者需要向上或向下移动,才能弥补动态倾斜量。对应地,
所述第一调整线圈41A为动态调整电量Ia2,所述第二调整线圈41B为动态调整电量Ib2,所述
第三调整线圈41C为动态调整电量Ic2。
误差范围,重复所述步骤303和步骤307。
左上、右上、左下、右下四个位置进行拍摄,获取调整后对应的离焦曲线。
线圈所需的静态调整电量可以被烧录于所述调整式致动器100的一驱动芯片。在本发明的
另一些实施例中,一记录芯片被设置于所述线路板430,用于烧录静态调整电量,或者静态
调整电量被烧录于所述感光芯片410中,所述调整式致动器100通过引脚于所述线路板430
连接,获取被烧录的静态调整电量。
超过可接受误差范围,重复步骤305和步骤309。
后,再执行所述步骤315和步骤317。也就说,当所述步骤313执行完毕后,可以获得弥补静态
倾斜量所需静态调整电量。此时先通入对应的静态调整电量,将所述光学镜片组件200的静
态倾斜弥补,然后通入对应对焦位置各所述调整线圈所需的动态调整电量,测试动态倾斜
量是否被弥补。相应地,动态调整电量可以被烧录于所述调整式致动器100的所述驱动芯
片,也可以被烧录于所述感光芯片410,或者额外配置的所述记录芯片。或者无需通入对应
的静态调整电量,而直接执行步骤315和步骤317。
态调整电量,所述光学镜片组200被摆正,开始拍摄。当所述摄像模组的对焦功能被触发,所
述光学镜片组200移动时,根据光学镜片组200移动的对焦位置,被记录的动态调整电量被
读取,向所述调整线圈组40通入对应的动态调整电量,此时的动态倾斜量被弥补。相应地,
对比于静态调整电量和\或动态调整电量尚未被弥补时,所述摄像模组的解像力提高,性能
增加。
的对焦位置,被记录的动态调整电量被读取,向所述调整线圈组40通入对应的动态调整电
量,此时的动态倾斜量被弥补。之后,被记录的静态调整电量被读取,向所述调整线圈组40
通入对应的静态调整电量,所述光学镜片组200被摆正。
述光学镜片组200,比如套设于所述镜筒220外周壁。当摄像模组判断出被拍摄物以及被拍
摄物和所述感光元件410之间的距离时,所述自动对焦线圈70被通入电量,驱动所述光学镜
片组200至相应的对焦位置。
和\或动态倾斜量时,所述自动对焦线圈70工作实现自动对焦,如图7和图8所示。
整时摄像模组的整体设计直接计算分析得出,例如通过弹片、磁体、以及所述调整线圈的设
计参数,可以对应处各个距离刻度对应的驱动电流量,从而预设驱动电流量。
需的驱动电流量,再测取和烧录静态调整电流量和动态调整电流量。从而,所述调整线圈组
40被通入对应的所需驱动电流量,驱动所述光学镜片组200对焦移动,便于静态调整电流量
和动态调整电流量的测取,也便于获得准确的静态调整电流量和动态调整电流量。
镜片组200,直至所述光学镜片组200移动至使图像最清晰的位置。也就是说,本发明中,所
述调整线圈组40不仅可以弥补静态调整电量和\或动态调整电量,还可以驱动所述光学镜
片组200对焦。生产阶段的预设和记录,使得使用过程中弥补和驱动更灵活、迅速。
制。所述调整式摄像模组的组装测试方法也可以采用其他结构的具有调整线圈组40的调整
式致动器,如图6至图8所示。
述弹性组件20、所述磁体30、所述光学镜片组200和所述调整线圈组40,被容置和固定于所
述安装腔60内,实现所述光学镜片组200被所述调整线圈组40驱动,以调整动态倾斜量和静
态倾斜量。
对应于所述光学镜片组200的光线路径。也就是说,所述框架主体10环绕于所述光学镜片组
200的周围,其通光孔11对应于所述光学镜片组200的光学路径。当消费者拍摄时,被拍摄物
的反射光线通过所述通光孔11被所述光学镜片组200捕捉。所述框架主体10和所述基座50
的耦合结构可以是卡扣、螺旋或者粘结等等本发明并不限制。
固定于所述容纳腔60内。在本发明的一个实施例中,所述调整线圈组40被固定于所述镜筒
220的外周壁,各个调整线圈41间隔地分布。例如所述镜筒220的顶边缘和底边缘分别向外
延伸形成多个顶固定元件和对应的底固定元件,所述调整线圈41的顶端和低端分别被固定
于所述顶固定元件和对应的所述底固定元件。所述磁体30被固定于所述框架主体10的内侧
壁,处于所述框架主体10内侧角落,可呈四角梯形状。在本发明的另一个实施例中,所述各
个调整线圈41间隔地固定于所述框架主体10的内侧壁,所述磁体30被间隔地固定于所述镜
筒220的外侧壁。
述弹性组件20包括一上弹片21和一下弹片22,其中所述上弹片21被安装于所述光学镜片组
200的顶端,所述下弹片22被安装于所述光学镜片组200的低端。当所述调整线圈组40通电
施力时,所述上弹片21和所述下弹片22平衡调整线圈组40施加的力。尤其当所述调整线圈
组40被通入驱动电量实现对焦时,驱动电量在磁场的作用下产生向上的安培力,推动所述
光学镜片组200向上移动。而当所述光学镜片组200所受向上电磁力与所述弹性组件20的弹
力平衡时,所述光学镜片组200即停留在对应的距离刻度,实现对焦。
电量和调整电量被记录于所述感光芯片410或记录芯片时,可以通过所述引脚80读取对应
的数据。
也就是说,在本实施例中,所述调整线圈组40和所述自动对焦线圈70共存,由所述调整线圈
组40弥补静态倾斜量和动态倾斜量,由所述自动对焦线圈70实现自动对焦。此时,所述自动
对焦线圈70在磁场的作用下产生向上的安培力,推动所述光学镜片组200向上移动。而当所
述光学镜片组200所受向上电磁力与所述弹性组件20的弹力平衡时,所述光学镜片组200即
停留在对应的距离刻度,实现对焦。
动对焦线圈70,防止所述自动对焦线圈70被撞击发生短路。此时,所述调整线圈组40也被固
定于所述镜筒220的外周壁,各个调整线圈41间隔地分布。例如所述调整线圈41的顶端和低
端分别被固定于所述保护层和所述下保护层。所述磁体30被固定于所述框架主体10的内侧
壁,处于所述框架主体10内侧角落。
述调整线圈41被固定于所述框架主体10的内侧壁,例如通过卡扣等等。
路板导通。带有所述调整线圈组40的所述FPC线路板被固定于所述光学镜片组200底部。
调整线圈41所在的平面与所述镜筒220的外侧壁基本平行。另外,在本发明的另一个实施例
中,所述调整线圈41也可被横向地固定,即所述调整线圈41的线圈环绕方向和所述镜头220
的周向方向一致。
只是为了阐述方便和具体说明,并不是限制。
实施例中展示和说明,在没有背离所述原理下,本发明的实施方式可以有任何变形或修改。