电子设备、LED数码管结构及其反向漏电流测量方法与装置

摘要

本发明提出了一种电子设备、LED数码管结构及其反向漏电流测量方法与装置，该LED数码管反向漏电流测量方法通过将数码管阵列拆分成两个子数码管阵列，并在每个子数码管阵列测量LED数码管的反向漏电流时，通过向对应的端口输入正向电压和负向电压即可，以此确保在测量任意一个LED数码管的反向漏电流时，没有任何正向导通的LED数码管电流的影响，极大提高了LED数码管反向漏电流的测量精度和准确度。

权利要求

1.一种LED数码管结构，其特征在于，所述LED数码管结构包括多个数码管组成的数码管阵列，所述数码管阵列包括第一子数码管阵列和第二子数码管阵列；所述第一子数码管阵列具有多个驱动端口，所述第一子数码管阵列的每列中的多个数码管的正极共接，并与相应的驱动端口连接，所述第一子数码管阵列的每行中的多个数码管的负极共接，并与相应的驱动端口连接，并且不同行中的数码管的负极与相应的驱动端口连接；所述第二子数码管阵列具有多个拆分端口，所述第二子数码管阵列的每列中的多个数码管的正极共接，并与相应的拆分端口连接，所述第二子数码管阵列的第一行中的多个数码管的负极均连接所述第一子数码管阵列的第一个驱动端口，所述第二子数码管阵列的其他行中的多个数码管的负极共接，并与相应的拆分端口连接，并且不同行中的数码管的负极与相应的拆分端口连接。

2.如权利要求1所述的LED数码管结构，其特征在于，所述第一子数码管阵列的多个驱动端口与所述第二子数码管阵列中的多个拆分端口通过导线一一对应连接。

3.一种基于权利要求1所述的LED数码管结构的数码管反向漏电流测量方法，其特征在于，所述数码管反向漏电流测量方法包括：确定待测数码管所处的子数码管阵列；

获取所述待测数码管在所述子数码管阵列中的行位置和列位置；

向所述待测数码管所在的列位置的对应端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应端口输入正向电压；

根据输入的正向电压与反向电压测量所述待测数码管的反向漏电流。

4.如权利要求3所述的数码管反向漏电流测量方法，其特征在于，所述确定待测数码管所处的子数码管阵列包括：获取所述待测数码管在所述数码管阵列中连接的端口类型，根据所述端口类型确定所述待测数码管所处的子数码管阵列。

5.如权利要求4所述的数码管反向漏电流测量方法，其特征在于，若所述待测数码管所处的子数码管阵列为第一子数码管阵列，则所述向所述待测数码管所在的列位置的对应端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应端口输入正向电压包括：向所述待测数码管所在的列位置的对应驱动端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应驱动端口输入正向电压。

6.如权利要求4所述的数码管反向漏电流测量方法，其特征在于，若所述待测数码管所处的子数码管阵列为第二子数码管阵列，且所述待测数码管处于所述第二子数码管阵列中的第一行，则所述向所述待测数码管所在的列位置的对应端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应端口输入正向电压包括：向所述待测数码管所在的列位置的对应拆分端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应驱动端口输入正向电压。

7.如权利要求4所述的数码管反向漏电流测量方法，其特征在于，若所述待测数码管所处的子数码管阵列为第二子数码管阵列，且所述待测数码管不处于所述第二子数码管阵列中的第一行，则所述向所述待测数码管所在的列位置的对应端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应端口输入正向电压包括：向所述待测数码管所在的列位置的对应拆分端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应拆分端口输入正向电压。

8.一种基于权利要求1所述的LED数码管结构的数码管反向漏电流测量装置，其特征在于，所述数码管反向漏电流测量装置包括：确定模块，用于确定待测数码管所处的子数码管阵列；

获取模块，用于获取所述待测数码管在所述子数码管阵列中的行位置和列位置；

输入模块，用于向所述待测数码管所在的列位置的对应端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应端口输入正向电压；

测量模块，用于根据输入的正向电压与反向电压测量所述待测数码管的反向漏电流。

9.如权利要求8所述的数码管反向漏电流测量装置，其特征在于，所述确定模块具体用于：获取所述待测数码管在所述数码管阵列中连接的端口类型，根据所述端口类型确定所述待测数码管所处的子数码管阵列。

10.如权利要求9所述的数码管反向漏电流测量装置，其特征在于，若所述待测数码管所处的子数码管阵列为第一子数码管阵列，则所述输入模块具体用于：向所述待测数码管所在的列位置的对应驱动端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应驱动端口输入正向电压。

11.如权利要求9所述的数码管反向漏电流测量装置，其特征在于，若所述待测数码管所处的子数码管阵列为第二子数码管阵列，且所述待测数码管处于所述第二子数码管阵列中的第一行，则所述输入模块具体用于：向所述待测数码管所在的列位置的对应拆分端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应驱动端口输入正向电压。

12.如权利要求9所述的数码管反向漏电流测量装置，其特征在于，若所述待测数码管所处的子数码管阵列为第二子数码管阵列，且所述待测数码管不处于所述第二子数码管阵列中的第一行，则所述输入模块具体用于：向所述待测数码管所在的列位置的对应拆分端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应拆分端口输入正向电压。

13.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括如权利要求1或2所述的LED数码管结构。

说明书

电子设备、LED数码管结构及其反向漏电流测量方法与装置

技术领域

[0001] 本发明涉及家电及LED技术领域，尤其涉及一种电子设备、LED数码管结构及其反向漏电流测量方法与装置。

背景技术

[0002] 近几年来，发光二极管(Light Emitting Diode，LED)因其节能显著、绿色环保、耐冲击、抗雷力强以及寿命长等优点被广泛应用于各种领域，例如LED灯。目前，虽然市场上存在的LED数码管结构主要分为行列矩阵形式和串行点阵形式，但是由于同样的LED灯数量需求的应用条件下，行列矩阵形式LED数码管所占用芯片输入输出IO资源较多，因此在集成度高的应用中一般采用串行点阵形式LED数码管。

[0003] 然而，串行点阵形式LED数码管在每次导通测量时，由于结构原因，总有一个LED数码管为正向导通的状态。由于正向导通的数码管其电流级别一般为毫安级电流，而需要测量的数码管反向漏电流一般为微安级别，因此正向导通电流将严重影响反向漏电电流的测量精度，使得LED数码管的反向漏电流测量结果不准确，从而影响产品品质。

[0004] 综上所述，现有的LED数码管在测量反向漏电流时存在测量准确度低的问题。

发明内容

[0005] 本发明的目的在于提供一种电子设备、LED数码管结构及其反向漏电流测量方法与装置，以解决现有的LED数码管在测量反向漏电流时存在测量准确度低的问题。

[0006] 本发明是这样实现的，本发明第一方面提供一种LED数码管结构，所述LED数码管结构包括：所述LED数码管结构包括多个数码管组成的数码管阵列，所述数码管阵列包括第一子数码管阵列和第二子数码管阵列；所述第一子数码管阵列具有多个驱动端口，所述第一子数码管阵列的每列中的多个数码管的正极共接，并与相应的驱动端口连接，所述第一子数码管阵列的每行中的多个数码管的负极共接，并与相应的驱动端口连接，并且不同行中的数码管的负极与相应的驱动端口连接；所述第二子数码管阵列具有多个拆分端口，所述第二子数码管阵列的每列中的多个数码管的正极共接，并与相应的拆分端口连接，所述第二子数码管阵列的第一行中的多个数码管的负极均连接所述第一子数码管阵列的第一个驱动端口，所述第二子数码管阵列的其他行中的多个数码管的负极共接，并与相应的拆分端口连接，并且不同行中的数码管的负极与相应的拆分端口连接。

[0007] 本发明第二方面提供一种基于上述LED数码管结构的数码管反向漏电流测量方法，所述所述数码管反向漏电流测量方法包括：

[0008] 确定待测数码管所处的子数码管阵列；

[0009] 获取所述待测数码管在所述子数码管阵列中的行位置和列位置；

[0010] 向所述待测数码管所在的列位置的对应端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应端口输入正向电压；

[0011] 根据输入的正向电压与反向电压测量所述待测数码管的反向漏电流。

[0012] 本发明第三方面提供一种基于上述LED数码管结构的数码管反向漏电流测量装置，所述所述数码管反向漏电流测量装置包括：

[0013] 确定模块，用于确定待测数码管所处的子数码管阵列；

[0014] 获取模块，用于获取所述待测数码管在所述子数码管阵列中的行位置和列位置；

[0015] 输入模块，用于向所述待测数码管所在的列位置的对应端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应端口输入正向电压；

[0016] 测量模块，用于根据输入的正向电压与反向电压测量所述待测数码管的反向漏电流。

[0017] 本发明第四方面提供一种电子设备，所述电子设备包括上述的LED数码管结构。

[0018] 本发明提出了一种电子设备、LED数码管结构及其反向漏电流测量方法与装置，该LED数码管反向漏电流测量方法通过将数码管阵列拆分成两个子数码管阵列，并在每个子数码管阵列测量LED数码管的反向漏电流时，通过向对应的端口输入正向电压和负向电压即可，以此确保在测量任意一个LED数码管的反向漏电流时，没有任何正向导通的LED数码管电流的影响，极大提高了LED数码管反向漏电流的测量精度和准确度。

附图说明

[0019] 为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

[0020] 图1是本发明一种实施例提供的一种LED数码管结构的电路结构示意图；

[0021] 图2是本发明一种实施例提供的一种数码管反向漏电流测量方法的流程图；

[0022] 图3是本发明一种实施例提供的一种数码管反向漏电流测量装置的结构图；

[0023] 图4是本发明一种实施例提供的一种LED数码管结构的外形结构图。

具体实施方式

[0024] 为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

[0025] 为了说明本发明的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。

[0026] 本发明实施例提供一种LED数码管结构，如图1所示，该LED数码管结构包括多个数码管组成的数码管阵列，数码管阵列包括第一子数码管阵列A和第二子数码管阵列B；第一子数码管A阵列具有多个驱动端口(例如图中的LED0至LED7)，第一子数码管阵列A的每列中的多个数码管的正极共接，并与相应的驱动端口连接，第一子数码管阵列A的每行中的多个数码管的负极共接，并与相应的驱动端口连接，并且不同行中的数码管的负极与相应的驱动端口连接；第二子数码管阵列B具有多个拆分端口(例如图中的T1至T7)，第二子数码管阵列B的每列中的多个数码管的正极共接，并与相应的拆分端口连接，第二子数码管阵列B的第一行中的多个数码管的负极均连接第一子数码管阵列A的第一个驱动端口，第二子数码管阵列B的其他行中的多个数码管的负极共接，并与相应的拆分端口连接，并且不同行中的数码管的负极与相应的拆分端口连接。

[0027] 具体实施时，如图1所示，第一子数码管阵列A和第二子数码管阵列是由数码管阵列按照LED数码管导通电流分组的，流向相同的LED数码管划分为第一子数码管阵列A，而相反的LED数码管划分为第二子数码管阵列B，并且两组子数码管阵列在拆分的时候是沿着原始数码管阵列的对角线拆分而成的，并且拆分后形成的第一子数码管阵列A和第二子数码管阵列B具有不同的端口，即拆分后形成的第一子数码管阵列A具有自身的驱动端口，拆分后形成的第二子数码管B具有自身的拆分端口，以此实现第一子数码管阵列A中的LED数码管可直接通过LED驱动端口进行点阵式的反向漏电流测量，而第二子数码管阵列B中的LED数码管则通过拆分端口进行点阵式的反向漏电流测量；需要说明的是，在本发明实施例中，拆分后形成的第一子数码管阵列A中的LED数码管个数与拆分后形成的第二子数码管阵列B中的LED数码管个数相同，并且拆分之前的数码管阵列不限制LED数码管的个数，本发明实施例以8*8矩阵形式的数码管阵列为例。

[0028] 进一步地，从图1中可以看出，拆分后形成的第一子数码管阵列A的每列数码管的正极共接，并与一个驱动端口连接，并且每行中的多个数码管的负极共接，且与相应的驱动端口连接，例如第一子数码管阵列A中的第一列数码管的正极均与驱动端口LED0连接，第二列数码管的正极均与驱动端口LED1连接，而第一子数码管阵列A中的第二行数码管的负极均与驱动端口LED2连接，第三行数码管的负极均与驱动端口LED3连接等。除了上述特点，拆分后形成的第一子数码管阵列A的中的不同行的数码管的负极与相应的驱动端口连接，例如第一行的数码管的负极与驱动端口LED1连接，第二行的数码管的负极均与驱动端口LED2连接，第三行的数码管的负极均与驱动端口LED3连接等。

[0029] 进一步地，拆分后形成的第二子数码管阵列B的每列数码管的正极共接，并与一个拆分驱动端口连接，例如第二子数码管阵列B中的第一列数码管的正极与拆分端口T1连接，第二列数码管的正极均与拆分端口T2连接；此外，第二子数码管阵列B的第一行中的多个数码管的负极均连接第一子数码管阵列A的第一个驱动端口LED0，并且第二子数码管阵列B的其他行中的多个数码管的负极共接，并与相应的拆分端口连接，例如第二子数码管阵列B的第二行中的多个数码管的负极共接，并与拆分端口T1连接，第三行中的多个数码管的负极共接，并与拆分端口T2连接；除此之外，第二子数码管阵列B中不同行的数码管的负极与相应的拆分端口连接，例如第二子数码管阵列B中第二行的数码管的负极均与拆分端口T1连接，第三行的数码管的负极均与拆分端口T2连接，第四行的数码管的负极均与拆分端口T3连接等。

[0030] 在本实施方式中，通过将由数码管阵列按照LED数码管导通电流流向进行拆分，使得拆分后形成的第一子数码管阵列A具有自身的驱动端口，拆分后形成的第二子数码管B具有自身的拆分端口，以此实现第一子数码管阵列A中的LED数码管可直接通过LED驱动端口进行点阵式的反向漏电流测量，而第二子数码管阵列B中的LED数码管则通过拆分端口进行点阵式的反向漏电流测量，进而确保在测量任意一个LED数码管的反向漏电流时，没有任何正向导通的LED数码管电流的影响，以此提高LED数码管反向漏电流的测量精度和准确度。

[0031] 进一步地，作为本发明一种实施方式，第一子数码管阵列A的多个驱动端口与第二子数码管阵列B中的多个拆分端口通过导线一一对应连接。

[0032] 其中，在本发明实施例中，第二子数码管阵列B的拆分端口不但可以作为反向电流测量点提供反向电流激励输入，同时当LED数码管测量完成后，拆分端口可直接在板级与对应的LED驱动端口通过导线连接，如图4所示，恢复串行点阵LED正常使用功能。

[0033] 在本实施方式中，通过在拆分后的第二子数码管阵列B中设置拆分端口，使得第二子数码管阵列中的LED数码管通过拆分端口完成反向漏电流测量后，可通过导线与LED驱动端口连接，保证了测量的便利性和精确度，又不影响实际串行点阵LED数码管的功能，简单直观，价值高。

[0034] 图2示出了本发明一实施例所提供的数码管反向漏电流测量方法，该数码管反向漏电流测量方法是以图1所示的LED数码管结构为基础进行的，因此LED数码管结构的具体描述可以参考图1相关描述，此处仅对该方法的实现过程进行详细描述，其具体实现过程如下：

[0035] 步骤S21：确定待测数码管所处的子数码管阵列。

[0036] 其中，在本发明实施例中，请同时参考图1和图2，由于第一子数码管阵列A和第二子数码管B是一个数码管阵列根据导通电流流向进行划分的，为了使得任意一个阵列中的LED数码管在进行反向漏电流测量时，不受其他LED数码管的正向导通电流影响，在测量之前，需要确定待测数码管所处的子数码管阵列，即待测数码管是第一子数码管阵列A中的LED数码管，还是第二子数码管阵列B中的LED数码管。

[0037] 具体的，所述确定待测数码管所处的子数码管阵列包括：

[0038] 获取所述待测数码管在所述数码管阵列中连接的端口类型，根据所述端口类型确定所述待测数码管所处的子数码管阵列。

[0039] 其中，在本发明实施例中，由于拆分后的第一子数码管阵列A和第二子数码管阵列B具有各自的端口，因此在确定该待测数码管所处的子数码管阵列时，可检测与该待测数码管连接的端口是驱动端口或者是拆分端口，如果与该待测数码管连接的端口仅有驱动端口，则表明该待测数码管处于第一子数码管阵列A，如果与该待测数码管连接的端口有驱动端口和拆分端口，或者仅有拆分端口，则表明该待测数码管处于第二子数码管阵列B。

[0040] 在本实施方式中，通过确定根据待测数码管所连接的端口类型确定待测数码管所处的子数码管阵列，使得可在相应的子数码管阵列中对待测数码管的位置进行查找，进而便于反向漏电流测量的快速进行。

[0041] 步骤S22：获取所述待测数码管在所述子数码管阵列中的行位置和列位置。

[0042] 其中，在本发明实施例中，待测数码管在子数码管阵列中的行位置指的是待测数码管处于子数码管阵列中的具体行数，待测数码管在子数码管阵列中的列位置指的是待测数码管处于子数码管阵列中的具体列数。

[0043] 步骤S23：向所述待测数码管所在的列位置的对应端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应端口输入正向电压。

[0044] 其中，在本发明实施例中，在确定了待测数码管在子数码管阵列中的行位置和列位置后，便可向待测数码管所在的列位置的对应端口输入反向电压，并向待测数码管所在的行位置的对应端口输入正向电压，以此测量待测数码管的反向漏电流。

[0045] 例如，当确定该待测数码管为第一子数码管阵列A中的某个LED数码管时，仅需向对应该数码管的两个LED驱动端口施加正向和负向电压即可测量到该数码管的反向电流值；当确定该待测数码管为第二子数码管阵列B中的某个LED数码管时，仅需向对应该数码管的两个拆分连接点施加正向和负向电压即可测量到该数码管的反向电流值。

[0046] 具体的，作为本发明一种实施方式，若所述待测数码管所处的子数码管阵列为第一子数码管阵列A，则所述向所述待测数码管所在的列位置的对应端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应端口输入正向电压包括：

[0047] 向所述待测数码管所在的列位置的对应驱动端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应驱动端口输入正向电压。

[0048] 例如，当需要测量第一子数码管阵列A中的LED数码管X的反向电流时，仅需对驱动端口LED4施加正向电压，驱动端口LED1施加反向电压即可，测得的电流值仅为LED数码管X的反向电流，无任何正向导通电流的影响。

[0049] 具体的，作为本发明另一种实施方式，若所述待测数码管所处的子数码管阵列为第二子数码管阵列B，且所述待测数码管处于所述第二子数码管阵列中的第一行，则所述向所述待测数码管所在的列位置的对应端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应端口输入正向电压包括：

[0050] 向所述待测数码管所在的列位置的对应拆分端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应驱动端口输入正向电压。

[0051] 例如，当需要测量第二子数码管阵列B中的LED数码管W的反向电流时，仅需对驱动端口LED0施加正向电压，拆分端口T1施加反向电压即可，测得的电流值仅为LED数码管W的反向电流，无任何正向导通电流的影响；同样的，需要测量第二子数码管阵列B中的LED数码管Z的反向电流时，仅需对拆分端口T4施加正向电压，LED7端口施加反向电压即可，测得的电流值仅为LED数码管Z的反向电流，无任何正向导通电流的影响。

[0052] 进一步地，作为本发明另一种实施方式，若所述待测数码管所处的子数码管阵列为第二子数码管阵列，且所述待测数码管不处于所述第二子数码管阵列中的第一行，则所述向所述待测数码管所在的列位置的对应端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应端口输入正向电压包括：

[0053] 向所述待测数码管所在的列位置的对应拆分端口输入反向电压，并向所述待测数码管所在的行位置的对应拆分端口输入正向电压。

[0054] 例如，当需要测量第二子数码管阵列B中的LED数码管Y的反向电流时时，仅需对拆分端口T1施加正向电压，拆分端口T4施加反向电压即可，测得的电流值仅为LED数码管Y的反向电流，无任何正向导通电流的影响。

[0055] 步骤S24：根据输入的正向电压与反向电压测量所述待测数码管的反向漏电流。

[0056] 其中，在本发明实施例中，当向待测数码管所连接的端口输入相应的正向电压与反向电压后，该待测数码管中便有电流流过，对该电流进行测量，便可获取到待测数码管的反向漏电流。

[0057] 在本实施方式中，该数码管反向漏电流测量方法在测量组A第一子数码管阵列A中的任意LED数码管时，仅需向对应该数码管的两个LED驱动端口施加正向和负向电压即可测量到该数码管的反向电流值，当第二子数码管阵列B中的任意LED数码管时，仅需向对应该数码管的两个拆分端口施加正向和负向电压即可测量到该数码管的反向电流值，使得在测量任意一个LED数码管反向电流时，没有任何正向导通LED数码管电流的影响，方法操作简单，且测量精准度高。

[0058] 参见图3，是本发明一实施例提供的数码管反向漏电流测量装置3的示意性框图。本发明实施例提供的数码管反向漏电流测量装置3包括的各模块用于执行图2对应的实施例中的各步骤，具体请参阅图2，以及图2对应的实施例中的相关描述，此处不再赘述。本发明实施例提供的数码管反向漏电流测量装置3包括确定模块31、获取模块32、输入模块33以及测量模块34；需要说明的是，在本发明实施例中，数码管反向漏电流测量装置3中包括的各个模块可以采用虚拟的软件实现，也可以采用实际的硬件器件实现，此处不做具体限制。

[0059] 其中，确定模块31，用于确定待测数码管所处的子数码管阵列。

[0060] 获取模块32，用于获取待测数码管在子数码管阵列中的行位置和列位置。

[0061] 输入模块33，用于向待测数码管所在的列位置的对应端口输入反向电压，并向待测数码管所在的行位置的对应端口输入正向电压。

[0062] 测量模块34，用于根据输入的正向电压与反向电压测量待测数码管的反向漏电流。

[0063] 进一步地，确定模块31具体用于获取待测数码管在数码管阵列中连接的端口类型，根据端口类型确定待测数码管所处的子数码管阵列。

[0064] 进一步地，若待测数码管所处的子数码管阵列为第一子数码管阵列，则输入模块33具体用于向待测数码管所在的列位置的对应驱动端口输入反向电压，并向待测数码管所在的行位置的对应驱动端口输入正向电压。

[0065] 进一步地，若待测数码管所处的子数码管阵列为第二子数码管阵列，且待测数码管处于第二子数码管阵列中的第一行，则输入模块33具体用于向待测数码管所在的列位置的对应拆分端口输入反向电压，并向待测数码管所在的行位置的对应驱动端口输入正向电压。

[0066] 进一步地，若待测数码管所处的子数码管阵列为第二子数码管阵列，且待测数码管不处于第二子数码管阵列中的第一行，则输入模块33具体用于向待测数码管所在的列位置的对应拆分端口输入反向电压，并向待测数码管所在的行位置的对应拆分端口输入正向电压。

[0067] 在本实施方式中，数码管反向漏电流测量装置3在测量组A第一子数码管阵列A中的任意LED数码管时，仅需向对应该数码管的两个LED驱动端口施加正向和负向电压即可测量到该数码管的反向电流值，当第二子数码管阵列B中的任意LED数码管时，仅需向对应该数码管的两个拆分端口施加正向和负向电压即可测量到该数码管的反向电流值，使得在测量任意一个LED数码管反向电流时，没有任何正向导通LED数码管电流的影响，方法操作简单，且测量精准度高。

[0068] 本发明另一种实施例提供一种电子设备，该电子设备包括上述实施例提供的LED数码管结构，并且具体实施时，该电子设备包括但不限于电磁炉、空调器等家电设备。

[0069] 本发明提出的电子设备，通过将数码管阵列拆分成两个子数码管阵列，并在每个子数码管阵列测量LED数码管的反向漏电流时，通过向对应的端口输入正向电压和负向电压即可，以此确保在测量任意一个LED数码管的反向漏电流时，没有任何正向导通的LED数码管电流的影响，极大提高了LED数码管反向漏电流的测量精度和准确度。

[0070] 以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本发明的保护范围之内。