显微图像焦点漂移距离的测量方法及系统、计算机设备转让专利

申请号 : CN202010353676.4

文献号 : CN111551117B

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基本信息:

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法律信息:

相似专利:

发明人 : 谷秀娟向北海许会

申请人 : 湖南国科智瞳科技有限公司

摘要 :

本发明公开一种显微图像焦点漂移距离的测量方法,包括获取显微图像序列;计算每张所述非相干焦栈图像的径向平均对数功率谱值,根据所述径向平均对数功率谱值,获得显微镜物镜的聚焦位置;根据所述聚焦位置,对每张所述相干焦栈图像进行标记;将标记后的相干焦栈图像划分为训练集和验证集;利用所述训练集对预先构建的卷积神经网络模型进行训练,利用所述验证集对训练后的卷积神经网络模型进行验证,获得训练好的卷积神经网络模型;利用训练好的卷积神经网络模型测量待测的显微图像焦点漂移距离。本发明提供的方法仅通过单幅图像即可实现焦点漂移距离的测量,速度快、精度高、卷积神经网络模型的鲁棒性强。

权利要求 :

1.一种显微图像焦点漂移距离的测量方法,其特征在于,包括:获取显微图像序列,所述显微图像序列包括若干相干焦栈图像和非相干焦栈图像;

计算每张所述非相干焦栈图像的径向平均对数功率谱值,根据所述径向平均对数功率谱值,获得显微镜物镜的聚焦位置;

根据所述聚焦位置,对每张所述相干焦栈图像进行标记;将标记后的相干焦栈图像划分为训练集和验证集;

利用所述训练集对预先构建的卷积神经网络模型进行训练,利用所述验证集对训练后的卷积神经网络模型进行验证,获得训练好的卷积神经网络模型;

利用训练好的卷积神经网络模型测量待测的显微图像焦点漂移距离,测量方法为:起始时刻,在待测的显微成像系统内,控制显微镜物镜以恒定速度等间距的沿显微镜Z轴移动,在显微镜物镜移动的每个位置采集一张相干焦栈图像,获得一组相干焦栈图像;利用Tenengard算法计算每张所述相干焦栈图像的清晰度值,记最大清晰度值对应的相干焦栈图像的显微镜物镜位置为初始聚焦位置;

下一时刻,在所述初始聚焦位置处采集一张相干焦栈图像,计算所述相干焦栈图像的图像亮度特征和图像对比度特征;将所述相干焦栈图像分割成若干个大小相同的图像子块;

将所述初始聚焦位置、所述图像亮度特征、所述图像对比度特征和所述图像子块输入训练好的卷积神经网络模型进行测量,获得各个图像子块的焦点漂移距离;

从各个图像子块的焦点漂移距离中剔除异常值,然后计算图像子块的焦点漂移距离的平均值,所述平均值则为待测的显微图像焦点漂移距离。

2.如权利要求1所述的显微图像焦点漂移距离的测量方法,其特征在于,获取显微图像序列,包括:

在显微镜物镜的景深范围内,控制显微镜物镜以恒定速度等间距的沿显微镜Z轴移动,在显微镜物镜移动的每个位置采集一张相干焦栈图像和一张非相干焦栈图像,构成一组相干焦栈图像和一组非相干焦栈图像;

重复上一步骤,从若干个相互独立的细胞培养实验中采集多组相干焦栈图像和多组非相干焦栈图像;多组所述相干焦栈图像和多组所述非相干焦栈图像构成显微图像序列。

3.如权利要求1所述的显微图像焦点漂移距离的测量方法,其特征在于,计算每张所述非相干焦栈图像的径向平均对数功率谱值,计算公式如下:式中,F(u,v)为图像f(x,y)的傅里叶变换,x,y是图像f(x,y)的像素坐标,u,v为F(u,v)的频域坐标;M和N分别为频域变量u和v的最大值。

4.如权利要求1所述的显微图像焦点漂移距离的测量方法,其特征在于,根据所述径向平均对数功率谱值,获得显微镜物镜的聚焦位置的方法为:根据所述径向平均对数功率谱值,拟合非相干焦栈图像的清晰度曲线;

在所述清晰度曲线中寻找峰值,所述峰值对应的非相干焦栈图像的显微镜物镜在显微镜Z轴的位置为显微镜物镜的聚焦位置。

5.如权利要求1所述的显微图像焦点漂移距离的测量方法,其特征在于,根据所述聚焦位置,对每张所述相干焦栈图像进行标记的方法为:将在所述聚焦位置处采集的相干焦栈图像标记为0μm;

将其他张相干焦栈图像的采集位置距所述聚焦位置的Z轴距离作为焦点漂移距离,用所述焦点漂移距离标记对应的相干焦栈图像。

6.如权利要求1所述的显微图像焦点漂移距离的测量方法,其特征在于,利用所述训练集对预先构建的卷积神经网络模型进行训练,所述卷积神经网络模型依次包括三个卷积模块、两个全连接模块和一个回归层;

每个所述卷积模块依次包括一个卷积层、一个激活层和一个最大池化层;

每个所述全连接模块依次包括一个全连接层和一个dropout层;第一个所述全连接模块中的全连接层级联有显微图像的图像亮度特征、图像对比度特征以及前一个显微镜物镜视野的聚焦位置。

7.如权利要求6所述的显微图像焦点漂移距离的测量方法,其特征在于,所述图像亮度特征的计算方式为:

将显微图像从RGB颜色空间转换到HSV颜色空间;

在HSV颜色空间中,V分量为显微图像的亮度信息,通过计算所述V分量在整个显微图像中的平均值,得到显微图像的图像亮度特征;

所述图像对比度特征的计算公式如下:式中,i,j分别为相邻两个像素的灰度值;δ(i,j)为相邻像素间的灰度差;Pδ(i,j)为相邻像素间灰度差为δ的分布概率。

8.一种显微图像焦点漂移距离的测量系统,其特征在于,包括:图像获取模块,用于获取显微图像序列,所述显微图像序列包括若干相干焦栈图像和非相干焦栈图像;

聚焦位置获取模块,用于计算每张所述非相干焦栈图像的径向平均对数功率谱值,根据所述径向平均对数功率谱值,获得显微镜物镜的聚焦位置;

图像处理模块,用于根据所述聚焦位置,对每张所述相干焦栈图像进行标记;将标记后的相干焦栈图像划分为训练集和验证集;

模型训练模块,用于利用所述训练集对预先构建的卷积神经网络模型进行训练,利用所述验证集对训练后的卷积神经网络模型进行验证,获得训练好的卷积神经网络模型;

测量模块,用于利用训练好的卷积神经网络模型测量待测显微图像焦点漂移距离,测量方法为:

起始时刻,在待测的显微成像系统内,控制显微镜物镜以恒定速度等间距的沿显微镜Z轴移动,在显微镜物镜移动的每个位置采集一张相干焦栈图像,获得一组相干焦栈图像;利用Tenengard算法计算每张所述相干焦栈图像的清晰度值,记最大清晰度值对应的相干焦栈图像的显微镜物镜位置为初始聚焦位置;

下一时刻,在所述初始聚焦位置处采集一张相干焦栈图像,计算所述相干焦栈图像的图像亮度特征和图像对比度特征;将所述相干焦栈图像分割成若干个大小相同的图像子块;

将所述初始聚焦位置、所述图像亮度特征、所述图像对比度特征和所述图像子块输入训练好的卷积神经网络模型进行测量,获得各个图像子块的焦点漂移距离;

从各个图像子块的焦点漂移距离中剔除异常值,然后计算图像子块的焦点漂移距离的平均值,所述平均值则为待测的显微图像焦点漂移距离。

9.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1~7中任一项所述方法的步骤。

说明书 :

显微图像焦点漂移距离的测量方法及系统、计算机设备

技术领域

[0001] 本发明涉及显微成像技术领域,尤其是一种显微图像焦点漂移距离的测量方法及系统、计算机设备。

背景技术

[0002] 对于各种数字显微镜的高通量应用来说,在很长一段时间内维持显微图像的聚焦状态是一项关键的任务。许多生物实验涉及利用显微镜对样本进行长时间或大空间尺度的
显微成像,这使得样本很难持续聚焦。
[0003] 对于大空间尺度的显微成像应用,在扫描和拼接多个显微镜视野以形成高内容、高分辨率的显微图像时,由于样本形状的变化或载物台表面的不平整,需要对每个视野重
新聚焦来获得清晰的全视野图像。
[0004] 对于长时间的显微成像应用,在一段时间内(数小时或数天)观察一个样本时,由于热波动会引起焦点漂移现象,需要进行焦点漂移测量来保持连续聚焦状态。例如,在研究
细胞的动态过程中,活细胞显微成像是必不可少的技术,由于细胞的生长,介质的流动或温
度变化引起的涌动,成像的细胞样本随着时间从焦平面位置偏移,出现焦点漂移现象,为了
维持样本长时间的准确聚焦,需要进行焦点漂移测量,并进行实时校正,从而不断采集样本
的清晰显微图像。
[0005] 现有广泛使用的焦点漂移测量方法是基于激光器反射的方法,激光器发出的光束经过参考表面被反射回来,进而计算焦点的位置,该方法计算的是参考表面和物镜之间的
距离,而不是样本与物镜之间的距离,样本或容器壁厚度的任何变化会导致计算的焦点位
置发生错误。因此,急需一种快速、准确的焦点漂移测量方法。

发明内容

[0006] 本发明提供一种显微图像焦点漂移距离的测量方法及系统、计算机设备,用于克服现有技术中误差较大等缺陷。
[0007] 为实现上述目的,本发明提出一种显微图像焦点漂移距离的测量方法,包括:
[0008] 获取显微图像序列,所述显微图像序列包括若干相干焦栈图像和非相干焦栈图像;
[0009] 计算每张所述非相干焦栈图像的径向平均对数功率谱值,根据所述径向平均对数功率谱值,获得显微镜物镜的聚焦位置;
[0010] 根据所述聚焦位置,对每张所述相干焦栈图像进行标记;将标记后的相干焦栈图像划分为训练集和验证集;
[0011] 利用所述训练集对预先构建的卷积神经网络模型进行训练,利用所述验证集对训练后的卷积神经网络模型进行验证,获得训练好的卷积神经网络模型;
[0012] 利用训练好的卷积神经网络模型测量待测的显微图像焦点漂移距离。
[0013] 为实现上述目的,本发明还提出一种显微图像焦点漂移距离的测量系统,包括:
[0014] 图像获取模块,用于获取显微图像序列,所述显微图像序列包括若干相干焦栈图像和非相干焦栈图像;
[0015] 聚焦位置获取模块,用于计算每张所述非相干焦栈图像的径向平均对数功率谱值,根据所述径向平均对数功率谱值,获得显微镜物镜的聚焦位置;
[0016] 图像处理模块,用于根据所述聚焦位置,对每张所述相干焦栈图像进行标记;将标记后的相干焦栈图像划分为训练集和验证集;
[0017] 模型训练模块,用于利用所述训练集对预先构建的卷积神经网络模型进行训练,利用所述验证集对训练后的卷积神经网络模型进行验证,获得训练好的卷积神经网络模
型;
[0018] 测量模块,用于利用训练好的卷积神经网络模型测量待测显微图像焦点漂移距离。
[0019] 为实现上述目的,本发明还提出一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述所述方法的步骤。
[0020] 与现有技术相比,本发明的有益效果有:
[0021] 1、本发明提供的显微图像焦点漂移距离的测量方法,利用训练好的卷积神经网络模型对输入的显微图像进行焦点漂移距离的测量,输出的焦点漂移距离值可直接控制显微
镜物镜移动到清晰的聚焦位置,完成自动聚焦过程,采集到清晰的显微图像。本发明提供的
方法仅通过单幅图像即可实现焦点漂移距离的测量,速度快、精度高、卷积神经网络模型的
鲁棒性强。
[0022] 2、本发明提供的显微图像焦点漂移距离的测量方法,通过计算非相干焦栈图像的径向平均对数功率谱来获得显微镜物镜的聚焦位置,因为只有当显微镜物镜处于聚焦位置
时,显微图像的相干性才会降低,进而才能采集到清晰的显微图像。因此,本发明通过计算
非相干焦栈图像的径向平均对数功率谱来量化非相干焦栈图像的清晰度,从而可快速、准
确地找到显微镜物镜的聚焦位置。
[0023] 3、本发明提供的显微图像焦点漂移距离的测量方法,利用相干焦栈图像进行卷积神经网络模型的训练,因为在相干光源下采集的显微图像即使在失焦状态也能保持图像的
锐度特征,通过相干焦栈图像对卷积神经网络模型进行训练可使该卷积神经网络模型能将
显微图像的特征映射到正确的焦点漂移距离,而不需要考虑需采集显微图像的样本本身的
结构细节。

附图说明

[0024] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本
发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以
根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0025] 图1为本发明提供的显微图像焦点漂移距离的测量方法的流程图;
[0026] 图2为本发明实施例中采用的卷积神经网络模型的结构图。
[0027] 本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。

具体实施方式

[0028] 下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基
于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其
他实施例,都属于本发明保护的范围。
[0029] 另外,本发明各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种
技术方案的结合不存在,也不在本发明要求的保护范围之内。
[0030] 本发明提出一种显微图像焦点漂移距离的测量方法,如图1所示,包括:
[0031] 101:获取显微图像序列,所述显微图像序列包括若干相干焦栈图像和非相干焦栈图像;
[0032] 相干焦栈图像,在相干光源模式下采集得到。
[0033] 非相干焦栈图像,在非相干光源模式下采集得到。
[0034] 102:计算每张非相干焦栈图像的径向平均对数功率谱值,根据径向平均对数功率谱值,获得显微镜物镜的聚焦位置;
[0035] 图像的功率谱是指将图像进行傅里叶变换后,得到的傅里叶振幅谱的平方,进行对数运算,径向平均是指等长度的波矢量功率的平均值,是一个统计平均值。
[0036] 103:根据聚焦位置,对每张相干焦栈图像进行标记;将标记后的相干焦栈图像划分为训练集和验证集;
[0037] 104:利用训练集对预先构建的卷积神经网络模型进行训练,利用验证集对训练后的卷积神经网络模型进行验证,获得训练好的卷积神经网络模型;
[0038] 105:利用训练好的卷积神经网络模型测量待测的显微图像焦点漂移距离。
[0039] 在其中一个实施例中,对于步骤101,获取显微图像序列,包括:
[0040] 001:在显微镜物镜的景深范围内,控制显微镜物镜以恒定速度等间距的沿显微镜Z轴移动,在显微镜物镜移动的每个位置采集一张相干焦栈图像和一张非相干焦栈图像,构
成一组相干焦栈图像和一组非相干焦栈图像;
[0041] 002:重复上一步骤(即重复步骤001),从若干个相互独立的细胞培养实验中采集多组相干焦栈图像和多组非相干焦栈图像;多组相干焦栈图像和多组非相干焦栈图像构成
显微图像序列。
[0042] 在某个实施例中,以M个相互独立的细胞培养实验为样本,利用高通量显微镜采集N组焦栈图像。每组焦栈图像的采集方法为:
[0043] 控制显微镜物镜以恒定速度等间距的沿显微镜Z轴移动,在显微镜物镜移动的每个位置采集一张相干焦栈图像和一张非相干焦栈图像,构成一组相干焦栈图像和一组非相
干焦栈图像;本实施例中,Z轴焦距的跨度为60μm,步长为1μm,这样每组相干焦栈图像和每
组非相干焦栈图像均包括61张焦栈图像。
[0044] 本实施例中,所述高通量显微镜的光源采用一个可编程的准圆顶LED阵列,该LED阵列提供了一种灵活的光源模式切换方法。本实施例中采用两种光源模式:单个LED构成的
相干光源和多个LED灯构成的非相干光源,分别在这两种光源模式下采集N组焦栈图像,得
到N组相干焦栈图像和N组非相干焦栈图像。
[0045] 在下一个实施例中,对于步骤102,计算每张所述非相干焦栈图像的径向平均对数功率谱值P,计算公式如下:
[0046]
[0047] 式中,F(u,v)为图像f(x,y)的傅里叶变换,x,y是图像f(x,y)的像素坐标,u,v为F(u,v)的频域坐标;M和N分别为频域变量u和v的最大值。
[0048] 当显微镜物镜处于聚焦位置时,显微图像的相干性才会降低,进而才能采集到清晰的显微图像。因此,本实施例通过计算非相干焦栈图像的径向平均对数功率谱来量化非
相干焦栈图像的清晰度,从而可快速、准确地找到显微镜物镜的聚焦位置。
[0049] 在另一个实施例中,对于步骤102,根据径向平均对数功率谱值,获得显微镜物镜的聚焦位置的方法为:
[0050] 201:根据径向平均对数功率谱值,拟合非相干焦栈图像的清晰度曲线;
[0051] 202:在清晰度曲线中寻找峰值,所述峰值对应的非相干焦栈图像的显微镜物镜在显微镜Z轴的位置为显微镜物镜的聚焦位置。
[0052] 在下一个实施例中,对于步骤103,根据聚焦位置,对每张相干焦栈图像进行标记的方法为:
[0053] 301:将在聚焦位置处采集的相干焦栈图像标记为0μm;
[0054] 302:将其他张相干焦栈图像的采集位置距所述聚焦位置的Z轴距离作为焦点漂移距离,用所述焦点漂移距离标记对应的相干焦栈图像。
[0055] 本实施例中,将位于聚焦位置下方的采集位置采集的显微图像标记为负值,将位于聚焦位置上方的采集位置采集的显微图像标记为正值。
[0056] 在某个实施例中,对于步骤103,将标记后的相干焦栈图像划分为训练集和验证集,具体为:
[0057] 将标记后的相干焦栈图像随机划分为训练集和验证集,训练集占80%,验证集占20%。
[0058] 在某个实施例中,对于步骤104,预先构建的卷积神经网络模型中的第一个全连接模块中的全连接层级联有显微图像的图像亮度特征、图像对比度特征以及前一个显微镜物
镜视野的聚焦位置。
[0059] 本实施例采用的卷积神经网络模型在其第一个全连接模块中的全连接层级联有显微图像的图像亮度特征、图像对比度特征以及前一个显微镜物镜视野的聚焦位置。由于
卷积神经网络模型只能输入固定大小的图像,因此需先将显微图像分割成统一大小的图像
子块,再将该图像子块输入模型内进行测量,此时模型提取的图像子块特征缺失了对显微
图像的全局表示,因此本发明通过图像亮度特征和图像对比度特征来弥补显微图像全局信
息缺失,以提高本发明方法的精确度;此外,由于在连续的显微图像采集过程中,相邻的视
野之间需采集显微图像的样本状态变化极小,因此可利用前一个显微镜物镜视野的聚焦位
置来指导当前视野的聚焦位置测量,以提高测量的精度和准确性。
[0060] 在另一个实施例中,对于步骤104,利用训练集对预先构建的卷积神经网络模型进行训练,所述卷积神经网络模型如图2所示,依次包括三个卷积模块(c1、c2、c3)、两个全连
接模块(f1、f2)和一个回归层(Regression output);
[0061] 每个卷积模块依次包括一个卷积层、一个激活层和一个最大池化层;本实施例中,卷积层(conv1、conv2、conv3)的卷积核尺寸均为10×10,步长为1;激活层(activate1、
activate2、activate3)均采用非线性校准单元(ReLU)对卷积层的输出进行非线性处理;最
大池化层(maxpool1、maxpool2、maxpool3)的卷积核尺寸均为5×5,步长为5;
[0062] 每个所述全连接模块依次包括一个全连接层和一个dropout层;第一个所述全连接模块(f1)中的全连接层(fc1)级联有显微图像的图像亮度特征Vf、图像对比度特征Cf以及
前一个显微镜物镜视野的聚焦位置Ff。本实施例中,dropout1层和dropout2层的概率分别
为0.7和0.5;
[0063] 本实施例中,回归层为卷积神经网络模型的输出层,用于输出显微图像的焦点漂移距离。
[0064] 本实施例中,在将训练集和验证集输入卷积神经网络模型之前,需先将训练集和验证集中的每张相干焦栈图像分割成互不重叠的大小为224×224的若干个图像子块,再将
训练集中的图像子块分成多个图像集(每个图像集包含10~50张图像子块),将训练集中的
多个图像集输入神经网络进行训练;然后将验证集中的图像子块分成多个图像集(每个图
像集包含10~50张图像子块),将验证集中的多个图像集输入神经网络进行验证。
[0065] 在另一个实施例中,图像亮度特征Vf的计算方式为:
[0066] 将显微图像从RGB颜色空间转换到HSV颜色空间;
[0067] 在HSV颜色空间中,V分量为显微图像的亮度信息,通过计算所述V分量在整个显微图像中的平均值,得到显微图像的图像亮度特征;
[0068] 所述图像对比度特征Cf的计算公式如下:
[0069]
[0070] 式中,i,j分别为相邻两个像素的灰度值;δ(i,j)为相邻像素间的灰度差;Pδ(i,j)为相邻像素间灰度差为δ的分布概率。
[0071] 本实施例中,对于训练集和验证集,手动标注每张相干焦栈图像的前一个显微镜物镜视野的聚焦位置Ff。
[0072] 在某一实施例中,卷积神经网络模型的具体训练过程为:
[0073] 将训练集中的相干焦栈图像分割成互不重叠的大小为224×224的若干个图像子块。将这些图像子块组成多个图像集(每个图像集包含10~50张图像子块),将这些图像集
依次输入卷积神经网络进行训练。
[0074] 利用均值为0、标准差为0.1的随机高斯分布初始化卷积神经网络模型的权值,偏置最初设置为0.1,利用随机梯度下降法(SGM)对卷积神经网络模型的权值进行学习,使卷
积神经网络模型输出的焦点漂移距离与实际焦点漂移距离之间的差异最小化。设定初始学
‑4
习率为10 ,本实施例采取边训练边验证的策略,当输入验证集后模型输出的错误开始增加
时,模型训练终止。
[0075] 为了增加训练模型的鲁棒性,对采集的显微图像,提取其中心区域的1120×1120大小的感兴趣区域,将该感兴趣区域分割成若干个224×224大小的图像子块,进行模型的
训练。这样的好处是:采集到的显微图像包含大量的空白区域,这些空白区域会影响模型的
训练精度,考虑到显微图像内容丰富的区域主要在其中心区域,故分割出中心区域进行模
型训练,以提高模型的精度。
[0076] 在下一个实施例中,对于步骤105,利用训练好的卷积神经网络模型测量待测的显微图像焦点漂移距离的测量方法为:
[0077] 501:起始时刻,在待测的显微成像系统内,控制显微镜物镜以恒定速度等间距的沿显微镜Z轴移动,在显微镜物镜移动的每个位置采集一张相干焦栈图像,获得一组相干焦
栈图像;利用Tenengard算法计算每张所述相干焦栈图像的清晰度值,记最大清晰度值对应
的相干焦栈图像的显微镜物镜位置为初始聚焦位置F0;
[0078] 502:下一时刻,在初始聚焦位置F0处采集一张相干焦栈图像,计算该相干焦栈图像的图像亮度特征Vf和图像对比度特征Cf;将该相干焦栈图像分割成若干个大小相同的图
像子块;
[0079] 503:将初始聚焦位置F0、图像亮度特征Vf、图像对比度特征Cf和图像子块输入训练好的卷积神经网络模型进行测量,获得各个图像子块的焦点漂移距离;
[0080] 504:从各个图像子块的焦点漂移距离中剔除异常值,然后计算图像子块的焦点漂移距离的平均值,所述平均值则为待测的显微图像焦点漂移距离。
[0081] 选择剔除异常值的原因是,有些图像子块包含的区域大部分是空白区域,那么这些图像子块的预测结果是不可靠的,进而会导致整个图像的测量结果发生错误。
[0082] 本发明还提出一种显微图像焦点漂移距离的测量系统,包括:
[0083] 图像获取模块,用于获取显微图像序列,所述显微图像序列包括若干相干焦栈图像和非相干焦栈图像;
[0084] 聚焦位置获取模块,用于计算每张所述非相干焦栈图像的径向平均对数功率谱值,根据所述径向平均对数功率谱值,获得显微镜物镜的聚焦位置;
[0085] 图像处理模块,用于根据所述聚焦位置,对每张所述相干焦栈图像进行标记;将标记后的相干焦栈图像划分为训练集和验证集;
[0086] 模型训练模块,用于利用所述训练集对预先构建的卷积神经网络模型进行训练,利用所述验证集对训练后的卷积神经网络模型进行验证,获得训练好的卷积神经网络模
型;
[0087] 测量模块,用于利用训练好的卷积神经网络模型测量待测显微图像焦点漂移距离。
[0088] 本发明还提出一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述所述方法的步骤。
[0089] 以上所述仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是在本发明的发明构思下,利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用
在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。