本发明公开了一种半导体纳米材料热输运性质测试方法，包括：由具有无线通信功能的半导体纳米材料热输运性质测试装置对半导体材料的热输运性质进行测试，并得到测试数据；与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接；接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置；接收由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的参考信号；判断参考信号的接收功率是否大于门限值；如果判断参考信号的接收功率大于门限值，则向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通知消息；由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息；由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收发送的测试数据。
1.一种半导体纳米材料热输运性质测试方法，其特征在于，所述半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：
由具有无线通信功能的半导体纳米材料热输运性质测试装置对半导体材料的热输运性质进行测试，并得到测试数据；
由半导体纳米材料热输运性质测试装置与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接；
响应于与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置；
响应于接收到由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的参考信号；
响应于接收到所述由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的参考信号，由半导体纳米材料热输运性质测试装置判断所述参考信号的接收功率是否大于门限值；
如果判断所述参考信号的接收功率大于门限值，则由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通知消息；
响应于接收到通知消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息；
响应于接收到所述询问消息，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据；
如果判断能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据，则由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送准许消息；
响应于接收到所述准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述半导体纳米材料热输运性质测试装置发送所述准许消息；
响应于接收到所述准许消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置同时与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，所述半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：
响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送所述测试数据；
响应于接收到所述测试数据，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向科研中心服务器发送所述测试数据；
响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置继续接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置；
响应于接收到由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的第二参考信号以及由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的第一参考信号；
响应于接收到所述第一参考信号以及所述第二参考信号，由半导体纳米材料热输运性质测试装置确定所述第一参考信号的第一接收功率以及所述第二参考信号的第二接收功率；
由半导体纳米材料热输运性质测试装置比较所述第一接收功率与所述第二接收功率；
如果所述第二接收功率大于所述第一接收功率，则由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送切换消息，所述半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：响应于接收到所述切换消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息；
响应于接收到所述询问消息，由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据；
如果判断能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据，则由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送第二准许消息；
响应于接收到所述第二准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述半导体纳米材料热输运性质测试装置发送所述准许消息；
响应于接收到所述准许消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置与第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，所述半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：响应于接收到所述第二准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信释放消息；
响应于接收到所述通信释放消息，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信释放响应消息；
响应于接收到所述通信释放响应消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述半导体纳米材料热输运性质测试装置发送通信连接改变消息；
响应于接收到所述通信连接改变消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置断开与所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端的通信连接；
响应于与所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端的通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信连接改变响应消息，
所述半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：响应于与第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，并且与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端断开通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送所述测试数据；
响应于接收到所述测试数据，由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端向科研中心服务器发送所述测试数据。
2.一种半导体纳米材料热输运性质测试系统，其特征在于，所述半导体纳米材料热输运性质测试系统包括：
用于由具有无线通信功能的半导体纳米材料热输运性质测试装置对半导体材料的热输运性质进行测试，并得到测试数据的单元；
用于由半导体纳米材料热输运性质测试装置与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接的单元；
用于响应于与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置的单元；
用于响应于接收到由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的参考信号的单元；
用于响应于接收到所述由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的参考信号，由半导体纳米材料热输运性质测试装置判断所述参考信号的接收功率是否大于门限值的单元；
用于如果判断所述参考信号的接收功率大于门限值，则由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通知消息的单元；
用于响应于接收到通知消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息的单元；
用于响应于接收到所述询问消息，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据的单元；
用于如果判断能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据，则由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送准许消息；
用于响应于接收到所述准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述半导体纳米材料热输运性质测试装置发送所述准许消息的单元；
用于响应于接收到所述准许消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置同时与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接的单元，所述半导体纳米材料热输运性质测试系统包括：用于响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送所述测试数据的单元；
用于响应于接收到所述测试数据，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向科研中心服务器发送所述测试数据的单元；
用于响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置继续接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置的单元；
用于响应于接收到由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的第二参考信号以及由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的第一参考信号的单元；
用于响应于接收到所述第一参考信号以及所述第二参考信号，由半导体纳米材料热输运性质测试装置确定所述第一参考信号的第一接收功率以及所述第二参考信号的第二接收功率的单元；
用于由半导体纳米材料热输运性质测试装置比较所述第一接收功率与所述第二接收功率的单元；
用于如果所述第二接收功率大于所述第一接收功率，则由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送切换消息的单元，所述半导体纳米材料热输运性质测试系统包括：用于响应于接收到所述切换消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息的单元；
用于响应于接收到所述询问消息，由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据的单元；
用于如果判断能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据，则由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送第二准许消息的单元；
用于响应于接收到所述第二准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述半导体纳米材料热输运性质测试装置发送所述准许消息的单元；
用于响应于接收到所述准许消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置与第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接的单元，所述半导体纳米材料热输运性质测试系统包括：用于响应于接收到所述第二准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信释放消息的单元；
用于响应于接收到所述通信释放消息，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信释放响应消息的单元；
用于响应于接收到所述通信释放响应消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述半导体纳米材料热输运性质测试装置发送通信连接改变消息的单元；
用于响应于接收到所述通信连接改变消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置断开与所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端的通信连接的单元；
用于响应于与所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端的通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信连接改变响应消息的单元，所述半导体纳米材料热输运性质测试系统包括：用于响应于与第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，并且与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端断开通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送所述测试数据的单元；
用于响应于接收到所述测试数据，由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端向科研中心服务器发送所述测试数据的单元。
一种半导体纳米材料热输运性质测试系统
技术领域
[0001] 本发明是关于半导体纳米材料测试技术领域，特别是关于一种半导体纳米材料热输运性质测试系统。
背景技术
[0002] 纳米半导体材料是将硅、砷化镓等半导体材料制成的纳米材料，具有许多优异性能。例如，纳米半导体材料中的量子隧道效应使某些半导体材料的电子输运反常、导电率降
低，电导热系数也随颗粒尺寸的减小而下降，甚至出现负值。这些特性在大规模集成电路器
件、光电器件等领域发挥重要的作用。
[0003] 现有技术CN109298735A公开了一种差示扫描量热仪恒速升温过程的前馈‑反馈复合控制方法，设计前馈控制器，得到前馈控制器的输出值；划分温度空间生成若干温度子空
间，对温度子空间设计炉温PID控制器，采集并判断当前时刻温度测量所属的温度子区间，
计算当前时刻PID控制器的控制参数；计算温度控制偏差，得到PID控制器的输出值；输出温
度控制信号，控制炉内温度的变化。
[0004] 公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在增加对本发明的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。
发明内容
[0005] 本发明的目的在于提供一种半导体纳米材料热输运性质测试系统，其能够克服现有技术的缺点。
[0006] 为实现上述目的，本发明提供了一种半导体纳米材料热输运性质测试方法，其特征在于，半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：
[0007] 由具有无线通信功能的半导体纳米材料热输运性质测试装置对半导体材料的热输运性质进行测试，并得到测试数据；
[0008] 由半导体纳米材料热输运性质测试装置与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接；
[0009] 响应于与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测
量配置；
[0010] 响应于接收到由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端
发送的参考信号；
[0011] 响应于接收到由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的参考信号，由半导体纳米材料热输运性质测试装置判断参考信号的接收功率是否大于门限值；
[0012] 如果判断参考信号的接收功率大于门限值，则由半导体纳米材料热输运性质测试装置向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通知消息；
[0013] 响应于接收到通知消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息；
[0014] 响应于接收到询问消息，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据；
[0015] 如果判断能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据，则由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终
端发送准许消息；
[0016] 响应于接收到准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向半导体纳米材料热输运性质测试装置发送准许消息；
[0017] 响应于接收到准许消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置同时与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接。
[0018] 在一优选的实施方式中，半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：
[0019] 响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置向第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送测试数据；
[0020] 响应于接收到测试数据，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向科研中心服务器发送测试数据；
[0021] 响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置继续接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送
的测量配置；
[0022] 响应于接收到由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端
发送的第二参考信号以及由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的第一参考
信号；
[0023] 响应于接收到第一参考信号以及第二参考信号，由半导体纳米材料热输运性质测试装置确定第一参考信号的第一接收功率以及第二参考信号的第二接收功率；
[0024] 由半导体纳米材料热输运性质测试装置比较第一接收功率与第二接收功率；
[0025] 如果第二接收功率大于第一接收功率，则由半导体纳米材料热输运性质测试装置向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送切换消息。
[0026] 在一优选的实施方式中，半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：
[0027] 响应于接收到切换消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息；
[0028] 响应于接收到询问消息，由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据；
[0029] 如果判断能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据，则由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终
端发送第二准许消息；
[0030] 响应于接收到第二准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向半导体纳米材料热输运性质测试装置发送准许消息；
[0031] 响应于接收到准许消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置与第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接。
[0032] 在一优选的实施方式中，半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：
[0033] 响应于接收到第二准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信释放消息；
[0034] 响应于接收到通信释放消息，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信释放响应消息；
[0035] 响应于接收到通信释放响应消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向半导体纳米材料热输运性质测试装置发送通信连接改变消息；
[0036] 响应于接收到通信连接改变消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置断开与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端的通信连接；
[0037] 响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端的通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信连接改
变响应消息。
[0038] 在一优选的实施方式中，半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：
[0039] 响应于与第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，并且与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端断开通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试
装置向第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送测试数据；
[0040] 响应于接收到测试数据，由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端向科研中心服务器发送测试数据。
[0041] 本发明提供了一种半导体纳米材料热输运性质测试系统，其特征在于，半导体纳米材料热输运性质测试系统包括：
[0042] 用于由具有无线通信功能的半导体纳米材料热输运性质测试装置对半导体材料的热输运性质进行测试，并得到测试数据的单元；
[0043] 用于由半导体纳米材料热输运性质测试装置与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接的单元；
[0044] 用于响应于与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送
的测量配置的单元；
[0045] 用于响应于接收到由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第二半导体纳米材料测试中心数据收集
终端发送的参考信号的单元；
[0046] 用于响应于接收到由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的参考信号，由半导体纳米材料热输运性质测试装置判断参考信号的接收功率是否大于门限值的单
元；
[0047] 用于如果判断参考信号的接收功率大于门限值，则由半导体纳米材料热输运性质测试装置向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通知消息的单元；
[0048] 用于响应于接收到通知消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息的单元；
[0049] 用于响应于接收到询问消息，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据的单元；
[0050] 用于如果判断能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据，则由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第一半导体纳米材料测试中心数据收
集终端发送准许消息；
[0051] 用于响应于接收到准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向半导体纳米材料热输运性质测试装置发送准许消息的单元；
[0052] 用于响应于接收到准许消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置同时与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接的单元。
[0053] 在一优选的实施方式中，半导体纳米材料热输运性质测试系统包括：
[0054] 用于响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置向第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送测试
数据的单元；
[0055] 用于响应于接收到测试数据，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向科研中心服务器发送测试数据的单元；
[0056] 用于响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置继续接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端
发送的测量配置的单元；
[0057] 用于响应于接收到由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第三半导体纳米材料测试中心数据收集
终端发送的第二参考信号以及由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的第一
参考信号的单元；
[0058] 用于响应于接收到第一参考信号以及第二参考信号，由半导体纳米材料热输运性质测试装置确定第一参考信号的第一接收功率以及第二参考信号的第二接收功率的单元；
[0059] 用于由半导体纳米材料热输运性质测试装置比较第一接收功率与第二接收功率的单元；
[0060] 用于如果第二接收功率大于第一接收功率，则由半导体纳米材料热输运性质测试装置向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送切换消息的单元。
[0061] 在一优选的实施方式中，半导体纳米材料热输运性质测试系统包括：
[0062] 用于响应于接收到切换消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息的单元；
[0063] 用于响应于接收到询问消息，由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据的单元；
[0064] 用于如果判断能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据，则由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第一半导体纳米材料测试中心数据收
集终端发送第二准许消息的单元；
[0065] 用于响应于接收到第二准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向半导体纳米材料热输运性质测试装置发送准许消息的单元；
[0066] 用于响应于接收到准许消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置与第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接的单元。
[0067] 在一优选的实施方式中，半导体纳米材料热输运性质测试系统包括：
[0068] 用于响应于接收到第二准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信释放消息的单元；
[0069] 用于响应于接收到通信释放消息，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信释放响应消息的单元；
[0070] 用于响应于接收到通信释放响应消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向半导体纳米材料热输运性质测试装置发送通信连接改变消息的单元；
[0071] 用于响应于接收到通信连接改变消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置断开与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端的通信连接的单元；
[0072] 用于响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端的通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信连
接改变响应消息的单元。
[0073] 在一优选的实施方式中，半导体纳米材料热输运性质测试系统包括：
[0074] 用于响应于与第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，并且与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端断开通信连接，由半导体纳米材料热输运性质
测试装置向第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送测试数据的单元；
[0075] 用于响应于接收到测试数据，由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端向科研中心服务器发送测试数据的单元。
[0076] 与现有技术相比，本发明具有如下优点，目前半导体材料的热输运性质的测定一般都是由DSC完成的，目前DSC仪器都是一台机器主题配套一台具有专用软件(软件功能包
括DSC的控制以及数据记录的功能)的计算机。这种配置在目前大学的使用过程中带来很多
问题：首先，目前的DSC都需要现场控制和监控，由于DSC测试有时升温温度比较高，等待降
温的时间就比较长，这就造成很多实验员工作比较辛苦，经常需要在实验室熬夜。其次，实
验结果都是实验主体使用U盘到计算机上拷贝，这就造成计算机电脑病毒和保密等等一系
列问题，为了解决这个问题，很多实验室又专门规定不许使用U盘，只能使用光盘拷贝数据
的规定。然而，使用光盘又带来很多其它问题(例如光盘成本问题，而且目前很多计算机根
本不配备光驱，所以实验人员还需要专门购买光驱以便读取数据，这些都造成了很多实验
人员的极大困扰)；最后，由于很多人员都能够在电脑上进行操作，这就导致一些不可避免
的误删除。本申请提出了一种半导体纳米材料热输运性质测试系统，本申请能够将测试数
据远程传输到服务器，实验人员可以通过服务器拷贝数据，而服务器防火墙技术已经非常
成熟，保证了保密要求，同时本申请的系统还使得远程控制DSC仪器成为可能。
附图说明
[0077] 图1是根据本发明一实施方式的方法流程图。
具体实施方式
[0078] 下面结合附图，对本发明的具体实施方式进行详细描述，但应当理解本发明的保护范围并不受具体实施方式的限制。
[0079] 除非另有其它明确表示，否则在整个说明书和权利要求书中，术语“包括”或其变换如“包含”或“包括有”等等将被理解为包括所陈述的元件或组成部分，而并未排除其它元
件或其它组成部分。
[0080] 图1是根据本发明一实施方式的方法流程图。如图所示，本发明的方法包括如下步骤：
[0081] 步骤101：由具有无线通信功能的半导体纳米材料热输运性质测试装置(例如具有无线通信功能的DSC仪器)对半导体材料的热输运性质进行测试，并得到测试数据；
[0082] 步骤102：由半导体纳米材料热输运性质测试装置与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端(例如置于实验室之内的用于接收数据的装置)建立通信连接；
[0083] 步骤103：响应于与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端
发送的测量配置；
[0084] 步骤104：响应于接收到由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第二半导体纳米材料测试中心数据
收集终端发送的参考信号；
[0085] 步骤105：响应于接收到由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的参考信号，由半导体纳米材料热输运性质测试装置判断参考信号的接收功率是否大于门限
值；
[0086] 步骤106：如果判断参考信号的接收功率大于门限值，则由半导体纳米材料热输运性质测试装置向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通知消息；
[0087] 步骤107：响应于接收到通知消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息；
[0088] 步骤108：响应于接收到询问消息，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据；
[0089] 步骤109：如果判断能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据，则由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第一半导体纳米材料测试中心数
据收集终端发送准许消息；
[0090] 步骤110：响应于接收到准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向半导体纳米材料热输运性质测试装置发送准许消息；
[0091] 步骤111：响应于接收到准许消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置同时与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接。
[0092] 在一优选的实施方式中，半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：
[0093] 响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置向第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送测试数据；
[0094] 响应于接收到测试数据，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向科研中心服务器发送测试数据；
[0095] 响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置继续接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送
的测量配置；
[0096] 响应于接收到由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端
发送的第二参考信号以及由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的第一参考
信号；
[0097] 响应于接收到第一参考信号以及第二参考信号，由半导体纳米材料热输运性质测试装置确定第一参考信号的第一接收功率以及第二参考信号的第二接收功率；
[0098] 由半导体纳米材料热输运性质测试装置比较第一接收功率与第二接收功率；
[0099] 如果第二接收功率大于第一接收功率，则由半导体纳米材料热输运性质测试装置向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送切换消息。
[0100] 在一优选的实施方式中，半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：
[0101] 响应于接收到切换消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息；
[0102] 响应于接收到询问消息，由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据；
[0103] 如果判断能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据，则由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终
端发送第二准许消息；
[0104] 响应于接收到第二准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向半导体纳米材料热输运性质测试装置发送准许消息；
[0105] 响应于接收到准许消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置与第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接。
[0106] 在一优选的实施方式中，半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：
[0107] 响应于接收到第二准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信释放消息；
[0108] 响应于接收到通信释放消息，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信释放响应消息；
[0109] 响应于接收到通信释放响应消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向半导体纳米材料热输运性质测试装置发送通信连接改变消息；
[0110] 响应于接收到通信连接改变消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置断开与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端的通信连接；
[0111] 响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端的通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信连接改
变响应消息。
[0112] 在一优选的实施方式中，半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：
[0113] 响应于与第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，并且与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端断开通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试
装置向第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送测试数据；
[0114] 响应于接收到测试数据，由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端向科研中心服务器发送测试数据。
[0115] 本发明提供了一种半导体纳米材料热输运性质测试系统，其特征在于，半导体纳米材料热输运性质测试系统包括：
[0116] 用于由具有无线通信功能的半导体纳米材料热输运性质测试装置对半导体材料的热输运性质进行测试，并得到测试数据的单元；
[0117] 用于由半导体纳米材料热输运性质测试装置与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接的单元；
[0118] 用于响应于与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送
的测量配置的单元；
[0119] 用于响应于接收到由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第二半导体纳米材料测试中心数据收集
终端发送的参考信号的单元；
[0120] 用于响应于接收到由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的参考信号，由半导体纳米材料热输运性质测试装置判断参考信号的接收功率是否大于门限值的单
元；
[0121] 用于如果判断参考信号的接收功率大于门限值，则由半导体纳米材料热输运性质测试装置向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通知消息的单元；
[0122] 用于响应于接收到通知消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息的单元；
[0123] 用于响应于接收到询问消息，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据的单元；
[0124] 用于如果判断能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据，则由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第一半导体纳米材料测试中心数据收
集终端发送准许消息；
[0125] 用于响应于接收到准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向半导体纳米材料热输运性质测试装置发送准许消息的单元；
[0126] 用于响应于接收到准许消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置同时与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接的单元。
[0127] 在一优选的实施方式中，半导体纳米材料热输运性质测试系统包括：
[0128] 用于响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置向第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送测试
数据的单元；
[0129] 用于响应于接收到测试数据，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向科研中心服务器发送测试数据的单元；
[0130] 用于响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置继续接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端
发送的测量配置的单元；
[0131] 用于响应于接收到由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第三半导体纳米材料测试中心数据收集
终端发送的第二参考信号以及由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的第一
参考信号的单元；
[0132] 用于响应于接收到第一参考信号以及第二参考信号，由半导体纳米材料热输运性质测试装置确定第一参考信号的第一接收功率以及第二参考信号的第二接收功率的单元；
[0133] 用于由半导体纳米材料热输运性质测试装置比较第一接收功率与第二接收功率的单元；
[0134] 用于如果第二接收功率大于第一接收功率，则由半导体纳米材料热输运性质测试装置向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送切换消息的单元。
[0135] 在一优选的实施方式中，半导体纳米材料热输运性质测试系统包括：
[0136] 用于响应于接收到切换消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息的单元；
[0137] 用于响应于接收到询问消息，由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据的单元；
[0138] 用于如果判断能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据，则由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第一半导体纳米材料测试中心数据收
集终端发送第二准许消息的单元；
[0139] 用于响应于接收到第二准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向半导体纳米材料热输运性质测试装置发送准许消息的单元；
[0140] 用于响应于接收到准许消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置与第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接的单元。
[0141] 在一优选的实施方式中，半导体纳米材料热输运性质测试系统包括：
[0142] 用于响应于接收到第二准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信释放消息的单元；
[0143] 用于响应于接收到通信释放消息，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信释放响应消息的单元；
[0144] 用于响应于接收到通信释放响应消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向半导体纳米材料热输运性质测试装置发送通信连接改变消息的单元；
[0145] 用于响应于接收到通信连接改变消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置断开与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端的通信连接的单元；
[0146] 用于响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端的通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信连
接改变响应消息的单元。
[0147] 在一优选的实施方式中，半导体纳米材料热输运性质测试系统包括：
[0148] 用于响应于与第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，并且与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端断开通信连接，由半导体纳米材料热输运性质
测试装置向第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送测试数据的单元；
[0149] 用于响应于接收到测试数据，由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端向科研中心服务器发送测试数据的单元。
[0150] 本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实
施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机
可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD‑ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产
品的形式。
[0151] 本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流
程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序
指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产
生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实
现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
[0152] 这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指
令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或
多个方框中指定的功能。
[0153] 这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或
其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一
个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
[0154] 前述对本发明的具体示例性实施方案的描述是为了说明和例证的目的。这些描述并非想将本发明限定为所公开的精确形式，并且很显然，根据上述教导，可以进行很多改变
和变化。对示例性实施例进行选择和描述的目的在于解释本发明的特定原理及其实际应
用，从而使得本领域的技术人员能够实现并利用本发明的各种不同的示例性实施方案以及
各种不同的选择和改变。本发明的范围意在由权利要求书及其等同形式所限定。
