存储器单粒子效应的动态测试结果的数据处理方法及装置

摘要

本申请公开了一种存储器单粒子效应的动态测试结果的数据处理方法，包括：获取所述存储器单粒子效应的动态测试结果；将所述动态测试结果中的错误数据按所述存储器的读周期逐行保存为二维数组，一个读周期对应于所述二维数组中的一行；对所述二维数组中的元素从最后一行开始按行遍历排查，删除每一行中相对上一行中重复出现的元素，得到第一数组。通常本申请所述的数据处理方法，可以对存储器单粒子效应动态测试结果中大量重复出现的错误数据进行删减,从而有效缩减测试结果的数据量，以方便对结果数据的后续处理和传输。

权利要求

1.存储器单粒子效应的动态测试结果的数据处理方法，其特征在于，包括：获取所述存储器单粒子效应的动态测试结果；

将所述动态测试结果中的错误数据按所述存储器的读周期逐行保存为二维数组，一个读周期对应于所述二维数组中的一行；

对所述二维数组中的元素从最后一行开始按行遍历排查，删除每一行中相对上一行中重复出现的元素，得到第一数组。

2.根据权利要求1所述的数据处理方法，其特征在于，所述将所述动态测试结果中的错误数据按所述存储器的读周期逐行保存为二维数组，包括：获取所述动态测试结果中所述存储器的读周期数M；

获取所述存储器的每个读周期的错误数据的个数Ni，i＝1、2、3…M；

将M个Ni中的最大数赋值给N；

建立M行N列的二维数组；

将所述动态测试结果中的错误数据按所述存储器的读周期逐行保存到所述M行N列的二维数组。

3.根据权利要求2所述的数据处理方法，其特征在于，所述确定所述动态测试结果中所述存储器的读周期数M，包括：定义m＝0；

对所述动态测试结果从头遍历排查，当读取到所述存储器的读周期的结束标志时，m值自动加1；

对所述动态测试结果遍历排查结束后，将最后的m值赋值给所述读周期数M。

4.根据权利要求3所述的数据处理方法，其特征在于，所述对所述动态测试结果从头遍历排查，当读取到所述存储器的读周期的结束标志时，m值自动加1，包括：利用readline()函数从头逐行识读所述动态测试结果；

当所述readline()函数识读出所述结束标志时，所述m值自动加1。

5.根据权利要求2所述的数据处理方法，其特征在于，所述将所述动态测试结果中的错误数据按所述存储器的读周期逐行保存到所述M行N列的二维数组，包括：定义i＝1；

对所述动态测试结果中的错误数据按所述存储器的读周期逐周期提取，将提取出的第i读周期的全部所述错误数据，按位逐一保存到所述M行N列的二维数组的第i行，i值自动加

1，

重复上述提取和保存的过程，直到i＝M。

6.根据权利要求5所述的数据处理方法，其特征在于，所述对所述动态测试结果中的错误数据按所述存储器的读周期逐周期扫描提取，将提取出的第i读周期的全部所述错误数据，按位逐一保存到所述M行N列的二维数组的第i行，包括：利用find()函数提取第i读周期中的全部所述错误数据，并确定第i读周期中全部所述错误数据的个数Ni；

将Ni个所述错误数据按位逐一保存到所述M行N列的二维数组的第i行。

7.根据权利要求1所述的数据处理方法，其特征在于，还包括：对所述二维数组中的元素从第一行开始向下按行遍历排查，删除每一行中相对下一行中相同的元素，得到第二数组；

将所述第二数组中的全部所述错误数据逐一与所述第一数组的全部所述错误数据进行对比；

对所述第一数组中与所述第二数组中相同的所述错误数据进行标记。

8.存储器单粒子效应的动态测试结果的数据处理装置，其特征在于，包括：测试结果获取模块，用于获取所述存储器单粒子效应的动态测试结果；

错误数据保存模块，用于将所述动态测试结果中的错误数据按所述存储器的读周期逐行保存为二维数组，一个读周期对应于所述二维数组中的一行；

数组排查删除模块，用于对所述二维数组中的元素从最后一行开始按行遍历排查，删除每一行中相对上一行中重复出现的元素。

9.一种电子设备，其特征在于，包括存储器和处理器；所述存储器，用于存储计算机程序；所述处理器，用于当执行所述计算机程序时，实现如权利要求1-8任一项所述的数据处理方法。

10.计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有计算机程序，当所述计算机程序被处理器执行时，实现如权利要求1-8任一项所述的数据处理方法。

说明书

存储器单粒子效应的动态测试结果的数据处理方法及装置

技术领域

[0001] 本申请涉及电子器件单粒子效应测试技术领域，尤其涉及一种存储器单粒子效应的动态测试结果的数据处理方法及装置。

背景技术

[0002] 电子元器件应用到航天航空器之前都要对其进行抗辐射性能评估与研究。据统计航天器中约70％的电子元器件损坏是由单粒子效应导致，单粒子效应(Single Event Effect,动态)造成的危害在辐射效应中占比最大。单粒子效应是指在空间辐射环境中，单个高能粒子如重离子、质子、中子或α粒子入射到器件中，与内部的材料产生相互作用并在灵敏区域内沉积能量，使器件发生短暂或永久性的功能损坏和逻辑变化。

[0003] 在电子元器件中，存储器的使用最为广泛和基础。航天器的集成电路和系统中，需要各种存储器来存储指令和数据，可以说有数据传输的地方就有存储器的存在。因此对存储器开展抗辐照性能测试，特别是单粒子效应测试，有着巨大的科研意义和经济价值。

[0004] 存储器的单粒子效应测试方法一般分为静态测试和动态测试。

[0005] 静态测试是指先向存储器中写入数据，然后让器件在辐照源下辐照一段时间，辐照结束后通常只需要获取一次读出数据并与辐照前的写入数据进行比较。将发生变化的数据称为“错误数据”，统计发生错误的地址与个数。

[0006] 动态测试是指首先向存储器中写入数据，然后在辐照的过程中连续从存储器中多次读出数据并做比较，测试系统连续将每次读出的错误数据记录下来直到辐照结束。

[0007] 由此可见，动态测试产生的数据量要比静态测试多。而且在实际测试过程中，为了得到单个粒子的测试效果，要求存储器的读出速度尽可能快、读数据间隔尽可能短，从而更使得动态测试得到的数据量会相比静态测试产生的数据发生暴涨。

发明内容

[0008] (一)发明目的

[0009] 本申请要解决的技术问题是提供一种存储器单粒子效应动态测试结果的数据处理方法，用以克服动态测试过程中数据暴涨导致的数据量过大的问题。

[0010] (二)技术方案

[0011] 第一方面，本申请实施例提供的存储器单粒子效应的动态测试结果的数据处理方法，包括：

[0012] 获取所述存储器单粒子效应的动态测试结果；

[0013] 将所述动态测试结果中的错误数据按所述存储器的读周期逐行保存为二维数组，一个读周期对应于所述二维数组中的一行；

[0014] 对所述二维数组中的元素从最后一行开始按行遍历排查，删除每一行中相对上一行中重复出现的元素，得到第一数组。

[0015] 第二方面，本申请实施例提供的存储器单粒子效应的动态测试结果的数据处理装置，包括：

[0016] 测试结果获取模块，用于获取所述存储器单粒子效应的动态测试结果；

[0017] 错误数据保存模块，用于将所述动态测试结果中的错误数据按所述存储器的读周期逐行保存为二维数组，一个读周期对应于所述二维数组中的一行；

[0018] 数组排查删除模块，用于对所述二维数组中的元素从最后一行开始按行遍历排查，删除每一行中相对上一行中重复出现的元素。

[0019] 第三方面，本申请实施例提供的一种电子设备，包括存储器和处理器；所述存储器，用于存储计算机程序；所述处理器，用于当执行所述计算机程序时，实现上述第一方面所述的数据处理方法。

[0020] 第四方面，本申请实施例提供的计算机可读存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，当所述计算机程序被处理器执行时，实现上述第一方面所述的数据处理方法。

[0021] (三)有益效果

[0022] 本申请技术方案的有益效果是，通过将动态测试结果按存储器读周期保存为有确定存储规律的二维数组，并利用二维数组特有的数据结构，实现每一读周期的错误数据与其前一读周期的错误数据的对比和删除，从而有效缩减动态测试结果的数据量。

附图说明

[0023] 图1是本申请实施例一种存储器单粒子效应的动态测试结果的数据存储示意图；

[0024] 图2是图1所述动态测试结果中的错误数据存储示意图；

[0025] 图3是本申请实施例另一种存储器单粒子效应的动态测试结果的数据存储示意图；

[0026] 图4是图3所述动态测试结果中的错误数据存储示意图；

[0027] 图5是图2和图4中所述错误数据排列方式示意图；

[0028] 图6是本申请实施例数据处理方法的流程示意图；

[0029] 图7是图6中步骤S120的进一步方法流程示意图；

[0030] 图8是图7中步骤S121的进一步方法流程示意图；

[0031] 图9是图8中步骤S1212的进一步方法流程示意图；

[0032] 图10是图7中步骤S125的进一步方法流程示意图；

[0033] 图11是图10中步骤S1252的进一步方法流程示意图；

[0034] 图12是图6实施例中进一步的方法流程示意图；

[0035] 图13是本申请实施例数据处理装置的结构框图；

[0036] 图14是本申请又一实施例数据处理方法的流程示意图；

[0037] 图15是图14中步骤240的进一步方法流程示意图；

[0038] 图16是图14实施例的进一步的方法流程示意图。

具体实施方式

[0039] 为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面结合具体实施方式并参照附图，对本申请进一步详细说明。应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本申请的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本申请的概念。

[0040] 本申请所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

[0041] 在本申请的描述中，需要说明的是，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

[0042] 此外，下面所描述的本申请不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。

[0043] 图1是本申请实施例一种存储器单粒子效应的动态测试结果的数据存储示意图。

[0044] 图2是图1动态测试结果中的错误数据存储示意图。

[0045] 图1、2实施例的存储器为FRAM存储器，FRAM存储器对应的目标文件，其中每一个读周期都对应有多组目标数据，亦即错误数据，及结束标志。

[0046] 图3是本申请实施例另一种存储器单粒子效应的动态测试结果的数据存储示意图。

[0047] 图4是图3动态测试结果中的错误数据存储示意图。

[0048] 图3、4实施例的存储器为Flash存储器，Flash存储器对应的目标文件，其中的目标数据，亦即错误数据以另一种方式存储，但每一个读周期内也都有一个结束标志。

[0049] 由图1、3可以看出随着读周期数的增大，即越往后的读周期中，由于单粒子效应的持续时间累计加长，目标文件中的目标数据，亦存储器读出数据中的错误数据的数据量越来越大。

[0050] 由图2、4可以看出，处理后的目标文件中的目标数据，亦即错误数据，在每一个周期间中的数量都大致相当。即处理后的目标文件中，在后的读周期中的重复出现的错误数据会经过处理被删减掉，而只保留在后的读周期中因单粒子效应实际出现的错误数据。

[0051] 图5是图2和图4中错误数据排列方式示意图。

[0052] 如图5所示，它体现了本申请处理方法中利用数学中二维列表的方法表示存储器动态测试结果的思想，即测试过程中每次读操作视为一行列表，而读出的错误数据视为该行列表中的元素。那么这个二维列表的行数就是测试过程中的读周期数M，某行列表中的元素个数就是该周期读出的错误数据个数。在本申请一些实施例中该二维列表，被定义为了计算机语言中常用的二维数组。

[0053] 图6是本申请实施例中数据处理方法的流程示意图。

[0054] 如图6所示，存储器单粒子效应的动态测试结果的数据处理方法，包括：

[0055] S110：获取存储器单粒子效应的动态测试结果；

[0056] S120：将动态测试结果中的错误数据按存储器的读周期逐行保存为二维数组，一个读周期对应于二维数组中的一行；

[0057] S130：对二维数组中的元素从最后一行开始按行遍历排查，删除每一行中相对上一行中重复出现的元素，得到第一数组。

[0058] 步骤S110中获取存储器单粒子效应的动态测试结果，是指将动态测试结果保存为图1或图3中的数据存储形式的目标文件。

[0059] 步骤S120中将动态测试结果中的错误数据按存储器的读周期逐行保存为二维数组，是指将保存的目标文件中的数据存储形式转化为方便进行后续计算机对比、删除操作的二维数组。

[0060] 步骤S130中对二维数组中的元素从最后一行开始按行遍历排查，删除每一行中相对上一行中重复出现的元素，得到第一数组，是指利用了二维数列的数据结构特性，实现后一读周期与前一读周期中的错误数据的比较和删除，并得到可进行后续处理的第一数组。

[0061] 图7是图6中步骤S120的进一步方法流程示意图。

[0062] 如图7所示，步骤S120是具体生成了一个用于按读周期存放动态测试结果中全部错误数据的二维数据的过程，其步骤包括：

[0063] S121：获取动态测试结果中存储器的读周期数M；

[0064] S122：获取存储器的每个读周期的错误数据的个数Ni，i＝1、2、3…M；

[0065] S123：将M个Ni中的最大数赋值给N；

[0066] S124：建立M行N列的二维数组；

[0067] S125：将动态测试结果中的错误数据按存储器的读周期逐行保存到M 行N列的二维数组。

[0068] 图8是图7中步骤S121的进一步方法流程示意图。

[0069] 如图8所示，步骤S121是确定动态测试结果读周期数的过程，其步骤包括：

[0070] S1211：定义m＝0；

[0071] S1212：对动态测试结果从头遍历排查，当读取到存储器的读周期的结束标志时，m值自动加1；

[0072] S1213：对动态测试结果遍历排查结束后，将最后的m值赋值给读周期数M。

[0073] 图9是图8中步骤S1212的进一步方法流程示意图。

[0074] 如图9所示，步骤S1212是步骤S121中判断读周期的过程，其步骤包括：

[0075] S12121：利用readline()函数从头逐行识读动态测试结果；

[0076] S12122：当readline()函数识读出结束标志时，m值自动加1。

[0077] 步骤S12121-S12122中的readline()函数是python语言中用来在一行读取某一特定字符或标符的函数，通过readline()函数可以最终确定动态测量数据中的读周期数M。

[0078] 图10是图7中步骤S125的进一步方法流程示意图。

[0079] 如图10所示，步骤S125是将动态测试结果中的错误数据保存到M行N 列的二维数组的过程，其步骤包括：

[0080] S1251：定义i＝1；

[0081] S1252：对动态测试结果中的错误数据按存储器的读周期逐周期提取，将提取出的第i读周期的全部错误数据，按位逐一保存到M行N列的二维数组的第i行，i值自动加1，[0082] S1253：重复上述提取和保存的过程，直到i＝M。

[0083] 图11是图10中步骤S1252的进一步方法流程示意图。

[0084] 如图11所示，步骤S1252是在动态测试结果的每个读周期中提取错误数据的过程，其步骤包括：

[0085] S12521：利用find()函数提取第i读周期中的全部错误数据，并确定第i读周期中全部错误数据的个数Ni；

[0086] S12522：将Ni个错误数据按位逐一保存到M行N列的二维数组的第i 行。

[0087] 步骤S12521中的find()函数是python语言中用于通过对比寻找特定数据的函数。该实施例中可通过find()函数找出每个读周期中读出数据中相对原写入数据发生改变的数据，即错误数据。

[0088] 图12是图6实施例中进一步的方法流程示意图。

[0089] 如图12所示，该进一步的方法是对动态测试过程中发生反转的错误数据进行标记的过程，其步骤包括：

[0090] S140：对二维数组中的元素从第一行开始向下按行遍历排查，删除每一行中相对下一行中相同的元素，得到第二数组；

[0091] S150：将第二数组中的全部错误数据逐一与第一数组的全部错误数据进行对比；

[0092] S160：对第一数组中与第二数组中相同的错误数据进行标记。

[0093] 步骤S140-步骤S160的要完成的任务是，先在二维数组中找出那些在下一个读周期中，因为持续的动态测试而发生了反转的数据，即由错误转为正确0而消失了的错误数据，并将其保存为第二数组；然后用该第二数组将消失了的错误数据在第一数组中标记出来。

[0094] 找出消失了的错误数据的过程，比如，在二维数组中第i行的错误数据是(a、b、c、d)，如果在第i+1行的错误数据是(a、b、c、d、e),则说明在第i+1行中没有消失的错误数据，即第i行的错误数据全部出现在了第 i+1行中,此时，则将第i行的错误数据全部删除；如果第i+1行的错误数据是(a、b、d、e)，则说明第i行的错误数据c在第i+1行中消失了，或者说，是因为单粒子的动态效应，该相应地址的数据恢复正确了，则第i 行经过比较删除后剩下了该错误数据c。最后将每一行中剩下的该错误数据保存为具有二维数组结构的第二数组，第二数组中的元素却全部为在动态测试过程发生过反转的错误数据。

[0095] 用该第二数组将消失了的错误数据在第一数组中标记出来的过程，比如，将第二数组中的元素逐一与第一数组中的元素进行对比，将第一数组中与第二数组中相同元素做出标记，比如在该元素对应的错误数据前加负号标记，以指示出第一数组中的该错误数据在下一个读周期的存储器的读出数据中恢复成了正确数据的情况，以便更精确的了解动态测量过程中单粒子效应的动态情况。

[0096] 上述各实施例中的数据处理方法可对不同种类的存储器类单粒子效应测试具有普适性，在一些实施例中，只需要改变动态测量结果的目标文件的存储格式，就能完成不同种类存储器的单粒子效应动态测试结果的处理。

[0097] 图13是本申请实施例数据处理装置的结构框图。

[0098] 如图13所示，存储器单粒子效应的动态测试结果的数据处理装置，包括：

[0099] 测试结果获取模块01，用于获取存储器单粒子效应的动态测试结果；

[0100] 错误数据保存模块02，用于将动态测试结果中的错误数据按存储器的读周期逐行保存为二维数组，一个读周期对应于二维数组中的一行；

[0101] 数组排查删除模块03，用于对二维数组中的元素从最后一行开始按行遍历排查，删除每一行中相对上一行中重复出现的元素。

[0102] 图14是本申请又一实施例数据处理方法的流程示意图。

[0103] 图15是图14中步骤240的进一步方法流程示意图。

[0104] 图16是图14实施例的进一步的方法流程示意图。

[0105] 如图14所示，存储器单粒子的效应动态测试结果的数据处理方法，包括：

[0106] S210：按照指定路径打开测试结果文件。

[0107] 定义好测试结果文件(即目标文件)所在路径和文件名，并以可读模式打开目标文件，允许读出文件内容。

[0108] S220：确定文件中的读出周期M。

[0109] 记录结果中的读出周期即从存储器中读出的次数，将其记为M。每个目标文件中的M都不同，测试时间越长，周期数M越大。首先初始化M为0，从文件第一行开始利用readline()函数逐行读取数据至最后一行，判断每行是否包含标志读周期完成的“结束标志”，如果有该标志，则M加一。整个文件遍历结束之后，可以确定该文件中M的数值。

[0110] S230：生成一个M行×N列的二维数列all_data，用于存储所有的错误数据。

[0111] 如图5所示为错误数据排列方式示意图，它体现了本申请中利用数学中二维列表的方法表示存储器动态测试结果的思想：将测试过程中每次读操作视为一行列表，而读出的错误数据视为该行列表中的元素。那么这个二维列表的行数就是测试过程中的读周期数M，某行列表中的元素个数就是该周期读出的错误数据个数n。

[0112] 接下来只需将目标文件中的目标数据提取出来存入这个列表中即可。该步骤的难点在于程序未执行完之前无法得知文件中有多少个读周期M以及每次读出会有多少个数据n。因此初始化all_data数列时无法确定行数和列数。

[0113] 将第一个测试周期的数据保存到第一行列表中，如果该周期没有发生单粒子效应，存储器中不会产生错误数据，那么该列表为空(在实际的测试应用中，随着辐照时间的累计，产生的错误数据会越来越多，第一个周期通常没有数据产生)。接着依次将第m个测试周期的信息保存到第m行的列表中，若在此期间产生的所有单粒子效应累计的数据为n个，那么第m行列表有n 列数据。

[0114] 本步骤的解决方法是：Python语言中的append()函数可以在数列末尾中添加一个元素(可以是字符串、数字甚至列表)。首先初始化一个名为 all_data的空数列并在其中添加一行空数列，然后对第一个读周期的数据进行提取，每提取一个数据便将其添加到该行空数列中。该周期数据提取完成后，再次向all_data中添加下一行空数列，继续将下一周期的数据提取到该行空数列中，如此循环知道所有数据提取完成。

[0115] S240：提取目标文件中每个周期中的数据，分别存入all_data数列的不同行的数列中。

[0116] 如图15所示，首先需要判断第j个周期中是否有目标数据，利用Python 语言中的find()函数可以判断某行文本中是否存在目标数据；如果该周期 中有数据存在，需要判断该周期中有多少个数据存在：利用split()函数可 以从特定位置对文本进行切片，根据图1中目标数据的特点对该行有空格的 地方进行切片，将其分了为n个小段，即该行有n个目标数据；接下来对这 n个目标进行遍历，分别提取数据并添加到all_data中的第j行列表中(使 用步骤S230提到的append()函数)；该行文本处理完成后，读下一行文本， 继续该行判断是否有目标字符；如果出现结束字符，则标志该周期结束，下 一个周期开始，j需要更新为j+1。整个目标文件读完之后，每个周期中的 所有数据都被添加到all_data数列中。

[0117] S250：利用步骤S230中的方法生成一个新的数列ch_data,用于存放筛选之后的数据。

[0118] S260：对all_data数列中的所有元素进行筛选，删除每周期重复的元素。

[0119] 步骤S240中得到的all_data数列中存放了每个周期中的所有错误信息，这里面有大量元素重复出现。这是因为一些单粒子效应造成的数据错误是永久性的，错误数据产生之后的每个读出周期都会检测到该错误的存在。因此，为了判断一个读出周期的数据变化，需要对all_data中的元素进行筛选，得到每个周期中的数据变化情况：如哪些错误是该周期新增的，哪些错误又在该周期中消失。

[0120] 如图16所示，首先初始化参数m，n，x；然后对all_data中的第m行元素进行判断：该行列表内的第n列元素是否在上一行中出现过。如果出现过，表示它为重复元素，直接忽略并判断下一个元素。如果未出现表示该元素是新增元素，将其添加到步骤5中新建列表ch_data的第m行。再继续判断下一个元素；接着对all_data中的第m-1行元素进行判断：该行列表内的第x个元素是否在下一行中出现过。如果出现过，它为重复元素，直接忽略并判断下一个元素，如果未出现，则表示该元素消失了。为了表示和新增元素的区别，在其前面添加一个标识符“减”，并将整体添加到ch_data的第m行。再继续对下一列元素进行判断；该行列表中的所有元素遍历结束后，周期数m加1，继续判断下一个周期的元素，直到最后一行筛选结束。

[0121] S270：定义预生成文件的文件名和路径。

[0122] 数据经过提取、筛选之后，为了便于阅读和对数据的二次处理，需要将数据输入到一个表格文件中，因此定义好文件的文件名和路径。

[0123] S280：将筛选出的数据保存到csv文件中。

[0124] 将步骤S360：中ch_data数列内的所有数据逐行写入到csv文件中并按步骤7定义的路径和文件名保存。保存为csv文件格式是由于它与excel 文件格式相似，均为表格文件，便于数据对比和二次处理。图2和图4中分别展示了FRAM和Flash存储器单粒子效应测试数据处理后的结果示意图，每行元素都是该读周期中新增或减少的错误数据或地址，其中图2中提取的元素为“地址：数据”。图4中提取的元素仅为地址。空行表示该周期读到的数据和上一周期相同，没有发生变化。

[0125] 存储器单粒子效应的动态测试结果的数据处理设备，包括存储器和处理器；存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于当执行计算机程序时，实现如上述任一实施例的数据处理方法。

[0126] 计算机可读存储介质，存储介质上存储有计算机程序，当计算机程序被处理器执行时，实现如上述任一实施例的数据处理方法。

[0127] 本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

[0128] 本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

[0129] 应当理解的是，本申请的上述具体实施方式仅仅用于示例性说明或解释本申请的原理，而不构成对本申请的限制。因此，在不偏离本申请的精神和范围的情况下所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。此外，本申请所附权利要求旨在涵盖落入所附权利要求范围和边界、或者这种范围和边界的等同形式内的全部变化和修改例。