一种稳定温度传感器温度测试值的算法及系统转让专利

申请号 : CN202010877931.5

文献号 : CN111982357B

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相似专利:

发明人 : 张富鹏伍硕群傅纬球卢毅强罗嘉朗

申请人 : 广东天波信息技术股份有限公司

摘要 :

本发明公开了一种稳定温度传感器温度测试值的算法,通过对现有的温度传感器的基础算法上,增加了算式步骤,利用温度传感器对温度检测的自身方差的趋近值,以及对当前测量的温度数据获取的对一组数据的计算方差,综合得出温度传感器的对温度测量的实际波动幅值以及考虑到温度测量的测量增益,根据公式A=N+G*(N‑M)得到一个经过修正后的测试数据值,在根据该数据值结合温度传感器自身具有的增益系数及减益系数获取温度的实际值;另外,提供一种稳定温度传感器温度测试值的系统,结合前述,目的是提供一种稳定温度传感器温度测试值的算法及系统,利用该算法稳定现有温度传感器对温度检测不稳定的问题,用以提高温度传感器的检测精度。

权利要求 :

1.一种稳定温度传感器温度测试值的算法,其特征在于,包括以下步骤:

S1:提供一温度传感器,所述温度传感器包括多个数据空间,采用该温度传感器视场内物体的测量温度,且所述温度传感器具有对温度测量值的第一方差;

S2:对多个数据空间依次排序,数据空间中的数据记作PTAT1~PTATn,当该多个数据空间均填充有数据后,对该多个数据空间中的数据进行计算并获得第二方差,并且计算其平均值,并记作A;

S3:根据步骤S1及步骤S2获得的第一方差和第二方差,能够得到第三方差,并记作p,所述第三方差为第一方差与第二方差之和,且所述第三方差为步骤S2中的数据的最大幅值;

S4:提供可控制的测量误差值Z,更新当前次测量的测量增益为步骤S3中的第三方差和第三方差与测量误差值的和的比值,并记作G;

S5:读取所述温度传感器测试到的数据PTATn并记作N,读取数据PTATn前一次由所述温度传感器测试到的数据PTATn‑1,并将该数据PTATn‑1记作M;

S6:根据公式A=N+G*(N‑M)计算得出当前次由温度传感器测试输出数据值,并将其记录至步骤S1中的数据空间中;

S7:当完成步骤S6后,计算数据空间中的平均值,再通过公式T=PTAT*(PTATgr+PTAToff)计算当前次经过温度传感器测量温度的实际温度值,其中PTATgr表示温度传感器的增益系数,PTAToff表示温度传感器的减益系数。

2.根据权利要求1所述的算法,其特征在于,所述步骤S1中还包括:

所述温度传感器读取与所述数据空间数量相当的数据值,并将该多个数据值记录到数据空间中。

3.根据权利要求1所述的算法,其特征在于,所述数据空间具有32个。

4.根据权利要求1所述的算法,其特征在于,所述步骤S4中还包括:读取出当前次由温度传感器测试出的温度数据值,将该温度数据值与对比该次的上一次数据值,若两次数据值之间差值超过了测量误差值,则丢弃当前次测试的温度数据值。

5.根据权利要求1所述的算法,其特征在于,所述步骤S6中还包括以下步骤:S6.1:当多个所述数据空间记录已满,移除数据PTAT1值,用于保存当前次由温度传感器测试输出数据值。

6.根据权利要求4所述的算法,其特征在于,所述步骤S6中还包括以下步骤:S6.2:当前次由温度传感器测试输出数据值,并记录至步骤S1中的数据空间中之后,并以当前数据空间中的数据组计算获取第四方差,并记作Pi,且Pi=(1‑G)*p。

7.根据权利要求4所述的算法,其特征在于,所述步骤S7之后还包括以下步骤:

S8:每一次温度传感器进行温度测试均需要经过步骤4至步骤7计算温度传感器进行温度测试的实际温度值。

8.一种稳定温度传感器测温值的系统,其特征在于,包括

温度采集模块,所述温度采集模块用于获取对物体的测量温度值;转换模块,所述转换模块用于对温度采集模块采集的测量温度值进行模数转换;存储模块,用于存储经过转换模块处理过的数字化的测量温度值,所述存储模块具体包括多个数据空间,以及对多个数据空间依次排序,数据空间中的数据值记作PTAT1~PTATn:计算模块,用于计算存储模块中记录的数据的测量增益、方差及温度的实际测量值,所述计算模块具体包括:读取所述温度传感器测试到的数据并记作N,读取数据前一次由所述温度传感器测试到的数据,并将该数据记作M;根据公式A=N+G*(N‑M)计算得出当前次由温度传感器测试输出数据值,记录到存储模块中;另外,计算数据空间中的平均值,再通过公式T=PTAT*(PTATgr+PTAToff)计算当前次经过温度传感器测量温度的实际温度值,其中PTATgr表示温度传感器的增益系数,PTAToff表示温度传感器的减益系数;

温度显示模块,用于显示由温度采集模块对物体的温度的实际值。

说明书 :

一种稳定温度传感器温度测试值的算法及系统

技术领域

[0001] 本发明涉及温度测量领域,特别涉及一种稳定温度传感器温度测试值的算法及系统。

背景技术

[0002] 目前,由于计算视场内的物体温度,需要根据传感器的温度来计算,如果读出来的温度有偏差,测量到视场内的物理温度也会不准确,造成测温不准确,这样很容易导致测温误报的情况,以致于很多诊断偏差。
[0003] 另外,由于通讯原因或传感器自身误差等原因影响,导致获取到的传感器温度有比较大的误差,最终造成测量的不准确。

发明内容

[0004] 本发明旨在解决现有技术中存在的至少一个问题,本发明的目的是提供一种稳定温度传感器温度测试值的算法及系统,利用该算法稳定现有温度传感器对温度检测不稳定的问题,用以提高温度传感器的检测精度。
[0005] 为了达到上述目的,本发明的技术方案有:
[0006] 一种稳定温度传感器温度测试值的算法,包括以下步骤:
[0007] S1:提供一温度传感器,所述温度传感器包括多个数据空间,采用该温度传感器视场内物体的测量温度,且所述温度传感器具有对温度测量值的第一方差;
[0008] S2:对多个数据空间依次排序,数据空间中的数据记作PTAT1~PTATn,当该多个数据空间均填充有数据后,对该多个数据空间中的数据进行计算并获得第二方差,并且计算其平均值,并记作A;
[0009] S3:根据步骤S1及步骤S2获得的第一方差和第二方差,能够得到第三方差,并记作p,所述第三方差为第一方差与第二方差之和,且所述第三方差为步骤S2中的数据的最大幅值;
[0010] S4:提供可控制的测量误差值Z,更新所述当前次测量的测量增益为步骤 S3中的第三方差和第三方差与测量误差值的和的比值,并记作G;
[0011] S5:读取所述温度传感器测试到的数据PTATn并记作N,读取数据PTATn前一次由所述温度传感器测试到的数据PTATn‑1,并将该数据PTATn‑1记作M;
[0012] S6:根据公式A=N+G*(N‑M)计算得出当前次由温度传感器测试输出数据值,并将其记录至步骤S1中的数据空间中;
[0013] S7:当完成步骤S6后,计算数据空间中的平均值,再通过公式T=PTAT* (PTATgr+PTAToff)计算当前次经过温度传感器测量温度的实际温度值,其中 PTATgr表示温度传感器的增益系数,PTAToff表示温度传感器的减益系数。
[0014] 本发明的一种稳定温度传感器温度测试值的算法,通过对现有的温度传感器的基础算法上,增加了算式步骤,利用温度传感器对温度检测的自身方差的趋近值,以及对当前测量的温度数据获取的对一组数据的计算方差,综合得出温度传感器的对温度测量的实际波动幅值以及考虑到温度测量的测量增益,根据公式A=N+G*(N‑M)得到一个经过修正后的测试数据值,在根据该数据值结合温度传感器自身具有的增益系数及减益系数获取温度的实际值。本发明通过简单的计算步骤,使温度传感器对温度检测的动态测量曲线趋于平稳,从而保证温度传感器的对温度测量不会突变,保证测量精度。
[0015] 进一步的,所述步骤S1中还包括:
[0016] 所述温度传感器读取与所述数据空间数量相当的数据值,并将该多个数据值记录到数据空间中。
[0017] 进一步的,所述数据空间具有32个。
[0018] 进一步的,所述步骤S4中还包括:读取出当前次由温度传感器测试出的温度数据值,将该温度数据值与对比改该次的上一次数据值,若两次数据值之间差值超过了测量误差值,则丢弃当前次测试的温度数据值。
[0019] 进一步的,所述步骤S6中还包括以下步骤:
[0020] S6.1:当多个所述数据空间记录已满,移除数据PTAT1值,用于保存当前次由温度传感器测试输出数据值。
[0021] 进一步的,所述步骤S6中还包括以下步骤:
[0022] S6.2:当前次由温度传感器测试输出数据值,并记录至步骤S1中的数据空间中之后,并以当前数据空间中的数据组计算获取第四方差,并记作Pi,且Pi=(1‑G) *p。
[0023] 进一步的,所述步骤S7之后还包括以下步骤:
[0024] S8:每一次温度传感器进行温度测试均需要经过步骤4至步骤7计算温度传感器进行温度测试的实际温度值。
[0025] 本发明还提供一种稳定温度传感器测温值的系统,包括
[0026] 温度采集模块,所述温度采集模块用于获取对物体的测量温度值;
[0027] 转换模块,所述转换模块用于对温度采集模块采集的测量温度值进行模数转换;
[0028] 存储模块,用于存储经过转换模块处理过的数字化的测量温度值,所述存储模块具体包括多个数据空间,以及对多个数据空间依次排序,数据空间中的数据值记作PTAT1~PTATn:
[0029] 计算模块,用于计算存储模块中记录的数据的测量增益、方差及温度的实际测量值,所述计算模块具体包括:读取所述温度传感器测试到的数据并记作N,读取数据前一次由所述温度传感器测试到的数据,并将该数据记作M;根据公式 A=N+G*(N‑M)计算得出当前次由温度传感器测试输出数据值,记录到存储模块中;另外,计算数据空间中的平均值,再通过公式T=PTAT*(PTATgr+PTAToff) 计算当前次经过温度传感器测量温度的实际温度值,其中PTATgr表示温度传感器的增益系数,PTAToff表示温度传感器的减益系数,温度显示模块,用于显示由温度采集模块对物体的温度的实际值。
[0030] 为了更好地理解和实施,下面结合附图详细说明本发明。

附图说明

[0031] 图1为本发明的实施例的的流程示意图;
[0032] 图2为本发明的算法未加持条件下在16℃环境温度条件下的温度传感器测试的温度图表;
[0033] 图3为本发明的算法加持条件下在25℃环境温度条件下的温度传感器测试的温度图表;
[0034] 图4为本发明的系统结构图。

具体实施方式

[0035] 为了更好地阐述本发明,下面参照附图对本发明作进一步的详细描述。
[0036] 如图1所示,图中所表示的是本发明的流程示意图;
[0037] 如图2所示,图中所述表示的是未应用本发明的算法后在16℃环境温度条件下的温度传感器测试的温度图表;
[0038] 如图3所示,图中所述表示的是应用本发明的算法后在16℃环境温度条件下的温度传感器测试的温度图表;
[0039] 一种稳定温度传感器温度测试值的算法,包括以下步骤:
[0040] S1:提供一温度传感器,所述温度传感器包括多个数据空间,采用该温度传感器视场内物体的测量温度,且所述温度传感器具有对温度测量值的第一方差;
[0041] S2:对多个数据空间依次排序,数据空间中的数据记作PTAT1~PTATn,当该多个数据空间均填充有数据后,对该多个数据空间中的数据进行计算并获得第二方差,并且计算其平均值,并记作A;
[0042] S3:根据步骤S1及步骤S2获得的第一方差和第二方差,能够得到第三方差,并记作p,所述第三方差为第一方差与第二方差之和,且所述第三方差为步骤S2中的数据的最大幅值;
[0043] S4:提供可控制的测量误差值Z,更新所述当前次测量的测量增益为步骤 S3中的第三方差和第三方差与测量误差值的和的比值,并记作G;
[0044] S5:读取所述温度传感器测试到的数据PTATn并记作N,读取数据PTATn前一次由所述温度传感器测试到的数据PTATn‑1,并将该数据PTATn‑1记作M;
[0045] S6:根据公式A=N+G*(N‑M)计算得出当前次由温度传感器测试输出数据值,并将其记录至步骤S1中的数据空间中;
[0046] S7:当完成步骤S6后,计算数据空间中的平均值,再通过公式T=PTAT* (PTATgr+PTAToff)计算当前次经过温度传感器测量温度的实际温度值,其中PTATgr表示温度传感器的增益系数,PTAToff表示温度传感器的减益系数。
[0047] 通过对现有的温度传感器的基础算法上,增加了算式步骤,利用温度传感器对温度检测的自身方差的趋近值,以及对当前测量的温度数据获取的对一组数据的计算方差,综合得出温度传感器的对温度测量的实际波动幅值以及考虑到温度测量的测量增益,根据公式A=N+G*(N‑M)得到一个经过修正后的测试数据值,在根据该数据值结合温度传感器自身具有的增益系数及减益系数获取温度的实际值。本发明通过简单的计算步骤,使温度传感器对温度检测的动态测量曲线趋于平稳,从而保证温度传感器的对温度测量不会突变,保证测量精度。
[0048] 在本发明的实施例中,所述温度传感器采用的是海曼HTPA32X32传感器,具体的,在温度传感器中,包括8个数据位,每一个数据位的第一个和第二个字节组合记作PTATi。
[0049] 应用该温度传感器得到的实际测试温度的数据值计算公式为(以8个数据位为例),PTAT=(PTAT1+PTAT2+PTAT3+PTAT4+PTAT5+PTAT6+PTAT7+PTAT8)/8。
[0050] 在本发明的实施例中,第一方差是由温度传感器自身进行大量测试能够得到的一个经验值,是将该温度传感器经过多次测量取值计算获得的数值表示该传感器的平均波幅一级波动程度,具体不作赘述。
[0051] 下面结合上述示例,对本发明作进一步说明,
[0052] 传感器的温度收到传感器内部元器件发热和环境温度的影响,即跟散热有关。因此,如果传感器一直正常工作的情况下主要是受到环境温度的影响。但是短时间内环境温度比较恒定,一般认为5s内的传感器温度是恒定的。
[0053] 所述步骤S1中还包括:
[0054] 所述温度传感器读取与所述数据空间数量相当的数据值,并将该多个数据值记录到数据空间中,目的是将温度传感器的每个温度数据值保存在数据空间中,这样会获得一个相对精确的第二方差。
[0055] 其中,所述数据空间具有32个,首先数据空间是通过软件编撰代码上申请的,用于保存PTAT值/数据,因为我们测试的过程中发现,如果只是每次都采用原始的8个数据位的平均值会造成比较大的波动,导致测温误差。因此,需要做一些处理。
[0056] 另外,在本实施例中,在读取出当前次由温度传感器测试出的温度数据值,将该温度数据值与对比改该次的上一次数据值,若两次数据值之间差值超过了测量误差值,则丢弃当前次测试的温度数据值,用以保证测量精度。
[0057] 另一种表现就是,温度传感器所在的视场环境发生了突变,当确认视场环境的确发生突变后,那需要该温度传感器抛弃当前的所有温度测试数据,重新获取数据保存在数据空间中。
[0058] 所述步骤S6中还包括以下步骤:
[0059] S6.1:当多个所述数据空间记录已满,移除数据PTAT1值,用于保存当前次由温度传感器测试输出数据值。
[0060] 所述步骤S6中还包括以下步骤:
[0061] S6.2:当前次由温度传感器测试输出数据值,并记录至步骤S1中的数据空间中之后,并以当前数据空间中的数据组计算获取第四方差,并记作Pi,且Pi= (1‑G)*p。
[0062] 步骤S6.1和步骤S6.2可以交叉顺序,该第四方差在温度传感器每一次温度测试中,第四方差的作用相当于前述的第二方差。
[0063] 从另一方面,若拓展到温度传感器的无限次温度测试,那么第四方差会趋于一稳定值,即Pi=p,最终获得温度传感器的实际测试温度也趋于一稳定值,不会具有较大范围的波动。
[0064] 所述步骤S7之后还包括以下步骤:
[0065] S8:每一次温度传感器进行温度测试均需要经过步骤S4至步骤S7计算温度传感器进行温度测试的实际温度值。
[0066] 如图4所示,本发明还提供一种稳定温度传感器测温值的系统,包括温度采集模块,所述温度采集模块用于获取对物体的测量温度值;
[0067] 转换模块,所述转换模块用于对温度采集模块采集的测量温度值进行模数转换;
[0068] 存储模块,用于存储经过转换模块处理过的数字化的测量温度值,所述存储模块具体包括多个数据空间,以及对多个数据空间依次排序,数据空间中的数据值记作PTAT1~PTATn:
[0069] 计算模块,用于计算存储模块中记录的数据的测量增益、方差及温度的实际测量值,所述计算模块具体包括:读取所述温度传感器测试到的数据并记作N,读取数据前一次由所述温度传感器测试到的数据,并将该数据记作M;根据公式 A=N+G*(N‑M)计算得出当前次由温度传感器测试输出数据值,记录到存储模块中;另外,计算数据空间中的平均值,再通过公式T=PTAT*(PTATgr+PTAToff) 计算当前次经过温度传感器测量温度的实际温度值,其中PTATgr表示温度传感器的增益系数,PTAToff表示温度传感器的减益系数;
[0070] 温度显示模块,用于显示由温度采集模块对物体的温度的实际值。
[0071] 根据上述说明书的揭示和教导,本发明所属领域的技术人员还可以对上述实施方式进行变更和修改。因此,本发明并不局限于上面揭示和描述的具体实施方式,对本发明的一些修改和变更也应当落入本发明的权利要求的保护范围内。此外,尽管本说明书中使用了一些特定的术语,但这些术语只是为了方便说明,并不对本发明构成任何限制。