本公开提供一种存储器检测方法和装置，其中所述存储器检测方法，包括：对所有存储单元分别写0、读第一存储结果、写1和读第二存储结果，确定第一检测状态；从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写5和写A，读第三存储结果，确定第二检测状态；从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写C和写3，读第四存储结果，确定第三检测状态；从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写E和写1，读第五存储结果，确定第四检测状态；从第一存储单元开始对所有存储器单元逐一进行写设定数据、读数据、确定存储单元检测状态，确定第五检测状态；基于第一检测状态、第二检测状态、第三检测状态、第四检测状态和第五检测状态确定存储器检测结果。
按照地址设定顺序对所有存储单元分别写0、读第一存储结果、写1和读第二存储结果，基于第一存储结果和第二存储结果确定第一检测状态；
按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写5和写A，直到写完所有存储单元，读第三存储结果，基于第三存储结果确定第二检测状态；
按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写C和写3，直到写完所有存储单元，读第四存储结果，基于第四存储结果确定第三检测状态；
按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写E和写1，直到写完所有存储单元，读第五存储结果，基于第五存储结果确定第四检测状态；以及，按照地址设定顺序从第一存储单元开始对所有存储器单元逐一进行写设定数据、读数据、基于读数据确定存储单元检测状态，直到根据所有存储单元检测状态确定第五检测状态；以及，基于第一检测状态、第二检测状态、第三检测状态、第四检测状态和第五检测状态确定存储器检测结果。
2.如权利要求1所述的存储器检测方法，其中按照地址设定顺序从第一存储单元开始对所有存储单元分别写0、读第一存储结果、写1和读第二存储结果，基于第一存储结果和第二存储结果确定第一检测状态包括：按地址升序，对所有存储单元分别写0；
按地址降序，读取所有存储单元的存储结果确定为第一存储结果，对所有存储单元分别写1；
按地址升序，读取所有存储单元的存储结果确定为第二存储结果；以及，如果第一存储结果中所有存储单元的内容均为0，第二存储结果中所有存储单元的内容均为1，则第一检测状态为正常，否则第一检测状态为异常。
3.如权利要求1所述的存储器检测方法，其中按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写5和写A，直到写完所有存储单元，读第三存储结果，基于第三存储结果确定第二检测状态包括：按地址升序，从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写5和写A，直到写完所有存储单元；
按地址降序，读取所有存储单元的存储结果确定为第三存储结果；以及，如果第三存储结果中所有存储单元的内容从第一存储单元开始至最后一个存储单元依次循环为5、A，则第二检测状态为正常，否则第二检测状态为异常。
4.如权利要求1所述的存储器检测方法，其中所述按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写C和写3，直到写完所有存储单元，读第四存储结果，基于第四存储结果确定第三检测状态包括：按地址降序，从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写C和写3，直到写完所有存储单元；
按地址升序，读取所有存储单元的存储结果确定为第四存储结果；以及，如果第四存储结果中所有存储单元的内容从第一存储单元开始至最后一个存储单元依次循环为C、3，则第三检测状态为正常，否则第三检测状态为异常。
5.如权利要求1所述的存储器检测方法，其中所述按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写E和写1，直到写完所有存储单元，读第五存储结果，基于第五存储结果确定第四检测状态包括：按地址升序，从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写E和写1，直到写完所有存储单元；
按地址降序，读取所有存储单元的存储结果确定为第五存储结果；以及，如果第五存储结果中所有存储单元的内容从第一存储单元开始至最后一个存储单元依次为E、1，则第四检测状态为正常，否则第四检测状态为异常。
6.如权利要求1所述的存储器检测方法，其中所述按照地址设定顺序从第一存储单元开始对所有存储器单元逐一进行写设定数据、读数据、基于读数据确定存储单元检测状态，直到根据所有存储单元检测状态确定第五检测状态包括：按地址升序，从第一存储单元开始所有存储器单元逐一进行写设定数据、读数据，基于读数据确定存储单元检测状态，如果读取数据与设定数据相同，则确定这一存储单元检测状态为正常，否则为异常；直到如果所有存储单元检测状态均为正常，则确定第五检测状态为正常，否则第五检测状态为异常。
7.如权利要求1所述的存储器检测方法，其中所述基于第一检测状态、第二检测状态、第三检测状态、第四检测状态和第五检测状态确定存储器检测结果包括：如果第一检测状态、第二检测状态、第三检测状态、第四检测状态和第五检测状态均为正常，则存储器检测结果为正常，否则为异常。
第一检测状态确定单元，用于按照地址设定顺序对所有存储单元分别写0、读第一存储结果、写1和读第二存储结果，基于第一存储结果和第二存储结果确定第一检测状态；
第二检测状态确定单元，按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写5和写A，直到写完所有存储单元，读第三存储结果，基于第三存储结果确定第二检测状态；
第三检测状态确定单元，按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写C和写3，直到写完所有存储单元，读第四存储结果，基于第四存储结果确定第三检测状态；
第四检测状态确定单元，按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写E和写1，直到写完所有存储单元，读第五存储结果，基于第五存储结果确定第四检测状态；以及，第五检测状态确定单元，按照地址设定顺序从第一存储单元开始对所有存储器单元逐一进行写设定数据、读数据、基于读数据确定存储单元检测状态，直到根据所有存储单元检测状态确定第五检测状态；以及，存储器检测结果确定单元，基于第一检测状态确定单元、第二检测状态确定单元、第三检测状态确定单元、第四检测状态确定单元和第五检测状态确定单元确定存储器检测结果。
9.一种计算设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机指令，其特征在于，所述处理器执行所述指令时实现权利要求1‑7任意一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其存储有计算机指令，其特征在于，该指令被处理器执行时实现权利要求1‑7任意一项所述方法的步骤。
一种存储器检测方法和装置
技术领域
[0001] 本公开涉及检测技术领域，特别涉及一种存储器检测方法和装置。
背景技术
[0002] 随着5G时代的到临，数据对人们的生活越来越重要，相应的数据存储实现也越发重要。用来的存储器集成度越来越高，存储器的可靠性受到了越来越多专家学者的关注。存储器的可靠性验证需要通过对存储器进行故障检测实现，以排除存储器故障保证存储器可靠工作。
[0003] 存储器检测基于存储器内部结构特点，通过选定有效测试存储器的测试图形实现。常用的存储器检测方法包括MSCAN、Galloping Pattern、Checker Pattern方法，March和March LR。
[0004] March LR相比其它检测方法，检测的存储器故障种类更全面，包括：SAF(固定故障)、ADF(地址译码故障)、TF(转换故障)、CFin(翻转耦合故障)、CFid(幂耦合故障)、字内CFst(状态耦合故障)、字内BF(桥连故障)和连接故障。但是，其中一种March LR检测方法(记载于《基于March算法的SRAM内建自测试设计与验证》文中)复杂度为O(N)，操作数为28N(N为存储单元容量)，测试时间较长，测试成本较高。因此，需要提供一种改进的存储器检测方法。
发明内容
[0005] 本公开的示例性实施例的目的在于克服现有技术中的上述的和/或其他的问题。
[0006] 因此，根据本公开的一个方面，提供了一种存储器检测方法，包括：
[0007] 按照地址设定顺序对所有存储单元分别写0、读第一存储结果、写1和读第二存储结果，基于第一存储结果和第二存储结果确定第一检测状态；
[0008] 按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写5和写A，直到写完所有存储单元，读第三存储结果，基于第三存储结果确定第二检测状态；
[0009] 按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写C和写3，直到写完所有存储单元，读第四存储结果，基于第四存储结果确定第三检测状态；
[0010] 按照地址设定顺序从第一存储单元开始对所有存储器单元逐一进行写设定数据、读数据、基于读数据确定存储单元检测状态，直到根据所有存储单元检测状态确定第五检测状态；以及，
[0011] 按照地址设定顺序对存储器单元分别进行写入数据，读数据，直到完成所有存储器单元，基于所有存储单元的读数据结果确定第五检测状态；以及，
[0012] 基于第一检测状态、第二检测状态、第三检测状态、第四检测状态和第五检测状态确定存储器检测结果。
[0013] 可选的，其中按照地址设定顺序从第一存储单元开始对所有存储单元分别写0、读第一存储结果、写1和读第二存储结果，基于第一存储结果和第二存储结果确定第一检测状态包括：
[0014] 按地址升序，对所有存储单元分别写0；
[0015] 按地址降序，读取所有存储单元的存储结果确定为第一存储结果，对所有存储单元分别写1；
[0016] 按地址升序，读取所有存储单元的存储结果确定为第二存储结果；以及，[0017] 如果第一存储结果中所有存储单元的内容均为0，第二存储结果中所有存储单元的内容均为1，则第一检测状态为正常，否则第一检测状态为异常。
[0018] 可选的，其中按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写5和写A，直到写完所有存储单元，读第三存储结果，基于第三存储结果确定第二检测状态包括：
[0019] 按地址升序，从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写5和写A，直到写完所有存储单元；
[0020] 按地址降序，读取所有存储单元的存储结果确定为第三存储结果；以及，[0021] 如果第三存储结果中所有存储单元的内容从第一存储单元开始至最后一个存储单元依次循环为5、A，则第二检测状态为正常，否则第二检测状态为异常。
[0022] 可选的，其中所述按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写C和写3，直到写完所有存储单元，读第四存储结果，基于第四存储结果确定第三检测状态包括：
[0023] 按地址降序，从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写C和写3，直到写完所有存储单元；
[0024] 按地址升序，读取所有存储单元的存储结果确定为第四存储结果；以及，[0025] 如果第四存储结果中所有存储单元的内容从第一存储单元开始至最后一个存储单元依次循环为C、3，则第三检测状态为正常，否则第三检测状态为异常。
[0026] 可选的，其中所述按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写E和写1，直到写完所有存储单元，读第五存储结果，基于第五存储结果确定第四检测状态包括：
[0027] 按地址升序，从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写E和写1，直到写完所有存储单元；
[0028] 按地址降序，读取所有存储单元的存储结果确定为第五存储结果；以及，[0029] 如果第五存储结果中所有存储单元的内容从第一存储单元开始至最后一个存储单元依次为E、1，则第四检测状态为正常，否则第四检测状态为异常。
[0030] 可选的，其中所述按照地址设定顺序对存储器单元分别进行写设定数据，读数据，直到完成所有存储器单元，基于所有存储单元的读数据结果确定第五检测状态包括：
[0031] 按地址升序，从第一存储单元开始所有存储器单元逐一进行写设定数据、读数据，基于读数据确定存储单元检测状态，如果读取数据与设定数据相同，则确定这一存储单元检测状态为正常，否则为异常；直到如果所有存储单元检测状态均为正常，则确定第五检测状态为正常，否则第五检测状态为异常。
[0032] 可选的，其中所述基于第一检测状态、第二检测状态、第三检测状态、第四检测状态和第五检测状态确定存储器检测结果包括：
[0033] 如果第一检测状态、第二检测状态、第三检测状态、第四检测状态和第五检测状态均为正常，则存储器检测结果为正常，否则为异常。
[0034] 根据本公开的另一个方面，提供了一种存储器检测装置，包括：
[0035] 第一检测状态确定单元，用于按照地址设定顺序对所有存储单元分别写0、读第一存储结果、写1和读第二存储结果，基于第一存储结果和第二存储结果确定第一检测状态；
[0036] 第二检测状态确定单元，按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写5和写A，直到写完所有存储单元，读第三存储结果，基于第三存储结果确定第二检测状态；
[0037] 第三检测状态确定单元，按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写C和写3，直到写完所有存储单元，读第四存储结果，基于第四存储结果确定第三检测状态；
[0038] 第四检测状态确定单元，按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写E和写1，直到写完所有存储单元，读第五存储结果，基于第五存储结果确定第四检测状态；以及，
[0039] 第五检测状态确定单元，按照地址设定顺序从第一存储单元开始对所有存储器单元逐一进行写设定数据、读数据、基于读数据确定存储单元检测状态，直到根据所有存储单元检测状态确定第五检测状态；以及，
[0040] 存储器检测结果确定单元，基于第一检测状态确定单元、第二检测状态确定单元、第三检测状态确定单元、第四检测状态确定单元和第五检测状态确定单元确定存储器检测结果。
[0041] 根据本说明书实施例的另一方面，提供了一种计算设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机指令，所述处理器执行所述指令时实现如上所述存储器检测方法的步骤。
[0042] 根据本说明书实施例的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，其存储有计算机指令，其特征在于，该指令被处理器执行时实现如上所述存储器检测方法的步骤。
[0043] 根据示例性实施例，所述存储器检测方法可以排除存储器的固定故障、地址译码故障、转换故障、翻转耦合故障、幂耦合故障、字内状态耦合故障、字内桥连故障、连接故障、三单元耦合故障、地址线故障和数据线故障，实现对存储器的全面检测，将操作数从28N降低到12N，减少测试时间，降低了存储器测试成本。
附图说明
[0044] 通过结合附图对于本公开的示例性实施例进行描述，可以更好地理解本公开，在附图中：
[0045] 图1所示的是现有技术中存储器的结构示意图；
[0046] 图2所示的是根据本公开实施例的计算设备的示意性结构框图；
[0047] 图3所示的是根据本公开实施例的存储器检测方法示意性流程图；
[0048] 图4是示出根据本公开实施例的存储器检测装置示意图。
具体实施方式
[0049] 以下将描述本公开的具体实施方式，需要指出的是，在这些实施方式的具体描述过程中，为了进行简明扼要的描述，本说明书不可能对实际的实施方式的所有特征均作详尽的描述。应当可以理解的是，在任意一种实施方式的实际实施过程中，正如在任意一个工程项目或者设计项目的过程中，为了实现开发者的具体目标，为了满足系统相关的或者商业相关的限制，常常会做出各种各样的具体决策，而这也会从一种实施方式到另一种实施方式之间发生改变。此外，还可以理解的是，虽然这种开发过程中所作出的努力可能是复杂并且冗长的，然而对于与本公开公开的内容相关的本领域的普通技术人员而言，在本公开揭露的技术内容的基础上进行的一些设计，制造或者生产等变更只是常规的技术手段，不应当理解为本公开的内容不充分。
[0050] 除非另作定义，权利要求书和说明书中使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属技术领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开专利申请说明书以及权利要求书中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“一个”或者“一”等类似词语并不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现在“包括”或者“包含”前面的元件或者物件涵盖出现在“包括”或者“包含”后面列举的元件或者物件及其等同元件，并不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，也不限于是直接的还是间接的连接。
[0051] 图1示出了现有技术中存储器的结构示意图，所述存储器包括：N个存储单元的存储矩阵，其中N为大于1的整数；与该存储体连接的译码单元，包括行列地址译码器；通过M条数据通路分别与该N个存储单元连接的读写控制器；本发明中存储器中M＝16，即存储器字宽为16。因此，对所述存储器的全面检测，需要对存储器存储单元、地址线、数据线和译码单元进行检测。
[0052] 图2示出了根据本说明书一实施例的计算设备200的结构框图。该计算设备200的部件包括但不限于存储器210和处理器220。处理器220与存储器210通过总线230相连接，数据库250用于保存数据。
[0053] 计算设备200还包括接入设备240，接入设备240使得计算设备200能够经由一个或多个网络260通信。这些网络的示例包括公用交换电话网(PSTN)、局域网(LAN)、广域网(WAN)、个域网(PAN)或诸如因特网的通信网络的组合。接入设备240可以包括有线或无线的任何类型的网络接口(例如，网络接口卡(NIC))中的一个或多个，诸如IEEE802.11无线局域网(WLAN)无线接口、全球微波互联接入(Wi‑MAX)接口、以太网接口、通用串行总线(USB)接口、蜂窝网络接口、蓝牙接口、近场通信(NFC)接口，等等。
[0054] 在本说明书的一个实施例中，计算设备200的上述部件以及图2中未示出的其他部件也可以彼此相连接，例如通过总线。应当理解，图2所示的计算设备结构框图仅仅是出于示例的目的，而不是对本说明书范围的限制。本领域技术人员可以根据需要，增添或替换其他部件。
[0055] 计算设备200可以是任何类型的静止或移动计算设备，包括移动计算机或移动计算设备(例如，平板计算机、个人数字助理、膝上型计算机、笔记本计算机、上网本等)、移动电话(例如，智能手机)、可佩戴的计算设备(例如，智能手表、智能眼镜等)或其他类型的移动设备，或者诸如台式计算机或PC的静止计算设备。计算设备200还可以是移动式或静止式的服务器。
[0056] 其中，处理器220可以执行图3所示方法中的步骤。
[0057] 图3是示出了根据本申请一实施例的存储器检测方法的示意性流程图，包括步骤301至步骤306。
[0058] 为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
[0059] 步骤301：按照地址设定顺序对所有存储单元分别写0、读第一存储结果、写1和读第二存储结果，基于第一存储结果和第二存储结果确定第一检测状态。
[0060] 在本申请实施例中，按地址升序，对所有存储单元分别写0；按地址降序，读取所有存储单元的存储结果确定为第一存储结果，对所有存储单元分别写1；按地址升序，读取所有存储单元的存储结果确定为第二存储结果；以及，如果第一存储结果中所有存储单元的内容均为0，第二存储结果中所有存储单元的内容均为1，则第一检测状态为正常，否则第一检测状态为异常。这样，如果第一检测状态为正常，可以排除存储器固定类故障、转换类故障以及地址译码故障。
[0061] 步骤302：按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写5和写A，直到写完所有存储单元，读第三存储结果，基于第三存储结果确定第二检测状态。
[0062] 在本申请实施例中，按地址升序，从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写5和写A，直到写完所有存储单元；按地址降序，读取所有存储单元的存储结果确定为第三存储结果；以及，如果第三存储结果中所有存储单元的内容从第一存储单元开始至最后一个存储单元依次循环为5、A，则第二检测状态为正常，否则第二检测状态为异常。这样，如果第二检测状态为正常，可以排除存储器数据线路故障、耦合故障(包括字内状态耦合故障、翻转耦合故障、幂耦合故障和字内桥连故障)、跳变故障、连接故障以及三单元耦合故障。
[0063] 步骤303：按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写C和写3，直到写完所有存储单元，读第四存储结果，基于第四存储结果确定第三检测状态。
[0064] 在本申请实施例中，按地址降序，从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写C和写3，直到写完所有存储单元；按地址升序，读取所有存储单元的存储结果确定为第四存储结果；以及，如果第四存储结果中所有存储单元的内容从第一存储单元开始至最后一个存储单元依次循环为C、3，则第三检测状态为正常，否则第三检测状态为异常。这样，如果第三检测状态为正常，可以排除存储器数据线故障和耦合故障(包括字内状态耦合故障、翻转耦合故障、幂耦合故障和字内桥连故障)。
[0065] 步骤304：按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写E和写1，直到写完所有存储单元，读第五存储结果，基于第五存储结果确定第四检测状态。
[0066] 在本申请实施例中，按地址升序，从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写E和写1，直到写完所有存储单元；按地址降序，读取所有存储单元的存储结果确定为第五存储结果；以及，如果第五存储结果中所有存储单元的内容从第一存储单元开始至最后一个存储单元依次为E、1，则第四检测状态为正常，否则第四检测状态为异常。这样，如果第四检测状态为正常，可以排除存储器数据线故障、耦合故障(包括字内状态耦合故障、翻转耦合故障、幂耦合故障和字内桥连故障)、桥连故障和相邻图形敏感故障。
[0067] 步骤305：按照地址设定顺序从第一存储单元开始对所有存储器单元逐一进行写设定数据、读数据、基于读数据确定存储单元检测状态，直到根据所有存储单元检测状态确定第五检测状态。
[0068] 在本申请实施例中，按地址升序，从第一存储单元开始所有存储器单元逐一进行写设定数据、读数据，如果读取数据与设定数据相同，则确定这一存储单元检测状态为正常，否则为异常，例如所述的设定数据可以是5，如果读取数据是5，则确定这一存储单元检测状态为正常，否则为异常；直到如果所有存储单元检测状态均为正常，则确定第五检测状态为正常，否则第五检测状态为异常。这样，如果第五检测状态为正常，可以排除存储器地址线故障和地址译码故障。
[0069] 步骤306：基于第一检测状态、第二检测状态、第三检测状态、第四检测状态和第五检测状态确定存储器检测结果。
[0070] 在本申请实施例中，如果第一检测状态、第二检测状态、第三检测状态、第四检测状态和第五检测状态均为正常，则存储器检测结果为正常，否则为异常。如果第一检测状态、第二检测状态、第三检测状态、第四检测状态和第五检测状态均为正常，说明可以排除存储器的固定故障、地址译码故障、转换故障、翻转耦合故障、幂耦合故障、字内状态耦合故障、字内桥连故障、连接故障、三单元耦合故障、地址线故障和数据线故障，实现对存储器的全面检测。
[0071] 所述的存储检测方法的表达式为：
[0072] {w0↑；(r0,w1)↓；(r1,w5),(r1,wA)↑；(r5,wC),(rA,w3)↓；(rC,wE),(r3,w1)↑；(rE,r1)↓,w(addr))↑；r(addr)↑}
[0073] 其中↑表示按照地址升序；↓表示按照地址降序；w表示写存储单元，例如w0表示对存储单元进行写0操作；r表示读存储单元。
[0074] 通过表达式可见，所述存储器检测方法的复杂度O(N)，操作数为12N。在实现对存储器故障全面检测的同时，操作数减少，检测时间减少，降低了检测成本。
[0075] 与上述方法实施例相对应，本说明书还提供了存储器检测装置实施例，图4示出了本说明书一个实施例的存储器检测装置400示意图。如图4所示，该装置包括：
[0076] 第一检测状态确定单元401，用于按照地址设定顺序对所有存储单元分别写0、读第一存储结果、写1和读第二存储结果，基于第一存储结果和第二存储结果确定第一检测状态；
[0077] 第二检测状态确定单元402，用于按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写5和写A，直到写完所有存储单元，读第三存储结果，基于第三存储结果确定第二检测状态；
[0078] 第三检测状态确定单元403，用于按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写C和写3，直到写完所有存储单元，读第四存储结果，基于第四存储结果确定第三检测状态；
[0079] 第四检测状态确定单元404，用于按照地址设定顺序从第一存储单元开始对相邻存储单元分别写E和写1，直到写完所有存储单元，读第五存储结果，基于第五存储结果确定第四检测状态；以及，
[0080] 第五检测状态确定单元405，用于按照地址设定顺序从第一存储单元开始对所有存储器单元逐一进行写设定数据、读数据、基于读数据确定存储单元检测状态，直到根据所有存储单元检测状态确定第五检测状态；以及，
[0081] 存储器检测结果确定单元406，基于第一检测状态确定单元401、第二检测状态402、第三检测状态确定单元403、第四检测状确定单元态404和第五检测状态确定单元405确定存储器检测结果。
[0082] 本申请一实施例还提供一种计算机可读存储介质，其存储有计算机指令，该指令被处理器执行时实现如前所述存储器检测方法的步骤。
[0083] 上述为本实施例的一种计算机可读存储介质的示意性方案。需要说明的是，该存储介质的技术方案与上述的存储器检测方法的技术方案属于同一构思，存储介质的技术方案未详细描述的细节内容，均可以参见上述存储器检测方法的技术方案的描述。
[0084] 上述对本说明书特定实施例进行了描述。其它实施例在所附权利要求书的范围内。在一些情况下，在权利要求书中记载的动作或步骤可以按照不同于实施例中的顺序来执行并且仍然可以实现期望的结果。另外，在附图中描绘的过程不一定要求示出的特定顺序或者连续顺序才能实现期望的结果。在某些实施方式中，多任务处理和并行处理也是可以的或者可能是有利的。
[0085] 所述计算机指令包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read‑Only Memory)、随机存取存储器(RAM，RandomAccess Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不包括电载波信号和电信信号。
[0086] 综上所述，根据示例性实施例，所述存储器检测方法可以排除存储器的固定故障、地址译码故障、转换故障、翻转耦合故障、幂耦合故障、字内状态耦合故障、字内桥连故障、连接故障、三单元耦合故障、地址线故障和数据线故障，实现对存储器的全面检测，将操作数从28N降低到12N，减少测试时间，降低了存储器测试成本。
[0087] 需要指出的是，在本公开的装置和方法中，显然，各部件或各步骤是可以分结和/或重新组合的。这些分结和/或重新组合应视为本公开的等效方案。并且，执行上述系列处理的步骤可以自然地按照说明的顺序按时间顺序执行，但是并不需要一定按照时间顺序执行。某些步骤可以并行或彼此独立地执行。
[0088] 上述具体实施方式，并不构成对本公开保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，取决于设计要求和其他因素，可以发生各种各样的修改、组合、子组合和替代。任何在本公开的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本公开保护范围之内。
