显示面板转让专利
申请号 : CN202010904535.7
文献号 : CN112068338B
文献日 : 2021-11-02
发明人 : 肖邦清 , 李懿
申请人 : 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
摘要 :
权利要求 :
1.一种显示面板,其特征在于,包括显示区和位于所述显示区一侧的绑定测试区,所述绑定测试区包括位于所述绑定测试区中部的密封胶留白子区,以及位于密封胶留白子区两侧的密封胶涂布子区;所述显示面板包括:密封胶层,位于所述密封胶涂布子区内;以及,衬底基板,所述衬底基板包括平坦绝缘层,所述衬底基板上设有多个第一测试端子和至少一第二测试端子;各所述第一测试端子均位于所述密封胶涂布子区内,且位于所述平坦绝缘层和所述密封胶层之间;所述第二测试端子位于所述密封胶留白子区内,且位于所述平坦绝缘层下。
2.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述衬底基板还包括衬底,所述平坦绝缘层位于所述衬底上方,所述第二测试端子位于所述平坦绝缘层与所述衬底之间。
3.根据权利要求2所述的显示面板,其特征在于,至少一所述第一测试端子与所述第二测试端子之间设置有信号连接走线,且所述信号连接走线位于所述平坦绝缘层与所述衬底之间。
4.根据权利要求3所述的显示面板,其特征在于,各所述第一测试端子中,位于所述第二测试端子两侧的两所述第一测试端子分别通过所述信号连接走线与所述第二测试端子连接,且该两所述第一测试端子到所述第二测试端子的距离小于其它所述第一测试端子到所述第二测试端子的距离。
5.根据权利要求3所述的显示面板,其特征在于,所述衬底上设有与所述第一测试端子连接的第一信号测试走线、所述衬底和所述第一信号测试走线设有覆盖所述第一信号测试走线的第一绝缘层、所述第一绝缘层上设有与所述第一测试端子连接第二信号测试走线、所述第一绝缘层和所述第二信号测试走线上设有覆盖所述第二信号测试走线的第二绝缘层,所述平坦绝缘层设置于所述第二绝缘层上,所述信号连接走线的横截面积大于所述第一信号测试走线的横截面积,且所述信号连接走线的横截面积大于所述第二信号测试走线的横截面积。
6.根据权利要求5所述的显示面板,其特征在于,所述信号连接走线设置于所述衬底与所述第一绝缘层之间;或
所述信号连接走线设置于所述第一绝缘层与所述第二绝缘层之间。
7.根据权利要求5所述的显示面板,其特征在于,所述第二测试端子设置于所述衬底与所述第一绝缘层之间;或
所述第二测试端子设置于所述第一绝缘层与所述第二绝缘层之间。
8.根据权利要求5所述的显示面板,其特征在于,所述信号连接走线包括设置于所述衬底与所述第一绝缘层之间的第一信号连接走线、及设置于所述第一绝缘层与所述第二绝缘层之间的第二信号连接走线,所述第一信号连接走线与所述第二信号连接走线通过一桥接线并联。
9.根据权利要求8所述的显示面板,其特征在于,所述第一信号连接走线上方设有依次穿过所述第一绝缘层、第二绝缘层和所述平坦绝缘层的第一过孔,所述第二信号连接走线上方设有依次穿过所述第二绝缘层和所述平坦绝缘层的第二过孔,所述桥接线设置于所述平坦绝缘层与所述密封胶层之间,且所述桥接线一端穿过所述第一过孔与所述第一信号连接走线连接,所述桥接线另一端穿过所述第二过孔与所述第二信号连接走线连接。
10.根据权利要求9所述的显示面板,其特征在于,所述第一绝缘层上设有第三过孔,所述桥接线设置于所述第三过孔处,且所述桥接线两端分别与所述第一信号连接走线和所述第二信号连接走线连接,所述桥接线位于所述密封胶涂布子区或所述密封胶留白子区内。
说明书 :
显示面板
技术领域
背景技术
问题,避免后端材料浪费;通常会使TFT(Thin Film Transistor,薄膜晶体管)基板长于CF
(Color Filte,彩膜)基板,以形成绑定测试区(Outer Lead Bonding,OLB),露出产品的测
试端子(pad),用于扎针检查,在检测完成后通过诸如tuffy密封胶密封,防止水汽侵蚀。
胶区在中部重叠导致密封胶高度超过CF基板上的偏光片,影响显示面板的功能,因此,在两
端涂胶区之间设置一定间距的余量,从而在中间位置存在3‑5mm的涂布留白的位置,但却导
致位于中间位置的测试pad外露,容易将静电导入面板内部,造成静电炸伤,损坏显示面板
性能。
发明内容
端子;
且所述衬底基板和各所述第一测试端子上设有覆盖各所述第一测试端子的密封胶层。
各所述第一测试端子位于所述平坦绝缘层上,所述第二测试端子位于所述平坦绝缘层与所
述衬底之间。
所述第一测试端子到所述第二测试端子的距离小于其它所述第一测试端子到所述第二测
试端子的距离。
绝缘层、所述第一绝缘层上设有与所述第一测试端子连接第二信号测试走线、所述第一绝
缘层和所述第二信号测试走线上设有覆盖所述第二信号测试走线的第二绝缘层,所述平坦
绝缘层设置于所述第二绝缘层上,所述信号连接走线的横截面积大于所述第一信号测试走
线的横截面积,且所述信号连接走线的横截面积大于所述第二信号测试走线的横截面积。
二信号连接走线,所述第一信号连接走线与所述第二信号连接走线通过一桥接线并联。
次穿过所述第二绝缘层和所述平坦绝缘层的第二过孔,所述桥接线设置于所述平坦绝缘层
与所述密封胶层之间,且所述桥接线一端穿过所述第一过孔与所述第一信号连接走线连
接,所述桥接线另一端穿过所述第二过孔与所述第二信号连接走线连接。
接走线连接,所述桥接线位于所述密封胶涂布子区或所述密封胶留白子区内。
述密封胶留白子区内没有外露的测试端子,避免了测试端子在所述密封胶留白子区外露,
从而也避免了静电导入面板内部,保证了显示面板内部电路的稳定性。
附图说明
具体实施方式
本申请中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施
例,都属于本申请保护的范围。
针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于
描述本申请和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特
定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。此外,术语“第一”、“第二”仅用于
描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。
由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在
本申请的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
以是机械连接,也可以是电连接或可以相互通讯;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间
接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术
人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
们之间的另外的特征接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特
征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在
第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方,或仅仅表示
第一特征水平高度小于第二特征。
且目的不在于限制本申请。此外,本申请可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母,
这种重复是为了简化和清楚的目的,其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的
关系。此外,本申请提供了的各种特定的工艺和材料的例子,但是本领域普通技术人员可以
意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。
定测试区200内的第一测试端子10;
密封胶涂布子区220内,且所述衬底基板1和各所述第一测试端子10上设有覆盖各所述第一
测试端子10的密封胶层(图中未出示)。
免两端涂胶区在中部重叠导致密封胶高度超过CF基板上的偏光片,影响显示面板的功能,
因此,在两端涂胶区之间设置一定间距的余量,从而在中间位置存在3‑5mm的涂布留白的位
置,但却导致位于中间位置的测试pad外露,容易将静电导入面板内部,造成静电炸伤,损坏
显示面板性能;本实施例中,通过将绑定测试区200划分为密封胶留白子区210和密封胶涂
布子区220,并且将需要密封胶层密封的各第一测试端子10设置于所述密封胶涂布子区
220,使得所述密封胶留白子区210内没有外露的测试端子,避免了测试端子在所述密封胶
留白子区210外露,从而也避免了静电导入面板内部,保证了显示面板内部电路的稳定性。
衬底11上方的平坦绝缘层12,各所述第一测试端子10位于所述平坦绝缘层12上,所述第二
测试端子20位于所述平坦绝缘层12与所述衬底11之间;可以理解的是,所述第二测试端子
20位于所述平坦绝缘层12与所述衬底11之间,也即是将位于所述密封胶留白子区210内的
所述第二测试端子20设置于所述衬底基板1内,在没有所述密封胶层的情况下,通过所述平
坦绝缘层12实现对所述第二测试端子20密封,避免水汽侵蚀所述第二测试端子20,也防止
所述第二测试端子20外露造成静电导入显示面板内部,保证了所述显示面板内部电路的稳
定性。
底11之间;可以理解的是,将所述第二测试端子20设置于所述平坦绝缘层12与所述衬底11
之间时,为便于在显示面板测试时,对所述第二测试端子20导入测试信号,本实施例中,通
过至少一所述第一测试端子10与所述第二测试端子20之间设置有信号连接走线21,实现测
试信号从其中一所述第一测试端子10沿所述信号连接走线21导入到所述第二测试端子20,
从而便于通过所述第一测试端子10和所述第二测试端子20对所述显示面板进行测试;具体
的,所述平坦绝缘层12的材料可以为有机绝缘材料,所述平坦绝缘层12为PFA(Polymer
Film on Array,阵列基板侧有机膜)。
连接,且该两所述第一测试端子10到所述第二测试端子20的距离小于其它所述第一测试端
子10到所述第二测试端子20的距离;可以理解的是,所述第二测试端子20可以通过任一所
述第一测试端子10与外部进行连接,本实施例中,各所述第一测试端子10中,位于所述第二
测试端子20两侧的两所述第一测试端子10分别通过所述信号连接走线21与所述第二测试
端子20连接,且该两所述第一测试端子10到所述第二测试端子20的距离小于其它所述第一
测试端子10到所述第二测试端子20的距离,也即是将与所述第二测试端子20最近的两所述
第一测试端子10通过所述信号连接走线21连接,避免所述信号连接走线21干扰显示面板内
其他走线的排布,也可以减少所述信号连接走线21的长度,降低所述信号连接走线21的阻
抗,减少对测试信号的干扰。
试走线16的第一绝缘层13、所述第一绝缘层13上设有与所述第一测试端子10连接第二信号
测试走线14、所述第一绝缘层13和所述第二信号测试走线14上设有覆盖所述第二信号测试
走线14的第二绝缘层15,所述平坦绝缘层12设置于所述第二绝缘层15上,所述信号连接走
线21的横截面积大于所述第一信号测试走线16的横截面积,且所述信号连接走线21的横截
面积大于所述第二信号测试走线14的横截面积。可以理解的是,所述第一信号测试走线16
和所述第二信号测试走线14均用于与所述显示面板内的薄膜晶体管等功能结构进行连接,
以实现对所述显示面板的检测,具体的,所述第一信号测试走线16和所述第二信号测试走
线14均通过对应的过孔与所述第一测试端子10连接均为现有的结构,在此不再赘述。
述测试信号,由于所述信号连接走线21可能无法满足电阻电容匹配的要求,容易导致所述
第二测试端子20收到测试信号与所述第一测试端子10收到的测试信号产生一定的差异,本
实施例中,通过使所述信号连接走线21的横截面积大于所述第一信号测试走线16的横截面
积,且所述信号连接走线21的横截面积大于所述第二信号测试走线14的横截面积,增大所
述信号连接走线21的横截面积以降低所述信号连接走线21的电阻,避免所述第二测试端子
20收到测试信号与所述第一测试端子10收到的测试信号产生较大差异。
之间;或将所述信号连接走线21设置于所述第一绝缘层13与所述第二绝缘层15之间,也即
是,将所述信号连接走线21与所述第一信号测试走线16或所述第二信号测试走线14进行同
层设置,便于所述信号连接走线21与所述第一信号测试走线16或所述第二信号测试走线14
采用同一道制程制备。
一绝缘层13之间;如图5所示,或将所述第二测试端子20设置于所述第一绝缘层13与所述第
二绝缘层15之间;均可实现通过所述平坦绝缘层12或其它绝缘层对所述第二测试端子20覆
盖密封。
第二绝缘层15之间的第二信号连接走线212,所述第一信号连接走线211与所述第二信号连
接走线212通过一桥接线213并联;可以理解的是,所述信号连接走线21可以包括设置于所
述衬底11与所述第一绝缘层13之间的第一信号连接走线211和设置于所述第一绝缘层13与
所述第二绝缘层15之间的第二信号连接走线212,本实施例中,通过将所述第一信号连接走
线211与所述第二信号连接走线212并联,以减少所述信号连接走线21的阻抗,避免所述第
二测试端子20收到测试信号与所述第一测试端子10收到的测试信号产生较大差异。
上方设有依次穿过所述第二绝缘层15和所述平坦绝缘层12的第二过孔215,所述桥接线213
设置于所述平坦绝缘层12与所述密封胶层之间,且所述桥接线213一端穿过所述第一过孔
214与所述第一信号连接走线211连接,所述桥接线213另一端穿过所述第二过孔215与所述
第二信号连接走线212连接;可以理解的是,通过将所述桥接线213一端穿过所述第一过孔
214与所述第一信号连接走线211连接,所述桥接线213另一端穿过所述第二过孔215与所述
第二信号连接走线212连接,实现所述第一信号连接走线211与所述第二信号连接走线212
并联,值得注意的是,所述第一过孔214、第二过孔215和所述桥接线213均位于所述密封胶
涂布子区220内;具体的,所述桥接线213可以与所述第一测试端子10采用相同材料和同一
制程制作而成。
所述第二信号连接走线212连接,所述桥接线213位于所述密封胶涂布子区220或所述密封
胶留白子区210内;可以理解的是,所述第三过孔216处设置于所述第一绝缘层13上,所述桥
接线213设置于所述第三过孔216处没有外露,因此,所述桥接线213和所述第三过孔216的
位置可以是多样的,具体可以位于所述密封胶涂布子区220或所述密封胶留白子区210内。
使得所述密封胶留白子区210内没有外露的测试端子,避免了测试端子在所述密封胶留白
子区210外露,从而也避免了静电导入面板内部,保证了显示面板内部电路的稳定性。
想;本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行
修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案
的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。