图像缺陷标注模型的标注准确率识别方法、识别装置

摘要

本发明提供一种图像缺陷标注模型的标注准确率识别方法、识别装置，所述方法包括：获取对应的图像ID；根据图像ID获取第一标注员标注的第一和第二标注员标注的第二缺陷标注详情，并进行对比，以获取第一缺陷标注对比结果，使第三标注员根据第一缺陷标注对比结果继续进行缺陷标注，生成第三缺陷标注详情；获取图像缺陷标注模型标注的第四陷标注详情；将第四和第三缺陷标注详情进行对比，以获取第二缺陷标注对比结果，进而获取图像缺陷标注模型的标注准确率。本发明极大降低了审核员的人力成本和时间成本，最大限度地提高了标注效率，从而可以提高图像缺陷标注模的标注准确率的识别效率，为提高图像缺陷标注模的标注准确率提供很好的辅助分析。

权利要求

1.一种图像缺陷标注模型的标注准确率识别方法，其特征在于，包括以下步骤：循环遍历标注集，获取对应的图像ID；

根据图像ID获取第一标注员标注的第一缺陷标注详情和第二标注员标注的第二缺陷标注详情，其中，所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情包括缺陷名称和与所述缺陷名称对应的缺陷坐标；

将所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情进行对比，以获取第一缺陷标注对比结果，以使第三标注员根据所述第一缺陷标注对比结果继续进行缺陷标注，并生成第三缺陷标注详情；

获取所述图像缺陷标注模型标注的第四陷标注详情；

将所述第四陷标注详情和所述第三缺陷标注详情进行对比，以获取第二缺陷标注对比结果；

根据所述第二缺陷标注对比结果获取所述图像缺陷标注模型的标注准确率；其中，将所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情进行对比，以获取第一缺陷标注对比结果，包括：

依次对比所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情的缺陷名称是否一致；

如果不一致，则对比下一组缺陷名称，直到所有缺陷名称对比完成；

如果一致，则分别获取第一缺陷标注详情的缺陷名称对应的第一缺陷坐标和第二缺陷标注详情的缺陷名称对应的第二缺陷坐标，并分别计算所述第一缺陷坐标围成的第一空间图形的面积和第二缺陷坐标围城的第二空间图形的面积，以及第一空间图形和第二空间图形的相交面积；

判断是否所述相交面积与所述第一空间图形的面积的比值大于预设值且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大于所述预设值；

如果所述相交面积与所述第一空间图形的面积的比值大于预设值且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大于所述预设值，则备注当前所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情的标注的缺陷“一致”；

如果所述相交面积与所述第一空间图形的面积的比值小于或等于预设值，或者，所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值小于或等于所述预设值，则返回“对比下一组缺陷名称，直到所有缺陷名称对比完成”步骤；

将所述第四陷标注详情和所述第三缺陷标注详情进行对比，以获取第二缺陷标注对比结果，包括：

步骤S501，分别获取第三缺陷标注详情的缺陷对应的第三缺陷坐标和第四缺陷标注详情的缺陷对应的第三缺陷坐标，并分别计算所述第三缺陷坐标围成的第三空间图形的面积和第四缺陷坐标围城的第四空间图形的面积，以及第三空间图形和第四空间图形的相交面积；

步骤S502，判断是否所述第三空间图形的面积与所述相交面积的比值大于预设值且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大于所述预设值；

步骤S503，如果不存在所述第三空间图形的面积与所述相交面积的比值大于预设值且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大于所述预设值，则判断所有缺陷是否对比完成，如果缺陷对比完成，则执行步骤S507；如果所有缺陷未对比完成，则返回步骤S501；

步骤S504，如果所述第三空间图形的面积与所述相交面积的比值大于预设值且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大于所述预设值，则判断所述第三缺陷标注详情的缺陷名称和所述第四陷标注详情的缺陷名称是否一致；

步骤S505，如果一致，则备注当前标注的缺陷“一致”，并返回步骤S503；

步骤S506，如果不一致，则备注当前标注的缺陷“分类错误”，并返回步骤S503；

步骤S507，遍历所述图像缺陷标注模型标注的所述第四陷标注详情，将未备注的缺陷识备注为“过杀”；

S508，遍历所述第三标注员标注的所述第三缺陷标注详情，将未备注的缺陷识别备注为“漏检”。

2.根据权利要求1所述的图像缺陷标注模型的标注准确率识别方法，其特征在于，分别计算所述第一缺陷坐标围成的第一空间图形的面积和第二缺陷坐标围城的第二空间图形的面积，以及第一空间图形和第二空间图形的相交面积，包括：获取所述第一缺陷标注详情的缺陷名称对应的第一缺陷标注类型和所述第二缺陷标注详情的缺陷名称对应的第二缺陷标注类型；

如果所述第一缺陷标注类型和所述第二缺陷类型为折线、圆点或者多边形，则调用PostGIS封装的函数提取出第一缺陷坐标的第一外接四边形和第二缺陷坐标的第二外接四边形；

基于所述PostGIS计算第一外接四边形的面积、第二外接四边形的面积、第一外接四边形和第二外接四边形的相交面积。

3.根据权利要求2所述的图像缺陷标注模型的标注准确率识别方法，其特征在于，分别计算所述第三缺陷坐标围成的第三空间图形的面积和第四缺陷坐标围城的第四空间图形的面积，以及第三空间图形和第四空间图形的相交面积，包括：获取每个所述第三缺陷标注详情的缺陷对应的第三缺陷标注类型和所述第四缺陷标注详情的缺陷对应的第四缺陷标注类型；

如果所述第三缺陷标注类型和所述第四缺陷类型为折线、圆点或者多边形，则调用PostGIS封装的函数提取出第三缺陷坐标的第三外接四边形和第四缺陷坐标的第四外接四边形；

基于所述PostGIS计算第三外接四边形的面积、第四外接四边形的面积、第三外接四边形和第四外接四边形的相交面积。

4.一种图像缺陷标注模型的标注准确率识别装置，其特征在于，包括：第一获取模块，所述第一获取模块用于循环遍历标注集，获取对应的图像ID；

第二获取模块，用于根据图像ID获取第一标注员标注的第一缺陷标注详情和第二标注员标注的第二缺陷标注详情，其中，所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情包括缺陷名称和与所述缺陷名称对应的缺陷坐标；

第一对比模块，所述第一对比模块用于将所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情进行对比，以获取第一缺陷标注对比结果，以使第三标注员根据所述第一缺陷标注对比结果继续进行缺陷标注，并生成第三缺陷标注详情；

第三获取模块，所述第三获取模块用于获取所述图像缺陷标注模型标注的第四陷标注详情；

第二对比模块，所述第二对比模块用于将所述第四陷标注详情和所述第三缺陷标注详情进行对比，以获取第二缺陷标注对比结果；

识别模块，所述识别模块用于根据所述第二缺陷标注对比结果获取所述图像缺陷标注模型的标注准确率；

所述第一对比模块具体用于：

依次对比所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情的缺陷名称是否一致；

如果不一致，则对比下一组缺陷名称，直到所有缺陷名称对比完成；

如果一致，则分别获取第一缺陷标注详情的缺陷名称对应的第一缺陷坐标和第二缺陷标注详情的缺陷名称对应的第二缺陷坐标，并分别计算所述第一缺陷坐标围成的第一空间图形的面积和第二缺陷坐标围城的第二空间图形的面积，以及第一空间图形和第二空间图形的相交面积；

判断是否所述相交面积与所述第一空间图形的面积的比值大于预设值且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大于所述预设值；

如果是，则备注当前所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情的标注的缺陷“一致”；

如果否，则返回“对比下一组缺陷名称，直到所有缺陷名称对比完成”步骤；

所述第二对比模块具体用于：

步骤S501，分别获取第三缺陷标注详情的缺陷对应的第三缺陷坐标和第四缺陷标注详情的缺陷对应的第三缺陷坐标，并分别计算所述第三缺陷坐标围成的第三空间图形的面积和第四缺陷坐标围城的第四空间图形的面积，以及第三空间图形和第四空间图形的相交面积；

步骤S502，判断是否所述第三空间图形的面积与所述相交面积的比值大于预设值且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大于所述预设值；

步骤S503，如果不存在所述第三空间图形的面积与所述相交面积的比值大于预设值且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大于所述预设值，则判断所有缺陷是否对比完成，如果缺陷对比完成，则执行步骤S507；如果所有缺陷未对比完成，则返回步骤S501；

步骤S504，如果所述第三空间图形的面积与所述相交面积的比值大于预设值且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大于所述预设值，则判断所述第三缺陷标注详情的缺陷名称和所述第四陷标注详情的缺陷名称是否一致；

步骤S505，如果一致，则备注当前标注的缺陷“一致”；

步骤S506，如果不一致，则备注当前标注的缺陷“分类错误”；

步骤S507，遍历所述图像缺陷标注模型标注的所述第四陷标注详情，将未备注的缺陷识备注为“过杀”；

S508，遍历所述第三标注员标注的所述第三缺陷标注详情，将未备注的缺陷识别备注为“漏检”。

5.根据权利要求4所述的图像缺陷标注模型的标注准确率识别装置，其特征在于，所述第一对比模块进一步用于：

获取所述第一缺陷标注详情的缺陷名称对应的第一缺陷标注类型和所述第二缺陷标注详情的缺陷名称对应的第二缺陷标注类型；

如果所述第一缺陷标注类型和所述第二缺陷类型为折线、圆点或者多边形，则调用PostGIS封装的函数提取出第一缺陷坐标的第一外接四边形和第二缺陷坐标的第二外接四边形；

基于所述PostGIS计算第一外接四边形的面积、第二外接四边形的面积、第一外接四边形和第二外接四边形的相交面积。

6.根据权利要求5所述的图像缺陷标注模型的标注准确率识别装置，其特征在于，所述第二对比模块进一步用于：

获取每个所述第三缺陷标注详情的缺陷对应的第三缺陷标注类型和所述第四缺陷标注详情的缺陷对应的第四缺陷标注类型；

如果所述第三缺陷标注类型和所述第四缺陷类型为折线、圆点或者多边形，则调用PostGIS封装的函数提取出第三缺陷坐标的第三外接四边形和第四缺陷坐标的第四外接四边形；

基于所述PostGIS计算第三外接四边形的面积、第四外接四边形的面积、第三外接四边形和第四外接四边形的相交面积。

说明书

图像缺陷标注模型的标注准确率识别方法、识别装置

技术领域

[0001] 本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及一种图像缺陷标注模型的标注准确率识别方法和一种图像缺陷标注模型的标注准确率识别装置。

背景技术

[0002] 目前，工业互联网领域，对于图像缺陷标注可采用图像缺陷标注模型进行自动标注，在采用图像缺陷标注模型进行自动标注时，需要预先对图像缺陷标注模型进行学习训
练，学习训练时，需要根据图像缺陷标注模型的标注准确率进行不断的学习训练，直至图像
缺陷标注模型的标注准确率达到要求方可，因此，在对图像缺陷标注模型进行学习训练时，
需要对图像缺陷标注模型的标注准确率进行识别。

[0003] 相关技术中，在进行图像缺陷标注模型的标注准确率识别时，一般是将具有一定标注经验的审核员的标注的缺陷标注详情和和图像缺陷标注模型标注的标注详情进行对
比，以获取图像缺陷标注模型的标注准确率。

[0004] 然而，具有一定标注经验的审核员的人才稀缺，且每个审核员的精力有限，导致图像缺陷标注效率低下。

发明内容

[0005] 本发明为解决上述技术问题，本发明的第一个目的提出一种图像缺陷标注模型的标注准确率识别方法，该方法可以使审核员在经验一般的两个标注员标注的对比结果上再
进行标注，只需对两个标注员标注不一致的地方进行标注，极大降低了审核员的人力成本
和时间成本，最大限度地提高了标注效率，从而可以提高图像缺陷标注模的标注准确率的
识别效率，为提高图像缺陷标注模的标注准确率提供很好的辅助分析。

[0006] 本发明第二个目的提出一种图像缺陷标注模型的标注准确率识别装置。

[0007] 本发明采用的技术方案如下：

[0008] 本发明第一方面的实施例提出了一种图像缺陷标注模型的标注准确率识别方法，包括以下步骤：循环遍历标注集，获取对应的图像ID；根据图像ID获取第一标注员标注的第
一缺陷标注详情和第二标注员标注的第二缺陷标注详情，其中，所述第一缺陷标注详情和
所述第二缺陷标注详情包括缺陷名称和与所述缺陷名称对应的缺陷坐标；将所述第一缺陷
标注详情和所述第二缺陷标注详情进行对比，以获取第一缺陷标注对比结果，以使所述第
三标注员根据所述第一缺陷标注对比结果继续进行缺陷标注，并生成第三缺陷标注详情；
获取所述图像缺陷标注模型标注的第四陷标注详情；将所述第四陷标注详情和所述第三缺
陷标注详情进行对比，以获取第二缺陷标注对比结果；根据所述第二缺陷标注对比结果获
取所述图像缺陷标注模型的标注准确率。

[0009] 本发明上述提出的图像缺陷标注模型的标注准确率识别方法还可以具有如下附加技术特征：

[0010] 根据本发明的一个实施例，将所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情进行对比，以获取第一缺陷标注对比结果，包括：获取所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷
标注详情的缺陷名称；依次对比所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情的缺陷名
称是否一致；如果不一致，则对比下一组缺陷名称，直到所有缺陷名称对比完成；如果一致，
则分别获取第一缺陷标注详情的缺陷名称对应的第一缺陷坐标和第二缺陷标注详情的缺
陷名称对应的第二缺陷坐标，并分别计算所述第一缺陷坐标围成的第一空间图形的面积和
第二缺陷坐标围城的第二空间图形的面积，以及第一空间图形和第二空间图形的相交面
积；判断是否所述相交面积与所述第一空间图形的面积的比值大于预设值且所述相交面积
与所述第二空间图形的面积的比值大于所述预设值；如果是，则备注当前所述第一缺陷标
注详情和所述第二缺陷标注详情的标注的缺陷“一致”；如果否，则返回“对比下一组缺陷名
称，直到所有缺陷名称对比完成”步骤。

[0011] 根据本发明的一个实施例，分别计算所述第一缺陷坐标围成的第一空间图形的面积和第二缺陷坐标围城的第二空间图形的面积，以及第一空间图形和第二空间图形的相交
面积，包括：获取所述第一缺陷标注详情的缺陷名称对应的第一缺陷标注类型和所述第二
缺陷标注详情的缺陷名称对应的第二缺陷标注类型；如果所述第一缺陷标注类型和所述第
二缺陷类型为折线、圆点或者多边形，则调用PostGIS(空间数据库)封装的函数提取出第一
缺陷坐标的第一外接四边形和第二缺陷坐标的第二外接四边形。基于所述PostGIS计算第
一外接四边形的面积、第二外接四边形的面积、第一外接四边形和第二外接四边形的相交
面积。

[0012] 根据本发明的一个实施例，将所述第四陷标注详情和所述第三缺陷标注详情进行对比，以获取第二缺陷标注对比结果，包括：步骤S501，分别获取第三缺陷标注详情的缺陷
对应的第三缺陷坐标和第四缺陷标注详情的缺陷对应的第三缺陷坐标，并分别计算所述第
三缺陷坐标围成的第三空间图形的面积和第四缺陷坐标围城的第四空间图形的面积，以及
第三空间图形和第四空间图形的相交面积；步骤S502，判断是否所述第三空间图形的面积
与所述相交面积的比值大于预设值且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大
于所述预设值；步骤S503，如果不存在所述第三空间图形的面积与所述相交面积的比值大
于预设值且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大于所述预设值，则判断所有
缺陷是否对比完成，如果缺陷对比完成，则执行步骤S507；如果所有缺陷未对比完成，则返
回步骤S501；步骤S504，如果所述第三空间图形的面积与所述相交面积的比值大于预设值
且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大于所述预设值，则判断所述第三缺陷
标注详情的缺陷名称和所述第四陷标注详情的缺陷名称是否一致；步骤S505，如果一致，则
备注当前标注的缺陷“一致”；步骤S506，如果不一致，则备注当前标注的缺陷“分类错误”；
步骤S507，遍历所述图像缺陷标注模型标注的所述第四陷标注详情，将未备注的缺陷识备
注为“过杀”；S508，遍历所述第三标注员标注的所述第三缺陷标注详情，将未备注的缺陷识
别备注为“漏检”。

[0013] 根据本发明的一个实施例，分别计算所述第三缺陷坐标围成的第三空间图形的面积和第四缺陷坐标围城的第四空间图形的面积，以及第三空间图形和第四空间图形的相交
面积，包括：获取每个所述第三缺陷标注详情的缺陷对应的第三缺陷标注类型和所述第四
缺陷标注详情的缺陷对应的第四缺陷标注类型；如果所述第三缺陷标注类型和所述第四缺
陷类型为折线、圆点或者多边形，则调用PostGIS封装的函数提取出第三缺陷坐标的第三外
接四边形和第四缺陷坐标的第四外接四边形。基于所述PostGIS计算第三外接四边形的面
积、第四外接四边形的面积、第三外接四边形和第四外接四边形的相交面积。

[0014] 本发明第二方面的实施例提出了一种图像缺陷标注模型的标注准确率识别装置，包括：包括：第一获取模块，所述第一获取模块用于循环遍历标注集，获取对应的图像ID；第
二获取模块，用于根据图像ID获取第一标注员标注的第一缺陷标注详情和第二标注员标注
的第二缺陷标注详情，其中，所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情包括缺陷名
称和与所述缺陷名称对应的缺陷坐标；第一对比模块，所述第一对比模块用于将所述第一
缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情进行对比，以获取第一缺陷标注对比结果，以使所
述第三标注员根据所述第一缺陷标注对比结果继续进行缺陷标注，并生成第三缺陷标注详
情；第三获取模块，所述第三获取模块用于获取所述图像缺陷标注模型标注的第四陷标注
详情；第二对比模块，所述第二对比模块用于将所述第四陷标注详情和所述第三缺陷标注
详情进行对比，以获取第二缺陷标注对比结果；识别模块，所述识别模块用于根据所述第二
缺陷标注对比结果获取所述图像缺陷标注模型的标注准确率。

[0015] 本发明上述提出的图像缺陷标注模型的标注准确率识别装置还可以具有如下附加技术特征：

[0016] 根据本发明的一个实施例，所述第一对比模块具体用于：获取所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情的缺陷名称；依次对比所述第一缺陷标注详情和所述第二缺
陷标注详情的缺陷名称是否一致；如果不一致，则对比下一组缺陷名称，直到所有缺陷名称
对比完成；如果一致，则分别获取第一缺陷标注详情的缺陷名称对应的第一缺陷坐标和第
二缺陷标注详情的缺陷名称对应的第二缺陷坐标，并分别计算所述第一缺陷坐标围成的第
一空间图形的面积和第二缺陷坐标围城的第二空间图形的面积，以及第一空间图形和第二
空间图形的相交面积；判断是否所述相交面积与所述第一空间图形的面积的比值大于预设
值且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大于所述预设值；如果是，则备注当
前所述第一缺陷标注详情和所述第二缺陷标注详情的标注的缺陷“一致”；如果否，则返回
“对比下一组缺陷名称，直到所有缺陷名称对比完成”步骤。

[0017] 根据本发明的一个实施例，所述第一对比模块进一步用于：获取所述第一缺陷标注详情的缺陷名称对应的第一缺陷标注类型和所述第二缺陷标注详情的缺陷名称对应的
第二缺陷标注类型；如果所述第一缺陷标注类型和所述第二缺陷类型为折线、圆点或者多
边形，则调用PostGIS封装的函数提取出第一缺陷坐标的第一外接四边形和第二缺陷坐标
的第二外接四边形。基于所述PostGIS计算第一外接四边形的面积、第二外接四边形的面
积、第一外接四边形和第二外接四边形的相交面积。

[0018] 根据本发明的一个实施例，所述第二对比模块具体用于：步骤S501，分别获取第三缺陷标注详情的缺陷对应的第三缺陷坐标和第四缺陷标注详情的缺陷对应的第三缺陷坐
标，并分别计算所述第三缺陷坐标围成的第三空间图形的面积和第四缺陷坐标围城的第四
空间图形的面积，以及第三空间图形和第四空间图形的相交面积；步骤S502，判断是否所述
第三空间图形的面积与所述相交面积的比值大于预设值且所述相交面积与所述第二空间
图形的面积的比值大于所述预设值；步骤S503，如果不存在所述第三空间图形的面积与所
述相交面积的比值大于预设值且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大于所
述预设值，则判断所有缺陷是否对比完成，如果缺陷对比完成，则执行步骤S507；如果所有
缺陷未对比完成，则返回步骤S501；步骤S504，如果所述第三空间图形的面积与所述相交面
积的比值大于预设值且所述相交面积与所述第二空间图形的面积的比值大于所述预设值，
则判断所述第三缺陷标注详情的缺陷名称和所述第四陷标注详情的缺陷名称是否一致；步
骤S505，如果一致，则备注当前标注的缺陷“一致”；步骤S506，如果不一致，则备注当前标注
的缺陷“分类错误”；步骤S507，遍历所述图像缺陷标注模型标注的所述第四陷标注详情，将
未备注的缺陷识备注为“过杀”；S508，遍历所述第三标注员标注的所述第三缺陷标注详情，
将未备注的缺陷识别备注为“漏检”。

[0019] 根据本发明的一个实施例，所述第二对比模块进一步用于：获取每个所述第三缺陷标注详情的缺陷对应的第三缺陷标注类型和所述第四缺陷标注详情的缺陷对应的第四
缺陷标注类型；如果所述第三缺陷标注类型和所述第四缺陷类型为折线、圆点或者多边形，
则调用PostGIS封装的函数提取出第三缺陷坐标的第三外接四边形和第四缺陷坐标的第四
外接四边形。基于所述PostGIS计算第三外接四边形的面积、第四外接四边形的面积、第三
外接四边形和第四外接四边形的相交面积。

[0020] 本发明的有益效果：

[0021] 本发明可以使审核员在经验一般的两个标注员标注的对比结果上再进行标注，只需对两个标注员标注不一致的地方进行标注，极大降低了审核员的人力成本和时间成本，
最大限度地提高了标注效率，从而可以提高图像缺陷标注模的标注准确率的识别效率，为
提高图像缺陷标注模的标注准确率提供很好的辅助分析。

附图说明

[0022] 图1是根据本发明一个实施例的图像缺陷标注模型的标注准确率识别方法的流程图；

[0023] 图2是根据本发明另一个实施例的图像缺陷标注模型的标注准确率识别方法的流程图；

[0024] 图3是根据本发明又一个实施例的图像缺陷标注模型的标注准确率识别方法的流程图；

[0025] 图4是根据本发明一个实施例的图像缺陷标注模型的标注准确率识别装置的方框示意图。

具体实施方式

[0026] 下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于
本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他
实施例，都属于本发明保护的范围。

[0027] 图1是根据本发明一个实施例的图像缺陷标注模型的标注准确率识别方法的流程图。如图1所示，该方法包括以下步骤：

[0028] S10，循环遍历标注集，获取对应的图像ID。

[0029] S20，根据图像ID获取第一标注员标注的第一缺陷标注详情和第二标注员标注的第二缺陷标注详情。其中，第一缺陷标注详情和第二缺陷标注详情包括缺陷名称和与缺陷
名称对应的缺陷坐标。

[0030] 具体的，缺陷标注详情可以包括缺陷标注列表，列表中包括不同的缺陷名称(例如：开裂、内含物、斑块、点蚀表面；轧制氧化皮、划痕)，每个缺陷名称对应缺陷坐标。

[0031] S30，将第一缺陷标注详情和第二缺陷标注详情进行对比，以获取第一缺陷标注对比结果，以使第三标注员根据第一缺陷标注对比结果继续进行缺陷标注，并生成第三缺陷
标注详情。

[0032] S40，获取图像缺陷标注模型标注的第四陷标注详情。

[0033] S50，将第四陷标注详情和第三缺陷标注详情进行对比，以获取第二缺陷标注对比结果。

[0034] S60，根据第二缺陷标注对比结果获取图像缺陷标注模型的标注准确率。

[0035] 具体的，第一标注员A和第二标注员B可以先对图像进行标注，并存储在图像ID中，然后将第一标注员A和第二标注员B的缺陷标注详情进行对比，并生成第一对比结果。然后，
第三标注员C可以在第一对比结果的基础上继续进行标注，第三标注员C可以根据第一对比
结果，仅对第一标注员A和第二标注员B标注不一致的地方进行标注，在保证标注准确率的
同时可节省第三标注员C的人力成本和时间成本。然后，通过图像缺陷标注模型进行缺陷标
注，并获取其标注的第四陷标注详情，将第四陷标注详情(机器标注详情)和第三缺陷标注
详情(人工标注详情)进行对比，根据对比结果即可获取图像缺陷标注模型的标注准确率。
识别出图像缺陷标注模型的标注准确率后，可以根据准确率对图像缺陷标注模型进行训练
学习，直至准确率达到要求。

[0036] 第一标注员A和第二标注员B可以为经验一般的标注员，第三标注员C可以为具有一定经验的标注员即审核员，审核员只需对两个标注员标注不一致的地方进行标注和审
核，由此，既可以使经验一般的标注员快速提升自身的标注水平，又可以极大降低审核员的
人力成本和时间成本，最大限度地提高标注效率，为提高图像缺陷标注模的标注准确率提
供很好的辅助分析。

[0037] 根据本发明的一个实施例，如图2所示，将第一缺陷标注详情和第二缺陷标注详情进行对比，以获取第一缺陷标注对比结果，包括：

[0038] S301，依次对比第一缺陷标注详情和第二缺陷标注详情的缺陷名称是否一致。如果不一致，则执行步骤S302；如果不一致，则执行步骤S303。

[0039] S302，判断所有缺陷是否对比完成，如果缺陷对比完成，则执行步骤S306；如果所有缺陷未对比完成，则返回步骤S301。

[0040] S303，分别获取第一缺陷标注详情的缺陷名称对应的第一缺陷坐标和第二缺陷标注详情的缺陷名称对应的第二缺陷坐标，并分别计算第一缺陷坐标围成的第一空间图形的
面积S1和第二缺陷坐标围城的第二空间图形的面积S2，以及第一空间图形和第二空间图形
的相交面积S0。

[0041] S304，判断是否相交面积S0与第一空间图形的面积S1的比值大于预设值且相交面积S0与第二空间图形的面积S2的比值大于预设值。如果是执行步骤S305；如果否，则返回步
骤S302。

[0042] 预设值可以根据实际情况进行预设，例如75％。

[0043] S305，备注当前第一缺陷标注详情和第二缺陷标注详情的标注的缺陷“一致”。

[0044] S306，保存第一对比结果。

[0045] 具体的，将第一标注员A标注的第一缺陷标注详情和第二标注员B标注的第二缺陷标注详情中的缺陷分别一一对比。首先对比缺陷名称是否一致，如果不一致，则继续对比下
一组缺陷名称是否一致。如果缺陷名称一致，例如都为缺陷D，则获取第一标注员A标注的缺
陷D的第一缺陷坐标，并获取第二标注员B标注的缺陷D的第二缺陷坐标。然后，计算第一缺
陷坐标围成的第一空间图形的面积S1和第二缺陷坐标围城的第二空间图形的面积S2，以及
第一空间图形和第二空间图形的相交面积S0，再判断相交面积的各自占比是否超过75％，
如果超过75％，则备注对比的两个缺陷为“一致”；否则对比下一组缺陷，直到所有缺陷都对
比完成，并保存对比结果。

[0046] 进一步而言，在本发明的实施例中，分别计算第一缺陷坐标围成的第一空间图形的面积和第二缺陷坐标围城的第二空间图形的面积，以及第一空间图形和第二空间图形的
相交面积，包括：获取第一缺陷标注详情的缺陷名称对应的第一缺陷标注类型和第二缺陷
标注详情的缺陷名称对应的第二缺陷标注类型；如果第一缺陷标注类型和第二缺陷类型为
折线、圆点或者多边形，则调用PostGIS封装的函数提取出第一缺陷坐标的第一外接四边形
(第一空间图形)和第二缺陷坐标的第二外接四边形(第二空间图形)。基于PostGIS计算第
一外接四边形的面积(第一空间图形的面积)、第二外接四边形的面积(第二空间图形的面
积)、第一外接四边形和第二外接四边形的相交面积。

[0047] 具体的，针对第一标注员A标注的某一个缺陷D，读取该缺陷对应的第一标注坐标；针对第二标注员B标注的某一个缺陷D，读取该缺陷对应的第二标注坐标。如果缺陷D的标注
类型为折线、圆点或者多边形，则统一调用PostGIS封装的函数提取出第一标注坐标的外接
四边形和第二标注坐标的外接四边形。基于PostGIS计算第一标注坐标的外接四边形的面
积S1和第二标注坐标的外接四边形面积S2。基于S1、S2，调用PostGIS的库函数计算出S1、S2
的相交面积S0。

[0048] 根据本发明的一个实施例，如图3所示，将第四陷标注详情和第三缺陷标注详情进行对比，以获取第二缺陷标注对比结果，包括：

[0049] 步骤S501，分别获取第三缺陷标注详情的缺陷对应的第三缺陷坐标和第四缺陷标注详情的缺陷对应的第三缺陷坐标，并分别计算第三缺陷坐标围成的第三空间图形的面积
和第四缺陷坐标围城的第四空间图形的面积，以及第三空间图形和第四空间图形的相交面
积。

[0050] 步骤S502，判断是否第三空间图形的面积与相交面积的比值大于预设值且相交面积与第二空间图形的面积的比值大于预设值。

[0051] 步骤S503，如果不存在第三空间图形的面积与相交面积的比值大于预设值且相交面积与第二空间图形的面积的比值大于预设值，则判断所有缺陷是否对比完成，如果缺陷
对比完成，则执行步骤S507；如果所有缺陷未对比完成，则返回步骤S501。

[0052] 步骤S504，如果第三空间图形的面积与相交面积的比值大于预设值且相交面积与第二空间图形的面积的比值大于预设值，则判断第三缺陷标注详情的缺陷名称和第四陷标
注详情的缺陷名称是否一致。

[0053] 步骤S505，如果一致，则备注当前标注的缺陷“一致”，并返回步骤S503；。

[0054] 步骤S506，如果不一致，则备注当前标注的缺陷“分类错误”，并返回步骤S503。

[0055] 步骤S507，遍历图像缺陷标注模型标注的第四陷标注详情，将未备注的缺陷识备注为“过杀”。

[0056] S508，遍历第三标注员标注的第三缺陷标注详情，将未备注的缺陷识别备注为“漏检”。

[0057] S509，保存第二对比结果。

[0058] 具体的，将图像缺陷标注模型标注的每一个缺陷和第三标注员标注的每一个缺陷进行对比。基于PostGIS对比缺陷坐标围成的空间图形的相交面积各自占比是否超过75％，
如果超过75％，则检查缺陷的名称是否一致，如果一致则备注这两个缺陷为“一致”；否则备
注为“分类错误”。如果缺陷坐标围成的空间图形的相交面积各自占比不超过75％，则对比
下一组缺陷，直到所有缺陷都对比完成。遍历像缺陷标注模型标注的缺陷列表，将其中未对
齐(即未备注)的缺陷备注为“过杀”；遍历第三标注员标注的缺陷列表，将其中未对齐缺陷
备注为“漏检”，并保存。由此，根据“分类错误”率、“漏检”率和“过杀”率，即可识别出图像缺
陷标注模型的标注准确率。

[0059] 进一步而言，根据本发明的一个实施例，分别计算第三缺陷坐标围成的第三空间图形的面积和第四缺陷坐标围城的第四空间图形的面积，以及第三空间图形和第四空间图
形的相交面积，包括：获取每个第三缺陷标注详情的缺陷对应的第三缺陷标注类型和第四
缺陷标注详情的缺陷对应的第四缺陷标注类型；如果第三缺陷标注类型和第四缺陷类型为
折线、圆点或者多边形，则调用PostGIS封装的函数提取出第三缺陷坐标的第三外接四边形
和第四缺陷坐标的第四外接四边形。基于PostGIS计算第三外接四边形的面积、第四外接四
边形的面积、第三外接四边形和第四外接四边形的相交面积。

[0060] 具体的，针对第三标注员C标注的某一个缺陷D，读取该缺陷对应的第三标注坐标；针对图像缺陷标注模型标注的某一个缺陷D，读取该缺陷对应的第四标注坐标。如果缺陷D
的标注类型为折线、圆点或者多边形，则统一调用PostGIS封装的函数提取出第三标注坐标
的外接四边形和第四标注坐标的外接四边形。基于PostGIS计算第三标注坐标的外接四边
形的面积S3和第四标注坐标的外接四边形面积S4。基于S3、S4，调用PostGIS的库函数计算
出S3、S4的相交面积。

[0061] 本发明可以应用于工业物联网场景。

[0062] 综上所述，根据本发明实施例的图像缺陷标注模型的标注准确率识别方法，获取对应的图像ID；根据图像ID获取第一标注员标注的第一和第二标注员标注的第二缺陷标注
详情，并进行对比，以获取第一缺陷标注对比结果，使第三标注员根据第一缺陷标注对比结
果继续进行缺陷标注，生成第三缺陷标注详情；获取图像缺陷标注模型标注的第四陷标注
详情；将第四和第三缺陷标注详情进行对比，以获取第二缺陷标注对比结果，进而获取图像
缺陷标注模型的标注准确率。本发明极大降低了审核员的人力成本和时间成本，最大限度
地提高了标注效率，从而可以提高图像缺陷标注模的标注准确率的识别效率，为提高图像
缺陷标注模的标注准确率提供很好的辅助分析。

[0063] 与上述的图像缺陷标注模型的标注准确率识别方法相对应，本发明还提出一种图像缺陷标注模型的标注准确率识别装置。由于本发明的装置实施例与上述的方法实施例相
对应，对于装置实施例中未披露的细节，可参照上述的方法实施例，本发明中不再进行赘
述。

[0064] 图4是根据本发明一个实施例的图像缺陷标注模型的标注准确率识别装置的方框示意图。如图4所示，该装置包括：第一获取模块1、第二获取模块2、第一对比模块3、第三获
取模块4、第二对比模块5、识别模块6。

[0065] 其中，第一获取模块1用于循环遍历标注集，获取对应的图像ID；第二获取模块2用于根据图像ID获取第一标注员标注的第一缺陷标注详情和第二标注员标注的第二缺陷标
注详情，其中，第一缺陷标注详情和第二缺陷标注详情包括缺陷名称和与缺陷名称对应的
缺陷坐标；第一对比模块3用于将第一缺陷标注详情和第二缺陷标注详情进行对比，以获取
第一缺陷标注对比结果，以使第三标注员根据第一缺陷标注对比结果继续进行缺陷标注，
并生成第三缺陷标注详情；第三获取模块4用于获取图像缺陷标注模型标注的第四陷标注
详情；第二对比模块5用于将第四陷标注详情和第三缺陷标注详情进行对比，以获取第二缺
陷标注对比结果；识别模块6用于根据第二缺陷标注对比结果获取图像缺陷标注模型的标
注准确率。

[0066] 根据本发明的一个实施例，第一对比模块3具体用于：依次对比第一缺陷标注详情和第二缺陷标注详情的缺陷名称是否一致；如果不一致，则对比下一组缺陷名称，直到所有
缺陷名称对比完成；如果一致，则分别获取第一缺陷标注详情的缺陷名称对应的第一缺陷
坐标和第二缺陷标注详情的缺陷名称对应的第二缺陷坐标，并分别计算第一缺陷坐标围成
的第一空间图形的面积和第二缺陷坐标围城的第二空间图形的面积，以及第一空间图形和
第二空间图形的相交面积；判断是否相交面积与第一空间图形的面积的比值大于预设值且
相交面积与第二空间图形的面积的比值大于预设值；如果是，则备注当前第一缺陷标注详
情和第二缺陷标注详情的标注的缺陷“一致”；如果否，则返回“对比下一组缺陷名称，直到
所有缺陷名称对比完成”步骤。

[0067] 根据本发明的一个实施例，第一对比模块3进一步用于：获取第一缺陷标注详情的缺陷名称对应的第一缺陷标注类型和第二缺陷标注详情的缺陷名称对应的第二缺陷标注
类型；如果第一缺陷标注类型和第二缺陷类型为折线、圆点或者多边形，则调用PostGIS封
装的函数提取出第一缺陷坐标的第一外接四边形和第二缺陷坐标的第二外接四边形；基于
PostGIS计算第一外接四边形的面积、第二外接四边形的面积、第一外接四边形和第二外接
四边形的相交面积。

[0068] 根据本发明的一个实施例，第二对比模块5具体用于：步骤S501，分别获取第三缺陷标注详情的缺陷对应的第三缺陷坐标和第四缺陷标注详情的缺陷对应的第三缺陷坐标，
并分别计算第三缺陷坐标围成的第三空间图形的面积和第四缺陷坐标围城的第四空间图
形的面积，以及第三空间图形和第四空间图形的相交面积；步骤S502，判断是否第三空间图
形的面积与相交面积的比值大于预设值且相交面积与第二空间图形的面积的比值大于预
设值；步骤S503，如果不存在第三空间图形的面积与相交面积的比值大于预设值且相交面
积与第二空间图形的面积的比值大于预设值，则判断所有缺陷是否对比完成，如果缺陷对
比完成，则执行步骤S507；如果所有缺陷未对比完成，则返回步骤S501；步骤S504，如果第三
空间图形的面积与相交面积的比值大于预设值且相交面积与第二空间图形的面积的比值
大于预设值，则判断第三缺陷标注详情的缺陷名称和第四陷标注详情的缺陷名称是否一
致；步骤S505，如果一致，则备注当前标注的缺陷“一致”；步骤S506，如果不一致，则备注当
前标注的缺陷“分类错误”；步骤S507，遍历图像缺陷标注模型标注的第四陷标注详情，将未
备注的缺陷识备注为“过杀”；S508，遍历第三标注员标注的第三缺陷标注详情，将未备注的
缺陷识别备注为“漏检”。

[0069] 根据本发明的一个实施例，第二对比模块5进一步用于：获取每个第三缺陷标注详情的缺陷对应的第三缺陷标注类型和第四缺陷标注详情的缺陷对应的第四缺陷标注类型；
如果第三缺陷标注类型和第四缺陷类型为折线、圆点或者多边形，则调用PostGIS封装的函
数提取出第三缺陷坐标的第三外接四边形和第四缺陷坐标的第四外接四边形；基于
PostGIS计算第三外接四边形的面积、第四外接四边形的面积、第三外接四边形和第四外接
四边形的相交面积。

[0070] 综上所述，根据本发明实施例的图像缺陷标注模型的标注准确率识别装置，极大降低了审核员的人力成本和时间成本，最大限度地提高了标注效率，从而可以提高图像缺
陷标注模的标注准确率的识别效率，为提高图像缺陷标注模的标注准确率提供很好的辅助
分析。

[0071] 在本发明的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征
可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。“多个”的含义是两个或两个以上，除非
另有明确具体的限定。

[0072] 在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连
接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件车
厢内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具
体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

[0073] 在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在
第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示
第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第
一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

[0074] 在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特
点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不
必针对相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或
多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员
可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组
合。在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或
“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含
于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针
对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或
多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员
可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组
合。

[0075] 流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现定制逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部
分，并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺
序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明
的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

[0076] 在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供
指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执
行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设
备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传
输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装
置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电
连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(RAM)，只读存储器
(ROM)，可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存
储器(CDROM)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的
介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其
他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

[0077] 应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件
或固件来实现。如，如果用硬件来实现和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技
术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离
散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编
程门阵列(FPGA)等。

[0078] 本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介
质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。

[0079] 此外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模
块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如
果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机
可读取存储介质中。

[0080] 上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限
制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变
型。

[0081] 尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换
和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。