芯片测试机及芯片测试方法

摘要

本发明公开一种芯片测试机及芯片测试方法，芯片测试机包括机架，以及设置于机架上的移载装置、测试装置、自动上料装置、自动下料装置及不良品放置台，自动上料装置包括第一料仓及自动上料机构，自动上料机构在所述第一料仓内上下移动；自动下料机构包括第二料仓及自动下料机构，自动下料机构在第二料仓内上下移动，移载装置位于自动上料装置、自动下料装置、测试装置及不良品放置台的上方，移载装置将自动上料装置的待测试芯片移动至测试装置，并将测试完成的芯片移动至自动下料装置或不良品放置台。本发明的芯片测试机的结构紧凑、体积较小，占地面积仅一平米左右，可以满足小批量的芯片测试要求。