扬声器的T/S参数测量方法、测量装置和电子设备

摘要

本发明提供一种扬声器的T/S参数测量方法、测量装置和电子设备，扬声器的T/S参数测量方法包括：获取扬声器在振膜带负载时的第一阻抗曲线和空载时的第二阻抗曲线；获取扬声器的等效电路的结构，确定等效电路的等效阻抗；基于第一阻抗曲线和第二阻抗曲线，确定等效电路的等效参数的初始值；以等效电路的等效阻抗和从第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对等效参数进行调整，得到测量结果。本发明的扬声器的T/S参数测量方法，通过建立等效阻抗函数，并以从阻抗曲线测量得到的参数作为初始值进行逐步优化，在采集较少频点的情况下，就可得到准确的测量结果，且测量花费的时间少，有助于提高耳机的研发质量，加快研发速度。

权利要求

1.一种扬声器的T/S参数测量方法，其特征在于，包括：获取所述扬声器在振膜带负载时的第一阻抗曲线和振膜空载时的第二阻抗曲线；

获取所述扬声器的等效电路的结构，基于所述等效电路的结构，确定所述等效电路的等效阻抗；

基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线，确定所述等效电路的等效参数的初始值；

以所述等效电路的等效阻抗和从所述第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对所述等效参数进行调整，得到测量结果，其中，所述等效阻抗的初始值为将所述等效参数的初始值所述等效阻抗的函数得到。

2.根据权利要求1所述的扬声器的T/S参数测量方法，其特征在于，所述以所述等效电路的等效阻抗和从所述第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对所述等效参数进行调整，得到测量结果，包括：确定所述等效阻抗与所述测量阻抗之间的差异度；

基于所述差异度，更新所述等效参数；

确定所述差异度不小于目标值，基于更新的所述等效参数，重新确定所述等效阻抗与所述测量阻抗之间的差异度，直至确定所述差异度小于所述目标值，以最后一次更新的所述等效参数作为所述测量结果。

3.根据权利要求2所述的扬声器的T/S参数测量方法，其特征在于，所述更新所述等效参数包括：确定所述等效参数相对于所述差异度的导数；

基于所述导数，更新所述等效参数。

4.根据权利要求2所述的扬声器的T/S参数测量方法，其特征在于，所述等效阻抗与所述测量阻抗之间的差异度为，所述等效阻抗与所述测量阻抗的差的平方和。

5.根据权利要求1‑4中任一项所述的扬声器的T/S参数测量方法，其特征在于，所述获取所述扬声器的等效电路的结构，包括：将所述扬声器的力学特征转换为电学特征，得到所述等效电路的结构。

6.根据权利要求5所述的扬声器的T/S参数测量方法，其特征在于，所述基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线，确定所述等效电路的等效参数的初始值，包括：基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线，确定所述扬声器的力学参数和电力转换因子；

基于所述力学参数和所述电力转换因子，确定所述等效电路的等效参数的初始值。

7.根据权利要求6所述的扬声器的T/S参数测量方法，其特征在于，所述基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线，确定所述扬声器的力学参数和电力转换因子，包括：基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线的中心角频率以及所述负载的质量，确定所述扬声器力学端的力顺；

基于所述力顺和所述第二阻抗曲线的中心角频率，确定所述扬声器力学端的质量；

基于所述第二阻抗曲线，确定所述扬声器的品质因数；

基于所述品质因数和所述扬声器力学端的质量，确定所述电力转换因子。

8.一种扬声器的T/S参数测量装置，其特征在于，包括：第一获取模块，用于获取所述扬声器在振膜带负载时的第一阻抗曲线和振膜空载时的第二阻抗曲线；

第二获取模块，用于获取所述扬声器的等效电路的结构，基于所述等效电路的结构，确定所述等效电路的等效阻抗；

第一确定模块，用于基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线，确定所述等效电路的等效参数的初始值；

拟合模块，用于以所述等效电路的等效阻抗和从所述第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对所述等效参数进行调整，得到测量结果，其中，所述等效阻抗的初始值为将所述等效参数的初始值所述等效阻抗的函数得到。

9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至7任一项所述扬声器的T/S参数测量方法的步骤。

10.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述扬声器的T/S参数测量方法的步骤。

说明书

扬声器的T/S参数测量方法、测量装置和电子设备

技术领域

[0001] 本发明涉及声学技术领域，尤其涉及一种扬声器的T/S参数测量方法、测量装置和电子设备。

背景技术

[0002] 扬声器广泛应用于耳机等电子设备中，在设计扬声器时，需要先测量其参数，以便于后续结构的设计。其中，T/S参数是应用范围最广、最为广大电声行业从业者承认的一组参数。

[0003] 现有技术中，在测量T/S参数时，通常都是直接对阻抗曲线上的有限个频点的逐点扫频，来读取中心频率、峰值以及带宽用于后续计算，由于频点数量很少，使得测量结果不准确。为了提高准确度，相关技术中，会测量多组曲线，取平均值，或者采用自定义频点数量，对更多的频点进行逐点扫频，但是这会拉长测量耗费的时间，且对准确度的提升有限。

发明内容

[0004] 本发明提供一种扬声器的T/S参数测量方法、测量装置和电子设备，用以解决现有技术中测量不准的缺陷，实现高效和高质量检测。

[0005] 本发明提供一种扬声器的T/S参数测量方法，包括：

[0006] 获取所述扬声器在振膜带负载时的第一阻抗曲线和振膜空载时的第二阻抗曲线；

[0007] 获取所述扬声器的等效电路的结构，基于所述等效电路的结构，确定所述等效电路的等效阻抗；

[0008] 基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线，确定所述等效电路的等效参数的初始值；

[0009] 以所述等效电路的等效阻抗和从所述第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对所述等效参数进行调整，得到测量结果。

[0010] 根据本发明提供的一种扬声器的T/S参数测量方法，所述以所述等效电路的等效阻抗和从所述第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对所述等效参数进行调整，得到测量结果，包括：

[0011] 确定所述等效阻抗与所述测量阻抗之间的差异度；

[0012] 基于所述差异度，更新所述等效参数；

[0013] 确定所述差异度不小于目标值，基于更新的所述等效参数，重新确定所述等效阻抗与所述测量阻抗之间的差异度，直至确定所述差异度小于所述目标值，以最后一次更新的所述等效参数作为所述测量结果。

[0014] 根据本发明提供的一种扬声器的T/S参数测量方法，所述更新所述等效参数包括：

[0015] 确定所述等效参数相对于所述差异度的导数；

[0016] 基于所述导数，更新所述等效参数。

[0017] 根据本发明提供的一种扬声器的T/S参数测量方法，所述等效阻抗与所述测量阻抗之间的差异度为，所述等效阻抗与所述测量阻抗的差的平方和。

[0018] 根据本发明提供的一种扬声器的T/S参数测量方法，所述获取所述扬声器的等效电路的结构，包括：

[0019] 将所述扬声器的力学特征转换为电学特征，得到所述等效电路的结构。

[0020] 根据本发明提供的一种扬声器的T/S参数测量方法，所述基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线，确定所述等效电路的等效参数的初始值，包括：

[0021] 基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线，确定所述扬声器的力学参数和电力转换因子；

[0022] 基于所述力学参数和所述电力转换因子，确定所述等效电路的等效参数的初始值。

[0023] 根据本发明提供的一种扬声器的T/S参数测量方法，所述基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线，确定所述扬声器的力学参数和电力转换因子，包括：

[0024] 基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线的中心角频率以及所述负载的质量，确定所述扬声器力学端的力顺；

[0025] 基于所述力顺和所述第二阻抗曲线的中心角频率，确定所述扬声器力学端的质量；

[0026] 基于所述第二阻抗曲线，确定所述扬声器的品质因数；

[0027] 基于所述品质因数和所述扬声器力学端的质量，确定所述电力转换因子。

[0028] 本发明还提供一种扬声器的T/S参数测量装置，包括：

[0029] 第一获取模块，用于获取所述扬声器在振膜带负载时的第一阻抗曲线和振膜空载时的第二阻抗曲线；

[0030] 第二获取模块，用于获取所述扬声器的等效电路的结构，基于所述等效电路的结构，确定所述等效电路的等效阻抗；

[0031] 第一确定模块，用于基于所述第一阻抗曲线和所述第二阻抗曲线，确定所述等效电路的等效参数的初始值；

[0032] 拟合模块，用于以所述等效电路的等效阻抗和从所述第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对所述等效参数进行调整，得到测量结果。

[0033] 本发明还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述任一种所述扬声器的T/S参数测量方法的步骤。

[0034] 本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述扬声器的T/S参数测量方法的步骤。

[0035] 本发明提供的扬声器的T/S参数测量方法、测量装置和电子设备，通过建立等效阻抗函数，并以从阻抗曲线测量得到的参数作为初始值进行逐步优化，在采集较少频点的情况下，就可得到准确的测量结果，且测量花费的时间少，有助于提高耳机的研发质量，加快研发速度。

附图说明

[0036] 为了更清楚地说明本发明或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

[0037] 图1是本发明提供的扬声器的T/S参数测量方法的流程示意图；

[0038] 图2是本发明提供的扬声器的T/S参数测量方法中获取的阻抗曲线的示意图；

[0039] 图3是本发明提供的扬声器的T/S参数测量方法中获取的等效电路的结构示意图；

[0040] 图4是本发明提供的扬声器的T/S参数测量方法中步骤130的流程示意图；

[0041] 图5是本发明提供的扬声器的T/S参数测量方法中步骤140的流程示意图；

[0042] 图6是现有技术中测得的T/S参数的结果示意图；

[0043] 图7是通过本发明提供的扬声器的T/S参数测量方法测得的T/S参数的结果示意图；

[0044] 图8是本发明提供的扬声器的T/S参数测量装置的结构示意图；

[0045] 图9是本发明提供的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

[0046] 为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明中的附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

[0047] Thiele‑Small参数(简称T/S参数)是A.N.Thiele和R.H.Small提出的扬声器系统数学模型的基本参数，被AES2‑1984(r2003)标准采用。虽然在A.N.Thiele和R.H.Small之前，绝大部分有用的扬声器参数都已被其他研究人员定义过了，但是Thiele和Small将这些参数和少量新的参数作为一个整体设计，并且易于测量和设计。目前T/S参数在扬声器系统设计的指导作用已为业内普遍认同和接受。

[0048] T/S参数包括一系列参数，在耳机设计中常用的参数包括但不限于：

[0049] fs‑自由空间的扬声器共振频率；

[0050] QTS‑在fs处的总Q值，即总品质因数，包括扬声器所有的损耗；

[0051] QES‑在fs处时的电Q值，即电学品质因数，仅考虑电阻Re；

[0052] QMS‑在fs处时的机械Q值，即机械品质因数，仅考虑非电阻部分；

[0053] Veq‑与扬声器悬置系统声顺Cas对应的等效空气容积，等效公式为[0054] 其中ρ0为常温常压下的空气密度，c0为常温常压下空气中的声速；

[0055] Re‑扬声器音圈的直流阻。

[0056] 通常在进行耳机设计时，只需要根据具体项目需求，从T/S参数中选取几个参数测量即可。

[0057] 下面结合图1‑图7描述本发明的扬声器的T/S参数测量方法。

[0058] 如图1所示，本发明实施例提供的扬声器的T/S参数测量方法包括步骤110‑步骤140。

[0059] 步骤110、获取扬声器在振膜带负载时的第一阻抗曲线和振膜空载时的第二阻抗曲线；

[0060] 扬声器的阻抗一般随频率变化而变化，阻抗模值随频率变化的曲线称之为阻抗曲线。测量得到的阻抗曲线为数值类型。

[0061] 在实际执行的过程中，需要基于功放与阻抗盒来进行测量，比如可以基于SoundCheck软件来进行测量。

[0062] 在实际测量时，需要测量如下两组数据：

[0063] 其一，扬声器的振膜空载

[0064] 也就是说，不在扬声器的振膜上添加负载，测量时连接阻抗盒、功放与扬声器单元，输入电压以使功放的输出功率为1mW功率，利用SoundCheck软件的内置序列进行测量，可以输出第二阻抗曲线。

[0065] 其二，扬声器的振膜带负载

[0066] 也就是说，先在扬声器的振膜上添加负载，测量时连接阻抗盒、功放与扬声器单元，输入电压以使功放的输出功率为1mW功率，利用SoundCheck软件的内置序列进行测量，可以输出第一阻抗曲线。

[0067] 具体地，负载的质量在振膜质量的上下10％浮动即可，比如可以选用橡皮泥作为负载，将橡皮泥置于扬声器的振膜之上，再按照上述方法测量阻抗曲线，得到第一阻抗曲线。

[0068] 如图2所示，为40mm尺寸的扬声器，在自由场下测得的阻抗曲线，实线表示第一阻抗曲线，虚线表示第二阻抗曲线。

[0069] 步骤120、获取扬声器的等效电路的结构，基于等效电路的结构，确定等效电路的等效阻抗；

[0070] 可以理解的是，扬声器本身是一个集合了电学端、力学端和声学端的换能器，可以采用电、力、声类比线路图的方法，搭建扬声器的等效电路。将声学特征、力学特征全部转化到电学端，便于电阻的分析。

[0071] 由于在压力场下测量，声学特征影响有限，为了简化分析，此处可以忽略声学端特征。

[0072] 在实际的执行中，可以将扬声器的力学特征转换为电学特征，得到等效电路的结构。

[0073] 图3中，各个参数的含义为：

[0074] Re‑扬声器音圈的直流阻；

[0075] Res‑包含空气负载的扬声器的等效力阻；

[0076] Ces‑包含空气负载的扬声器的等效质量；

[0077] Les‑扬声器悬置系统的等效力顺。

[0078] 在本发明中，进行电阻抗曲线等效，将力学特征全部转化为电学特征。扬声器的磁路系统与力学特征的耦合可以用电力转换因子Bl描述，可以利用变压器的原理，将力学特征转换为电学特征：阻尼RMS转换到电学端得到等效力阻Res，质量MMS转换到电学端得到等效质量Ces，力顺CMS转换到电学端得到等效力顺Les。

[0079] 在该步骤中，可以得到如图3所示的等效电路的结构。

[0080] 基于该等效电路的结构，可以确定等效电路的等效阻抗为：

[0081]

[0082] 其中，Zes为等效电路的等效阻抗，Re为直流阻，j为虚数部分，ω为频点，Ces为等效质量，Les为等效力顺。

[0083] 该步骤中，确定的等效阻抗仅为基于等效电路的结构确定的等效阻抗的函数。

[0084] 步骤130、基于第一阻抗曲线和第二阻抗曲线，确定等效电路的等效参数的初始值；

[0085] 由于步骤110获得了振膜带负载时的第一阻抗曲线，在步骤130中，可以利用附加负载法来确定T/S参数的初始值。

[0086] 需要说明的是，相关技术中，往往将该初始值作为T/S参数的最终测量值；而本发明提供的T/S参数测量方法中，该初始值仅仅作为后续优化的起点。

[0087] 步骤140、以等效电路的等效阻抗和从第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对等效参数进行调整，得到测量结果。

[0088] 需要说明的是，将步骤130确定的等效参数的初始值代入步骤120确定的等效阻抗的函数中，即可得到等效阻抗的初始值。

[0089] 从步骤110中获取的第二阻抗曲线中，可以读取阻抗的测量值，即测量阻抗。

[0090] 可以理解的是，通过比较等效阻抗和测量阻抗的差异度，可以判断当前的等效参数的准确度。等效阻抗和测量阻抗的差异度越小，当前的等效参数的准确度越高。

[0091] 在步骤140中，以上述差异度最小为目标，以等效阻抗的初始值为起点，对等效参数进行逐步调整，当上述差异度满足预设条件时，当时的等效参数即为测量结果。

[0092] 根据本发明实施例的扬声器的T/S参数测量方法，通过建立等效阻抗函数，并以从阻抗曲线测量得到的参数作为初始值进行逐步优化，在采集较少频点的情况下，就可得到准确的测量结果，且测量花费的时间少，有助于提高耳机的研发质量，加快研发速度。

[0093] 在一些实施例中，如图4所示，步骤130可以包括：步骤131和步骤132。

[0094] 步骤131、基于第一阻抗曲线和第二阻抗曲线，确定扬声器的力学参数和电力转换因子Bl；

[0095] 可以理解的是，对于图3所示的等效电路，其在搭建过程中，采用的是电、力、声类比线路图的方法，同样，在确定等效电路的等效参数的初始值时，也可以先确定扬声器的力学参数和电力转换因子Bl。再基于力学参数和电力转换因子Bl，得到等效电路的等效参数的初始值。

[0096] 在本实施例中，需要得到的力学参数包括：阻尼RMS、质量MMS和力顺CMS。

[0097] 上述步骤131可以包括：

[0098] 基于第一阻抗曲线和第二阻抗曲线的中心角频率以及负载的质量，确定扬声器力学端的力顺；

[0099] 在实际的执行中，可以应用公式

[0100]

[0101] 确定扬声器力学端的力顺CMS，其中，ω为第二阻抗曲线的中心角频率，可以从第二*阻抗曲线直接读取，ω为第一阻抗曲线的中心角频率，可以从第二阻抗曲线直接读取，ΔM为在测试第二阻抗曲线时，添加的负载的质量。

[0102] 基于力顺和第二阻抗曲线的中心角频率，确定扬声器力学端的质量；

[0103] 在实际的执行中，可以应用公式

[0104]

[0105] 确定扬声器力学端的质量MMS。

[0106] 基于第二阻抗曲线，确定扬声器的品质因数；

[0107] 扬声器的品质因数包括总品质因数QTS、机械品质因数QMS与电品质因数QES。

[0108] 在实际的执行中，基于第二阻抗曲线，读取直流阻抗Re与最大阻抗Rmax，然后计算如下中间变量r0和Zvc：

[0109] r0＝Rmax/Re

[0110]

[0111] 分别在第二阻抗曲线的中心频率fS(即波峰频率)左右两侧读取阻抗为Zvc时的频点f1与f2，按照如下公式计算总品质因数QTS、机械品质因数QMS与电品质因数QES，其中品质因数一般指共振频率相对于带宽的大小，由于扬声器包括电学部分与力学部分，所以对应了机械品质因数QMS与电品质因数QES，而总品质因数QTS定义为：

[0112]

[0113] 进行转换之后，总品质因数QTS、机械品质因数QMS与电品质因数QES可以应用如下公式确定：

[0114]

[0115] QMS＝QTSr0

[0116]

[0117] 基于品质因数和扬声器力学端的质量，确定电力转换因子。

[0118] 在实际的执行中，可以应用公式

[0119]

[0120] 确定电力转换因子Bl。

[0121] 步骤132、基于力学参数和电力转换因子，确定等效电路的等效参数的初始值。

[0122] 其中，基于扬声器力学端的力顺、扬声器力学端的质量和扬声器的品质因数，确定等效力阻。

[0123] 具体地，可以应用公式

[0124]

[0125] 确定等效力阻Res。

[0126] 基于扬声器力学端的质量和电力转换因子，确定扬声器的等效质量。

[0127] 具体地，可以应用公式

[0128]

[0129] 确定等效质量Ces。

[0130] 基于扬声器力学端的力顺和电力转换因子，确定扬声器的等效质量。

[0131] 具体地，可以应用公式

[0132] Les＝CMS(Bl)2。

[0133] 确定等效力顺Les。

[0134] 至于，直流阻Re，可以利用万用表直接测量，或者通过读取第二阻抗曲线的第一个谐振峰过后的最小值得到。

[0135] 在确定直流阻Re、等效力阻Res、等效质量Ces和等效力顺Les后，代入等效阻抗的函数

[0136]

[0137] 可以得到等效阻抗。

[0138] 在一些实施例中，步骤140、以等效电路的等效阻抗和从第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对等效参数进行调整，得到测量结果，包括：

[0139] 建议目标函数

[0140]

[0141] Zm为从第二阻抗曲线读取的每个频点的阻抗模值，Zes为等效阻抗。

[0142] 应用直流阻Re、等效力阻Res、等效质量Ces和等效力顺Les的初始值，对上述函数进行初始化，迭代计算该最小化目标函数，应用最小二乘法进行拟合，即可得到优化后的等效参数。

[0143] 在一些实施例中，如图5所示，步骤140、以等效电路的等效阻抗和从第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对等效参数进行调整，得到测量结果，包括：步骤141‑步骤143。

[0144] 步骤141、确定等效阻抗与测量阻抗之间的差异度；

[0145] 可以理解的是，等效阻抗与测量阻抗之间的拟合度越高，其差异度越小，则表示当前的等效参数准确度越高。

[0146] 等效阻抗与测量阻抗之间的差异度为，等效阻抗与测量阻抗的差的平方和。

[0147] 换言之，应用如下

[0148] error＝|Zes_cur‑Zm_cur|2

[0149] 确定频点wcur的差异度error，Zes_cur表示频点wcur下当前的等效阻抗，Zm_cur表示频点wcur下当前的测量阻抗。

[0150] 需要说明的是，在本发明提供的测量方法中，可以仅仅采用1/12倍频程测量出的频点数量进行测量。

[0151] 当然，还可以用其他方式表征等效阻抗与测量阻抗之间的差异度，包括但不限于拟合优度等。

[0152] 步骤142、基于差异度，更新等效参数；

[0153] 在确定出等效阻抗与测量阻抗之间的差异度后，可以依据差异度来更新等效参数。

[0154] 在一些实施例中，更新等效参数包括：确定等效参数相对于差异度的导数；基于导数，更新等效参数。

[0155] 在实际的执行中，计算每个变量(等效力阻Res、等效质量Ces和等效力顺Les)下的导数值，以Res为例，其导数值为

[0156]

[0157] 基于导数，更新等效参数，以Res为例， 其中α为学习速率，在一些实施例中，0.001≤α≤0.1，的值越小，最后优化迭代出的等效参数的准确度越高，但是学习速度会变慢，优选地，α取0.01。

[0158] 其他几个参数(等效质量Ces和等效力顺Les)更新方法同理。

[0159] 等效质量Ces的导数值为

[0160]

[0161] 更新等效质量Ces为

[0162]

[0163] 等效力顺Les的导数值为

[0164]

[0165] 更新等效力顺Les为

[0166]

[0167] 在同一个更新步骤中，需要对等效力阻Res、等效质量Ces和等效力顺Les均完成更新。

[0168] 直流阻Re为直接读取的数据，不必更新。

[0169] 步骤143、确定差异度不小于目标值，基于更新的等效参数，重新确定等效阻抗与测量阻抗之间的差异度，直至确定差异度小于目标值，以最后一次更新的等效参数作为测量结果。

[0170] 确定差异度error是否满足目标值η，在error≥η的情况下，以更新的等效参数，回到步骤141再次更新等效参数。

[0171] 在error＜η的情况下，则退出更新过程。

[0172] 其中目标值η为预设值，在一些实施例中，0.0001≤η≤0.01，α的值越小，最后优化迭代出的等效参数的准确度越高，但是测试时间会更长，优选地，η可以为0.001。

[0173] 如图6所示，利用现有技术计算得到的T/S参数的结果，即本发明的初始值。其中实线为实测的声压级曲线与阻抗曲线，虚线为仿真的声压级曲线与阻抗曲线。

[0174] 声压级定义：

[0175]

[0176] 其中P表示距离扬声器1m处的声压的均方根值，Pref表示人耳可听的最小声压幅值20μV。

[0177] 阻抗定义：

[0178]

[0179] 其中U表示扬声器单元输入端电压，I表示流过扬声器单元的电流。

[0180] 如图7所示，根据本发明实施例的扬声器的T/S参数测量方法，得到的T/S参数的测试结果。

[0181] 其中实线为实测的声压级曲线与阻抗曲线，虚线为仿真的声压级曲线与阻抗曲线。显而易见，实测与仿真结果的谐振频点基本吻合，参数精度相较于现有技术得到大幅提升。

[0182] 根据本发明实施例的扬声器的T/S参数测量方法，相较于现有技术，可以大幅提高T/S参数的准确度，缩短测试时间。

[0183] 在设计耳机声学系统时，设计的出发点便是扬声器单元，在准确测量T/S参数的前提下，便可以进行下一步工作，比如前腔、后腔、导音管的具体尺寸的计算。

[0184] 下面对本发明提供的扬声器的T/S参数测量装置进行描述，下文描述的扬声器的T/S参数测量装置与上文描述的扬声器的T/S参数测量方法可相互对应参照。

[0185] 如图8所示，本发明实施例提供的扬声器的T/S参数测量装置，包括：第一获取模块810、第二获取模块820、第一确定模块830和拟合模块840。

[0186] 第一获取模块810，用于获取扬声器在振膜带负载时的第一阻抗曲线和振膜空载时的第二阻抗曲线；

[0187] 第二获取模块820，用于获取扬声器的等效电路的结构，基于等效电路的结构，确定等效电路的等效阻抗；

[0188] 第一确定模块830，用于基于第一阻抗曲线和第二阻抗曲线，确定等效电路的等效参数的初始值；

[0189] 拟合模块840，用于以等效电路的等效阻抗和从第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对等效参数进行调整，得到测量结果。

[0190] 根据本发明实施例的扬声器的T/S参数测量装置，通过建立等效阻抗函数，并以从阻抗曲线测量得到的参数作为初始值进行逐步优化，在采集较少频点的情况下，就可得到准确的测量结果，且测量花费的时间少，有助于提高耳机的研发质量，加快研发速度。

[0191] 在一些实施例中，拟合模块840，还用于确定等效阻抗与测量阻抗之间的差异度；基于差异度，更新等效参数；确定差异度不小于目标值，基于更新的等效参数，重新确定等效阻抗与测量阻抗之间的差异度，直至确定差异度小于目标值，以最后一次更新的等效参数作为测量结果。

[0192] 在一些实施例中，拟合模块840，还用于确定等效参数相对于差异度的导数；基于导数，更新等效参数。

[0193] 在一些实施例中，等效阻抗与测量阻抗之间的差异度为，等效阻抗与测量阻抗的差的平方和。

[0194] 在一些实施例中，第二获取模块820，还用于将扬声器的力学特征转换为电学特征，得到等效电路的结构。

[0195] 在一些实施例中，第一确定模块830，还用于基于第一阻抗曲线和第二阻抗曲线，确定扬声器的力学参数和电力转换因子；

[0196] 基于力学参数和电力转换因子，确定等效电路的等效参数的初始值。

[0197] 在一些实施例中，第一确定模块830，还用于基于第一阻抗曲线和第二阻抗曲线的中心角频率以及负载的质量，确定扬声器力学端的力顺；

[0198] 基于力顺和第二阻抗曲线的中心角频率，确定扬声器力学端的质量；

[0199] 基于第二阻抗曲线，确定扬声器的品质因数；

[0200] 基于品质因数和扬声器力学端的质量，确定电力转换因子。

[0201] 图9示例了一种电子设备的实体结构示意图，如图9所示，该电子设备可以包括：处理器(processor)910、通信接口(Communications Interface)920、存储器(memory)930和通信总线940，其中，处理器910，通信接口920，存储器930通过通信总线940完成相互间的通信。处理器910可以调用存储器930中的逻辑指令，以执行扬声器的T/S参数测量方法，该方法包括：获取扬声器在振膜带负载时的第一阻抗曲线和振膜空载时的第二阻抗曲线；用于获取扬声器的等效电路的结构，基于等效电路的结构，确定等效电路的等效阻抗；用于基于第一阻抗曲线和第二阻抗曲线，确定等效电路的等效参数的初始值；用于以等效电路的等效阻抗和从第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对等效参数进行调整，得到测量结果。

[0202] 此外，上述的存储器930中的逻辑指令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read‑Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

[0203] 另一方面，本发明还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被计算机执行时，计算机能够执行上述各方法所提供的扬声器的T/S参数测量方法，该方法包括：获取扬声器在振膜带负载时的第一阻抗曲线和振膜空载时的第二阻抗曲线；用于获取扬声器的等效电路的结构，基于等效电路的结构，确定等效电路的等效阻抗；用于基于第一阻抗曲线和第二阻抗曲线，确定等效电路的等效参数的初始值；用于以等效电路的等效阻抗和从第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对等效参数进行调整，得到测量结果。

[0204] 又一方面，本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以执行上述各提供的扬声器的T/S参数测量方法，该方法包括：获取扬声器在振膜带负载时的第一阻抗曲线和振膜空载时的第二阻抗曲线；用于获取扬声器的等效电路的结构，基于等效电路的结构，确定等效电路的等效阻抗；用于基于第一阻抗曲线和第二阻抗曲线，确定等效电路的等效参数的初始值；用于以等效电路的等效阻抗和从第二阻抗曲线读取的测量阻抗之间的差异度最小为目标，对等效参数进行调整，得到测量结果。

[0205] 以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。

[0206] 通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。

[0207] 最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。