传输线测试模块与传输线测试方法转让专利
申请号 : CN201911139988.9
文献号 : CN112824912A
文献日 : 2021-05-21
发明人 : 李定宗
申请人 : 嘉联益电子(昆山)有限公司 , 嘉联益科技(苏州)有限公司
摘要 :
权利要求 :
1.一种传输线测试模块,其特征在于,包括:一转接电路板,具有一信号电路及一接地金属层,该接地金属层围绕部分该信号电路;
以及
一测试组件,组设于该转接电路板上,并对应于该接地金属层,该测试组件包括:一绝缘基座,具有相对设置的一第一侧面及一第二侧面;
多个探针,穿设于该绝缘基座中,使各该些探针的两端部凸出于该绝缘基座的该第一侧面及该第二侧面;以及
一导电块,具有相对设置的一第一表面及一第二表面,该导电块包覆该绝缘基座并使凸出于该绝缘基座的该第一侧面的该些探针露出于该第一表面及使凸出于该第二侧面的该些探针露出于该第二表面,该第二表面凹设有一凹槽,当该测试组件组设于该转接电路板上时,该第二表面接触该接地金属层,且该凹槽对应于该信号电路。
2.根据权利要求1所述的传输线测试模块,其特征在于,该绝缘基座与该转接电路板间具有一间距。
3.根据权利要求1所述的传输线测试模块,其特征在于,该第一表面具有一容置槽对应环设于该绝缘基座的该第一侧面露出该第一表面处,且该容置槽的底面至该第一表面的距离小于该第一侧面至该第一表面的距离。
4.根据权利要求3所述的传输线测试模块,其特征在于,该容置槽的形状与一传输线的一待测试连接器形状相同。
5.根据权利要求1所述的传输线测试模块,其特征在于,还包括一下模块及一承载盘,该转接电路板组设于该下模块,该承载盘组设于该下模块,覆盖该转接电路板并使该测试组件的上表面露出该承载盘。
6.根据权利要求5所述的传输线测试模块,其特征在于,该承载盘具有一测试凹部,该测试组件位于该测试凹部处。
7.根据权利要求6所述的传输线测试模块,其特征在于,该承载盘还具有两让位槽,设置于该测试凹部并邻近于该测试组件。
8.一种传输线测试方法,其特征在于,包括:取得如权利要求1所述的传输线测试模块;
设置该传输线测试模块于一下模块上;
将一承载盘组设于该下模块,覆盖该转接电路板并使该测试组件的上表面露出该承载盘;
将一传输线的一待测试连接器放置于该导电块的该第一表面对应于该些探针处;以及将一上模块压覆于该承载盘上,并启动测试。
9.根据权利要求8所述的传输线测试方法,其特征在于,该传输线具有一辨识码,该上模块对应于该辨识码处具有一透视部,该传输线测试方法还包括:利用一读取器经由该透视部取得该辨识码。
10.根据权利要求8所述的传输线测试方法,其特征在于,该绝缘基座与该转接电路板间具有一间距。
11.根据权利要求8所述的传输线测试方法,其特征在于,该导电块的该第一表面具有一容置槽对应环设于该绝缘基座的该第一侧面露出该第一表面处,且该容置槽的底面至该第一表面的距离小于该第一侧面至该第一表面的距离。
12.根据权利要求8所述的传输线测试方法,其特征在于,该容置槽的形状与该传输线的该待测试连接器形状相同。
13.根据权利要求8所述的传输线测试方法,其特征在于,该承载盘具有一测试凹部,该测试组件位于该测试凹部处。
14.根据权利要求13所述的传输线测试方法,其特征在于,该承载盘还具有两让位槽,设置于该测试凹部并邻近于该测试组件。
说明书 :
传输线测试模块与传输线测试方法
技术领域
背景技术
效的做到阻抗匹配,而使得测设设备与待测物之间反射量过大,而无法精准量测到传输线
的参数。
发明内容
件组设于转接电路板上,并对应于接地金属层。测试组件包括绝缘基座、多个探针以及导电
块。绝缘基座具有相对设置的第一侧面及第二侧面。多个探针穿设于绝缘基座中,使各该些
探针的两端部凸出于绝缘基座的第一侧面及第二侧面。
二表面,第二表面凹设有凹槽。当测试组件组设于转接电路板上时,第二表面接触接地金属
层,且凹槽对应于信号电路。
试的杂波。另外,利用设置于导电块底部的凹槽,可以有效避开与传递探针所检测到的结果
的信号电路,以避免影响测试结果,也可以保持转接电路板的阻抗一致性。
盘组设于下模块,覆盖转接电路板并使测试组件的上表面露出承载盘;将传输线的待测试
连接器放置于导电块的第一表面对应于探针处;以及将上模块压覆于承载盘上,并启动测
试。
用设置于导电块底部的凹槽,可以有效避开与传递探针所检测到的结果的信号电路,以避
免影响测试结果,也可以保持转接电路板的阻抗一致性。而测试时利用条形码读取装置进
行辨识,可以快速记录所测试的传输线及其测试结果。
书及附图,任何熟习相关技艺者可轻易地理解本发明相关的目的及优点。
附图说明
具体实施方式
输线测试模块的剖视图,图4为本发明所述一实施例的待测传输线放置于传输线测试模块
的示意图。由图1可见,本实施例的传输线测试模块100包括转接电路板10以及测试组件20。
也可以是在转接电路板10上镀上接地金属层12,再与整个转接电路板10形成接地。在接地
金属层12的中心处为与多个探针22(详于后述)相接触的测试电路13。测试电路13将与信号
电路11相电性连接,以通过信号电路11将探针22所读取到的信号经由转接电路板10的测试
电路13与信号电路11传送出并进行后续检测与分析。
针22的两端部凸出于绝缘基座21的第一侧面211及第二侧面212。
231。举例来说,可在导电块23上先形成贯穿的通孔,接着将绝缘基座21组设于通孔中,使得
绝缘基座21的第一侧面211未完全被导电块23包覆而露出。此时,设置为凸出第一侧面211
的探针22即会露出,而使得后续测试时,待测物可与探针22相接触。同样地,使凸出于绝缘
基座21的第二侧面212的探针22露出于导电块23的第二表面232。
信号电路11。也就是说,导电块23会接触转接电路板10上的接地金属层12,可以使得整个测
试组件20与转接电路板10共地,以增加接地面积,减少测试的杂波。另外,利用设置于导电
块23底部的凹槽2321,可以有效避开与传递探针22所检测到的结果的信号电路11,以避免
影响测试结果,也可以保持转接电路板10的阻抗一致性。
测试组件20之间的阻抗。
输线30的待测试连接器31形状相同。如此,当要放置传输线30的待测试连接器31端于测试
组件20上进行测试时,可以利用容置槽2311的形状进行对位,让待测试连接器31能准确放
置于测试位置。
试连接器31上的待测端子将会与凸出于绝缘基座21的第一侧面211的探针22相接触,而不
会与绝缘基座21的第一侧面211相接触。如此,可以避免因为DK值(Dielectric Constant,
介电常数)变化使阻抗产生变化。
意图,图5为本发明所述一实施例的传输线测试模块设置于承载盘的示意图,图6为本发明
所述一实施例的传输线测试模块进行测试的示意图,图7为本发明所述一实施例的传输线
测试方法的流程图。
置有一个待测试连接器31,所以也借由设置两组测试组件20搭配对应着两个转接电路板10
来对传输线30进行测试。并且两组测试组件20是通过共同组设于下模块40上来使两组测试
组件20之间共地,并扩大共地面积。接下来同时参阅图7,传输线测试方法包括取得前所述
的传输线测试模块100(步骤S01),并设置传输线测试模块100于下模块40上(步骤S02)。图4
中仅呈现部份的下模块40,在完整的下模块40上可以依据转接电路板10上所设置的转接器
数量来开设对应的孔位或预留连接外部连接器的空间,以便组设于下模块40上的转接电路
板10能够连接外部连接器,以将测试信号传送至计算机或机台进行解析与判断。
的第一表面231对应于探针22处(步骤S04)。由图5可见,在承载盘50上具有测试凹部51,测
试组件20会位于测试凹部51处。另外,承载盘50还具有两让位槽52设置于测试凹部51并邻
近于测试组件20。借此,当要用手放置或拿起传输线30时,可利用此让位槽52提供手指的作
业空间,以利操作。
的传输线测试模块100的结构,可以做到有效的阻抗匹配,而提高量测结果的准确性。
(步骤S06)。在启动测试后,由读取器70先读取在传输线30上的辨识码,可以记录目前所量
测的传输线30号码,以利后续在测试结果分析辨识时,可进一步了解各制品的状况或排除
不良品。
统针模在测试时的S21曲线的比较图。比较时是以未组设有导电块23的传统测试组件(传统
针模),组设于转接电路板10上作为对照组G1,而将设置有本实施例所述的测试组件20的传
输线测试模块100作为实验组G2。
对照组G1由于并未使得阻抗匹配,所以在越高频的部份,其VSWR值越来越高。
会更明显。而实验组G2的曲线抖动则较小,尤其在高频处此优势会更加明显。
的绝缘基座21,且使得导电块23与转接电路板10的接地金属层12相接触,可以使得整个测
试组件20与转接电路板10共地,以增加接地面积,减少测试的杂波。再者,利用设置于导电
块23底部的凹槽2321,可以有效避开与传递探针22所检测到的结果的信号电路11,以避免
影响测试结果,也可以保持转接电路板10的阻抗一致性。
护范围须视本说明书所附的权利要求书所界定的范围为准。