一种二极管筛选方法及系统

摘要

本发明公开一种二极管筛选方法及系统，包括以下步骤：步骤S1：对待检测件进行检测，形成特征曲线图；步骤S2：捕捉步骤S1中的特征曲线图，将该特征曲线图传输至检测系统中；步骤S3：在检测系统中输入预设值，检测系统将特征曲线图中的参数信息与预设值进行比对以完成筛选。本发明还公开实现该方法的系统，本发明解决了现有技术中二极管检测不准确的技术问题。

权利要求

1.一种二极管筛选方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤S1：对待检测件进行检测，形成特征曲线图；

步骤S2：捕捉步骤S1中的特征曲线图，将该特征曲线图传输至检测系统中；

步骤S3：在检测系统中输入预设值，检测系统将特征曲线图中的参数信息与预设值进行比对以完成筛选；所述预设值为反向曲线内切圆的直径R和夹角α的中一种或多种；

所述步骤S3中比对以完成筛选的具体步骤是：检测系统读取的特征曲线图中的反向曲线内切圆的直径R’、反向曲线特性角α’中的一种或多种，所述反向曲线内切圆为两根特征曲线的弯曲部分的直径最大的内切圆；

若R’≤R，则判定待检测品为良品，若R’＞R，则判定待检测品为废品；

若α’≤α，则判定待检测品为良品，若α’＞α，则判定待检测品为废品，所述反向曲线特性角为特征曲线图的切线相交的最大夹角。

2.根据权利要求1所述的一种二极管筛选方法，其特征在于，所述预设值还包括反向曲线分叉值L和电压VB中的一种或多种；

所述步骤S3中比对以完成筛选的具体步骤还包括：检测系统还读取特征曲线图中的反向曲线分叉值L’和反向击穿电压VB’；

若L’≤L，则判定待检测品为良品，若L’＞L，则判定待检测品为废品，所述反向曲线分叉值L’为两根特征曲线图的重合部分的长度；

若VB’≤VB，则判定待检测品为废品，若VB’＞VB，则判定待检测品为良品。

3.根据权利要求1所述的一种二极管筛选方法，其特征在于，所述步骤S1中的检测是采用晶体管图示仪对待检测件进行检测，所述步骤S2中的捕捉包括：采用摄像头对晶体管图示仪的屏幕进行拍摄，所述摄像头为可变焦摄像头。

4.根据权利要求1所述的一种二极管筛选方法，其特征在于，所述检测系统为包含CCD检测软件的工业电脑或包含维视智造视觉软件的工业电脑。

5.一种实施权利要求1‑4任一项所述的二极管筛选方法的系统。

说明书

一种二极管筛选方法及系统

技术领域

[0001] 本发明涉及二极管筛选技术领域，尤其涉及一种二极管筛选方法及系统。

背景技术

[0002] 现行二极管特征曲线由人工使用晶体管图示仪测试筛选，人工速度慢，耗费人工，增加公司运营成本，人工测试容易误判，导致不良品流出，影响产品质量。客户特殊要求管装或者卷装时测试。人工筛选成本翻倍增加。

发明内容

[0003] 本发明的目的是提供一种二极管筛选方法及系统，解决了现有技术中二极管人工筛选易出错的技术问题。

[0004] 本申请实施例公开了一种二极管筛选方法，包括以下步骤：

[0005] 步骤S1：对待检测件进行检测，形成特征曲线图；

[0006] 步骤S2：捕捉步骤S1中的特征曲线图，将该特征曲线图传输至检测系统中；

[0007] 步骤S3：在检测系统中输入预设值，将特征曲线图中的参数信息与预设值进行比对以完成筛选。

[0008] 本申请实施例通过检测机器对待检测件进行检测，形成特征曲线图，利用特定的软件进行检测比对，完成筛选，大大降低了人工的判断时间，同时提高了判断的准确性。

[0009] 在上述技术方案的基础上，本申请实施例还可以做如下改进：

[0010] 进一步地，所述步骤S1中的检测是采用晶体管图示仪对待检测件进行检测，所述步骤S2中的捕捉包括：采用摄像头对晶体管图示仪的屏幕进行拍摄，所述摄像头为可变焦摄像头，采用本步的有益效果是通过摄像将图片信息传递至工业电脑中，便于后续进行比对。

[0011] 进一步地，所述检测系统为包含CCD检测软件的工业电脑或包含维视智造视觉软件的工业电脑，采用本步的有益效果是通过特定的软件完成筛选和比对。

[0012] 进一步地，所述预设值为长度L、夹角α、直径R和电压VB中的一种或多种。

[0013] 进一步地，所述步骤S3中比对以完成筛选的具体步骤是：检测系统读取的特征曲线图中的反向曲线分叉值L’，读取完成后，将L’与L比对，若L’≤L，则判定待检测品为良品，若L’＞L，则判定待检测品为废品。

[0014] 进一步地，所述步骤S3中比对以完成筛选的具体步骤是：检测系统读取的特征曲线图中的反向曲线特性角α’，读取完成后，将α’与α比对，若α’≤α，则判定待检测品为良品，若α’＞α，则判定待检测品为废品。

[0015] 进一步地，所述步骤S3中比对以完成筛选的具体步骤是：检测系统读取的特征曲线图中的反向曲线内切圆的直径R’，读取完成后，将R’与R比对，若R’≤R，则判定待检测品为良品，若R’＞R，则判定待检测品为废品。

[0016] 进一步地，所述步骤S3中比对以完成筛选的具体步骤是：检测系统读取的特征曲线图中的反向击穿电压VB’，读取完成后，将VB’与VB比对，若VB’≤VB，则判定待检测品为废品，若VB’＞VB，则判定待检测品为良品。

[0017] 一种上述二极管筛选方法的系统。

[0018] 本申请实施例中提供的一个或者多个技术方案，至少具有如下技术效果或者优点：

[0019] 1.本申请实施例将特征曲线图拍摄后送至特定的工业电脑中进行数据比对判断，从而区分良品或者废品，减少了人工判断的过程，提高了判断的准确性和筛选效率。

附图说明

[0020] 为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

[0021] 图1为本发明具体实施例所述的一种二极管筛选方法的流程图；

[0022] 图2为本发明具体实施例所述的特征曲线图的示意图。

具体实施方式

[0023] 下面将结合附图对本发明技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案，因此只作为示例，而不能以此来限制本发明的保护范围。

[0024] 需要注意的是，除非另有说明，本申请使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域技术人员所理解的通常意义，特征曲线图具体为二极管反向特征曲线图。

[0025] 本申请实施例具体应用与二极管测试领域，和一贯机相互配合，来判断二极管产品是否合格，二极管产品在一贯机(内含PLC控制器)上运行时，抵达本申请实施例处，通过本申请实施例完成良品和废品的判断，然后一贯机接收到本申请实施例的信号，完成废品的剔除，这样能够有效剔除二极管的特征曲线不良的产品，可提高产品质量，满足客户需求。

[0026] 实施例1：

[0027] 本申请实施例公开了一种二极管筛选方法，包括以下步骤：

[0028] 步骤S1：对待检测件进行检测，形成特征曲线图；

[0029] 步骤S2：捕捉步骤S1中的特征曲线图，将该特征曲线图传输至检测系统中；

[0030] 步骤S3：在检测系统中输入预设值，将特征曲线图中的参数信息与预设值进行比对以完成筛选。

[0031] 具体地，本申请实施例中的步骤S1是采用晶体管图示仪对待检测件进行检测，所述步骤S2中的捕捉包括：采用摄像头对晶体管图示仪的屏幕进行拍摄，所述摄像头为可变焦摄像头，采用本步的有益效果是通过摄像将图片信息传递至工业电脑中，便于后续进行比对。

[0032] 而所述检测系统为包含CCD检测软件的工业电脑或包含维视智造视觉软件的工业电脑，该CCD检测软件或者维视智造视觉软件为现有的软件能够将图片进行数值化，便于后续进行比对。

[0033] 具体地，所述预设值为长度L。所述步骤S3中比对以完成筛选的具体步骤是：检测系统读取的特征曲线图中的反向曲线分叉值L’，读取完成后，将L’与L比对，若L’≤L，则判定待检测品为良品，若L’＞L，则判定待检测品为废品。其中，所述反向曲线分叉值为两根特征曲线图的重合部分的长度。

[0034] 本申请实施例还公开了一种实施上述二极管筛选方法的系统。

[0035] 实施例2：

[0036] 与实施例1相比，步骤S3有所不同。

[0037] 具体地，所述预设值为夹角α。所述步骤S3中比对以完成筛选的具体步骤是：检测系统读取的特征曲线图中的反向曲线特性角α’，读取完成后，将α’与α比对，若α’≤α，则判定待检测品为良品，若α’＞α，则判定待检测品为废品。其中，所述反向曲线特性角为特征曲线图的切线相交的最大夹角。

[0038] 本申请实施例还公开了一种实施上述二极管筛选方法的系统。

[0039] 实施例3：

[0040] 与实施例1相比，步骤S3有所不同。

[0041] 具体地，所述预设值为直径R。所述步骤S3中比对以完成筛选的具体步骤是：检测系统读取的特征曲线图中的反向曲线内切圆的直径R’，读取完成后，将R’与R比对，若R’≤R，则判定待检测品为良品，若R’＞R，则判定待检测品为废品。其中，所述反向曲线内切圆为两根特征曲线的弯曲部分的直径最大的内切圆。

[0042] 本申请实施例还公开了一种实施上述二极管筛选方法的系统。

[0043] 实施例4：

[0044] 与实施例1相比，步骤S3有所不同。

[0045] 具体地，所述预设值为电压VB，所述步骤S3中比对以完成筛选的具体步骤是：检测系统读取的特征曲线图中的反向击穿电压VB’，读取完成后，将VB’与VB比对，若VB’≤VB，则判定待检测品为废品，若VB’＞VB，则判定待检测品为良品。

[0046] 一种上述二极管筛选方法的系统。

[0047] 本申请实施例还公开了一种实施上述二极管筛选方法的系统。

[0048] 实施例5：

[0049] 与实施例1相比，步骤S3有所不同。

[0050] 具体地，所述预设值包括长度L、夹角α、直径R和电压VB中的两种；具体比对的方法参见实施例1‑4，只有当两次检测结果都为良品时，最终才判定待检测品为良品，否则为废品。

[0051] 实施例6：

[0052] 与实施例1相比，步骤S3有所不同。

[0053] 具体地，所述预设值包括长度L、夹角α、直径R和电压VB中的三种种；具体比对的方法参见实施例1‑4，只有当三次检测结果都为良品时，最终才判定待检测品为良品，否则为废品。

[0054] 实施例7：

[0055] 与实施例1相比，步骤S3有所不同。

[0056] 具体地，所述预设值包括长度L、夹角α、直径R和电压VB；具体比对的方法参见实施例1‑4，只有当四次检测结果都为良品时，最终才判定待检测品为良品，否则为废品。

[0057] 本发明的说明书中，说明了大量具体细节。然而，能够理解，本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中，并未详细示出公知的方法、结构和技术，以便不模糊对本说明书的理解。

[0058] 在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

[0059] 最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围，其均应涵盖在本发明的权利要求和说明书的范围当中。