显示面板及其裂纹检测方法、显示装置、计算设备

摘要

本发明实施例提供一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置、计算设备。该显示面板具有显示区和非显示区，其还包括：裂纹检测线，设置在所述非显示区中，所述裂纹检测线具有第一端和第二端，所述裂纹检测线的第一端用于接收检测信号；辅助检测线，所述辅助检测线具有第一端和第二端，所述辅助检测线的第一端用于接收所述检测信号；裂纹检测单元，与所述裂纹检测线的第二端和所述辅助检测线的第二端连接，用于接收所述裂纹检测线的第二端输出的第一测试信号和所述辅助检测线的第二端输出的第二测试信号；所述裂纹检测单元对所述第一测试信号和所述第二测试信号进行处理来生成裂纹检测信号，通过裂纹检测信号的波形来判断所述显示面板是否存在裂纹。

权利要求

1.一种显示面板，具有显示区和非显示区，其特征在于，还包括：裂纹检测线，设置在所述非显示区中，所述裂纹检测线具有第一端和第二端，所述裂纹检测线的第一端用于接收检测信号；

辅助检测线，所述辅助检测线具有第一端和第二端，所述辅助检测线的第一端用于接收所述检测信号；

裂纹检测单元，与所述裂纹检测线的第二端和所述辅助检测线的第二端连接，用于接收所述裂纹检测线的第二端输出的第一测试信号和所述辅助检测线的第二端输出的第二测试信号；

所述裂纹检测单元对所述第一测试信号和所述第二测试信号进行处理来生成裂纹检测信号，通过所述裂纹检测信号的波形来判断所述显示面板是否存在裂纹；

所述裂纹检测单元包括异或电路，用于对所述第一测试信号和所述第二测试信号进行异或运算以生成所述裂纹检测信号；还包括检测电阻，所述检测电阻与所述裂纹检测线的等效电阻相等。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括信号处理单元，所述信号处理单元与所述裂纹检测线的第一端和所述辅助检测线的第一端连接。

3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述信号处理单元与所述裂纹检测单元连接，用于接收所述裂纹检测信号，并根据所述裂纹检测信号的波形来判断所述显示面板是否存在裂纹。

4.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述信号处理单元包括显示驱动芯片。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测电阻设置在所述辅助检测线上。

6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，还包括：柔性电路板，所述柔性电路板与所述显示面板的基板连接，所述裂纹检测单元和所述检测电阻设置在所述柔性电路板上，所述检测电阻一端与所述辅助检测线连接，另一端与所述裂纹检测单元连接。

7.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测信号为交流信号。

8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述裂纹检测线至少部分包围所述显示区。

9.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区包括弯折区，所述弯折区设置有所述裂纹检测线。

10.一种显示面板的裂纹检测方法，用于对权利要求1‑9中的任一项所述的显示面板进行裂纹检测，其特征在于，所述裂纹检测方法包括：通过信号处理单元向裂纹检测线的第一端和辅助检测线的第一端输入检测信号；

通过所述裂纹检测单元从所述裂纹检测线的第二端接收所述裂纹检测线输出的第一测试信号，从所述辅助检测线的第二端接收所述辅助检测 线输出的第二测试信号；

通过所述裂纹检测单元对所述第一测试信号和所述第二测试信号进行处理以生成裂纹检测信号；

根据所述裂纹检测信号的波形来判断所述显示面板是否存在裂纹；

所述裂纹检测单元包括异或电路，用于对所述第一测试信号和所述第二测试信号进行异或运算用于生成所述裂纹检测信号；

根据所述裂纹检测信号的波形来判断所述显示面板是否存在裂纹，具体为：如果所述裂纹检测信号为低电平信号，则所述显示面板不存在裂纹；如果所述裂纹检测信号为脉冲信号，则所述显示面板存在裂纹；

在判断所述显示面板存在裂纹时，所述裂纹检测方法还包括：根据所述脉冲信号的宽度判断所述裂纹检测线的电阻变化量；

根据所述裂纹检测线的电阻变化量判断所述显示面板的裂纹程度。

11.根据权利要求10所述的裂纹检测方法，其特征在于，所述信号处理单元包括显示驱动芯片。

12.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1‑9中的任一项所述的显示面板。

13.一种计算设备，其特征在于，所述设备包括：处理器，以及存储有计算机程序指令的存储器；所述处理器读取并执行所述计算机程序指令，以实现如权利要求10‑11中的任意一项所述的显示面板的裂纹检测方法。

说明书

显示面板及其裂纹检测方法、显示装置、计算设备

技术领域

[0001] 本发明属于显示面板技术领域，尤其涉及一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置、计算设备。

背景技术

[0002] 随着显示技术的不断发展，显示面板在各领域的应用越来越广泛。目前主流的显示面板在制作过程中会在母板上形成多个显示基板的图形，再对母板进行切割，最终得到
分立的显示基板。而在切割工艺中可能会在显示基板的边缘产生裂纹，随着使用时间的增
长，裂纹很可能会向显示面板内部延伸，影响显示面板的使用寿命。

[0003] 因此在显示基板切割形成后要进行裂纹检测，针对显示面板裂纹的检测存在两种常用的方法：第一种是在显示面板的边缘设置一圈裂纹检测线，然后利用驱动芯片的电阻
侦测对裂纹检测线的电阻进行检测，通过裂纹检测线的电阻来判断是否存在裂纹。第二种
是利用显示面板进行数据信号的写入控制的设计，通过画面检测检出面板的裂纹。

[0004] 然而，以上两类检测方法均存在敏感度低的特性，尤其针对有机发光二极管(OrganicLight‑Emitting Diode，OLED)柔性屏而言，屏体微裂纹的误检率及漏检率均比较
大。

发明内容

[0005] 本发明实施例提供一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置、计算设备，能够提高裂纹检测线的灵敏度，降低屏体微裂纹的误检率及漏检率。

[0006] 第一方面，本发明实施例提供一种显示面板，具有显示区和非显示区，其还包括：

[0007] 裂纹检测线，设置在所述非显示区中，所述裂纹检测线具有第一端和第二端，所述裂纹检测线的第一端用于接收检测信号；

[0008] 辅助检测线，所述辅助检测线具有第一端和第二端，所述辅助检测线的第一端用于接收所述检测信号；

[0009] 裂纹检测单元，与所述裂纹检测线的第二端和所述辅助检测线的第二端连接，用于接收所述裂纹检测线的第二端输出的第一测试信号和所述辅助检测线的第二端输出的
第二测试信号；

[0010] 所述裂纹检测单元对所述第一测试信号和所述第二测试信号进行处理来生成裂纹检测信号，通过所述裂纹检测信号的波形来判断所述显示面板是否存在裂纹。

[0011] 第二方面，本发明实施例提供一种显示面板的裂纹检测方法，用于对第一方面的显示面板进行裂纹检测，该裂纹检测方法包括：

[0012] 通过信号处理单元向裂纹检测线的第一端和辅助检测线的第一端输入检测信号；

[0013] 通过所述裂纹检测单元从所述裂纹检测线的第二端接收所述裂纹检测线输出的第一测试信号，从所述辅助检测线的第二端接收所述辅助测试线输出的第二测试信号；

[0014] 通过所述裂纹检测单元对所述第一测试信号和所述第二测试信号进行处理以生成裂纹检测信号；

[0015] 根据所述裂纹检测信号来判断所述显示面板是否存在裂纹。

[0016] 第三方面，本发明实施例提供了一种显示装置，其包括根据本发明第一方面的显示面板。

[0017] 第四方面，本发明实施例提供了一种计算设备，设备包括：处理器，以及存储有计算机程序指令的存储器；所述处理器读取并执行所述计算机程序指令，以实现根据本发明
第二方面的显示面板的裂纹检测方法。

[0018] 本发明实施例的显示面板及其裂纹检测方法、显示装置、计算设备，通过设置裂纹检测线和辅助检测线，并分别向裂纹检测线和辅助检测线发送检测信号，然后通过对从裂
纹检测线和辅助检测线接收到的信号进行处理生成裂纹检测信号，并通过裂纹检测信号的
波形来判断显示面板是否存在裂纹，这样由于通过波形检测判断显示面板是否存在裂纹，
因此可以具有更高的灵敏度，降低了屏体微裂纹的误检率及漏检率。

附图说明

[0019] 为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还
可以根据这些附图获得其他的附图。

[0020] 图1是本发明一个实施例提供的显示面板的结构示意图；

[0021] 图2是本发明一个实施例提供的显示面板的异或电路的结构示意图；

[0022] 图3是本发明一个实施例提供的显示面板的裂纹检测信号的一个示例图；

[0023] 图4是本发明一个实施例提供的显示面板的裂纹检测信号的另一个示例图；

[0024] 图5是本发明一个实施例提供的显示面板的裂纹检测方法的流程示意图；

[0025] 图6是本发明一个实施例提供的计算设备的结构示意图。

具体实施方式

[0026] 下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本发明进行进一步详细
描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅意在解释本发明，而不是限定本发明。对于本领
域技术人员来说，本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对
实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明更好的理解。

[0027] 需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存
在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖
非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要
素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备
所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括
所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

[0028] 为了解决现有技术问题，本发明实施例提供了一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置、计算设备。下面首先对本发明实施例所提供的显示面板进行介绍。

[0029] 图1示出了本发明一个实施例提供的显示面板的结构示意图。如图1所示，本发明实施例提供的显示面板100具有显示区101和包围显示区101的非显示区102。显示区101用
于设置例如像素、驱动电路、数据信号线、扫描信号线等结构。非显示区用于设置扫描电路、
测试电路、显示控制电路等结构。

[0030] 如图1所示，在本发明实施例中，显示面板100包括裂纹检测线103、辅助检测线104和裂纹检测单元105。

[0031] 裂纹检测线103设置在非显示区102中。裂纹检测线例如为金属线，可以传输电流和检测信号。裂纹检测线103具有第一端11和第二端12，裂纹检测线103的第一端11用于接
收检测信号。

[0032] 在本发明一些实施例中，如图1所示，裂纹检测线103至少部分包围显示区101。示例性地，例如裂纹检测线103设置在显示面板100的边缘区域，并至少部分包围显示区101。
通过裂纹检测线103可以检测非显示区102是否发生裂纹，进而判断显示面板100是否发生
裂纹。示例性地，在本发明一些实施例中，为了增大裂纹检测率，提高裂纹检测效果，尤其是
微裂纹的检测，裂纹检测线103可以设置为曲线或弓字形走线。通过将裂纹检测线103置为
曲线或弓字形走线，增大了裂纹检测线的等效长度以及与面板的接触区域，有利于面板裂
纹的检测。

[0033] 在本发明一些实施例中，非显示区102还包括弯折区，例如显示面板100需要向后弯折的部分或可折叠显示面板的弯折部分。所述弯折区中设置有裂纹检测线103。通过裂纹
检测线103可以检测弯折区，是否发生裂纹，进而判断显示面板100的弯折区是否损坏。

[0034] 辅助检测线104例如为金属线，可以传输电流和检测信号。辅助检测线104具有第一端21和第二端22，辅助检测线104的第一端21用于接收检测信号。

[0035] 裂纹检测单元105与裂纹检测线103的第二端12和辅助检测线104的第二端22连接，用于接收裂纹检测线103的第二端12输出的第一测试信号和辅助检测线104的第二端22
输出的第二测试信号。换言之，检测信号分别通过裂纹检测线103和辅助检测线104传输至
裂纹检测单元105的两个信号接收端A和B。

[0036] 在本发明实施例中，裂纹检测单元105对第一测试信号和第二测试信号进行处理来生成裂纹检测信号，通过裂纹检测信号的波形来判断显示面板100是否存在裂纹。裂纹检
测单元105在接收到第一测试信号和第二测试信号之后，可以第一测试信号和第二测试信
号进行各种运算，例如异或运算、与或运算等生成裂纹检测信号，然后通过裂纹检测信号的
波形来判断显示面板100是否存在裂纹。例如当裂纹检测信号为第一预设波形时，表示显示
面板100没有发生裂纹；当裂纹检测信号为第二预设波形时，表示显示面板100发生裂纹。显
示面板100的裂纹判断方法将在后文进一步描述，在此不再赘述。

[0037] 如图1所示，在本发明实施例中，显示面板100还包括信号处理单元106。信号处理单元106与裂纹检测线103的第一端和辅助检测线104的第一端连接，用于向裂纹检测线103
的第一端和辅助检测线104的第一端发送检测信号。换言之，信号处理单元105用于生成检
测信号，并将该检测信号分别发送至裂纹检测线103的第一端11和辅助检测线104的第一端
21。

[0038] 如图1所示，在本发明一些实施例中，信号处理单元106设置在显示面板100的基板上。

[0039] 如图1所示，在本发明实施例中，信号处理单元106与裂纹检测单元105连接，用于从裂纹检测单元105的信号输出端C接收裂纹检测信号，并根据裂纹检测信号的波形来判断
显示面板100是否存在裂纹。换言之，在本发明一些实施例中，处理单元106不仅用于生成检
测信号，还用于根据裂纹检测信号的波形来判断显示面板100是否存在裂纹。

[0040] 应当理解，虽然在本发明实施例中，通过信号处理单元106来生成检测信号，以及根据裂纹检测信号的波形来判断显示面板100是否存在裂纹，但是本发明不限于这种方式。
例如，在本发明一些实施例中，可以由裂纹检测单元105生成检测信号并将其发送至裂纹检
测线103的第一端11和辅助检测线104的第一端21，然后由信号处理单元106根据裂纹检测
信号的波形来判断显示面板100是否存在裂纹。或者，在本发明一些实施例中，可以通过信
号处理单元106来生成检测信号，然后由裂纹检测单元105生成裂纹检测信号，并根据裂纹
检测信号的波形来判断显示面板100是否存在裂纹。换言之，检测信号的生成以及显示面板
100是否存在裂纹的判断不限于由信号处理单元106完成的方式，而可以由各种其他方式完
成。本发明的构思在于将检测信号同时发送至裂纹检测线103的第一端11和辅助检测线104
的第一端21，然后对在裂纹检测线103的第二端12和辅助检测线104的第二端22接收到的信
号进行处理得到裂纹检测信号，然后根据裂纹检测信号的波形来判断显示面板100是否存
在裂纹。至于检测信号的生成，以及具体由哪个模块来判断显示面板100是否存在裂纹则可
以根据需要选择不同的处理方式，本发明实施例仅仅给出一些示例。

[0041] 示例性地，在本发明一些实施例中，信号处理单元106包括显示驱动芯片。显示驱动芯片(IC)自身具有信号生成能力以及波形检测能力，因此直接利用显示驱动芯片来生成
检测信号，以及根据裂纹检测信号的波形来判断显示面板100是否存在裂纹，将无需设置额
外的硬件，降低了显示面板100的复杂度和成本。

[0042] 应当理解，虽然在本发明一些实施例中，信号处理单元106实现为显示驱动芯片，但是在其他实施例中，信号处理单元106可以实现为外部芯片(例如使用本实施例提供的显
示面板的电子设备具有的处理芯片，例如CPU、SOC或其他处理芯片)或者其他结构，例如单
独设置的一个信号处理单元，而不是类似显示驱动芯片这种显示面板自身普遍具有的单
元。本文中的外部芯片指的是相对显示面板100而言属于外部，即该芯片不属于显示面板
100的构成部分。

[0043] 如图1所示，在本发明一些实施例中，显示面板100还包括检测电阻107，检测电阻107与裂纹检测线103的等效电阻相等。即检测电阻107基于裂纹检测线103的等效电阻大小
确定。示例性地，例如在本发明一些实施例中，检测电阻107与辅助检测线104的等效电阻之
和与裂纹检测线103的等效电阻大小基本相同，这样检测信号从裂纹检测线103的第一端11
传输至第二端12，与从辅助检测线104的第一端21传输至第二端22可以有类似的效果。换言
之，如果显示面板100没有裂纹，则在裂纹检测线103的第二端12和辅助检测线104的第二端
22将接收到相同的信号，反之则接收到不同的信号。换言之，通过设置检测电阻107便可以
与检测信号在裂纹检测线103上的传输进行对照，然后通过比对接收到的信号便可以判断
是否存在裂纹。

[0044] 如图1所示，在本发明一些实施例中，检测电阻107设置在辅助检测线104上。或者说，检测电阻107的两端分别与辅助检测线104连接，并通过辅助检测线与裂纹检测单元105
和信号处理单元106连接。

[0045] 如图1所示，在本发明一些实施例中，显示面板100还包括柔性电路板108。柔性电路板108与显示面板100的基板连接。柔性电路板用于实现显示面板100的电路信号与外部
的连接。如图1所示，在本发明一些实施例中，裂纹检测单元105和检测电阻107设置在柔性
电路板108上。检测电阻107一端通过辅助检测线104与信号处理单元106连接，另一端通过
辅助检测线104与裂纹检测单元105连接。

[0046] 应当理解，虽然在本发明实施例中，信号处理单元106设置在显示面板100的基板上，但是在其它实施例中，信号处理单元106也可以设置在柔性电路板上。在这种情形中，辅
助检测线104也可以设置在柔性电路板108上。

[0047] 在本发明一些实施例中，裂纹检测单元105包括异或电路，用于对所述第一测试信号和所述第二测试信号进行异或运算以生成所述裂纹检测信号。异或电路可以采用各种合
适的电路结构或运算芯片。图2给出一个异或电路的示例，下面结合图2至图4对本发明实施
例的显示面板100的裂纹检测原理进行说明。

[0048] 图2是本发明一个实施例提供的显示面板的异或电路的结构示意图；图3是本发明一个实施例提供的显示面板的裂纹检测信号的一个示例图；图4是本发明一个实施例提供
的显示面板的裂纹检测信号的另一个示例图。

[0049] 如图2所示，本发明实施例中的异或电路通过裂纹检测单元105的信号接收端A和B接收第一测试信号和第二测试信号，然后对第一测试信号和第二测试信号进行异或运算生
成裂纹检测信号Y4。示例性地，在本发明实施例中，异或电路对第一测试信号和第二测试信
号进行4次异或运算，具体为：先对信号接收端A和B接收的第一测试信号和第二测试信号进
行第一次异或运算得到信号Y1；再对第一测试信号和Y1进行第一次异或运算得到信号Y2；
再对第二测试信号和Y2进行第一次异或运算得到信号Y3，然后对Y2和Y3进行一次异或运算
得到信号Y4。应当理解，图2给出的仅是一个异或电路的示例，本发明实施例的异或电路不
限于图2所示结构，可以为各种合适的电路结构。

[0050] 在本发明一些实施例中，信号处理单元105发送的检测信号为交流信号。如图3和图4所示，当裂纹检测单元105的信号接收端A和B接收的第一测试信号和第二测试信号为相
同的信号时，Y4为一低电平信号；当裂纹检测单元105的信号接收端A和B接收的第一测试信
号和第二测试信号为相同的信号时，Y4为一脉冲信号。

[0051] 换言之，当显示面板100未发生裂纹时，抵达信号接收端A，B的信号为完全相同的信号，经过104异或电路输出Y4＝A⊕B，此时Y4为一个完全低电平的信号。当显示面板100发
生微裂纹乃至完全裂纹时，由于辅助检测线104正常传输信号，因而抵达信号接收端B的信
号与检测信号相同。而由于裂纹检测线103电阻会变大乃至为无穷大，抵达信号接收端A的
信号相对抵达信号接收端B的信号为一个延迟的信号乃至是一个低电平，所以无论显示面
板100是微裂纹还是完全裂纹时，经过异或电路单元输出Y4＝A⊕B，此时应该为一个AC脉冲
信号。信号处理单元106通过侦测Y4的波形，如果是一个低电平信号，则显示面板100未发生
任何裂纹；如果是一个AC脉冲信号，则显示面板100发生了裂纹。

[0052] 进一步地，在本发明一些实施例中，信号处理单元106可以通过裂纹检测信号Y4的脉宽的宽度来推测显示面板100发生裂纹后的电阻值变化量，进而推测显示面板100的裂纹
程度。具体地，如果裂纹检测信号Y4的脉宽越大，则表示显示面板100发生裂纹后的电阻值
变化量越大，相应地，显示面板100的裂纹程度越严重。反之，如果裂纹检测信号Y4的脉宽越
小，则表示显示面板100发生裂纹后的电阻值变化量越小，相应地，显示面板100的裂纹程度
越轻微。

[0053] 图5是本发明一个实施例提供的显示面板的裂纹检测方法的流程示意图。

[0054] 本发明一个实施例提供的显示面板的裂纹检测方法200，用于对本发明实施例提供的显示面板100进行裂纹检测，如图5所示，该裂纹检测方法200包括：

[0055] S201，通过信号处理单元向裂纹检测线的第一端和辅助检测线的第一端输入检测信号。

[0056] 示例性地，在本发明一些实施例中，所述信号处理单元包括显示驱动芯片。

[0057] S202，通过所述裂纹检测单元从所述裂纹检测线的第二端接收所述裂纹检测线输出的第一测试信号，从所述辅助检测线的第二端接收所述辅助测试线输出的第二测试信
号。

[0058] S203，通过所述裂纹检测单元对所述第一测试信号和所述第二测试信号进行处理以生成裂纹检测信号。

[0059] 示例性地，在本发明一些实施例中，所述裂纹检测单元包括异或电路，用于对所述第一测试信号和所述第二测试信号进行异或运算用于生成所述裂纹检测信号。

[0060] 异或电路的结构和原理参见前述描述，在此不再赘述。

[0061] S204，根据所述裂纹检测信号的波形来判断所述显示面板是否存在裂纹。

[0062] 示例性地，在本发明一些实施例中，通过信号处理单元例如显示驱动芯片来根据所述裂纹检测信号来判断所述显示面板是否存在裂纹。即，将所述裂纹检测信号传输至信
号处理单元，由信号处理单元根据所述裂纹检测信号的波形来判断所述显示面板是否存在
裂纹。

[0063] 示例性地，在本发明一些实施例中，如图3和图4所示，所述检测信号为交流信号，根据所述裂纹检测信号的波形来判断所述显示面板是否存在裂纹，具体为：

[0064] 如果所述裂纹检测信号为低电平信号，则所述显示面板不存在裂纹；

[0065] 如果所述裂纹检测信号为脉冲信号，则所述显示面板存在裂纹。

[0066] 示例性地，在本发明一些实施例中，在判断所述显示面板存在裂纹时，所述裂纹检测方法200还包括下述步骤：

[0067] 根据所述脉冲信号的宽度判断所述裂纹检测线的电阻变化量；

[0068] 根据所述裂纹检测线的电阻变化量判断所述显示面板的裂纹程度。

[0069] 显示面板的裂纹程度的具体判断方法和原理参见前述描述，在此不再赘述。

[0070] 图6示出了本发明实施例提供的计算设备600的硬件结构示意图。

[0071] 计算设备600可以包括处理器601以及存储有计算机程序指令的存储器602。

[0072] 具体地，上述处理器601可以包括中央处理器(Central Processing Unit，CPU)，或者特定集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)，或者可以被配置
成实施本发明实施例的一个或多个集成电路。

[0073] 存储器602可以包括用于数据或指令的大容量存储器。举例来说而非限制，存储器602可包括硬盘驱动器(Hard Disk Drive，HDD)、软盘驱动器、闪存、光盘、磁光盘、磁带或通
用串行总线(Universal Serial Bus，USB)驱动器或者两个或更多个以上这些的组合。在一
个实例中，存储器602可以包括可移除或不可移除(或固定)的介质，或者存储器602是非易
失性固态存储器。存储器602可在综合网关容灾设备的内部或外部。

[0074] 在一个实例中，存储器602可以是只读存储器(Read Only Memory，ROM)。在一个实例中，该ROM可以是掩模编程的ROM、可编程ROM(Programmable read‑only memory，PROM)、
可擦除PROM(Erasable Programmable Read Only Memory，EPROM)、电可擦除PROM
(Electrically Erasable Programmable read only memory，EEPROM)、电可改写ROM
(Electrically Alterable Read‑Only Memory，EAROM)或闪存或者两个或更多个以上这些
的组合。

[0075] 存储器602可以包括只读存储器(ROM)，随机存取存储器(RAM)，磁盘存储介质设备，光存储介质设备，闪存设备，电气、光学或其他物理/有形的存储器存储设备。因此，通
常，存储器包括一个或多个编码有包括计算机可执行指令的软件的有形(非暂态)计算机可
读存储介质(例如，存储器设备)，并且当该软件被执行(例如，由一个或多个处理器)时，其
可操作来执行参考根据本公开的一方面的方法所描述的操作。

[0076] 处理器601通过读取并执行存储器602中存储的计算机程序指令，以实现图5所示实施例中的方法/步骤S201至SS205，并达到图5所示实例执行其方法/步骤达到的相应技术
效果，为简洁描述在此不再赘述。

[0077] 在一个示例中，计算设备600还可包括通信接口603和总线610。其中，如图6所示，处理器601、存储器602、通信接口603通过总线610连接并完成相互间的通信。

[0078] 通信接口603，主要用于实现本发明实施例中各模块、装置、单元和/或设备之间的通信。

[0079] 总线610包括硬件、软件或两者，将在线数据流量计费设备的部件彼此耦接在一起。举例来说而非限制，总线可包括加速图形端口(Accelerated Graphics Port，AGP)或其
他图形总线、增强工业标准架构(Extended Industry Standard Architecture，EISA)总
线、前端总线(Front Side Bus，FSB)、超传输(Hyper Transport，HT)互连、工业标准架构
(Industry Standard Architecture，ISA)总线、无限带宽互连、低引脚数(LPC)总线、存储
器总线、微信道架构(MicroChannel Architecture，MCA)总线、外围组件互连(Peripheral 
Component Interconnect，PCI)总线、PCI‑Express(Peripheral Component Interconnect 
PCI‑X)总线、串行高级技术附件(Serial Advanced Technology Attachment，SATA)总线、
视频电子标准协会局部总线(Video Electronics Standards Association Local Bus，
VLB)或其他合适的总线或者两个或更多个以上这些的组合。在合适的情况下，总线610可包
括一个或多个总线。尽管本发明实施例描述和示出了特定的总线，但本发明考虑任何合适
的总线或互连。

[0080] 另外，结合上述实施例中的显示面板的裂纹检测方法，本发明实施例可提供一种计算机存储介质来实现。该计算机存储介质上存储有计算机程序指令；该计算机程序指令
被处理器执行时实现上述实施例中的任意一种显示面板的裂纹检测方法。

[0081] 另外，本发明实施例还提供一种显示装置，其包括本发明实施例提供的显示面板，具有类似的优点。

[0082] 根据本发明实施例的显示面板及其裂纹检测方法、显示装置、计算设备，通过设置裂纹检测线和辅助检测线，并分别向裂纹检测线和辅助检测线发送检测信号，然后通过对
从裂纹检测线和辅助检测线接收到的信号进行处理生成裂纹检测信号，并通过裂纹检测信
号的波形来判断显示面板是否存在裂纹，这样由于通过波形检测判断显示面板是否存在裂
纹，因此可以具有更高的灵敏度，降低了屏体微裂纹的误检率及漏检率。

[0083] 以上所述，仅为本发明的具体实施方式，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，上述描述的系统、模块和单元的具体工作过程，可以参考前述方法
实施例中的对应过程，在此不再赘述。应理解，本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉
本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，
这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。