本发明公开一种测量雷达散射截面参数暗室定标方法，该方法包括：获取A1n—Bn曲线。获取增益记录为Cn，利用矢量网络分析仪(13)记录不同增益下的定标系统接收天线(10)与定标系统发射天线(7)的输入/输出功率比值，记录为A2n。Cn和A2n呈对应关系，即得到Cn—A2n曲线。选取Cn—A2n曲线中A2n与A1n数值相同的多个点，并得到该点增益对应的雷达散射截面参数值，此时，Cn与Bn也呈对应关系，即得到Cn—Bn曲线。
1.一种测量雷达散射截面参数暗室定标方法，测量雷达散射截面参数暗室定标方法应用测量雷达散射截面参数暗室定标装置，所述测量雷达散射截面参数暗室定标装置包括暗室(1)，所述暗室(1)中设置有标准反射体(2)、校准系统和定标系统；所述校准系统包括与控制计算机(12)电性连接的校准装置(5)，所述校准装置(5)上设置有校准装置接收天线(6)和校准装置发射天线(9)；所述定标系统包括均与矢量网络分析仪(13)电性连接的定标系统发射天线(7)和定标系统接收天线(10)，所述定标系统发射天线(7)与所述矢量网络分析仪(13)之间的连接导线上设置有放大器(11)；其特征在于，该方法包括以下步骤：S1，将不同雷达散射截面Bn的标准反射体(2)依次放置在非金属平台架上，操作矢量网络分析仪(13)产生相对应频段的信号，经过放大器(11)进行放大，并通过定标系统发射天线(7)辐射出去，定标系统接收天线(10)接收标准反射体(2)的反射信号；通过矢量网络分析仪(13)记录定标系统接收天线(10)与定标系统发射天线(7)的输入/输出功率比值，记录为A1n，即得到A1n—Bn曲线；
S2，将标准反射体(2)取下，换成校准装置(5)，校准装置接收天线(6)接收定标系统发射天线(7)辐射的信号后传输至校准装置(5)，校准装置(5)在控制计算机(12)的控制下产生回波信号，并通过校准装置发射天线(9)将回波信号发射至定标系统接收天线(10)，通过调整校准装置(5)的增益，增益记录为Cn，矢量网络分析仪(13)记录不同增益下的定标系统接收天线(10)与定标系统发射天线(7)的输入/输出功率比值，记录为A2n；
选取Cn—A2n曲线中A2n与A1n数值相同的多个点，并得到该点增益对应的雷达散射截面参数值，此时，Cn与Bn也呈对应关系，即得到Cn—Bn曲线。
2.根据权利要求1所述的测量雷达散射截面参数暗室定标方法，其特征在于，所述暗室(1)内铺设有暗室吸波材料(3)。
3.根据权利要求1所述的测量雷达散射截面参数暗室定标方法，其特征在于，所述暗室(1)中设置有监控系统(4)。
4.根据权利要求1所述的测量雷达散射截面参数暗室定标方法，其特征在于，所述标准反射体(2)、校准装置(5)、定标系统发射天线(7)和定标系统接收天线(10)分别放置在非金属台架上。
5.根据权利要求1所述的测量雷达散射截面参数暗室定标方法，其特征在于，所述定标系统发射天线(7)和定标系统接收天线(10)之间设置有间隔吸波材料(8)。
一种测量雷达散射截面参数暗室定标方法
技术领域
[0001] 本发明涉及雷达参数校准技术领域，尤其涉及一种测量雷达散射截面参数暗室定标方法。
背景技术
[0002] 雷达散射截面参数是测量雷达一项非常重要的技术指标，该参数的准确性直接影响雷达对被测目标雷达反射能力的判定。其参数测量准确性是评判被测目标雷达反射能力指标的重要依据。通常对有源雷达散射截面校准装置的定标是采用测量定标装置与测试装置之间的距离，利用雷达方程公式进行计算实现的，该方式具有较大的测量和计算误差，存在绝对定标值不准确的问题。
发明内容
[0003] 本发明的目的在于提供一种测量雷达散射截面参数暗室定标方法，解决背景技术中，雷达散射截面校准装置的定标准确性偏低的问题。
[0004] 为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
[0005] 本发明公开了一种测量雷达散射截面参数暗室定标方法，该方法包括以下步骤：
[0006] S1，将不同雷达散射截面Bn的标准反射体依次放置在非金属平台架上，操作矢量网络分析仪产生相对应频段的信号，经过放大器进行放大，并通过定标系统发射天线辐射出去，定标系统接收天线接收标准反射体的反射信号；通过矢量网络分析仪记录定标系统接收天线与定标系统发射天线的输入/输出功率比值，记录为A1n，即得到A1n—Bn曲线；
[0007] S2，将标准反射体取下，换成校准装置，校准装置接收天线接收定标系统发射天线辐射的信号后传输至校准装置，校准装置在控制计算机的控制下产生回波信号，并通过校准装置发射天线将回波信号发射定标系统接收天线，通过调整校准装置的增益，增益记录为Cn，矢量网络分析仪记录不同增益下的定标系统接收天线与定标系统发射天线的输入/输出功率比值，记录为A2n；
[0008] Cn和A2n呈对应关系，即得到Cn—A2n曲线；
[0009] 选取Cn—A2n曲线中A2n与A1n数值相同的多个点，并得到该点增益对应的雷达散射截面参数值，此时，Cn与Bn也呈对应关系，即得到Cn—Bn曲线。
[0010] 与现有技术相比，本发明提供的有益技术效果：
[0011] 本发明方法采用少数几个典型雷达散射界面参数定标体的暗室内定标，得到定标值相对应的中间量—输入/输出比值，并通过选取相同输入/输出比值，将该典型雷达散射截面参数值与雷达散射截面校准装置的增益值相对应。该方法解决了常规方法直接计算定标值误差较大的问题，提高了校准装置暗室定标得准确性，从而保证了雷达散射截面参数校准的准确性。
附图说明
[0012] 此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
[0013] 图1为本发明测量雷达散射截面参数暗室定标装置的结构示意图；
[0014] 图2为量值传递图。
[0015] 附图标记：1、暗室；2.标准反射体；3、暗室吸波材料；4、监控系统；5、校准装置；6、校准装置接收天线；7、定标系统发射天线；8、吸波材料；9、校准装置发射天线；10、定标系统接收天线；11、放大器；12、控制计算机；13、矢量网络分析仪。
具体实施方式
[0016] 为了使本发明所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0017] 如图1所示，本实施例中公开了一种测量雷达散射截面参数暗室定标装置，包括暗室1，暗室1中设置有标准反射体2、校准系统和定标系统。在暗室1尽可能的铺设暗室吸波材料3，通过监控系统4观察暗室1的测试状态。
[0018] 校准系统包括与控制计算机12电性连接的校准装置5，校准装置5上设置有校准装置接收天线6和校准装置发射天线9。校准装置接收天线6和校准装置发射天线9与校准装置5通过导线电性连接。
[0019] 定标系统包括均与矢量网络分析仪13电性连接的定标系统发射天线7和定标系统接收天线10，定标系统发射天线7与矢量网络分析仪13之间的连接导线上设置有放大器11。为避免定标系统发射天线7和定标系统接收天线10互相影响，在定标系统发射天线7和定标系统接收天线10之间设置有间隔吸波材料8。
[0020] 在暗室1中，标准反射体2、校准装置5、定标系统发射天线7和定标系统接收天线10分别放置在非金属台架上。
[0021] 本实施例中还公开了一种测量雷达散射截面参数暗室定标方法，其采用的原理为：在暗室中，校准装置在距离定标系统一定距离处，将接收到的雷达信号经延时、放大后转发回定标系统，定标系统得到此时输入/输出比值与在校准装置距离相同处放置标准反射体得到的相同的输入/输出比值相对应，从而确定校准装置的等效雷达散射截面数值，作为校准装置的标校真值完成定标。
[0022] 校准装置等效雷达散射截面参数可表示为：
[0023]
[0024] 式中：σ0：校准源等效雷达散射截面参数，m2；
[0025] Gt0：校准装置发射天线增益，dB；
[0026] Gr0：校准装置接收天线增益，dB；
[0027] GE0：校准装置放大器增益，dB；
[0028] λ：被校准雷达波长，m；
[0029] LP0：校准装置损耗，dB；
[0030] Pt0：校准装置发射功率，W；
[0031] Pr0：校准装置接收功率，W。
[0032] 由上述公式可以看出，校准装置的等效雷达散射截面参数值只与校准装置的接收天线增益、发射天线增益、放大器增益及工作波长等参数有关，当校准装置的位置固定且其增益恒定时，其等效雷达散射截面参数就为恒定值，这就是校准装置的校准原理。
[0033] 只要保证校准装置的增益保持恒定，即可使得其等效雷达散射截面参数为恒定值，无需对校准装置内部所有参数分别定标，只需对其输入输出功率进行功率标定即可完成对校准装置的溯源。
[0034] 由上述公式可知，连续波测量雷达散射截面参数现场校准装置对于雷达散射截面指标模拟不确定度主要取决于其含天线的系统增益，可以采用由微波暗室、标准矢量网络分析仪、放大器、收发天线组成的定标系统对多点动态增益指标进行精确相对量定标，再用标准体(龙伯球)进行绝对量定标。量值传递过程如图2所示。
[0035] 本方法包括以下步骤：
[0036] S1，将不同雷达散射截面Bn的标准反射体2依次放置在非金属平台架上，操作矢量网络分析仪13产生相对应频段的信号，经过放大器11进行放大，并通过定标系统发射天线7辐射出去，定标系统接收天线10接收标准反射体2的反射信号；通过矢量网络分析仪13记录定标系统接收天线10与定标系统发射天线7的输入/输出功率比值，记录为A1n，即得到A1n—Bn曲线。
[0037] S2，将标准反射体2取下，换成校准装置5，校准装置接收天线6接收定标系统发射天线7辐射的信号后传输至校准装置5，校准装置5在控制计算机12的控制下产生回波信号，并通过校准装置发射天线9将回波信号发射定标系统接收天线10，通过调整校准装置5的增益，增益记录为Cn，矢量网络分析仪13记录不同增益下的定标系统接收天线10与定标系统发射天线7的输入/输出功率比值，记录为A2n；Cn和A2n呈对应关系，即得到Cn—A2n曲线。
[0038] 选取Cn—A2n曲线中A2n与A1n数值相同的多个点，并得到该点增益对应的雷达散射截面参数值，此时，Cn与Bn也呈对应关系，即得到Cn—Bn曲线。
[0039] 本发明方法采用少数几个典型雷达散射界面参数定标体的暗室内定标，得到定标值相对应的中间量—输入/输出比值，并通过选取相同输入/输出比值，将该典型雷达散射截面参数值与雷达散射截面校准装置的增益值相对应。该方法解决了常规方法直接计算定标值误差较大的问题，提高了校准装置暗室定标得准确性，从而保证了雷达散射截面参数校准的准确性。
[0040] 以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
