一种磁铁片检测方法、系统、设备及计算机可读存储介质

摘要

本申请公开了一种磁铁片检测方法、系统、设备及计算机可读存储介质，获取待检测磁铁片的目标图像；获取预设的待检测区域模板；基于间接平差方法，在目标图像中确定与待检测区域模板对应的待检测区域；计算待检测区域的灰度值信息；基于灰度值信息及预设阈值，确定待检测磁铁片的检测结果。本申请中，通过间接平差方法可以快速在目标图像中确定与待检测区域模板对应的待检测区域，并且只需计算待检测区域的灰度值信息，便可以基于灰度值信息及预设阈值，确定待检测磁铁片的检测结果，快速对待检测磁铁片进行性能检测。本申请提供的一种磁铁片检测系统、设备及计算机可读存储介质也解决了相应技术问题。

权利要求

1.一种磁铁片检测方法，其特征在于，包括：获取待检测磁铁片的目标图像；

获取预设的待检测区域模板；

基于间接平差方法，在所述目标图像中确定与所述待检测区域模板对应的待检测区域；

计算所述待检测区域的灰度值信息；

基于所述灰度值信息及预设阈值，确定所述待检测磁铁片的检测结果；

所述基于间接平差方法，在所述目标图像中确定与所述待检测区域模板对应的待检测区域，包括：确定所述目标图像的定位点信息；

通过运算公式，基于所述间接平差方法，确定所述待检测区域模板与所述定位点信息间的二维刚体变换矩阵；

基于所述二维刚体变换矩阵，将所述待检测区域模板映射至所述目标图像上，得到所述待检测区域；

所述运算公式包括：

其中，Rb表示所述二维刚体变换矩阵；表示平差参数的局部变化量，其中的六个平差参数表示所述二维刚体变换矩阵中的相应参数值；r1、r2、r3、r4表示多重旋转项；trx、try表示平移项；B表示基于所述待检测区域模板及所述定位点信息构造的映射矩阵；P表示单位矩T阵；B表示B的转置；l表示所述间接平差方法中观测值与相应近似值之间的差值；

所述计算所述待检测区域的灰度值信息，包括：计算所述待检测区域的目标灰度均值和目标一阶灰度导数均值；

所述基于所述灰度值信息及预设阈值，确定所述待检测磁铁片的检测结果，包括：在所述待检测区域中选定待检测子区域；

计算所述待检测子区域的第一灰度均值和第一一阶灰度导数均值；

计算所述第一灰度均值和所述目标灰度均值的第一差值；

计算所述第一一阶灰度导数均值与所述目标一阶灰度导数均值间的第二差值；

将所述第一差值和所述第二差值与所述预设阈值进行比较，根据比较结果确定所述检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述目标图像的定位点信息，包括：将所述目标图像转换为灰度图；

对所述灰度图进行二值化操作，得到目标二值化图；

对所述目标二值化图分别进行水平和竖直方向的积分投影，根据投影结果确定所述定位点信息。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述灰度图进行二值化操作，得到目标二值化图，包括：对所述灰度图进行二值化操作，得到初始二值化图；

对所述初始二值化图进行形态学操作，得到处理图像；

基于霍夫变换，提取所述处理图像中的最长直线；

基于所述最长直线将所述灰度图进行转正，得到转正灰度图；

对所述转正灰度图进行二值化操作，得到所述目标二值化图。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述第一差值和所述第二差值与所述预设阈值进行比较，根据比较结果确定所述检测结果，包括：判断第一差值是否大于第一阈值及所述第二差值是否大于第二阈值，若所述第一差值大于所述第一阈值，且所述第二差值大于所述第二阈值，则确定所述待检测磁铁片存在发白的所述检测结果；

和/或

判断所述第一差值是否小于第三阈值及所述第二差值是否小于第四阈值，若所述第一差值小于所述第三阈值，且所述第二差值小于所述第四阈值，则确定所述待检测磁铁片存在发亮的所述检测结果。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取预设的待检测区域模板，包括：获取预设的所述待检测区域模板，所述待检测区域模板包括由两侧跑道和中间矩形构成的模板。

6.一种磁铁片检测系统，其特征在于，包括：第一获取模块，用于获取待检测磁铁片的目标图像；

第二获取模块，用于获取预设的待检测区域模板；

第一确定模块，用于基于间接平差方法，在所述目标图像中确定与所述待检测区域模板对应的待检测区域；

第一计算模块，用于计算所述待检测区域的灰度值信息；

第二确定模块，用于基于所述灰度值信息及预设阈值，确定所述待检测磁铁片的检测结果；

所述基于间接平差方法，在所述目标图像中确定与所述待检测区域模板对应的待检测区域，包括：确定所述目标图像的定位点信息；

通过运算公式，基于所述间接平差方法，确定所述待检测区域模板与所述定位点信息间的二维刚体变换矩阵；

基于所述二维刚体变换矩阵，将所述待检测区域模板映射至所述目标图像上，得到所述待检测区域；

所述运算公式包括：

其中，Rb表示所述二维刚体变换矩阵；表示平差参数的局部变化量，其中的六个平差参数表示所述二维刚体变换矩阵中的相应参数值；r1、r2、r3、r4表示多重旋转项；trx、try表示平移项；B表示基于所述待检测区域模板及所述定位点信息构造的映射矩阵；P表示单位矩T阵；B表示B的转置；l表示所述间接平差方法中观测值与相应近似值之间的差值；

所述计算所述待检测区域的灰度值信息，包括：计算所述待检测区域的目标灰度均值和目标一阶灰度导数均值；

所述基于所述灰度值信息及预设阈值，确定所述待检测磁铁片的检测结果，包括：在所述待检测区域中选定待检测子区域；

计算所述待检测子区域的第一灰度均值和第一一阶灰度导数均值；

计算所述第一灰度均值和所述目标灰度均值的第一差值；

计算所述第一一阶灰度导数均值与所述目标一阶灰度导数均值间的第二差值；

将所述第一差值和所述第二差值与所述预设阈值进行比较，根据比较结果确定所述检测结果。

7.一种磁铁片检测设备，其特征在于，包括：存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5任一项所述磁铁片检测方法的步骤。

8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述磁铁片检测方法的步骤。

说明书

一种磁铁片检测方法、系统、设备及计算机可读存储介质

技术领域

[0001] 本申请涉及电声行业扬声器技术领域，更具体地说，涉及一种磁铁片检测方法、系统、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

[0002] 在手机、耳机等电子设备的扬声器中，安装有磁铁片，磁铁片的质量会影响扬声器的性能，为此，需要对磁铁片进行检测以确保磁铁片的质量满足扬声器的性能需求。

[0003] 综上所述，如何对磁铁片进行检测是目前本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

[0004] 本申请的目的是提供一种磁铁片检测方法，其能在一定程度上解决如何对磁铁片进行检测的技术问题。本申请还提供了一种磁铁片检测系统、设备及计算机可读存储介质。

[0005] 为了实现上述目的，本申请提供如下技术方案：

[0006] 一种磁铁片检测方法，包括：

[0007] 获取待检测磁铁片的目标图像；

[0008] 获取预设的待检测区域模板；

[0009] 基于间接平差方法，在所述目标图像中确定与所述待检测区域模板对应的待检测区域；

[0010] 计算所述待检测区域的灰度值信息；

[0011] 基于所述灰度值信息及预设阈值，确定所述待检测磁铁片的检测结果。

[0012] 优选的，所述基于间接平差方法，在所述目标图像中确定与所述待检测区域模板对应的待检测区域，包括：

[0013] 确定所述目标图像的定位点信息；

[0014] 通过运算公式，基于所述间接平差方法，确定所述待检测区域模板与所述定位点信息间的二维钢体变换矩阵；

[0015] 基于所述二维钢体变换矩阵，将所述待检测区域模板映射至所述目标图像上，得到所述待检测区域；

[0016] 所述运算公式包括：

[0017]

[0018]

[0019] 其中，Rb表示所述二维钢体变换矩阵；表示平差参数的局部变化量，其中的六个平差参数表示所述二维钢体变换矩阵中的相应参数值；r1、r2、r3、r4表示多重旋转项；trx、try表示平移项；B表示基于所述待检测区域模板及所述定位点信息构造的映射矩阵；P表示单T位矩阵；B表示B的转置；l表示所述间接平差方法中观测值与相应近似值之间的差值。

[0020] 优选的，所述确定所述目标图像的定位点信息，包括：

[0021] 将所述目标图像转换为灰度图；

[0022] 对所述灰度图进行二值化操作，得到目标二值化图；

[0023] 对所述目标二值化图分别进行水平和竖直方向的积分投影，根据投影结果确定所述定位点信息。

[0024] 优选的，所述对所述灰度图进行二值化操作，得到目标二值化图，包括：

[0025] 对所述灰度图进行二值化操作，得到初始二值化图；

[0026] 对所述初始二值化图进行形态学操作，得到处理图像；

[0027] 基于霍夫变换，提取所述处理图像中的最长直线；

[0028] 基于所述最长直线将所述灰度图进行转正，得到转正灰度图；

[0029] 对所述转正灰度图进行二值化操作，得到所述目标二值化图。

[0030] 优选的，所述计算所述待检测区域的灰度值信息，包括：

[0031] 计算所述待检测区域的目标灰度均值和目标一阶灰度导数均值；

[0032] 所述基于所述灰度值信息及预设阈值，确定所述待检测磁铁片的检测结果，包括：

[0033] 在所述待检测区域中选定待检测子区域；

[0034] 计算所述待检测子区域的第一灰度均值和第一一阶灰度导数均值；

[0035] 计算所述第一灰度均值和所述目标灰度均值的第一差值；

[0036] 计算所述第一一阶灰度导数均值与所述目标一阶灰度导数均值间的第二差值；

[0037] 将所述第一差值和所述第二差值与所述预设阈值进行比较，根据比较结果确定所述检测结果。

[0038] 优选的，所述将所述第一差值和所述第二差值与所述预设阈值进行比较，根据比较结果确定所述检测结果，包括：

[0039] 判断所述第一差值是否大于第一阈值及所述第二差值是否大于第二阈值，若所述第一差值大于所述第一阈值，且所述第二差值大于所述第二阈值，则确定所述待检测磁铁片存在发白的所述检测结果；

[0040] 和/或

[0041] 判断所述第一差值是否小于第三阈值及所述第二差值是否小于第四阈值，若所述第一差值小于所述第三阈值，且所述第二差值小于所述第四阈值，则确定所述待检测磁铁片存在发亮的所述检测结果。

[0042] 优选的，所述获取预设的待检测区域模板，包括：

[0043] 获取预设的所述待检测区域模板，所述待检测区域模板包括由两侧跑道和中间矩形构成的模板。

[0044] 一种磁铁片检测系统，包括：

[0045] 第一获取模块，用于获取待检测磁铁片的目标图像；

[0046] 第二获取模块，用于获取预设的待检测区域模板；

[0047] 第一确定模块，用于基于间接平差方法，在所述目标图像中确定与所述待检测区域模板对应的待检测区域；

[0048] 第一计算模块，用于计算所述待检测区域的灰度值信息；

[0049] 第二确定模块，用于基于所述灰度值信息及预设阈值，确定所述待检测磁铁片的检测结果。

[0050] 一种磁铁片检测设备，包括：

[0051] 存储器，用于存储计算机程序；

[0052] 处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上任一所述磁铁片检测方法的步骤。

[0053] 一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上任一所述磁铁片检测方法的步骤。

[0054] 本申请提供的一种磁铁片检测方法，获取待检测磁铁片的目标图像；获取预设的待检测区域模板；基于间接平差方法，在目标图像中确定与待检测区域模板对应的待检测区域；计算待检测区域的灰度值信息；基于灰度值信息及预设阈值，确定待检测磁铁片的检测结果。本申请中，通过间接平差方法可以快速在目标图像中确定与待检测区域模板对应的待检测区域，并且只需计算待检测区域的灰度值信息，便可以基于灰度值信息及预设阈值，确定待检测磁铁片的检测结果，快速对待检测磁铁片进行性能检测。本申请提供的一种磁铁片检测系统、设备及计算机可读存储介质也解决了相应技术问题。

附图说明

[0055] 为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

[0056] 图1为本申请实施例提供的一种磁铁片检测方法的流程图；

[0057] 图2为本申请实施例提供的定位点信息确定流程图；

[0058] 图3为灰度图的示意图；

[0059] 图4为初始二值化图的示意图；

[0060] 图5为处理图像的示意图；

[0061] 图6为转正灰度图的示意图；

[0062] 图7为目标二值化图的示意图；

[0063] 图8为投影结果的示意图；

[0064] 图9为定位点信息的示意图；

[0065] 图10为待检测区域模板的示意图；

[0066] 图11为本申请实施例提供的一种磁铁片检测系统的结构示意图；

[0067] 图12为本申请实施例提供的一种磁铁片检测设备的结构示意图；

[0068] 图13为本申请实施例提供的一种磁铁片检测设备的另一结构示意图。

具体实施方式

[0069] 下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

[0070] 请参阅图1，图1为本申请实施例提供的一种磁铁片检测方法的流程图。

[0071] 本申请实施例提供的一种磁铁片检测方法，可以包括以下步骤：

[0072] 步骤S101：获取待检测磁铁片的目标图像。

[0073] 实际应用中，可以借助磁铁片的图像信息来对磁铁片进行性能检测，所以可以先获取待检测磁铁片的目标图像。

[0074] 步骤S102：获取预设的待检测区域模板。

[0075] 实际应用中，考虑到目标图像的尺寸影响，如果对所有的目标图像进行计算来确定待检测磁铁片的性能的话，可能会使得检测过程繁琐，效率低下，为了避免此种问题，可以获取预设的待检测区域模板，以借助待检测区域模板在目标图像中确定出相应的待检测区域，再应用待检测区域对待检测磁铁片进行性能检测。

[0076] 步骤S103：基于间接平差方法，在目标图像中确定与待检测区域模板对应的待检测区域。

[0077] 实际应用中，为了快速确定待检测区域，可以基于间接平差方法，在目标图像中确定与待检测区域模板对应的待检测区域。其中，间接平差是在确定多个未知量的最或然值时，选择它们之间不存在任何条件关系的独立量作为未知量组成用未知量表达测量的函数关系、列出误差方程式，按最小二乘法原理求得未知量的最或然值的平差方法。

[0078] 步骤S104：计算待检测区域的灰度值信息。

[0079] 步骤S105：基于灰度值信息及预设阈值，确定待检测磁铁片的检测结果。

[0080] 实际应用中，在确定出待检测区域之后，可以计算待检测区域的灰度信息，并基于灰度值信息及预设阈值，确定待检测磁铁片的检测结果。

[0081] 应当指出，由于待检测区域各点的颜色及亮度不同，计算出的灰度值信息不同，所以可以借助灰度值信息及预设阈值，对待检测磁铁片进行发白或发亮检测，也即检测结果可以为待检测磁铁片发白或发亮。

[0082] 本申请提供的一种磁铁片检测方法，获取待检测磁铁片的目标图像；获取预设的待检测区域模板；基于间接平差方法，在目标图像中确定与待检测区域模板对应的待检测区域；计算待检测区域的灰度值信息；基于灰度值信息及预设阈值，确定待检测磁铁片的检测结果。本申请中，通过间接平差方法可以快速在目标图像中确定与待检测区域模板对应的待检测区域，并且只需计算待检测区域的灰度值信息，便可以基于灰度值信息及预设阈值，确定待检测磁铁片的检测结果，快速对待检测磁铁片进行性能检测。

[0083] 本申请实施例提供的一种磁铁片检测方法中，在基于间接平差方法，在目标图像中确定与待检测区域模板对应的待检测区域的过程中，可以包括以下步骤：

[0084] 确定目标图像的定位点信息；

[0085] 通过运算公式，基于间接平差方法，确定待检测区域模板与定位点信息间的二维钢体变换矩阵；

[0086] 基于二维钢体变换矩阵，将待检测区域模板映射至目标图像上，得到待检测区域；

[0087] 运算公式包括：

[0088]

[0089]

[0090] 其中，Rb表示二维钢体变换矩阵；表示平差参数的局部变化量，其中的六个平差参数表示二维钢体变换矩阵中的相应参数值；r1、r2、r3、r4表示多重旋转项；trx、try表示平移T项；B表示基于待检测区域模板及定位点信息构造的映射矩阵；P表示单位矩阵；B 表示B的转置；l表示间接平差方法中观测值与相应近似值之间的差值。

[0091] 运算公式的推导过程如下：

[0092] 假设变换矩阵如Rb所示，根据间接平差理论，误差方程为： 其中，V表示T间接平差中的误差值；平差准则为：VPV＝min；按最小二乘原理可得：
最终可得：

[0093] 具体应用场景中，在通过运算公式，基于间接平差方法，确定待检测区域模板与定位点信息间的二维钢体变换矩阵的过程中，可以在待检测区域模板中确定与定位点信息相对应的模板点信息，再通过运算公式，基于间接平差方法，确定定位点信息与模板点信息间的二维钢体变换矩阵；相应的，在基于二维钢体变换矩阵，将待检测区域模板映射至目标图像上，得到待检测区域的过程中，可以将待检测区域模板的点集与二维钢体变换矩阵进行运算得到待检测区域的点集信息，再根据待检测区域的点集信息在目标图像上确定出待检测区域等。

[0094] 本申请实施例提供的一种磁铁片检测方法中，在确定目标图像的定位点信息的过程中，可以借助灰度、二值化等操作来快速确定定位点信息，也即可以包括以下步骤：

[0095] 将目标图像转换为灰度图；

[0096] 对灰度图进行二值化操作，得到目标二值化图；

[0097] 对目标二值化图分别进行水平和竖直方向的积分投影，根据投影结果确定定位点信息。

[0098] 请参阅图2，具体应用场景中，确定目标图像的定位点信息的过程中可以包括以下步骤：

[0099] 步骤S201：将目标图像转换为灰度图。

[0100] 步骤S202：对灰度图进行二值化操作，得到初始二值化图。

[0101] 实际应用中，为了便于对图像进行处理，可以先将目标图像转换为灰度图，其示意性结果图可以如图3所示，再对灰度图进行二值化操作，得到初始二值化图，其示意性结果图可以如图4所示。

[0102] 步骤S203：对初始二值化图进行形态学操作，得到处理图像。

[0103] 实际应用中，考虑到图像中的噪声影响、背景影响等带来的图像处理误差，可以对初始二值化图进行形态学操作，得到不含误差影响的处理图像，其示意性结果图可以如图5所示，以准确对图像进行处理。其中，图像处理中的形态学操作用于图像与处理操作(去噪，形状简化等)、图像增强(骨架提取，细化，凸包及物体标记)、物体背景分割及物体形态量化等场景中。

[0104] 步骤S204：基于霍夫变换，提取处理图像中的最长直线。

[0105] 步骤S205：基于最长直线将灰度图进行转正，得到转正灰度图。

[0106] 实际应用中，因为待检测区域模板是正向的，如果目标图像非正向的话，会导致最终的定位点信息与待检测区域模板不匹配，所以在得到处理图像之后，需基于霍夫变换，提取处理图像中的最长直线，并基于最长直线将灰度图转为正向，得到转正灰度图，其示意性结果图可以如图6所示。

[0107] 步骤S206：对转正灰度图进行二值化操作，得到目标二值化图。

[0108] 实际应用中，在得到转正灰度图之后，需再次对转正灰度图进行二值化操作，得到目标二值化图，其示意性结果图可以如图7所示。

[0109] 步骤S207：对目标二值化图分别进行水平和竖直方向的积分投影，根据投影结果确定定位点信息。

[0110] 实际应用中，在得到目标二值化图之后，可以对目标二值化图分别进行水平和竖直方向的积分投影，投影结果可以如图8所示，并根据投影结果确定定位点信息，其中，定位点信息可以包括左上角、右上角、左下角三个点的坐标信息等，此时定位点信息可以如图9所示，当然，可以根据实际需要灵活确定定位点信息。

[0111] 本申请实施例提供的一种磁铁片检测方法中，在计算待检测区域的灰度值信息的过程中，可以：

[0112] 计算待检测区域的目标灰度均值和目标一阶灰度导数均值；

[0113] 相应的，在基于灰度值信息及预设阈值，确定待检测磁铁片的检测结果的过程中，可以：

[0114] 在待检测区域中选定待检测子区域；

[0115] 计算待检测子区域的第一灰度均值和第一一阶灰度导数均值；

[0116] 计算第一灰度均值和目标灰度均值的第一差值；

[0117] 计算第一一阶灰度导数均值与目标一阶灰度导数均值间的第二差值；

[0118] 将第一差值和第二差值与预设阈值进行比较，根据比较结果确定检测结果。

[0119] 需要说明的是，可以根据实际需要对待检测子区域及待检测区域进行细粒度的划分，比如可以先将待检测区域划分为多个待检测部分，并在各个待检测部分中确定相应的待检测子区域，这样，在计算待检测区域的目标灰度均值和目标一阶灰度导数均值的过程中，需计算各个待检测部分的目标灰度均值和目标一阶灰度导数均值；并在计算第一灰度均值和目标灰度均值的第一差值，计算第一一阶灰度导数均值与目标一阶灰度导数均值间的第二差值的过程中，计算第一灰度均值和与待检测子区域对应的待检测部分的目标灰度均值的第一差值，计算第一一阶灰度导数均值和与待检测子区域对应的待检测部分的目标一阶灰度导数均值间的第二差值，以在缩小待检测区域与待检测子区域间区域差值的情况下，准确确定检测结果。

[0120] 实际应用中，在将第一差值和第二差值与预设阈值进行比较，根据比较结果确定检测结果的过程中，可以：

[0121] 判断第一差值是否大于第一阈值及第二差值是否大于第二阈值，若第一差值大于第一阈值，且第二差值大于第二阈值，则确定待检测磁铁片存在发白的检测结果；

[0122] 和/或

[0123] 判断第一差值是否小于第三阈值及第二差值是否小于第四阈值，若第一差值小于第三阈值，且第二差值小于第四阈值，则确定待检测磁铁片存在发亮的检测结果。

[0124] 需要说明的是，因为第一差值、第二差值均为相应参数的差值，所以在实际应用中，可以将相应的阈值设置为一样，也即第一阈值与第二阈值的值可以相同，第三阈值与第四阈值的值可以相同等。

[0125] 本申请实施例提供的一种磁铁片检测方法中，在获取预设的待检测区域模板的过程中，可以获取预设的待检测区域模板，待检测区域模板包括由两侧跑道和中间矩形构成的模板，其示意图可以如图10所示。此时的待检测部分可以为五部分，其中，两侧跑道各有两部分，中间矩形为一部分，如图10中1至5的数字标号。

[0126] 请参阅图11，图11为本申请实施例提供的一种磁铁片检测系统的结构示意图。

[0127] 本申请实施例提供的一种磁铁片检测系统，可以包括：

[0128] 第一获取模块101，用于获取待检测磁铁片的目标图像；

[0129] 第二获取模块102，用于获取预设的待检测区域模板；

[0130] 第一确定模块103，用于基于间接平差方法，在目标图像中确定与待检测区域模板对应的待检测区域；

[0131] 第一计算模块104，用于计算待检测区域的灰度值信息；

[0132] 第二确定模块105，用于基于灰度值信息及预设阈值，确定待检测磁铁片的检测结果。

[0133] 本申请实施例提供的一种磁铁片检测系统，第一确定模块可以包括：

[0134] 第一确定子模块，用于确定目标图像的定位点信息；

[0135] 第二确定子模块，用于通过运算公式，基于间接平差方法，确定待检测区域模板与定位点信息间的二维钢体变换矩阵；

[0136] 第三确定子模块，用于基于二维钢体变换矩阵，将待检测区域模板映射至目标图像上，得到待检测区域；

[0137] 运算公式包括：

[0138]

[0139]

[0140] 其中，Rb表示二维钢体变换矩阵；表示平差参数的局部变化量，其中的六个平差参数表示二维钢体变换矩阵中的相应参数值；r1、r2、r3、r4表示多重旋转项；trx、try表示平移T项；B表示基于待检测区域模板及定位点信息构造的映射矩阵；P表示单位矩阵；B 表示B的转置；l表示间接平差方法中观测值与相应近似值之间的差值。

[0141] 本申请实施例提供的一种磁铁片检测系统，第一确定子模块可以包括：

[0142] 第一转换子模块，用于将目标图像转换为灰度图；

[0143] 第一操作子模块，用于对灰度图进行二值化操作，得到目标二值化图；

[0144] 第四确定子模块，用于对目标二值化图分别进行水平和竖直方向的积分投影，根据投影结果确定定位点信息。

[0145] 本申请实施例提供的一种磁铁片检测系统，第一操作子模块可以包括：

[0146] 第一二值化单元，用于对灰度图进行二值化操作，得到初始二值化图；

[0147] 第一操作单元，用于对初始二值化图进行形态学操作，得到处理图像；

[0148] 第一提取单元，用于基于霍夫变换，提取处理图像中的最长直线；

[0149] 第一转正单元，用于基于最长直线将灰度图进行转正，得到转正灰度图；

[0150] 第二二值化单元，用于对转正灰度图进行二值化操作，得到目标二值化图。

[0151] 本申请实施例提供的一种磁铁片检测系统，第一计算模块可以包括：

[0152] 第一计算子模块，用于计算待检测区域的目标灰度均值和目标一阶灰度导数均值；

[0153] 第二确定模块可以包括：

[0154] 第一选定子模块，用于在待检测区域中选定待检测子区域；

[0155] 第二计算子模块，用于计算待检测子区域的第一灰度均值和第一一阶灰度导数均值；

[0156] 第三计算子模块，用于计算第一灰度均值和目标灰度均值的第一差值；

[0157] 第四计算子模块，用于计算第一一阶灰度导数均值与目标一阶灰度导数均值间的第二差值；

[0158] 第五确定子模块，用于将第一差值和第二差值与预设阈值进行比较，根据比较结果确定检测结果。

[0159] 本申请实施例提供的一种磁铁片检测系统，第五确定子模块可以包括：

[0160] 第一判断单元，用于判断第一差值是否大于第一阈值及第二差值是否大于第二阈值，若第一差值大于第一阈值，且第二差值大于第二阈值，则确定待检测磁铁片存在发白的检测结果；

[0161] 和/或

[0162] 第二判断单元，用于判断第一差值是否小于第三阈值及第二差值是否小于第四阈值，若第一差值小于第三阈值，且第二差值小于第四阈值，则确定待检测磁铁片存在发亮的检测结果。

[0163] 本申请实施例提供的一种磁铁片检测系统，第二获取模块可以包括：

[0164] 第一获取单元，用于获取预设的待检测区域模板，待检测区域模板包括由两侧跑道和中间矩形构成的模板。

[0165] 本申请还提供了一种磁铁片检测设备及计算机可读存储介质，其均具有本申请实施例提供的一种磁铁片检测方法具有的对应效果。请参阅图12，图12为本申请实施例提供的一种磁铁片检测设备的结构示意图。

[0166] 本申请实施例提供的一种磁铁片检测设备，包括存储器201和处理器202，存储器201中存储有计算机程序，处理器202执行计算机程序时实现如上任一实施例所描述磁铁片检测方法的步骤。

[0167] 请参阅图13，本申请实施例提供的另一种磁铁片检测设备中还可以包括：与处理器202连接的输入端口203，用于传输外界输入的命令至处理器202；与处理器202连接的显示单元204，用于显示处理器202的处理结果至外界；与处理器202连接的通信模块205，用于实现磁铁片检测设备与外界的通信。显示单元204可以为显示面板、激光扫描使显示器等；通信模块205所采用的通信方式包括但不局限于移动高清链接技术(HML)、通用串行总线(USB)、高清多媒体接口(HDMI)、无线连接：无线保真技术(WiFi)、蓝牙通信技术、低功耗蓝牙通信技术、基于IEEE802.11s的通信技术。

[0168] 本申请实施例提供的一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如下步骤：

[0169] 本申请所涉及的计算机可读存储介质包括随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD‑ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质。

[0170] 本申请实施例提供的一种磁铁片检测系统、设备及计算机可读存储介质中相关部分的说明请参见本申请实施例提供的一种磁铁片检测方法中对应部分的详细说明，在此不再赘述。另外，本申请实施例提供的上述技术方案中与现有技术中对应技术方案实现原理一致的部分并未详细说明，以免过多赘述。

[0171] 还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

[0172] 对所公开的实施例的上述说明，使本领域技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。