沟槽隔离结构及其制备方法转让专利
申请号 : CN202110921908.6
文献号 : CN113380692B
文献日 : 2021-11-05
发明人 : 蒲甜松 , 郑艳 , 陈信全
申请人 : 晶芯成(北京)科技有限公司
摘要 :
权利要求 :
1.一种沟槽隔离结构的制备方法,其特征在于,包括:提供一衬底,所述衬底包括高压器件区和中低压器件区,且在所述高压器件区和所述中低压器件区中均依次形成有保护层、氧化材料层以及第一硬掩模层;
去除位于所述高压器件区中的所述第一硬掩模层,以暴露出部分所述氧化材料层,且暴露出的所述氧化材料层经氧化形成第一氧化层;
去除位于所述中低压器件区中的所述第一硬掩模层;
形成图案化第二硬掩模层,所述图案化第二硬掩模层覆盖于所述第一氧化层和所述氧化材料层上;
以所述图案化第二硬掩模层为阻挡,在所述高压器件区形成若干个第一沟槽以及在所述中低压器件区形成若干个第二沟槽;其中,所述第二沟槽贯穿所述氧化材料层,以使靠近所述第二沟槽侧壁的所述氧化材料层暴露,并将暴露出的部分厚度的所述氧化材料层氧化形成第二氧化层;
在所有所述第一沟槽和所述第二沟槽中填充形成隔离层。
2.根据权利要求1所述的沟槽隔离结构的制备方法,其特征在于,所述第一沟槽的深宽比小于所述第二沟槽的深宽比。
3.根据权利要求1所述的沟槽隔离结构的制备方法,其特征在于,靠近所述第二沟槽侧壁的所述氧化材料层从外向内氧化以形成所述第二氧化层;且在氧化方向上,所述第二氧化层的厚度范围为:300埃‑500埃。
4.根据权利要求1所述的沟槽隔离结构的制备方法,其特征在于,采用高深宽比填充工艺形成所述隔离层。
5.根据权利要求1所述的沟槽隔离结构的制备方法,其特征在于,所述第一沟槽依次贯穿所述第一氧化层和所述保护层并延伸至所述衬底中;所述第二沟槽依次贯穿所述氧化材料层和所述保护层,并延伸至所述衬底中。
6.根据权利要求1所述的沟槽隔离结构的制备方法,其特征在于,在形成所述第一氧化层之前,在所述第一硬掩模层上形成第一图案化光刻胶层,且所述第一图案化光刻胶层遮蔽位于中低压器件区中的所述第一硬掩模层,并暴露出位于所述高压器件区中的所述第一硬掩模层;以所述第一图案化光刻胶层为阻挡,刻蚀去除位于所述高压器件区中的所述第一硬掩模层。
7.根据权利要求6所述的沟槽隔离结构的制备方法,其特征在于,在去除位于所述高压器件区中的所述第一硬掩模层之后,且在去除位于所述中低压器件区中的所述第一硬掩模层之前,去除所述第一图案化光刻胶层。
8.根据权利要求1所述的沟槽隔离结构的制备方法,其特征在于,形成所述图案化第二硬掩模层的步骤包括:
形成第二硬掩模层,所述第二硬掩模层覆盖所述第一氧化层和所述氧化材料层;
形成第二图案化光刻胶层,所述第二图案化光刻胶层覆盖于所述第二硬掩模层上;
以所述第二图案化光刻胶层为阻挡,刻蚀形成所述图案化第二硬掩模层。
9.根据权利要求1所述的沟槽隔离结构的制备方法,其特征在于,在形成所述隔离层之后,所述沟槽隔离结构的制备方法还包括:去除所述图案化第二硬掩模层;
去除剩余的所述氧化材料层。
10.根据权利要求1所述的沟槽隔离结构的制备方法,其特征在于,所述氧化材料层的材质包括多晶硅。
11.一种沟槽隔离结构,其特征在于,包括:衬底,所述衬底包括高压器件区和中低压器件区;
第一氧化层,所述第一氧化层覆盖于所述高压器件区中的衬底上;
保护层,所述保护层覆盖于所述中低压器件区中的衬底上;
氧化材料层,所述氧化材料层覆盖于所述保护层上;
若干个第一沟槽和第二沟槽,所述第一沟槽贯穿所述第一氧化层并延伸至所述衬底中;所述第二沟槽依次贯穿所述氧化材料层和所述保护层,并延伸至所述衬底中;
隔离层,所述隔离层填充所有所述第一沟槽和第二沟槽,且所述中低压器件区中的所述隔离层与所述氧化材料层之间夹有第二氧化层;其中,所述第二氧化层为经所述第二沟槽暴露并从外向内氧化的部分所述氧化材料层。
12.根据权利要求11所述的沟槽隔离结构,其特征在于,在氧化方向上,所述第二氧化层的厚度范围为:300埃‑500埃。
说明书 :
沟槽隔离结构及其制备方法
技术领域
背景技术
硬掩模层102和图案化光阻103,并利用图案化光阻103作为阻挡刻蚀形成沟槽,继而形成隔
离物104以填充沟槽。然而,在填充后采用湿法刻蚀去除阻挡层101、硬掩模层102和部分隔
离物104时,会产生如图3所示的凹陷P(divot)。所形成的凹陷P使得与沟槽相接的衬底100
尖端暴露,从而产生尖端电流,严重影响器件性能。同时,因凹陷P出现在隔离物104的两侧
端,当半导体器件的工艺尺寸不断缩小,如图4所示,两侧的凹陷P将延伸并相连,以在隔离
物104的顶端形成凹槽P’,使得缺陷进一步恶化。对此,现有的解决方案是在形成隔离物104
之前,对沟槽的侧壁进行回拉刻蚀,以暴露出衬底100的尖端,并在后续形成隔离物104时,
利用隔离物104覆盖尖端,实现将凹陷P向远离沟槽的两侧平移。由此不仅实现了包裹尖端,
避免尖端电流对器件的影响,还可避免了浅沟槽隔离结构出现凹陷P缺陷,影响隔离效果。
件区HV的沟槽影响不大,因为高压器件区HV的沟槽深宽比比较小,不会出现过早封口的现
象。然而,对于中低压器件区MV&LV的沟槽来说,则会造成孔隙缺陷(void)。因中低压器件区
MV&LV的沟槽深宽比较大,如图4所示,在回拉刻蚀的过程中阻挡层101的刻蚀速率高于硬掩
模层102,则极易出现阻挡层101内缩的现象。图5中的A处明显可以看出位于阻挡层101处的
开口宽度大于位于硬掩模层102的开口宽度。因此,如图6所示,在高压器件区HV和中低压器
件区MV&LV同步形成隔离物104时,中低压器件区MV&LV的沟槽顶端会提前封口,造成形成的
浅沟槽隔离结构内部出现孔隙缺陷B,影响器件的性能。
发明内容
靠近所述第二沟槽侧壁的所述氧化材料层暴露,并将暴露出的部分厚度的所述氧化材料层
氧化形成第二氧化层;
范围为:300埃‑500埃
保护层,并延伸至所述衬底中。
器件区中的所述第一硬掩模层,并暴露出位于所述高压器件区中的所述第一硬掩模层;以
所述第一图案化光刻胶层为阻挡,刻蚀去除位于所述高压器件区中的所述第一硬掩模层。
除所述第一图案化光刻胶层。
中的氧化材料层氧化为第一氧化层作为后续的器件层,避免在后续工艺中单独沉积,精简
工艺步骤。继而,通过形成的所述第二沟槽,让中低压器件区中的靠近所述第二沟槽侧壁的
部分所述氧化材料层暴露,并氧化形成第二氧化层。其中,所述第二氧化层覆盖所述第二沟
槽的部分侧壁,不仅能够作为隔离层的一部分起到隔离作用,还能够包裹覆盖所述衬底的
尖端,避免尖端电流的产生。此外,在后续去除沟槽隔离结构上多余的膜层时,所述第二氧
化层还可以作为牺牲层避免所述隔离层被刻蚀而出现的凹陷问题(divot)。同时,本发明适
用于55nm及以下高压平台的半导体器件制程中,无需进行回拉刻蚀,解决了因回拉刻蚀导
致沟槽形态变化而产生的孔隙缺陷问题,提高了产品的性能,且与现有工艺有极好的兼容
性,有利于提高产品良率和竞争力。
附图说明
具体实施方式
便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。此外,附图所展示的结构往往是实际结构的一部
分。特别的,各附图需要展示的侧重点不同,有时会采用不同的比例。还应当理解的是,除非
特别说明或者指出,否则说明书中的术语“第一”、“第二”、“第三”等描述仅仅用于区分说明
书中的各个组件、元素、步骤等,而不是用于表示各个组件、元素、步骤之间的逻辑关系或者
顺序关系等。
材料层,以使靠近所述第二沟槽侧壁的所述氧化材料层暴露,并将暴露出的部分厚度的所
述氧化材料层氧化形成第二氧化层;
201、氧化材料层202以及第一硬掩模层203。
后的晶圆,进一步的,所述衬底200可选为绝缘体上硅(silicon‑on‑insulator,SOI)基底、
体硅(bulk silicon)基底、锗基底、锗硅基底、磷化铟(InP)基底、砷化镓(GaAs)基底或者绝
缘体上锗基底等。其中,部分所述衬底200为高压器件区HV,部分所述衬底200为中低压器件
区MV&LV。
氧化性,在自然状态下极易氧化,形成氧化物。所述第一硬掩模层203的材质可选的为氮化
物,例如氮化硅等,以作为刻蚀阻挡层。
204。
因此,在自然氧化后,所述第一氧化层204的材质与所述保护层201相同,均为二氧化硅,则
图8的示意图中所述第一氧化层204涵盖所述保护层,经氧化后的所述氧化材料层202与所
述保护层201共同作为第一氧化层204覆盖于所述高压器件区HV中的衬底200上。其中,当不
选用多晶硅作为所述氧化材料层202的材料,不选用二氧化硅作为所述保护层201的材料
时,所述高压器件区HV的所述衬底上依次形成保护层201和第一氧化层204。
所述第一硬掩模层203,并暴露出位于所述高压器件区HV中的所述第一硬掩模层203。然后,
以所述第一图案化光刻胶层为阻挡,刻蚀去除位于所述高压器件区HV中的所述第一硬掩模
层203,以使得位于所述高压器件区HV中的所述氧化材料层202暴露并氧化。在形成所述第
一氧化层204之后,去除所述第一图案化光刻胶层
述第二沟槽贯穿所述氧化材料层202,以使靠近所述第二沟槽侧壁的部分所述氧化材料层
202暴露,并暴露出的部分厚度的所述氧化材料层氧化形成第二氧化层206。
所述第二氧化层206会沿着所述第二沟槽的侧壁向下生长,覆盖暴露出的所述保护层201的
侧壁,以及暴露出的部分所述衬底200,实现包裹所述衬底200的尖端,避免尖端电流。进一
步的,如图14所示,在所述图案化第二硬掩模层205’的遮蔽作用下,所述氧化材料层202仅
暴露出靠近所述第二沟槽的侧壁,则暴露出的一侧为外部,未暴露的一侧为内部,靠近所述
第二沟槽侧壁的所述氧化材料层202会按照从外向内这一氧化方向氧化(如图14中的X方
向),以形成所述第二氧化层206。当然,在氧化时间的控制下,并不会把所有所述氧化材料
层202均氧化,仅在所述第二沟槽的侧壁上形成一层贴附的薄膜即可。因此,在氧化方向X
上,所述第二氧化层206的厚度d范围根据器件尺寸的大小确定,以实现包裹所述衬底200的
尖端,避免尖端电流即可。可选的,所述厚度d范围为:300埃‑500埃,例如为300埃、400埃或
500埃。
层202和所述保护层201,并延伸进所述衬底200中。且所述第一沟槽的深宽比小于所述第二
沟槽的深宽比。即,相较于所述高压器件区HV中的所述第一沟槽,所述低压器件区MV&LV中
的所述第二沟槽工艺窗口更小,操作难度更大。在现有工艺中会对沟槽的侧壁进行回拉刻
蚀,以暴露出衬底的尖角,且增大工艺窗口便于填充。但是在55nm及以下高压平台中对所述
高压器件区HV和所述中低压器件区MV&LV中的沟槽进行回拉刻蚀,会造成中低压器件区MV&
LV中在后续填充过程中提前封口,使得填充物中出现孔隙,对器件的性能造成影响。
低压器件区MV&LV中的靠近第二沟槽侧壁的部分所述氧化材料层202暴露,并氧化形成第二
氧化层206。所述第二氧化层206覆盖于所述第二沟槽上端的侧壁,不仅能够作为后续隔离
层的一部分起到隔离作用,还能够包裹覆盖所述衬底200的尖端,避免尖端电流的产生。此
外,在后续去除沟槽隔离结构上多余的膜层时,所述第二氧化层206还可以作为牺牲层避免
隔离层被刻蚀而出现的凹陷问题(divot)。同时,解决了因回拉刻蚀导致沟槽形态变化而产
生的孔隙缺陷问题,提高了产品的性能,且与现有工艺有极好的兼容性,有利于提高产品良
率和竞争力。
第二氧化层206的覆盖作用下,所述隔离层207中不会出现孔隙缺陷。
为本领域技术人员所熟知的技术,在此不做赘述。
则当不选用多晶硅作为所述氧化材料层202的材料,不选用二氧化硅作为所述保护层201的
材料时,所述高压器件区HV的所述衬底200上依次形成保护层201和第一氧化层204;
依次贯穿所述氧化材料层202和所述保护层201,并延伸进所述衬底200中;
206。其中,第二氧化层206由靠近所述第二沟槽侧壁的部分厚度的所述氧化材料层202经所
述第二沟槽暴露并沿从外向内的氧化方向X氧化而成。进一步的,在所述氧化方向X上,所述
第二氧化层206的厚度d范围根据器件尺寸的大小确定,用于实现包裹所述衬底200的尖端,
避免尖端电流。可选的,所述厚度d范围为:300埃‑500埃,例如为300埃、400埃或500埃。
层202,并利用氧化材料层202的易氧化性,先将高压器件区HV中的氧化材料层202氧化为第
一氧化层204作为后续的器件层,避免在后续工艺中单独沉积,精简工艺步骤。继而,通过形
成的所述第二沟槽,让中低压器件区MV&LV中靠近第二沟槽侧壁的部分所述氧化材料层202
暴露,并氧化形成第二氧化层206。其中,所述第二氧化层206覆盖所述第二沟槽的部分侧
壁,不仅能够作为隔离层207的一部分起到隔离作用,还能够包裹覆盖所述衬底200的尖端,
避免尖端电流的产生。此外,在后续去除沟槽隔离结构上多余的膜层时,所述第二氧化层
206还可以作为牺牲层避免隔离层被刻蚀而出现的凹陷问题(divot)。同时,本实施例提供
的所述沟槽隔离结构的制备方法适用于55nm及以下高压平台的半导体器件制程中,无需进
行回拉刻蚀,解决了因回拉刻蚀导致沟槽形态变化而产生的孔隙缺陷问题,提高了产品的
性能,且与现有工艺有极好的兼容性,有利于提高产品良率和竞争力。
况下,都可利用上述揭示的技术内容对本发明技术方案作出许多可能的变动和修饰,或修
改为等同变化的等效实施例。因此,凡是未脱离本发明技术方案的内容,依据本发明的技术
实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰,均仍属于本发明技术方案保护
的范围。