一种基于V-NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法

摘要

本发明涉及一种基于V‑NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，本发明基于V‑NIR光谱技术和便携式XRF快速、无损对碳酸岩型稀土矿床矿石样品和岩石样品进行辨别，从而快速识别碳酸岩型REE矿床矿化带，圈定找矿靶区，本发明的方法识别矿化带具有如下的优势：无需制样、无需标样、速度快、成本低、效率高，满足野外现场勘查过程中对目标样品是否矿化的识别要求。

权利要求

1.一种基于V‑NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，其特征在于，所述的方法包括如下步骤：(1)选定需要测试矿区的典型样品，采用正交偏光显微镜和XRD方法确定所述典型样品的矿物组成，进而根据所述的矿物组成对所述的典型样品进行分类；

(2)基于步骤(1)中典型样品的分类，通过V‑NIR光谱分析典型样品在特征吸收峰处的原始反射率、去包络线反射率和相对吸收深度，建立样品光谱匹配库，得到典型样品的光谱数据特征，根据所述的光谱数据特征判定未知属性的测试样品是否矿化；

(3)通过XRF采集典型样品的元素含量，归纳典型样品的元素含量数据特征，根据所述的元素含量数据特征判定未知属性的测试样品是否矿化；

(4)若步骤(2)和(3)至少一个条件判定测试样品矿化，则测试样品为矿石样品，否则为岩石样品。

2.根据权利要求1所述的一种基于V‑NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，其特征在于，步骤(1)中典型样品分为矿石样品和岩石样品。

3.根据权利要求2所述的一种基于V‑NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，其特征在于，所述的矿石样品包括方解石脉型矿石、天青石萤石脉型矿石、天青石方解石脉型矿石、角砾岩型矿石和天青石金云母脉型矿石，所述的岩石样品包括石英闪长岩、霓长岩和英碱正长岩。

4.根据权利要求1所述的一种基于V‑NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，其特征在于，步骤(2)中光谱数据特征是将HyLogger型岩心光谱扫描仪采集到的原始图像和光谱数据导入地质解译软件TSG，通过本次采集到的光谱数据，总结获取特征吸收峰的位置。

5.根据权利要求4所述的一种基于V‑NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，其特征在于，REE含量较高的矿石样品在TSG软件中的特征吸收峰位置分别为512nm、524nm、

580nm、676nm、740nm、800nm、864nm和892nm，利用光谱地质解译软件中相关算法，分别获取典型样品在上述特征吸收峰处的原始反射率、去包络线反射率和相对吸收深度，进而归纳总结并建立岩石样品和矿石样品在上述特征吸收峰处的原始反射率、去包络线反射率和相对吸收深度的特征规律，以便对未知属性的测试样品是否矿化进行判别。

6.根据权利要求5所述的一种基于V‑NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，其特征在于，将典型样品在特征吸收峰位置测定的原始反射率分成512nm和892nm、524nm和

864nm、580nm和800nm、676nm和740nm四组，根据每组测定的原始反射率做散点图，所述的散点图上分为矿石区、岩石区和重叠区，若测试样品测定的原始反射率的投落点在矿石区，则测试样品为矿石，若测试样品测定的原始反射率的投落点在岩石区，则测试样品为岩石，若测试样品测定的原始反射率的投落点在重叠区，则参考其他方法判断。

7.根据权利要求5所述的一种基于V‑NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，其特征在于，测定测试样品在512nm和524nm处的去包络线反射率，若测试样品在512nm的去包络线反射率Hul512＜0.997或在524nm处的去包络线反射率Hul524＜0.997，则测试样品为矿石样品，否则为岩石样品。

8.根据权利要求5所述的一种基于V‑NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，其特征在于，测定测试样品在所述特征吸收峰处的相对吸收深度，当测试样品的相对深度满足至少一个下述的条件：Dep512>0.002、Dep524>0002、Dep580>0.002、Dep676>0.002、Dep740>0.004、Dep800>0.006、Dep864>0.004、Dep892>0.002，则测试样品为矿石，否则为岩石样品。

9.根据权利要求1所述的一种基于V‑NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，其‑6 ‑6

特征在于，步骤(3)中XRF测定测试样品元素含量满足La>1115×10 、Ce>1974×10 、Y>107‑6×10 中的至少一个条件，则测试样品为矿石样品，否则为岩石样品。

说明书

一种基于V‑NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法

技术领域

[0001] 本发明属于矿床勘探技术领域，具体涉及一种基于V‑NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法。

背景技术

[0002] 矿床是由地质作用形成的、具有开采利用价值的有用矿物的聚集地，矿床的勘查包括预查、普查、详查、勘探这四个逐层深入的阶段。其中，勘探是对已知具有工业价值的矿区或经详查圈出的勘探区，通过应用各种勘查手段和有效方法，加密各种采样工程及可行性研究，为矿山建设在确定生产规模、产品方案、开采方式、开拓方案、矿石加工选冶工艺、矿山总体布置、矿山建设设计等方面提供依据。

[0003] 在矿床勘探过程中需要对矿化带进行识别和圈定，传统的方法是根据钻孔岩心的化学分析获取的氧化物或元素含量数据进行矿体的圈定。精细梳理圈定矿化带，有时需结合电子探针成分分析(EMPA)和X射线衍射光谱(XRD)分析等试验方法，经过制样、送样、实验等流程，周期长、效率低、成本高，因此，急需新的勘查技术以便解决以上问题。

[0004] 碳酸岩型(包括碳酸岩‑碱性岩型，以下简称碳酸岩型)稀土矿床拥有全球一半以上的稀土资源，而稀土元素(rare earth elements,REE)被誉为现代工业的“维生素”，同时也作为关键金属元素的重要组成部分，是21世纪全球竞相争夺的战略性矿产资源，被广泛应用于航空航天、国防科技、核能清洁能源和新型材料等领域。可见光‑近红外(V‑NIR)波段光谱反射特征为稀土矿床相关矿物化学成分信息的获取提供了快速、无损、廉价的技术方法。其基本原理是稀土离子4f电子层的f‑f跃迁引起的波普吸收可用于定量评价REE种类和含量。章钦瑜等利用可见光‑近红外‑短波红外对高岭石、绿泥石、绢云母进行研究，初步建立了离子吸附性稀土矿床遥感找矿评价模型(章钦瑜等,2012)。代晶晶等运用美国ASD FieldSpec‑3便携式地物波谱仪，获取了不同稀土溶液的波谱特征，针对可见光－近红外波段的6个明显的稀土特征吸收谷，运用原始波谱与纯水波谱比值的方法计算得出的波谱吸收深度和稀土总浓度，并进行线性回归分析，从而建立了稀土浓度定量评估模型(代晶晶等,2014,2017)。成功等通过5个稀土特征吸收波段和可见光波段与离子吸附性稀土矿石和原岩的稀土总含量、15中稀土元素含量进行线性回归建模，得到样品稀土含量的定量预测模型(成功等，2019)，曹发生等以黔西北二叠系宣威组沉积型稀土矿中的La元素为研究对象，用可见光‑近红外反射光谱对沉积型稀土矿La元素含量进行无损检测(曹发生等，2020)。 et al(2018)以加拿大Nechalacho地区的REE‑Nb‑Zr矿床为研究对象，对该矿床的蚀变分带、矿物光谱识别、Nd元素与741nm处相对吸收深度关系等进行了研究(et al.,2018)。

[0005] 尽管现有技术对离子吸附型稀土矿的原岩、矿石和配制的稀土溶液的REE元素定量评价有所探索，对沉积型稀土矿的La元素含量无损检测有所研究，对REE‑Nb‑Zr矿床蚀变分带、矿物光谱识别进行了不同程度的探讨，但是碳酸岩型REE矿床的原岩成分与离子吸附型REE矿床、沉积REE型矿床、REE‑Nb‑Zr矿床的原岩和矿物组合成分差异较大，碳酸岩型REE矿床的矿石REE整体含量远远高于离子吸附型矿床的REE含量(前者的REE含量比后者高2～3个数量级)，碳酸岩型REE矿床是轻稀土(LREE)矿床，离子吸附型REE矿床、REE‑Nb‑Zr矿床是重稀土(HREE)矿床，差别较大。精细梳理圈定矿化带，有时需结合电子探针成分分析(EMPA)和X射线衍射光谱(XRD)分析等试验方法，经过制样、送样、实验等流程，周期长、效率低、成本高，并且对岩心样品具有破坏性。

[0006] 鉴于以上原因，特提出本发明。

发明内容

[0007] 为了解决现有技术存在的以上问题，本发明提供了一种基于V‑NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，本发明基于V‑NIR光谱技术和便携式XRF(X射线荧光光谱分析)元素含量特征识别矿化带，无需制样、无需标样、速度快、成本低、效率高，可以快速识别碳酸岩型REE矿床矿化带，圈定找矿靶区，满足野外观察勘探过程中对目标样品是否矿化的识别要求。

[0008] 为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

[0009] 一种基于V‑NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，所述的方法包括如下步骤：

[0010] (1)选定需要测试矿区的典型样品，采用正交偏光显微镜和XRD方法确定所述典型样品的矿物组成，进而根据所述的矿物组成对所述的典型样品进行分类；

[0011] (2)基于步骤(1)中典型样品的分类，通过V‑NIR光谱分析典型样品在特征吸收峰处的原始反射率、去包络线反射率和相对吸收深度，建立样品光谱匹配库，得到典型样品的光谱数据特征，根据所述的光谱数据特征判定未知属性的测试样品是否矿化；

[0012] (3)通过XRF采集典型样品的元素含量，归纳典型样品的元素含量数据特征，根据所述的元素含量数据特征判定未知属性的测试样品是否矿化；

[0013] (4)若步骤(2)和(3)至少一个条件判定测试样品矿化，则测试样品为矿石样品，否则为岩石样品。

[0014] 本发明中至少一个条件判定未知属性的测试样品矿化，则测试样品为矿石样品，若多个条件均判定测试样品矿化，则测试样品为矿石样品的可信度更高，若步骤(2)和(3)中没有一个条件可以判定测试样品为矿石样品时，则测试样品为为岩石样品。

[0015] 本发明利用正交偏光显微镜观察样品矿物组成，利用X射线粉晶衍射(XRD)分析样品矿物组成，对样品属性进行明确的界定。V‑NIR光谱数据采集和便携式XRF元素含量数据采集，都是无损信息提取，需要在切薄片镜下鉴定和XRD测试之前。同样一块样品，先经过V‑NIR光谱数据采集和便携式XRF元素含量数据采集，然后将光谱数据采集后一部分岩石样品和矿石样品送样切薄片，并进行岩矿鉴定。切薄片后剩余的样品，粉碎至200目，用于XRD测试。

[0016] 本发明中的步骤(2)和(3)可以互换顺序，即可以先进行第(2)步，再进行第(3)步，也可以先进行第(3)步，再进行第(2)步。

[0017] 进一步的，步骤(1)中典型样品分为矿石样品和岩石样品。

[0018] 进一步的，所述的矿石样品包括方解石脉型矿石、天青石萤石脉型矿石、天青石方解石脉型矿石、角砾岩型矿石和天青石金云母脉型矿石，所述的岩石样品包括石英闪长岩、霓长岩和英碱正长岩。

[0019] 其中，方解石脉型矿石主要由方解石、氟碳铈矿、萤石、天青石、石膏等矿物组成；天青石萤石脉型矿石主要由天青石、萤石、石膏、方解石、氟碳铈矿、金云母等矿物组成；天青石方解石脉型矿石主要由天青石、方解石、萤石、石膏、氟碳铈矿、金云母等矿物组成；角砾岩型矿石主要由粘土化碎粉岩角砾、粗面岩角砾、斜长石碎斑和天青石、氟碳铈矿、黄铁矿等矿物组成；天青石金云母脉型矿石主要由天青石、金云母、萤石、石膏、氟碳铈矿等矿物组成；石英闪长岩主要由斜长石、角闪石、石英等矿物组成；霓长岩主要由碱性长石、霓辉石、钠角闪石等矿物组成；英碱正长岩主要由碱性长石、黑云母、和少量石英组成。

[0020] 进一步的，步骤(2)中光谱数据特征是将HyLogger型岩心光谱扫描仪采集到的原始图像和光谱数据导入地质解译软件TSG，结合前人的研究成果和本次采集到的光谱数据，总结获取特征吸收峰的位置。

[0021] 本发明中的TSG全称“The Spectral Geologist”，翻译为“光谱地质专家”，该软件集合了各种地质光谱数据的分析算法及澳大利亚CSIRO专门测试的一套矿物光谱数据库。

[0022] 进一步的，REE含量较高的矿石样品在TSG软件中的特征吸收峰位置分别为512nm、524nm、580nm、676nm、740nm、800nm、864nm和892nm，利用光谱地质解译软件中相关算法，分别获取典型样品在上述特征吸收峰处的原始反射率、去包络线反射率和相对吸收深度，进而归纳总结并建立岩石样品和矿石样品在上述特征吸收峰处的原始反射率、去包络线反射率和相对吸收深度的特征规律，以便对未知属性的测试样品是否矿化进行判别。

[0023] 进一步的，将典型样品在512nm和892nm、524nm和864nm、580nm和800nm、676nm和740nm波段测定的原始反射率分成四组，根据每组测定的原始反射率做散点图，所述的散点图上分为矿石区、岩石区和重叠区，若测试样品测定的原始反射率的投落点在矿石区，则测试样品为矿石，若测试样品测定的原始反射率的投落点在岩石区，则测试样品为岩石，若测试样品测定的原始反射率的投落点在重叠区，则参考其他方法判断。

[0024] 进一步的，测定样品在512nm和524nm处的去包络线反射率，若测试样品在512nm的去包络线反射率Hul512＜0.997或在524nm处的去包络线反射率Hul524＜0.997，则测试样品为矿石样品，否则为岩石样品。

[0025] 进一步的，测定测试样品在所述特征吸收峰处的相对吸收深度，当测试样品的相对深度满足至少一个下述的条件：Dep512>0.002、Dep524>0002、Dep580>0.002、Dep676>0.002、Dep740>0.004、Dep800>0.006、Dep864>0.004、Dep892>0.002，则测试样品为矿石，否则为岩石样品。

[0026] 当测定未知属性的测试样品在上述特征峰处的原始反射率、去包络线反射率和相对吸收深度三者中至少一个条件确定测试样品为矿石样品，则通过V‑NIR光谱分析得到的测试样品为矿石样品。

[0027] 进一步的，步骤(3)中XRF测定测试样品元素含量满足La>1115×10‑6、Ce>1974×‑6 ‑610 、Y>107×10 中的至少一个条件，则测试样品为矿石样品，否则为岩石样品。

[0028] 本发明中采用Vanta VMW型便携式XRF采集元素含量数据，Vanta VMW型便携式XRF目前可以采集的稀土元素种类包括La、Ce、Pr、Nd、Y这五种元素，但是本发明收集到的样品绝大多数Pr、Nd元素值不能检测出来。因此本发明仅对测试的数据La、Ce、Y元素含量特点进行探讨，对于La和Ce元素的含量，大部分的岩石样品都不能被检测出来，少量检测出来的La‑6 ‑6 ‑6 ‑6≤213×10 ，Ce≤404×10 ，通常矿石样品的La>1115×10 ，Ce>1974×10 。各类矿石和各类岩石中Y元素的含量都可以被检测到，并且矿石和岩石中的Y元素有显著差别，一般矿石‑6
样品Y>107×10 。与现有技术相比，本发明的有益效果为：

[0029] 本发明基于V‑NIR光谱技术和便携式XRF快速、无损对碳酸岩型稀土矿床矿石样品和岩石样品进行辨别，从而快速识别碳酸岩型REE矿床矿化带，圈定找矿靶区，本发明的方法识别矿化带具有如下的优势：无需制样、无需标样、速度快、成本低、效率高，满足野外现场勘查过程中对目标样品是否矿化的识别要求，本发明填补了基于V‑NIR光谱技术和XRF元素含量特征判别碳酸岩型REE矿床样品是否矿化的空白。

附图说明

[0030] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

[0031] 图1是本发明所述基于V‑NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法的工艺流程图

[0032] 图2是本发明大陆槽碳酸岩型REE矿床各类矿石、岩石手标本图片；

[0033] 图3是本发明大陆槽碳酸岩型REE矿床各类矿石、岩石单偏光和正交偏光显微镜下图片；

[0034] 图4是本发明大陆槽碳酸岩型REE矿床各类矿石、岩石在512nm,524nm,580nm,676nm,740nm,800nm,864nm,892nm波段处原始反射率散点图；

[0035] 图5是本发明大陆槽碳酸岩型REE矿床各类矿石、岩石在512nm,524nm波段处去包络线反射率对比图；

[0036] 图6是本发明大陆槽碳酸岩型REE矿床各类矿石、岩石在512nm,524nm,580nm,676nm,740nm,800nm,864nm,892nm波段处的相对吸收深度对比图；

[0037] 图7是本发明大陆槽碳酸岩型REE矿床各类矿石、岩石便携式XRF测试稀土元素含量的散点图。

具体实施方式

[0038] 为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本发明的技术方案进行详细的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式，都属于本发明所保护的范围。

[0039] 本实施例以四川省冕宁‑德昌稀土成矿带大陆槽大型REE矿床为研究对象。

[0040] 本实施例的一种基于V‑NIR和XRF识别碳酸岩型REE矿床矿化带的方法，具体的流程图见图1，所述的方法包括如下步骤：

[0041] (1)选定需要测试矿区的典型样品，采用正交偏光显微镜和XRD方法确定所述典型样品的矿物组成，进而根据所述的矿物组成对所述的典型样品进行分类，其中，典型样品分为矿石样品和岩石样品，所述的矿石样品包括方解石脉型矿石、天青石萤石脉型矿石、天青石方解石脉型矿石、角砾岩型矿石和天青石金云母脉型矿石，所述的岩石样品包括石英闪长岩、霓长岩和英碱正长岩，如图2和3所示，图3中(a)和(b)分别为方解石脉型矿石在单偏光下和正交偏光下照片，主要由方解石和氟碳铈矿等矿物组成；(c)和(d)分别为天青石萤石脉型矿石单偏光和正交偏光镜下照片，主要由天青石、萤石、氟碳铈矿、金云母等矿物组成；(e)和(f)分别为天青石方解石脉型矿石在单偏光和正交偏光镜下照片，主要由天青石、方解石、氟碳铈矿、金云母等矿物组成；(g)和(h)分别为角砾型矿石单偏光和正交偏光镜下照片，主要由粘土化碎粉岩角砾、粗面岩角砾、斜长石碎斑和天青石、氟碳铈矿、黄铁矿等矿物组成；(i)和(j)分别为天青石金云母脉型矿石单偏光和正交偏光镜下照片，主要由金云母、氟碳铈矿、天青石、萤石等矿物组成；(k)和(l)分别为石英闪长岩单偏光和正交偏光镜下照片，主要由斜长石、角闪石、石英等矿物组成；(m)和(n)分别为霓长岩单偏光和正交偏光镜下照片，主要由碱性长石、霓辉石、钠角闪石等矿物组成；(o)和(p)分别为英碱正长岩单偏光和正交偏光镜下照片，主要由碱性长石、黑云母、和少量石英组成。

[0042] 矿物缩写：Agt‑霓辉石；Amp‑角闪石；Bsn‑氟碳铈矿；Bt‑黑云母；Cal‑方解石；Cls‑天青石；Fl‑萤石；Phl‑金云母；Pl‑斜长石；Py‑黄铁矿；Qtz‑石英。

[0043] XRD测定需要将样品粉碎至200目进行测试，典型矿石样品和岩石样品通过XRD测试分析后获取的矿物种类和质量百分比见表1。

[0044] 表1大陆槽碳酸岩型REE矿床典型矿石样品和岩石样品XRD测试获取的矿物组成及相对含量

[0045]

[0046] 注：表1中矿物相对含量单位为(％)。

[0047] (2)基于步骤(1)中典型样品的分类，通过V‑NIR光谱分析典型样品在特征吸收峰处的原始反射率、去包络线反射率和相对吸收深度，建立样品光谱匹配库，得到典型样品的光谱数据特征，光谱数据特征是将HyLogger型岩心光谱扫描仪采集到的原始图像和光谱数据导入地质解译软件TSG，总结获取特征吸收峰的位置，根据所述的光谱数据特征判定测试样品是否矿化；

[0048] 结合前人的研究成果和本次采集到的光谱数据，典型样品中REE含量较高的矿石样品在TSG软件中的特征吸收峰位置分别为512nm、524nm、580nm、676nm、740nm、800nm、864nm和892nm，利用光谱地质解译软件中相关算法，分别获取典型样品在上述特征吸收峰处的原始反射率、去包络线反射率和相对吸收深度，进而归纳总结并建立岩石样品和矿石样品在上述特征吸收峰处的原始反射率、去包络线反射率和相对吸收深度的特征规律，以便对未知属性的测试样品是否矿化进行判别。

[0049] 经过测试发现矿石样品和岩石样品的原始反射率并没有截然差别，考虑到有重叠和交叉，分别将512nm和892nm、524nm和864nm、580nm和800nm、676nm和740nm波段测定的原始反射率分成四组，根据每组测定的原始反射率做散点图，如图4所示，Ref512,Ref524,R580,Ref676,Ref740,Ref800,Ref864,Ref892分别表示样品在512nm,524nm,580nm,676nm,740nm,800nm,864nm,892nm波段处的原始反射率。所述的散点图上分为矿石区、岩石区和重叠区，若测试样品投落点在矿石区，则测试样品为矿石，若测试样品投落点在岩石区，则测试样品为岩石，若测试样品投落点在重叠区，则参考其他方法判断。

[0050] 对于典型样品去包络线反射率，如图5所示，其中，Qul512,Qul524分别表示样品在512nm、524nm波段处去包络线反射率，矿石样品和岩石样品仅在512nm、524nm处有明显的差别，通过分析，矿石的去包络线反射率Hul512<0.997、Hul524<0.997，因此，测定测试样品在
512nm和524nm处的去包络线反射率，若测试样品在512nm的去包络线反射率Hul512＜0.997或在524nm处的去包络线反射率Hul524＜0.997，则测试样品为矿石样品，否则为岩石样品。

[0051] 对于典型样品测试相对吸收深度，如图6所示，其中，Dep512,Dep524,Dep580,Dep676,Dep740,Dep800,Dep864,Dep892分别表示样品在512nm,524nm,580nm,676nm,740nm,800nm,864nm,892nm波段处的相对吸收深度。矿石样品和岩石样品具有明显的差别，测定测试样品在所述特征吸收峰处的相对吸收深度，当测试样品的相对深度满足至少一个下述的条件：Dep512>0.002、Dep524>0002、Dep580>0.002、Dep676>0.002、Dep740>0.004、Dep800>0.006、Dep864>0.004、Dep892>0.002，则测试样品为矿石，否则为岩石样品。

[0052] (3)通过XRF采集典型样品的稀土元素含量见表2，稀土元素含量的散点图见图7，归纳典型样品的元素含量数据特征，根据所述的元素含量数据特征确定测试样品是否矿‑6 ‑6 ‑6化，XRF测定测试样品满足La>1115×10 、Ce>1974×10 、Y>107×10 中的至少一个条件，则测试样品为矿石样品，否则为岩石样品。

[0053] 表2本发明大陆槽碳酸岩型REE矿床典型岩石、矿石便携式XRF元素含量

[0054]

[0055]

[0056]

[0057] 注：ND表示未检测出数据

[0058] (4)若步骤(2)和(3)至少一个条件判定测试样品矿化，则测试样品为矿石样品，否则为岩石样品。

[0059] 本发明中至少一个条件判定未知属性的测试样品矿化，则测试样品为矿石样品，若多个条件均判定测试样品矿化，则测试样品为矿石样品的可信度更高，若步骤(2)和(3)中没有一个条件可以判定测试样品为矿石样品时，则测试样品为为岩石样品。

[0060] 对于碳酸岩型REE矿床的样品，如果能够同时满足V‑NIR光谱数据和XRF元素含量特征的多个条件时，该样品矿化的概率非常大。因此可以将V‑NIR光谱数据和XRF元素含量特征对未知样品进行综合测试分析，这样证据会更充分，识别矿化将会更精确。

[0061] 以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。