一种液晶显示面板测试方法及设备转让专利
申请号 : CN202110670510.X
文献号 : CN113433720B
文献日 : 2022-05-06
发明人 : 卓恩宗 , 韦超 , 张勇 , 丁洁 , 郑浩旋
申请人 : 惠科股份有限公司
摘要 :
权利要求 :
1.一种液晶显示面板测试方法,其特征在于,所述液晶显示面板测试方法包括:在阵列板的测试中,在阵列板的扫描线加持续第一时长的第一电压,数据线加持续所述第一时长的第二电压;其中,所述第一电压不属于所述扫描线的额定电压区间,所述第二电压不属于所述数据线的额定电压区间;
对加压后的所述阵列板进行测试,以确定所述阵列板是否异常;
基于测试通过的所述阵列板制成液晶显示面板后,在所述液晶显示面板的测试中,在所述液晶显示面板的扫描线加持续第二时长的第三电压,数据线加持续所述第二时长的第四电压;所述第三电压不属于所述扫描线的额定电压区间,所述第四电压不属于所述数据线的额定电压区间;
对加压后的所述液晶显示面板进行测试,以确定所述液晶显示面板是否异常;
所述第一电压小于所述扫描线的额定电压区间的最小值,所述第二电压大于所述数据线的额定电压区间的最大值;所述第三电压小于所述扫描线的额定电压区间的最小值,所述第四电压大于所述数据线的额定电压区间的最大值;
其中,所述第一电压与扫描线的额定电压区间的最小值的差值绝对值小于等于第一预设值,所述第二电压与数据线的额定电压区间的最大值的差值绝对值小于等于第二预设值,所述第三电压与扫描线的额定电压区间的最小值的差值绝对值小于等于第三预设值,所述第四电压与数据线的额定电压区间的最大值的差值绝对值小于等于第四预设值。
2.如权利要求1所述的液晶显示面板测试方法,其特征在于,所述对加压后的所述液晶显示面板进行测试,以确定所述液晶显示面板是否异常的步骤,包括:对加压后的所述液晶显示面板进行点亮测试,以确定所述液晶显示面板是否异常;
或,
对加压后的所述液晶显示面板的画面品质进行测试,以确定所述液晶显示面板的画面品质是否达到预设条件。
3.如权利要求1所述的液晶显示面板测试方法,其特征在于,所述扫描线的额定电压区间为‑9V~30V,所述数据线的额定电压区间为0V~14V。
4.如权利要求1所述的液晶显示面板测试方法,其特征在于,所述第一电压与所述第三电压不等;所述第二电压与所述第四电压不等。
5.如权利要求1所述的液晶显示面板测试方法,其特征在于,所述对加压后的所述液晶显示面板进行测试,以确定所述液晶显示面板是否异常的步骤之后,还包括:在老化测试中,将所述液晶显示面板置于第一老化环境中;其中,所述第一老化环境的温度大于55摄氏度;
在第三时长后,对所述液晶显示面板进行测试,以确定所述液晶显示面板是否异常。
6.如权利要求5所述的液晶显示面板测试方法,其特征在于,所述第一老化环境的温度为60摄氏度。
7.如权利要求1‑5任一项所述的液晶显示面板测试方法,其特征在于,所述第一电压比所述扫描线的额定电压区间的最小值小6V;所述第二电压比所述数据线的额定电压区间的最大值大16V。
8.如权利要求7所述的液晶显示面板测试方法,其特征在于,所述第三电压比所述扫描线的额定电压区间的最小值小1V,所述第四电压比所述数据线的额定电压区间的最大值大
21V。
9.一种液晶显示面板测试设备,其特征在于,所述液晶显示面板测试设备用于:在阵列板的测试中,在阵列板的扫描线加持续第一时长的第一电压,数据线加持续所述第一时长的第二电压;其中,所述第一电压不属于所述扫描线的额定电压区间,所述第二电压不属于所述数据线的额定电压区间;
对加压后的所述阵列板进行测试,以确定所述阵列板是否异常;
基于测试通过的所述阵列板制成液晶显示面板后,在所述液晶显示面板的测试中,在所述液晶显示面板的扫描线加持续第二时长的第三电压,数据线加持续所述第二时长的第四电压;其中,所述第三电压不属于所述扫描线的额定电压区间,所述第四电压不属于所述数据线的额定电压区间;
对加压后的所述液晶显示面板进行测试,以确定所述液晶显示面板是否异常;
所述第一电压小于所述扫描线的额定电压区间的最小值,所述第二电压大于所述数据线的额定电压区间的最大值;所述第三电压小于所述扫描线的额定电压区间的最小值,所述第四电压大于所述数据线的额定电压区间的最大值;
其中,所述第一电压与扫描线的额定电压区间的最小值的差值绝对值小于等于第一预设值,所述第二电压与数据线的额定电压区间的最大值的差值绝对值小于等于第二预设值,所述第三电压与扫描线的额定电压区间的最小值的差值绝对值小于等于第三预设值,所述第四电压与数据线的额定电压区间的最大值的差值绝对值小于等于第四预设值。
说明书 :
一种液晶显示面板测试方法及设备
技术领域
背景技术
上。
法检测出来,从而导致漏检率高、液晶显示面板质量低、使用寿命短。
发明内容
第二电压不属于所述数据线的额定电压区间;
长的第四电压;所述第三电压不属于所述扫描线的额定电压区间,所述第四电压不属于所
述数据线的额定电压区间;
的最小值,所述第四电压大于所述数据线的额定电压区间的最大值。
第二电压不属于所述数据线的额定电压区间;
长的第四电压;其中,所述第三电压不属于所述扫描线的额定电压区间,所述第四电压不属
于所述数据线的额定电压区间;
第一电压不属于扫描线的额定电压区间,第二电压不属于数据线的额定电压区间;对加压
后的阵列板进行测试,以确定阵列板是否异常;基于测试通过的阵列板制成液晶显示面板
后,在液晶显示面板的测试中,在液晶显示面板的扫描线加持续第二时长的第三电压,数据
线加持续第二时长的第四电压;其中,第三电压不属于扫描线的额定电压区间,第四电压不
属于数据线的额定电压区间;对加压后的液晶显示面板进行测试,以确定液晶显示面板是
否异常;也就是说,本申请中,在阵列板的测试和液晶显示面板的测试过程中,对制作得到
的液晶显示面板的半成品或成品施加的电压不属于额定电压区间,从而加速液晶显示面板
的半成品或成品的老化或恶化,使得液晶显示面板的半成品或成品的隐藏缺陷暴露出来,
从而降低漏检率、提升液晶显示面板的质量和使用寿命;并且,在制成阵列板之后,对阵列
板施加的电压不属于额定电压区间,使得阵列板的隐藏缺陷暴露出来,从而避免存在隐藏
缺陷的阵列板被用来制作液晶显示面板,导致浪费时间、材料的情况,提升了制作效率、良
品率,降低了制作成本。
附图说明
普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得
其他的附图。
具体实施方式
于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其
他实施例,都属于本申请保护的范围。
特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特
征。另外,全文中出现的“和/或”的含义,包括三个并列的方案,以“A和/或B”为例,包括A方
案、或B方案、或A和B同时满足的方案。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但
是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法
实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本申请要求的保护范围之内。
断开,但是,对于液晶显示面板的某些隐藏缺陷(例如,连接线路比较薄弱),无法测试出,从
而导致制作出的液晶显示面板质量低、使用寿命短。例如,随着液晶显示面板的清晰度和质
量的要求越来越高,液晶显示面板的制作难度也越来越大,使得制作出的液晶显示面板容
易出现隐藏缺陷,在一个示例中,对于高性能TFT‑LCD(Thin Film Transistor‑Liquid
Crystal Display,薄膜晶体管‑液晶显示器),其TFT沟道长度相对较小,TFT制程通常采用
BCE(Back Channel Etching,背沟道刻蚀型)型结构,由于其特殊的制作工艺,很容易造成
GOA(gate on Array,栅极电路集成在阵列面板上)区与面内pixel(像素)区出现PR(photo
resist,光刻胶)remain(残留),造成过蚀刻,导致线路薄弱,而相关测试中,仅能测试出线
路是否断开,对于线路比较薄弱的情况,无法测试出来,从而导致液晶显示面板质量低、使
用寿命短。
括:
素电极等,TFT开关的栅极连接扫描线,源极连接数据线,漏级连接像素电极。其中,阵列板
上的电路可以根据实际需要灵活设置。在一个示例中,阵列板可以是TFT阵列板。
电极之间的连接线、数据线走线)可以均由铝制成。
以均由铜制成。
扫描线加持续第一时长的第一电压,数据线加持续第一时长的第二电压,即,同时在阵列板
的扫描线加第一电压,数据线加第二电压,并保持第一时长。其中,第一电压不属于扫描线
的额定电压区间,第二电压不属于数据线的额定电压区间。由于施加在阵列板的扫描线和
数据线上的电压均不属于对应的额定电压区间,因此,会加速阵列板上线路老化或恶化,使
得阵列板的隐藏缺陷暴露出来。例如,由于光刻胶残留等情况,导致阵列板上的线路过蚀
刻,某些连接点比较薄弱,在正常测试过程中,由于该连接点正常通电,无法检测出来;而本
发明实施例中,在阵列板的扫描线和数据线施加的电压不属于额定电压区间,使得阵列板
加速老化或恶化,从而导致薄弱的连接点断开,在后续的过程中,即可测试出该连接点断
开,降低漏检率。
板本身的性质决定。在一些实施方式中,可以选用扫描线的额定电压区间为‑9V~30V(即[‑
9V,30V]),数据线额定电压区间为0V~14V(即[0V,14V])的阵列板。需要说明的是,本发明
实施例中,A~B表示大于等于A且小于等于B,符号[]对应的区间包括端点值,符号()对应
的区间不包括端点值,例如[A,B]表示大于等于A且小于等于B,(A,B)表示大于A且小于B,
(A,B]表示大于A且小于等于B。
额定电压区间的最小值。
线额定电压区间为[‑9V,30V],数据线额定电压区间为[0V,14V],则第一电压可以大于30V,
第二电压可以小于0V。其中,第一电压和第二电压的具体取值可以根据实际需要灵活设置。
绝对值可以小于等于b,其中,a、b为正整数,a与b可以相等,也可以不等,a和b的具体取值可
以根据实际需要灵活设置,例如,a可以设置为5V、10V等,b可以设置为4V、8V等。在一个示例
中,假设a为5V,b为8V,扫描线额定电压区间为[‑9V,30V],数据线额定电压区间为[0V,
14V],则第一电压的取值范围为(30V,35V],即大于30V,且小于等于35V;第二电压的取值范
围为[‑8V,0V),即小于0V,且大于等于‑8V。
线额定电压区间为[‑9V,30V],数据线额定电压区间为[0V,14V],则第一电压可以小于‑9V,
第二电压可以大于14V。需要说明的是,第一电压、第二电压的具体取值可以根据实际需要
灵活设置。
值可以小于等于y1,其中,x1与y1可以相等,也可以不等,x1和y1的具体取值可以根据实际
需要灵活设置,例如,x1可以设置为5V、10V等,y1可以设置为6V、8V等。在一个示例中,假设
x1为5V,y1为25V,扫描线额定电压区间为[‑9V,30V],数据线额定电压区间为[0V,14V],则
第一电压的取值范围为[‑14V,‑9V),即大于等于‑14V,且小于‑9V;第二电压的取值范围为
(14V,39V],即大于14V,且小于等于39V。
值的差值绝对值可以大于等于y2,其中x2小于等于x1,y2小于等于y1,x2、y2的具体取值可
以根据实际需要灵活设置。在一个示例中,假设x1为9V,x2为1V,y1为18V,y2为5V,扫描线额
定电压区间为[‑9V,30V],数据线额定电压区间为[0V,14V],则第一电压的取值范围为[‑
18V,‑10V],即大于等于‑18V,且小于等于‑10V;第二电压的取值范围为[19V,32V],即大于
19V,且小于等于32V;例如,第一电压可以是‑15V,第二电压可以是30V。
电压与扫描线额定电压区间的偏差、第二电压与数据线额定电压区间的偏差确定,其中,第
一电压与扫描线额定电压区间的偏差越大、第二电压与数据线额定电压区间的偏差越大,
第一时长越小。例如,假设扫描线额定电压区间为[‑9V,30V],数据线额定电压区间为[0V,
14V],若第一电压取值处于(‑10V,‑9V),第二电压取值处于(14V,20V],则第一时长可以是
10秒,若第一电压取值处于[‑15V,‑10V],第二电压取值处于(20V,30V],则第一时长可以是
4秒。
描线和数据线施加了不属于额定电压区间的电压,从而加速了阵列板的线路的老化/恶化,
使得阵列板上隐藏的缺陷暴露出来,从而被检测到。例如,由于对阵列板的扫描线和数据线
施加了不属于额定电压区间的电压,从而加速了阵列板的线路的老化/恶化,使得阵列板上
薄弱的连接点断开,从而被测试出来,降低漏检率,保障阵列板的质量。
电压。
显示面板上也设置有扫描线和数据线。其中,液晶显示面板还可以包括阵列板、彩色滤光
片、偏光板、PCB(Printed Circuit Board,印制线路板)等。在一个示例中,参见图2所示,制
作得到的液晶显示面板沿着出光方向,依次为第一偏光片201、阵列板202、液晶盒203、彩色
滤光片204、第二偏光片205。
合并切割,得到第一半成品,对得到的第一半成品进行点亮测试,以筛选出质量不良的第一
半成品,其中,在切割时,阵列板的面积比彩色滤光片的面积大,以用于后续在阵列板空余
的位置处贴合PCB;然后,将测试通过后的第一半成品与偏光片进行贴合,得到第二半成品,
将第二半成品与PCB进行贴合,得到液晶显示面板。
对液晶显示面板进行测试,在测试过程中,在液晶显示面板的扫描线加持续第二时长的第
三电压,数据线加持续第二时长的第四电压,即,同时在液晶显示面板的扫描线加第三电
压,数据线加第四电压,并保持第二时长。其中,第三电压不属于扫描线的额定电压区间,第
四电压不属于数据线的额定电压区间。由于施加在液晶显示面板的扫描线和数据线上的电
压均不属于对应的额定电压区间,因此,会加速液晶显示面板上线路老化/恶化,使得液晶
显示面板隐藏的缺陷暴露出来。例如,参见图3、4所示,图3为液晶显示面板的电路连接示意
图,图3中,由于光刻胶残留等问题,导致过蚀刻,某些线路存在薄弱连接点301,在正常测试
中,由于薄弱连接点301可以导电,无法测试出来,本发明实施例中,通过在液晶显示面板的
扫描线和数据线施加不属于额定电压区间的电压,从而加速液晶显示面板的老化或恶化,
使得薄弱连接点301断开,参见图4所示,图4为如图3所示的液晶显示面板,在扫描线施加第
三电压、在数据线施加第四电压,并保持第二时长后,液晶显示面板的电路连接示意图,图4
中,薄弱连接点301断开,在后续的测试中,即可将薄弱连接点301测试出来。
额定电压区间的最小值。
线额定电压区间为[‑9V,30V],数据线额定电压区间为[0V,14V],则第三电压可以大于30V,
第四电压可以小于0V。其中,第三电压和第四电压的具体取值可以根据实际需要灵活设置。
值可以小于等于d,其中,c与d可以相等,也可以不等,c和d的具体取值可以根据实际需要灵
活设置,例如,c可以设置为5V、8V等,d可以设置为3V、15V等。在一个示例中,假设c为4V,d为
10V,扫描线额定电压区间为[‑9V,30V],数据线额定电压区间为[0V,14V],则第三电压的取
值范围为(30V,34V],即大于30V,且小于等于34V;第四电压的取值范围为[‑10V,0V),即小
于0V,且大于等于‑10V。
线额定电压区间为[‑9V,30V],数据线额定电压区间为[0V,14V],则第三电压可以小于‑9V,
第四电压可以大于14V。需要说明的是,第三电压、第四电压的具体取值可以根据实际需要
灵活设置。
值可以小于等于f1,其中,e1与f1可以相等,也可以不等,e1和f1的具体取值可以根据实际
需要灵活设置,例如,e1可以设置为5V、10V等,f1可以设置为6V、8V等。在一个示例中,假设
e1为5V,f1为25V,扫描线额定电压区间为[‑9V,30V],数据线额定电压区间为[0V,14V],则
第三电压的取值范围为[‑14V,‑9V),即大于等于‑14V,且小于‑9V;第四电压的取值范围为
(14V,39V],即大于14V,且小于等于39V。
差值绝对值可以大于等于f2,其中e2小于等于e1,f2小于等于f1,e2、f2的具体取值可以根
据实际需要灵活设置。在一个示例中,假设e1为5V,e2为1V,f1为26V,f2为5V,扫描线额定电
压区间为[‑9V,30V],数据线额定电压区间为[0V,14V],则第三电压的取值范围为[‑14V,‑
10V],即大于等于‑14V,且小于等于‑10V;第四电压的取值范围为[19V,40V],即大于19V,且
小于等于40V;例如,第三电压可以是‑10V,第四电压可以是35V。
可以相等;或者,第一电压和第三电压可以不等,第二电压和第四电压可以不等,即,第一电
压可以大于或小于第三电压,第二电压可以大于或小于第四电压,在一个示例中,第一电压
小于第三电压,第二电压小于第四电压,或,第一电压大于第三电压,第二电压大于第四电
压。
电压与扫描线额定电压区间的偏差、第四电压与数据线额定电压区间的偏差确定,其中,第
三电压与扫描线额定电压区间的偏差越大、第四电压与数据线额定电压区间的偏差越大,
第二时长越小。例如,假设扫描线额定电压区间为[‑9V,30V],数据线额定电压区间为[0V,
14V],若第三电压取值处于(‑10V,‑9V),第四电压取值处于(14V,20V],则第二时长可以是3
秒,若第三电压取值处于[‑15V,‑10V],第四电压取值处于(20V,35V],则第二时长可以是1
秒。
常。
根据实际需要灵活设置。
扫描线的额定电压区间,第二电压不属于数据线的额定电压区间;对加压后的阵列板进行
测试,以确定阵列板是否异常;基于测试通过的阵列板制成液晶显示面板后,在液晶显示面
板的测试中,在液晶显示面板的扫描线加持续第二时长的第三电压,数据线加持续第二时
长的第四电压;其中,第三电压不属于扫描线的额定电压区间,第四电压不属于数据线的额
定电压区间;对加压后的液晶显示面板进行测试,以确定液晶显示面板是否异常;也就是
说,本申请中,在阵列板的测试和液晶显示面板的测试过程中,对制作得到的液晶显示面板
的半成品或成品施加的电压不属于额定电压区间,从而加速液晶显示面板的半成品或成品
的老化或恶化,使得液晶显示面板的半成品或成品的隐藏缺陷暴露出来,从而降低漏检率、
提升液晶显示面板的质量和使用寿命;并且,在制成阵列板之后,对阵列板施加的电压不属
于额定电压区间,使得阵列板的隐藏缺陷暴露出来,从而避免存在隐藏缺陷的阵列板被用
来制作液晶显示面板,导致浪费时间、材料的情况,提升了制作效率、良品率,降低了制作成
本。
时长的第三电压,数据线加持续第二时长的第四电压,对加压后的液晶显示面板进行测试,
并测试通过之后,将液晶显示面板置于第一老化环境,以进行老化测试,其中,第一老化环
境的温度大于55摄氏度;即将液晶显示面板置于55摄氏度以上的老化环境。可以理解的是,
55摄氏度以上的温度已属于较高温度范畴,因而能够加速液晶显示面板的老化或恶化,降
低测试时间,且通过加温处理,能够更加有效地检测到质量不良的液晶显示面板,降低了液
晶显示面板的缺陷漏检率。
陷暴露出来,同时,避免温度太高导致液晶显示面板损坏,第一老化环境的温度可以为60摄
氏度。当然,在实际应用中,第一老化环境的温度可以根据具体应用场景做灵活调整,例如,
为65摄氏度等。
度以上的老化环境持续第三时长之后对液晶显示面板进行测试,以确定液晶显示面板是否
异常。可以理解的是,本发明实施例中确定液晶显示面板是否异常可以是确定线路连接是
否异常,开关通断是否异常等;在实际应用中,所涉及的确定液晶显示面板是否异常的方面
可以根据具体应用场景做灵活调整。
根据具体应用场景做灵活调整。通常情况下,将液晶显示面板置于第一老化环境中持续的
第三时长越长,更加使得液晶显示面板的隐藏缺陷能够暴露出来,从而能够更加有效地检
测到质量不良的液晶显示面板。
板是否异常;解决了现有液晶显示面板测试时间长,从而导致液晶显示面板的制作周期长,
影响液晶显示面板的制作进程的问题。
使得液晶显示面板的制作周期更短,从而提升了液晶显示面板制作速率。并且,加温处理会
加速液晶显示面板上线路老化或恶化,使得液晶显示面板的隐藏缺陷能够暴露出来,例如
由于光刻胶残留等情况,导致液晶显示面板过蚀刻,某些连接点比较薄弱,在正常测试过程
中,由于该连接点正常通电,并无法检测出来;而本发明实施例中,由于施加在液晶显示面
板上的温度较高,使得液晶显示面板上薄弱的连接点断开,因此在后续的过程中,即可测试
出该连接点断开,从而能够更加有效地检测到质量不良的液晶显示面板,降低了液晶显示
面板的缺陷漏检率,使得最终流向市场的液晶显示面板的质量更好。
包括以下步骤:
电压与数据线的额定电压之间的最大压差,第四时长小于第三时长。
面板的扫描线施加持续第四时长的第五电压,数据线施加持续第四时长的第六电压,例如
在液晶显示面板的扫描线施加持续T3的V1,数据线施加持续T3的V2。
数据线施加的第六电压的压差是高于扫描线的额定电压与数据线的额定电压之间的最大
压差的。可以理解的是,因为在液晶显示面板的扫描线施加的第五电压,数据线施加的第六
电压的压差是高于扫描线的额定电压与数据线的额定电压之间的最大压差的,因此,本发
明实施例中必然存在至少有一侧施加的电压是超出该侧对应的额定电压区间的。其中,本
发明实施例中可以是在液晶显示面板的扫描线施加的第五电压小于扫描线的额定电压区
间的最小值;或者可以是在液晶显示面板的数据线施加的第六电压大于数据线的额定电压
区间的最大值;或者可以是在液晶显示面板的扫描线施加的第五电压小于扫描线的额定电
压区间的最小值,以及在液晶显示面板的数据线施加的第六电压大于数据线的额定电压区
间的最大值;在实际应用中,可以根据具体应用场景做灵活调整。在一些示例中,在液晶显
示面板的扫描线施加的第五电压可以小于扫描线的额定电压区间的最小值,数据线施加的
第六电压可以大于数据线的额定电压区间的最大值,例如,在液晶显示面板的扫描线施加
的第五电压可以为负极电压,相应地,在液晶显示面板的数据线施加的第六电压为正极电
压。
35V即可。
为‑10V,第六电压取值为30V,此时第五电压与第六电压的压差为|‑10V‑(30V)|=40V,其比
目标压差35V高5V;或者第五电压取值为‑10V,第六电压取值为35V,此时第五电压与第六电
压的压差为|‑10V‑(35V)|=45V,其比目标压差35V高10V;或者第五电压取值为‑10V,第六
电压取值为40V,此时第五电压与第六电压的压差为|‑10V‑(40V)|=50V,其比目标压差35V
高15V。
液晶显示面板的扫描线施加第五电压,数据线施加第六电压的时间点。例如第三时长的取
值范围为[1h,2h],则第四时长的取值范围为[0.5h,1h),可选的,第三时长可以取值0.5h、
0.6h、0.8h等。
加的第五电压,数据线施加的第六电压的压差高于扫描线的额定电压与数据线的额定电压
之间的最大压差,这种加压处理,能够更进一步加速液晶显示面板的老化或恶化速度,降低
测试时间,使得液晶显示面板的制作周期更短,从而提升了液晶显示面板制作进程的速率。
并且,由于施加在液晶显示面板上的电压较高,即液晶显示面板经过加压处理,因此会加速
液晶显示面板上线路老化或恶化,使得液晶显示面板的隐藏缺陷暴露出来,例如由于光刻
胶残留等情况,导致液晶显示面板过蚀刻,某些连接点比较薄弱,在正常测试过程中,由于
该连接点正常通电,无法检测出来;而本发明实施例中,施加在液晶显示面板上的电压较
高,使得液晶显示面板上薄弱的连接点断开,在后续的过程中,即可测试出该连接点断开,
因而能够更加有效地检测到质量不良的液晶显示面板,降低了液晶显示面板的缺陷漏检
率,使得最终流向市场的液晶显示面板的质量更好。
对液晶显示面板进行再次测试,从而再次确定液晶显示面板是否异常,以进一步提高液晶
显示面板的不良拦检率。
S18‑S19执行次数可以灵活进行调整。
S18‑S19执行第1次时,第五时长取值1h,步骤S18‑S19执行第2次时,第五时长也取值1h。
板进行共4次老化测试,步骤S18‑S19执行第1次时,第五时长取值1h,步骤S18‑S19执行第2
次时,第五时长取值1.2h,步骤S18‑S19执行第3次时,第五时长取值1.4h,即预设增长值为
0.2h;在实际应用中,预设增长值可以根据具体应用场景做灵活调整。
板进行共4次老化测试,步骤S18‑S19执行第1次时,第五时长取值1.4h,步骤S18‑S19执行第
2次时,第五时长取值1.2h,步骤S18‑S19执行第3次时,第五时长取值1h,即预设减少值为
0.2h;在实际应用中,预设减少值可以根据具体应用场景做灵活调整。
老化环境的温度大于55摄氏度,且小于等于65摄氏度时,相应地,第二老化环境的温度也大
于55摄氏度,且小于等于65摄氏度;当第一老化环境的温度等于65摄氏度时,相应地,第二
老化环境的温度等于65摄氏度。即第二老化环境的温度始终和第一老化环境的温度保持相
同,这样再次老化测试区别仅在于第三时长和第五时长的不同,可选的,第五时长小于第三
时长。
中,第二老化环境的温度可以根据具体应用场景做灵活调整。
更加全面的温度下进行老化测试,从而能够更加有效地检测到质量不良的液晶显示面板,
降低了液晶显示面板的缺陷漏检率,使得最终流向市场的液晶显示面板的质量更好。
[‑9V,30V],数据线额定电压区间为[0V,14V]。
大于数据线额定电压区间的最大值,以加速阵列板的老化或恶化,从而使得阵列板上,连接
薄弱的点断开,从而使得隐藏的缺陷暴露出来。
电压比数据线额定电压区间的最大值大16V,即第一电压为‑15V,第二电压为30V。
电压。
等。
第三电压小于扫描线额定电压区间的最小值,第四电压大于数据线额定电压区间的最大
值,以加速液晶显示面板的老化或恶化,使得液晶显示面板,连接薄弱的点断开,从而使得
隐藏的缺陷暴露出来。
电压比数据线额定电压区间最大值大21V,即第三电压为‑10V,第四电压为35V。
画面,从而测试液晶显示面板的画面品质是否达到预设条件。
属于扫描线的额定电压区间,第二电压不属于数据线的额定电压区间;对加压后的阵列板
进行测试,以确定阵列板是否异常;基于测试通过的阵列板制成液晶显示面板后,在液晶显
示面板的测试中,在液晶显示面板的扫描线加持续第二时长的第三电压,数据线加持续第
二时长的第四电压;其中,第三电压不属于扫描线的额定电压区间,第四电压不属于数据线
的额定电压区间;对加压后的液晶显示面板的画面品质进行测试,以确定液晶显示面板的
画面品质是否达到预设条件;也就是说,本申请中,在阵列板的测试和液晶显示面板的测试
过程中,对制作得到的液晶显示面板的半成品或成品施加的电压不属于额定电压区间,从
而加速液晶显示面板的半成品或成品的老化或恶化,使得液晶显示面板的半成品或成品的
隐藏缺陷暴露出来,从而降低漏检率,提升液晶显示面板的质量和使用寿命;并且,在制成
阵列板之后,对阵列板施加的电压不属于额定电压区间,使得阵列板的隐藏缺陷暴露出来,
从而避免存在隐藏缺陷的阵列板被用来制作液晶显示面板,导致浪费时间、材料的情况,提
升了制作效率、良品率,降低了制作成本。
据线的额定电压区间;对加压后的阵列板进行测试,以确定阵列板是否异常;基于测试通过
的阵列板制成液晶显示面板后,在液晶显示面板的测试中,在液晶显示面板的扫描线加持
续第二时长的第三电压,数据线加持续第二时长的第四电压;其中,液晶显示面板包括阵列
板,第三电压不属于扫描线的额定电压区间,第四电压不属于数据线的额定电压区间;对加
压后的液晶显示面板进行测试,以确定液晶显示面板是否异常。
且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有
的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该
要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
在其他相关的技术领域均包括在本申请的专利保护范围内。